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1 QPHY-DDR3 オペレーターズ マニュアル Revision A August, 2014 Relating to the following release versions: Software Version Rev Script DDR3.irt Style Sheet Rev. 1.2

2 700 Chestnut Ridge Road Chestnut Ridge, NY, Tel: (845) , Fax: (845) teledynelecroy.com 2014 Teledyne LeCroy, Inc. All rights reserved. Teledyne LeCroy やその他の製品名またはブランド名は それぞれの所有者の商標または登録商標です 本書に記載の情報は 以前のすべての版に優先します 仕様は予告なく変更することがあります RevA August, Rev A 2

3 QPHY-DDR3 オペレーターズ マニュアル 目次 はじめに... 6 QualiPHY について... 6 QPHY-DDR3 概要... 6 テストに必要な機器... 6 セットアップ... 7 デュアル モニタの設定... 7 リモートコントロールの設定... 7 QualiPHY の使用... 8 ソフトウェアへのアクセス... 8 General Setup... 8 QualiPHY のテスト手順 オシロスコープと DUT を接続します 接続方法は QPHY-DDR3 試験構成の章をご覧ください QualiPHY のカスタマイズ QPHY-DDR3 による試験 試験の準備 プローブのデスキュー Read(R) および Write(W) バースト要件 測定開始前の信号チェック QPHY-DDR3 試験構成 Clock Tests tck(avg), Average Clock Period tck(abs), Absolute Clock Period tch(avg), Average High Pulse Width tcl(avg), Average Low Pulse Width tch(abs), Absolute High Pulse Width tcl(abs), Absolute Low Pulse Width tjit(duty), Half Period Jitter tjit(per), Clock Period Jitter tjit(cc), Cycle to Cycle Period Jitter terr(n Per), Cumulative Error Eye Diagram DQ and DQS Eyes Write Bursts (Inputs) CK as Timing Reference Write Bursts (Inputs) DQS as Timing Reference Read Bursts (Outputs) CK as Timing Reference Read Bursts (Outputs) DQS as Timing Reference Electrical Tests on Write Bursts Rev A 3

4 SlewR/SlewF, Input Slew Rate VIH(ac)/VIL(ac), Differential AC input logic high/low Time Above AC-Level (tdvac and tvac) AC Over/Undershoot VSWING(MAX), Input Signal Maximum Peak to Peak Swing VSEH(ac)min/VSEL(ac)max, Single-ended AC high/low level VIX(ac), AC Differential Input Cross Point Voltage Electrical Tests on Read Bursts VOH(ac)/VOL(ac), Differential AC output logic high/low SRQ, Output Slew Rate VSWING, Output Signal Maximum Peak to Peak Swing Electrical Tests on Supply Signals Vref(DC) Timing Tests on Write Bursts tdqss, CK to DQS Skew tdqsh/tdqsl, DQS Input High/Low Pulse Width tdipw, DQ Input Pulse Width tdss/tdsh, DQS to CK Setup/Hold Time tds(base)/tdh(base), DQ to DQS Setup/Hold Time twpre/twpst, Write Pre/Postamble Time tis(base)/tih(base), ADD and CTRL Setup/Hold Time tipw, Control and Address Input Pulse Width for Each Input Timing Tests on Read Bursts tdqsq, DQS to DQ Skew tqsh/tqsl, DQS Output High/Low Time tqh, DQ Output Hold Time tdqsck, CK to DQS Skew thz/tlz, High/Low Impedance Time trpre/trpst, Read Preamble QPHY-DDR3 変数 QPHY-DDR3 Limit Sets Appendix A: File name conventions for saved waveforms Appendix B: Common Warning Messages Appendix C: Error Messages Rev A 4

5 QPHY-DDR3 オペレーターズ マニュアル このマニュアルについてこのマニュアルはあなたがオシロスコープの使用方法 - 特に QualiPHY をご使用になる Teledyne LeCroy 製オシロスコープ- について慣れており すでに QPHY-DDR3 オプションをご購入されていると仮定しています いくつかの画面キャプチャは異なるオシロスコープ モデルでキャプチャされているかもしれませんが 一般的な概念の説明を意図しています お使いのオシロスコープの画面と異なるかもしれませんが 機能は同じですのでご安心ください Rev A 5

6 はじめに QualiPHY について QualiPHY は対応する規格団体によって発行された公式ドキュメントに従ってデバイスの物理層の開発 評価を行う際に役立つ高度に自動化されたテスト ソフトウェアです カスタマイズした変数や規格値を用いた内部規格としてのコンプライアンス テストも実施することが可能です QualiPHY は 共通のユーザインターフェイスを介して設定および各規格ごとに個別のテストの制御を可能にする フレームワーク アプリケーションから構成されています 機能は次のとおりです ユーザにより定義可能なテスト リミット : その後別の機器で測定した場合でも デバイスが十分余裕をもってパスする様にするためにリミット値を厳しく変更することが出来ます XML 形式による結果生成を含む柔軟なテスト結果レポート : 被測定デバイスの特定項目に関連する情報を抽出したり デバイス特性のバラツキを理解する事が出来ます QPHY-DDR3 概要 QPHY-DDR3 は JEDEC 規格 No. JESD79-3F(DDR3) および JESD79-3-1A.01. 補遺 (DDR3L) に沿って リアルタイム オシロスコープで行われる全ての DDR の試験を実行する自動テストパッケージです このソフトウェアは Teledyne LeCroy の SDA/DDA/WavePro 725/735/740/760Z SDA/DDA/WaveMaster 8Zi, LabMaster9Zi-A, 10Zi の全てのシリーズで実行することができます DDR3 の各スピードグレードと最小推奨帯域については以下の表を参照してください DDR3 DDR3(1600MT/s 以下 ) DDR3(1866MT/s 以上 ) DDR3L( 全スピード グレード ) 推奨帯域 6GHz 8GHz 8GHz テストに必要な機器 QualiPHY ソフトウェアをインストールし QPHY-DDR3 キーコードをアクティベートした Teledyne LeCroy 製リアルタイム オシロスコープ ディエンベットを行う場合は VirtualProbe オプションが必要です 帯域要件を満たす最低で 3 本の差動プローブ ( いくつかの測定セットアップでは 4 本必要になります ) Rev A 6

7 QPHY-DDR3 オペレーターズ マニュアル セットアップ デュアル モニタの設定 QualiPHY のご利用にはデュアル モニタ ( 拡張ディスプレイ設定 ) の使用がお勧めです これによりオシロスコープの LCD ディスプレイには波形と計測結果を表示し 外部モニタには QualiPHY アプリケーションとテスト結果レポートを表示できます デュアル モニタの設定方法はオシロスコープのオペレーターズ マニュアルと基本操作マニュアルを ご覧ください リモートコントロールの設定 QualiPHY ソフトウェアはオシロスコープ上で動作させることの他にリモート PC 上で動作させることも出来るようになっています この為 QualiPHY からオシロスコープを制御するには LAN 接続の設定を必要とします オシロスコープ上で QualiPHY を動作させる場合も Remote 設定で TCP/IP を選択してください オシロスコープのリモート設定 1. メニューバーから Utilities Utilities Setup... を選択します 2. 画面下の設定ダイアログで Remote タブを開き Control From のセクションで TCP/IP を選択します なおオシロスコープ上で QualiPHY ソフトウェアを動作させる場合は ネットワーク ケーブルの接続は必要ありません IP アドレスは ループバックアドレスを使用しますのでここで設定を行う必要はありません Rev A 7

8 QualiPHY の使用 この章では QualiPHY のユーザ インタフェースと一般的な操作についての概要を解説します QPHY-DDR3 についての詳細な情報は QPHY-DDR3 による試験の章をご参照ください ソフトウェアへのアクセスオシロスコープ画面のメニューバーから Analysis>QualiPHY を選択します QualiPHY フレームワーク ダイアログは全般的な設定から個別のコンプライアンス テストの動作にいたるソフトウェア全体の流れを示しています 左から右に向かって 各サブ ダイアログにて必要となる設定を行ってゆきます QualiPHY フレームワーク ダイアログとシリアル規格選択メニュー サブ ダイアログは各手順に関連する設定項目毎にタブ分けされています これらは以降のセクションにて詳しく説明します もし Pause on Failure にチェックが入っている場合ね QualiPHY はテスト項目が Fail した場合に 再計測を行うかどうかを訊ねるメッセージを表示します フレームワーク ダイアログの Exit ボタンは QualiPHY アプリケーションを終了します General Setup 最初のサブ ダイアログでは一般的なシステム設定を行います ここでの設定は変更するまで 規格に 関係なく有効となります Connection タブ通常はオシロスコープ上で QualiPHY を動作させます この場合 IP Address of the oscilloscope の設定が になっていることを確認します Rev A 8

9 QPHY-DDR3 オペレーターズ マニュアル Session Info タブテスト結果レポートに付記するテスト セッションのオプション情報です 以下の情報が追記できます オペレータ名, Device Under Test (DUT), 温度 ( ), 追加コメントまた Contnue previous session にチェックを入れてテストを行った場合に結果を追記 (Append Results) するか 置き換え (Replace Results) て最終結果を記載するかの選択をする事が出来ます 結果レポートを区別するために各セッションのはじめに最低でも DUT 名を入力するようにします Start 後に出る Session Info ウィンドウ Rev A 9

10 Report タブ自動生成レポートに関係する設定です Reporting behavior Ask to generate a report after tests. : これはテスト結果の新しいレポートファイル生成時に確認メッセージを表示する場合に選択します Never generate a report after tests. : レポート生成をマニュアルで実行する場合に選択します Always generate a report after tests. : テスト後にレポートを自動生成する場合に選択します Default レポート出力タイプ : XML, HTML, もしくは PDF のいずれかを選択します Output file name : レポートを保存するフォルダのフルパスを含んで指定します Allow style sheet selection in Report Generator にチェックを入れて レポート生成時 (XLM および HTML 出力時のみ ) にカスタムの.xslt を適用することも可能です Report Generator は Report タブと同じ内容を各レポート生成時毎に設定できる Report Generator ダイ アログを開きます Report Generator ボタンを押したときに表 示されるウィンドウ Advanced タブ このタブは X-Replay Mode ダイアログを開きます X-Replay Mode を参照してください About タブ インストールされている QualiPHY のバージョン等の情報です Rev A 10

11 QPHY-DDR3 オペレーターズ マニュアル QualiPHY のテスト手順 General Setup を設定し終わったら テスト セッションを開始するステップに入ります テスト セッションの設定 オシロスコープと DUT を接続します 接続方法は QPHY-DDR3 試験構成の章をご覧ください 1. QualiPHY ソフトウェアを開き フレームワーク ダイアログを表示します 2. 他のシリアル規格のオプションもアクティベートされている場合 Standard をクリックしてテスト を行う規格を選択します 前回測定を行った規格がデフォルトとして表示されています Note: 他のシリアル規格がダイアログに表示される場合でも オプション キーコードがアクティベ ートされていない場合 テストは実施できません 3. Configuration ボタンをクリックします 4. ポップアップ メニューから 実施する試験構成を選択します ここに表示される試験構成の詳細 は QPHY-DDR3 試験構成の章をご参照ください Rev A 11

12 ここで 画面にある鍵マークの付いた工場出荷時の定義済み試験構成をコピーし 設定を変更してカス タム試験構成を作成することも可能です 詳細は QualiPHY のカスタマイズの章をご参照ください 5. Close ボタンを押して Edit/View Configuration ダイアログを閉じ フレームワーク ダイアログに 戻ります テストの開始 1. フレームワーク ダイアログにて Start ボタンを押してテストを開始します テストが開始されると このボタンは Stop ボタンに切り替わります テストを途中で止めたい場合にク リックします 停止したところからテストを再開することも 最初からテストをやり直すことも出来ま す 2. ポップアップ ウィンドウに従って進めます QualiPHY は各テストにおける DUT 接続図の表示も 行い 規格の仕様書で定められたテストを順を追ってナビゲートします Rev A 12

13 QPHY-DDR3 オペレーターズ マニュアル 3. 全テスト項目が問題なく完了した場合 フレームワーク ダイアログのプログレス バーが全部緑に変わり All tests completed successfully と表示されます もし問題が発生した場合 ポップアップ ウィンドウで以下の選択肢が提示されます Retry : 問題があって停止した項目からテストを再実行します Ignore and Continue : 無視して先に進みます Abort : テストをここで終了します 結果レポートの生成 QualiPHY ソフトウェアはレポート生成を自動化します フレームワーク ダイアログから General Setup > Report タブを開き レポート生成の初期設定を行います 同様に テスト実施後にフレームワーク ダイアログの Report Generator ボタンから手動でレポート生成を行うことも可能です Report Generator ボタンを押すと Report タブでの選択と同様のメニューが出てきます システムの初期設定とは別個に 各レポート毎個別に適用されます これによりレポートファイルを上書きせずに各テスト セッション毎にレポートを保存することが出来ます その他 レポートをカスタム スタイル シート (.xslt) にリンクするオプションや Informative 項目の結果をレポートに含めない様にするオプションがあります Rev A 13

14 テスト レポートは詳細テスト結果ページへリンクされたサマリーテーブルを含みます ( 但しリンクが 有効なのは HTML 形式の場合のみ ) テスト レポート サマリーと詳細結果ページ Rev A 14

15 QPHY-DDR3 オペレーターズ マニュアル レポートはデフォルトでは C: Program Files (x86) LeCroy XReplay に保存されます レポートファイルに添付されるロゴは以下のファイルを置き換えることで変更できます C: Program Files (x86) LeCroy Xreplay StyleSheets CustomerLogo.jpg ロゴ画像ファイルの推奨最大サイズ 72dpi にて 250x100 ピクセル 24bit 1670 万色です フォルダにある元のファイルと同じ名前 同じフォーマットにします QualiPHY のカスタマイズ 画面にある鍵マークの付いた工場出荷時の定義済み試験構成は変更できません しかし 標準テスト 試験構成をコピーし 編集することでカスタム試験構成を作成することが可能です Setup タブ Setup タブでは DDR テストを構成するときに重要になる項目を簡単に設定できます 以下の項目が定義可能です : 1. プロトコルのバージョン - DDR3 あるいは DDR3L 2. スピード グレード - リストからあるいはカスタム スピード グレードを選択 3. プローブ構成 - QPHY-DDR3 試験構成の章を参照 4. テストするバースト - Write, Read あるいは Write か Read のみ 試験構成のコピー 1. QualiPHY フレームワークを開き Standard を選択 (DDR3) 2. Edit/View Configuration をクリックし 新しく作る試験構成の元となる試験構成を選択 鍵マークの付いた工場出荷時の定義済み試験構成もしくは他のカスタムコン試験構成を選択可能です 3. Copy をクリックし試験構成の名称と説明を入力 一度カスタム試験設定を定義すると 設定した名称で Configuration タブに表示されるようになります Rev A 15

16 4. 新しいカスタム試験設定を選択し 以後の手順に従って設定を変更してゆきます Note: どの試験設定においても設定内容を変更した場合にはダイアログ上の Save ボタンがアクティ ブになります もしカスタム試験設定を変更した場合 変更を反映させるためには Save ボタンを押 します テスト項目の選択 Test Selector タブにてテストを行う項目をチェックします 各テスト項目は DDR3 規格もしくは DDR3L 補遺によって定義されているものです 項目を選択すると各テストの説明が表示されます 個々のテストやテスト グループを繰り返し実施するには loop indefinitely until stop を選択するか 繰 り返し回数を入力します 繰り返し回数を設定する場合には その前に enable にチェックを入れます 変数の編集 Variable Setup タブには試験変数のリストがまとめられています 各変数については QPHY-DDR3 Variables の項目を参照してください 値を編集するには : 1. Variable Setup タブで変数を選択し Edit Variable をクリックします ( その項目の値をリセットするには Reset to Default ボタンを押します ) 2. その変数の現在の値がポップアップしてきます 適用したい新しい設定を選択します Rev A 16

17 QPHY-DDR3 オペレーターズ マニュアル テスト リミットの編集 Limits タブは その試験構成にて使用される判定値のセットを表示しています カスタム試験構成にて このタブでどんなテスト判定値でも指定することが可能です Limits Manager で判定値セットの中の各設定値を見ることができます デフォルト セットは規格によって規定された判定値に設定されています カスタム判定値セットを作成するには : 1. Limits タブにて Limits Manager ボタンをクリックします 2. デフォルトのセットが選択されている場合は Copy Set をクリックし 名称を入力します Note: 他のカスタム試験構成のカスタム リミット セットもコピーもしくは編集することが可能で す 3. 編集したい項目をダブル クリックします ポップアップ メニューから新しい値を入力 します Rev A 17

18 同様に.csv ファイルから Import Limits ボタンで判定値セットを読み込むことが出来ます ボタンをクリ ックしてファイルを指定します Tips : 同様に Export Limits ボタンで 現在のリミット値セットから.csv ファイルを作成することが出来 ます Import するリミット値セットを作成する際,Export したファイルを元に編集する事が出来ます Rev A 18

19 QPHY-DDR3 オペレーターズ マニュアル QPHY-DDR3 による試験試験の準備テストもしくはデータ捕捉を開始する前に オシロスコープを最低 20 分ウォーミングアップします キャリブレーションはソフトウェアから自動的に実施されるため 手動でのキャリブレーションは不要です もしオシロスコープの温度が そのオシロスコープで規定された温度範囲を超えた場合にも自動的に実施されます プローブのデスキュー DDR の計測において 適切な信号タイミングをテストするために QPHY-DDR3 を開始する前にプローブを適切にデスキューしておくことが大切です 理想的には デスキューを行う場合 QualiPHY が動作して信号を捕捉するのと同じ条件で行うべきです 規格適合テストを行っている時と同じ条件でデスキューされていることを確認します デスキュー値を設定すると QPHY はそれを保存し 各テスト前にその値を呼び出して適用します 必要な機器 PCF200(D4x0-PS, D6x0-PS, Dxx30-PS プローブ システム あるいは WL-PLINK-CASE, WL-PBUS-CASE に同梱 ) Square-Pin(SP) チップ (D4x0, D6x0, Dxx30 に同梱 ) 50Ω 終端 Note: 50Ω 終端の代わりに チャンネル入力に LPA-K-A アダプタをつけ SMA ケーブルで PCF200 と接続しても構いません デスキュー方法 この手順を行う前に オシロスコープおよびプローブを最低 20 分ウォーミングアップしておく必要があ ります 1) PCF200 をオシロスコープの Fast Edge 出力に接続します PCF200 フィクスチャは 2 つ の信号パスをもっています 写真の上側の信号パスは Solder-In(SI) Quck-Connect(QC) リードおよび Adjustable Tip(AT) 先端チップに対応します 下側は Square-Pin(SP) リード Rev A 19

20 に対応します プローブ先端の種類に合わせてどちらかを Fast Edge 出力に接続します 接続の簡略化の為に SP リードの使用を推奨します 同じ先端リードが使用されるのであれば 先端リードの種類が実際の測定時と異なっていても問題ありません 2) プローブは該当の接続エリアに電気的にはシングルエンドで接続されます プローブ先端の正極側を信号トレース (GND プレーンに挟まれた信号ライン ) 側に 負極側は GND プレーン側に接続します 正極側の表示はプローブ先端に+マークで表示されています 反射の影響を最小限にするため 信号パスの反対側には 50Ω 終端を接続します あるいは 50 Ω 終端が無い場合は SMA ケーブルで PCF200 とオシロスコープの入力を接続しても構いません 3) オシロスコープのトリガ ソースを fast edge に指定し トリガ タイプを edge にします オシロスコープのタイムベースの delay はゼロにします 全て適切に設定されたならば オシロスコープの画面は以下の様になるはずです もし プローブによる伝搬遅延もオシロスコープ内部のチャンネルの伝搬遅延も無ければ 50% トリガ レベルはオシロスコープのグリッド中央に来るはずです チャンネルのデスキュー値は 50% 立ち上がりエッジ点が下図に示すように画面中央に来る様に調整します チャンネル設定ダイアログから Sinx/x 補間を enable にし averaging を 50 にします デスキュー値を調整する為に Deskew エントリをタッチして黄色にハイライトさせます そして Adjust コントロール ノブをまわして値を変更します タイムベースを 10ns/div から始めて トレースの立ち上がりエッジの位置を中央に来る様にデスキュー値を調整します さらにタイムベースを 20ps/div に下げ トレースの立ち上がりエッジの 50% 点の位置が中央に来る様にデスキュー値を調整します このプロセスを各プローブに対して同じプローブ先端リードを用いて繰り返します 次のプローブに移る前に Averaging を 1 に Sinx/x 補間を off に戻しておきます Rev A 20

21 QPHY-DDR3 オペレーターズ マニュアル QualiPHY は動作の最初に各チャンネル設定ダイアログからデスキュー値を読み取って保存し 各測定時に呼び戻してその値を適用します しかし 手動でデフォルト セットアップを呼び出したり 差動プローブの AutoZero を行ってしまうとこの値は消えてしまう為 後で値を呼び戻せる様にデスキュー操作が終了したらパネルセットアップを保存しておくことをお勧めします プローブの接続接続する信号の決定 QPHY-DDR3 でテストを走らせるとき どの信号ラインをプロービングすべきかは試験項目によって違ってきます 各テスト構成において どの信号ラインを使用するか分かりやすくするために Configuration タブに出てくる標準試験構成の名称にはプローブ設定を追記してありますが 個別のテストでのプローブ設定を見るには Test Selector タブで各項目を選択しハイライトします Rev A 21

22 最適なプロービング位置 DDR3 仕様は DRAM チップの BGA 実装のボール位置で規定されています この為 より仕様に従った条件で測定するために極力 DRAM に近い場所でプロービングするべきです これは信号の反射の影響を最小にすることにもなります しかしながら いくつかの状況下では コントローラ側に出来るだけ近いところでプロービングした方が意味がある場合もあります 例えば ユーザがコントローラの設計者でコントローラの動作特性にのみ興味がある場合です この様な場合には試験判定値のいくつかは適切ではないことを覚えておく必要があります 最も望ましいプロービング ポイントのひとつはメモリ IC 直下の貫通ビアの基板裏側です この場合は一般的に非常によい信号忠実度が得られます しかしながら ここにプロービング出来る場合ばかりではありません それ以外では Nexus Technologies 社によって提供される様なインタポーザを使用することです どんな場合でも DRAM から等距離のポイントでプロービングするのが大切です これによりタイミング計測において追加のスキューを発生させない事を保証できます Read(R) および Write(W) バースト要件 R/W バーストの検知 QPHY-DDR3 は R および W バーストをデータ (DQ) とストローブ (DQS) 信号のスキューによって切り分けます W バーストにおいては QPHY は DQ と DQS 信号を約 1/4 位相ずれたものと考えます R バーストについては QPHY は DQ と DQS 信号が同相であると考えます R/W バーストの生成 QPHY-DDR3 では最低でも 10 の R バースト あるいは 10 の W バーストを各捕捉波形に含むことを推奨しています しかし 統計的な有効性を高めるために もっと多くのバーストを強く推奨します DRAM とコントローラを制御できるプログラムはオンラインで広く入手可能です ひとつの例として Memtest86+ が memtest.org からダウンロード可能です Memtest を使う場合の推奨は test mode 7 です このモードではランダムに R と W バースト両方を発生します また DUT をシミュレートするのにユーザ自作のプログラムを使用する事も可能です Rev A 22

23 QPHY-DDR3 オペレーターズ マニュアル 測定開始前の信号チェック QPHY-DDR3 を走らせる前に ユーザは意味のある測定が出来るかどうかを確認するために簡単に波形をチェックしておくことが必要です この章では QPHY-DDR3 を走らせる前にオペレータが確認すべきいつくかの基本的な項目について述べます 期待されるチャンネルデフォルトの設定では QPHY-DDR3 は CH1 にクロック (CK) CH2 に DQS CH3 に DQ 信号が表示されることを想定しています これは接続図に示される通りです Channel Index 変数ではそれらのチャンネルを変更することが出来ます 信号振幅最良の結果を得るためには信号の振幅がグリッドの 80% にになるようにする事が推奨されます 各信号の画面上の振幅を調整するには Channel Gain 変数を使います QPHY-DDR3 を走らせる前に最適ゲインに設定することで最良の結果を得ることが出来ます クロック周波数オシロスコープの frequency 計測パラメータを使用することで ユーザは DDR システムが動作しているトランスファ レートを確認できます ( トランスファ レート =Frequency * 2) この確認は試験判定値の選択にも必要です 同時に目視による簡易チェックを行い 反射によるエッジの段差が生じていないことを確認することも必要です Rev A 23

24 R/W バースト存在の確認オペレータは そのデバイスが必要となるバーストを出力しているかどうかを確認する簡単なチェックを行う必要があります 一般的に R バースト中の DQ と DQS は同相 W バースト中の DQ と DQS は 1/4 サイクルずれていなければなりません またさらに R および W バーストがあるかどうかの判別に振幅差をみることもひとつの方法です R バーストは W バーストよりも振幅が大きくなります もしメモリチップとコントローラの距離が離れている場合は メモリ側でプロービングしているのであればその差は目視でわかるぐらいになります Idle レベルのチェック QPHY-DDR3 を走らせる前に オペレータは信号の Idle レベルを簡単に確認しておく必要があります もし 信号の Idle レベルがずれている場合は R/W バーストの検出や電気的 タイミング計測に影響があります DQS の Idle レベルは約 0mV DQ は約 VDD/2(DDR3 の場合 750mV) である必要があります QPHY-DDR3 試験構成 試験構成には変数の設定 判定値のセットおよびテスト項目の選択が含まれます 各変数やそのデフォ ルト値についての詳細は QPHY-DDR3 変数の章を参照してください Clock tests DDR (1 probe) この試験構成は全てのクロックのテストを行います 差動クロックに接続された 1 つのプローブが必要 です 全ての変数はデフォルト設定になっています テスト判定値は DDR が選択されています CKdiff-DQse-DQSdiff 1333 Write Burst (3 probes) Rev A 24

25 QPHY-DDR3 オペレーターズ マニュアル この試験構成は 3 プローブが必要となる全ての Write バーストのテストを行います プローブは差動ク ロック 差動ストローブ およびシングルエンドのデータに接続する必要があります 全ての変数はそ れらのデフォルト値に設定されています テスト判定値は DDR に設定されています CKdiff-DQse-DQSdiff 1333 Read Burst (3 probes) この試験構成は 3 プローブが必要となる全ての Read バーストのテストを行います プローブは差動クロック 差動ストローブ およびシングルエンドのデータに接続する必要があります 全ての変数はそれらのデフォルト値に設定されています テスト判定値は DDR に設定されています Eye Diagram (3 probes) この試験構成は Read および Write バースト両方に対して Eye ダイアグラム テストを行います プローブは差動クロック 差動ストローブ およびシングルエンドのデータに接続する必要があります 全ての変数はそれらのデフォルト値に設定されています テスト判定値は DDR に設定されています Eye Diagram with CS Enabled (4 probes) この試験構成は Read および Write バースト両方に対して Eye ダイアグラム テストを行います プローブは差動クロック 差動ストローブ およびシングルエンドのデータ チップ セレクトに接続する必要があります Use Chip Select が Yes に設定されている以外は全ての変数はそれらのデフォルト値に設定されています テスト判定値は DDR に設定されています CKDiff-DQse-DQS-ADD/CTRLse (4 probes) この試験構成は Address/Control テストを行います プローブは差動クロック 差動ストローブ およびシングルエンドのデータ シングルエンドの Address/Control 信号に接続する必要があります 全ての変数はそれらのデフォルト値に設定されています テスト判定値は DDR に設定されています Pre/Postamble tests (3 probes) この試験構成では Preamble および Postamble のテストを Read および Write 両バーストに対して行います プローブは差動クロック 差動ストローブ およびシングルエンドのデータに接続する必要があります 全ての変数はそれらのデフォルト値に設定されています テスト判定値は DDR に設定されています Demo of All Tests この試験構成は D: Waveforms DDR3 フォルダに置かれた保存された波形を使用し 全てのテストを行います Use Stored Waveforms が Yes Use Stored Trace for Speed Grade が Yes になっている以外全ての変数はそれらのデフォルト値に設定されています テスト判定値は DDR に設定されています Rev A 25

26 QPHY-DDR3 試験の表記これらは標準の DDR3 コンプライアンス テストに関するものです 各 QPHY-DDR3 試験構成は異なる入力信号とプローブ構成を用いたテストのグループを繰り返します プローブ構成は以下の通りです : 1. CK(diff) - 差動クロック 2. CK(diff)-DQS(diff)-DQ(single ended) - 差動クロック 差動ストローブ およびシングルエンド データ 3. CK(diff)-DQS(diff)-DQ(single ended)-add,ctrl(s.e.) - 差動クロック 差動ストローブ シングルエンド データ およびシングルエンド アドレス / コントロール 4. CK(diff)-DQS_t-DQ(single ended)-dqs_c - 差動クロック シングルエンド ストローブ (true) シングルエンド データ シングルエンド ストローブ(compliment) 5. CK_t-DQS(diff)-DQ(single ended)-ck_c - シングルエンド クロック (true) 差動ストローブ シングルエンド データ シングルエンド クロック (complient) 6. VREF(single ended) - シングルエンド VREF 以降の表記では試験が実施できるプローブ構成はその番号で表します Rev A 26

27 QPHY-DDR3 オペレーターズ マニュアル Clock Tests この試験構成ではプローブ構成 1 を使用して実施します tck(avg), Average Clock Period tck(avg) は連続した 200 サイクルのクロック周期を計測して平均したクロックとして定義します クロ ックの周期は立ち上がりエッジから立ち上がりエッジまでを計算します. tck(abs), Absolute Clock Period tck(abs) はある立ち上がりエッジからその次の連続した立ち上がりエッジまでを計測したものとして絶 対的なクロック周期として定義します tch(avg), Average High Pulse Width tch(avg) は Hi 側パルス幅の平均として定義され 連続的した 200 サイクルの Hi 側パルス幅を使い計算 します tcl(avg), Average Low Pulse Width tcl(avg) は Low 側パルス幅の平均として定義され 連続的した 200 サイクルの Low 側パルス幅を使い計 算します tch(abs), Absolute High Pulse Width tch(abs) はある立ち上がりエッジから続く立ち下りエッジまでを計測した瞬間的な Hi 側パルス幅として 定義されます tcl(abs), Absolute Low Pulse Width tcl(abs) はある立ち下がりエッジから続く立ち上がりエッジまでを計測した瞬間的な Low 側パルス幅と して定義されます tjit(duty), Half Period Jitter tjit(duty) は連続した 200 サイクルを通して累積した一連の tch jitter や tcl jitter として定義されます tch jitter は tch(avg) から各 tch を引いた値の最大偏差 tcl jitter は tcl(avg) から各 tcl を引いた値の最大偏差 tjit(duty) = Min/max of {tjit(ch), tjit(cl)} ここで tjit(ch) = {tchi - tch(avg) ; i=1 to 200} および tjit(cl) = {tcli - tcl(avg) ; i=1 to 200} tjit(per), Clock Period Jitter tjit(per) は tck(avg) から各 tck の偏差を計算し その最大値として定義されます tjit(per) = Min/max of {tcki - tck(avg) ; i = 1 to 200} Rev A 27

28 tjit(cc), Cycle to Cycle Period Jitter tjit(cc) は隣り合うクロック間での周期の差として定義されます tjit(cc) = Max of {tcki +1 - tcki} tck, tch, tcl, tjit(duty), tjit(per), および tjit(cc) テスト完了後のオシロスコープの画面は以下に なります この画面に表示されているもの : Z1 は差動クロック信号のズーム トレース Rev A 28

29 QPHY-DDR3 オペレーターズ マニュアル tck, tch, tcl および tjit(duty) の結果オシロ画面上の Measure セクションにおいて : tck rise(p1) は Z1( 差動クロック信号 ) の立ち上がりエッジのみから Vref(0mV) にて計測された周期 Measure 値の統計表示テーブルにおける平均値が結果レポート中の tck(avg),rise の計測値に相当 最小値が tck(abs),rise,min に相当します 最大値は tck(abs),rise,max に相当します tck fall(p2) は Z1( 差動クロック信号 ) の立ち下がりエッジのみから Vref(0mV) にて計測された周期 Measure 値の統計表示テーブルにおける平均値が結果レポート中の tck(avg),fall の計測値に相当 最小値が tck(abs),fall,min に相当します 最大値は tck(abs),fall,max に相当します tch(p3) は Z1( 差動クロック信号 ) の Hi パルスのみから Vref(0mV) にて計測されたパルス幅 Measure 値の統計表示の平均値が tch(avg) に相当し 結果レポート中には mtck(avg) の単位で記載されます 最小値は tch(avg),min に相当し 結果レポート中には mtck(avg) の単位で記載されます Rev A 29

30 tcl(p4) は Z1( 差動クロック信号 ) の Low パルスのみから Vref(0mV) にて計測されたパルス幅 Measure 値の統計表示の平均値は tcl(avg) に相当し 結果レポート中に mtck(avg) を単位として記載されます 最小値は tcl(abs),min に相当し 結果レポート中に mtck(avg) を単位として記載されます tjit(ch)(p5) は全ての tch の値から P3(tCH(avg)) の平均値を差し引いた値 統計表示の最小値は tjit(ch),min に相当し 最大値は tjit(ch),max に相当します tjit(cl)(p6) は全ての tcl の値から P4(tCL(avg)) の平均値を差し引いた値 統計表示の最小値は tjit(cl),min に相当し 最大値は tjit(cl),max に相当します tjit(per)rise(p7) は全ての tck rise の値から P1(tCK(avg),rise) の平均値を差し引いた値 統計表示の最小値は tjit(per)rise,min に相当し 最大値は tjit(per)rise,max に相当します tjit(per)fall(p8) は全ての tck fall の値から P2(tCK(avg),fall) の平均値を差し引いた値 統計表示の最大値は tjit(per)fall,min に相当し 最大値は tjit(per)fall,max に相当します tjit(cc)rise(p9) は2つの連続したクロック周期の差を立ち上がりエッジのみから求めます 全ての連続した2クロック周期の絶対最大偏差は tjit(cc)rise に相当します tjit(cc)fall(p10) は2つの連続したクロック周期の差を立ち下がりエッジのみから求めます 全ての連続した2クロック周期の絶対最大偏差は tjit(cc)fall に相当します tjit(duty)min(p11) は tch/tcl クロック周期の最小値と tch/tcl の平均値の差の最小値 これは tjit(duty),min に相当します tjit(duty)max(p12) は tch/tcl クロック周期の最小値と tch/tcl の平均値の差の最大値 これは tjit(duty),max に相当します Rev A 30

31 QPHY-DDR3 オペレーターズ マニュアル terr(n Per), Cumulative Error terr は tck(avg) から n 倍の連続したサイクルに渡る累積エラーとして定義されます 12 の異なるテストがあります : terr(2per), terr (3per), terr (4per), terr (5per), terr(6per), terr (7per), terr (8per), terr (9per), terr (10per), terr (11per), terr (12per), terr (13-50per) Note : terr(2per), terr (3per), terr (4per), and terr (5per) についてのみ以下で解説します 全 ての terr(n per) テストの設定はみなどれも同じです terr(2per), terr(3per), terr(4per) および terr(5per) テストの完了後のオシロスコープ画面は以下に なります この画面に表示されているもの : Z1 は差動クロック信号のズーム トレース Rev A 31

32 terr(2per), terr (3per), terr (4per), and terr (5per) の結果 オシロ画面上の Measure セクションにおいて : tck rise(p1) は Z1( 差動クロック信号 ) の立ち上がりエッジのみから Vref(0mV) にて計測された周期 この値は立ち上がりエッジにおける terr の値の計算に使用されます tck fall(p2) は Z1( 差動クロック信号 ) の立ち下がりエッジのみから Vref(0mV) にて計測された周期 この値は立ち下がりエッジにおける terr の値の計算に使用されます terr(1 per)r(p3) は Z1( 差動クロック信号 ) の立ち上がりエッジ ( 正パルス ) のみから Vref(0mV) において計測された TIE 計測値 この値はインターバル1(1サイクル ) の計測設定になります オシロ画面上の表示のみとなり結果レポートには表示されません terr(1 per)fall(p4) は Z1( 差動クロック信号 ) の立ち下がりエッジ ( 負パルス ) のみから Vref(0mV) において計測された TIE 計測値 この値はインターバル1(1サイクル ) の計測設定になります オシロ画面上の表示のみとなり結果レポートには表示されません terr(2 per)r(p5) は Z1( 差動クロック信号 ) の立ち上がりエッジ ( 正パルス ) のみから Vref(0mV) において計測された TIE 計測値 この値はインターバル2(2サイクル ) の計測設定になります Measure 値の統計表示テーブルにおける最小値が結果レポート中の terr(2per)rise,min の計測値に相当します 最大値が terr(2per)rise,max に相当します terr(2 per)fall(p6) は Z1( 差動クロック信号 ) の立ち下がりエッジ ( 負パルス ) のみから Vref(0mV) において計測された TIE 計測値 この値はインターバル2(2サイクル ) の計測設定になります Measure 値の統計表示テーブルにおける最小値が結果レポート中の terr(2per)fall,min の計測値に相当します 最大値が terr(2per)fall,max に相当します Rev A 32

33 QPHY-DDR3 オペレーターズ マニュアル terr(3 per)r(p7) は Z1( 差動クロック信号 ) の立ち上がりエッジ ( 正パルス ) のみから Vref(0mV) において計測された TIE 計測値 この値はインターバル3(3サイクル ) の計測設定になります Measure 値の統計表示テーブルにおける最小値が結果レポート中の terr(3per)rise,min の計測値に相当します 最大値が terr(3per)rise,max に相当します terr(3 per)fall(p8) は Z1( 差動クロック信号 ) の立ち下がりエッジ ( 負パルス ) のみから Vref(0mV) において計測された TIE 計測値 この値はインターバル3(3サイクル ) の計測設定になります Measure 値の統計表示テーブルにおける最小値が結果レポート中の terr(3per)fall,min の計測値に相当します 最大値が terr(3per)fall,max に相当します terr(4 per)r(p9) は Z1( 差動クロック信号 ) の立ち上がりエッジ ( 正パルス ) のみから Vref(0mV) において計測された TIE 計測値 この値はインターバル4(4サイクル ) の計測設定になります Measure 値の統計表示テーブルにおける最小値が結果レポート中の terr(4per)rise,min の計測値に相当します 最大値が terr(4per)rise,max に相当します terr(4 per)fall(p10) は Z1( 差動クロック信号 ) の立ち下がりエッジ ( 負パルス ) のみから Vref(0mV) において計測された TIE 計測値 この値はインターバル4(4サイクル ) の計測設定になります Measure 値の統計表示テーブルにおける最小値が結果レポート中の terr(4per)fall,min の計測値に相当します 最大値が terr(4per)fall,max に相当します terr(5 per)r(p11) は Z1( 差動クロック信号 ) の立ち上がりエッジ ( 正パルス ) のみから Vref(0mV) において計測された TIE 計測値 この値はインターバル5(5サイクル ) の計測設定になります Measure 値の統計表示テーブルにおける最小値が結果レポート中の terr(5per)rise,min の計測値に相当します 最大値が terr(5per)rise,max に相当します terr(5 per)fall(p12) は Z1( 差動クロック信号 ) の立ち下がりエッジ ( 負パルス ) のみから Vref(0mV) において計測された TIE 計測値 この値はインターバル5(5サイクル ) の計測設定になります Measure 値の統計表示テーブルにおける最小値が結果レポート中の terr(5per)fall,min の計測値に相当します 最大値が terr(5per)fall,max に相当します Rev A 33

34 Eye Diagram DQ and DQS Eyes この試験はプローブ構成 2を使用して Write バースト (input) および Read バースト (output) 両方に対して実施されます これらは捕捉波形中の全バーストを用いて Eye パターンを描画する補足情報的なテストです Eye パターンはエッジ タイミングのリファレンスとして CK もしくは DQS のどちらかを使用して描画することが出来 さらなるデバックが可能になります Write Bursts (Inputs) CK as Timing Reference このテストは CK 信号を基準として DQ と DQS 両方の Eye パターンを描画します これにより DQS と CK の間のスキューに対しての詳細がわかります CK をタイミング基準とした Write バースト (input) 完了後のオシロスコープ画面は以下になります : この画面に表示されているもの : F6( 赤トレース, 下段 Eye) は捕捉信号中の Write バーストの DQS の Eye パターン このテストのタイミング基準には CK が使用されています DQS と CK のスキューは立ち上がりエッジと立ち下がりエッジのクロスポイントのグリッド中心 ( グリット下に マークのある位置 ) からのずれを見ることでわかります 演算トレース名には DQS 信号名に対応したエイリアス名がつけられています Eye パターン描画に使用されたビット数は F6 ディスクリプタ BOX の下段に表示されています この場合では 3,855 の DQS ビットが Eye パターンに含まれます F7( 青トレース, 上段 Eye) は捕捉信号中の Write バーストの DQ の Eye パターン 演算トレース名には DQ 信号名に対応したエイリアス名がつけられています Eye パターン描画に使用されたビット数は F7 ディスクリプタ BOX の下段に表示されています この場合では 3, Rev A 34

35 QPHY-DDR3 オペレーターズ マニュアル の DQ ビットが Eye パターンに含まれます Measure セクションにおいて : tdqdqs(p2) は DQ と DQS 間のスキュー計測値 この計測は1バースト毎に1 回行われるため 統計表示テーブルの num 値を見ることで捕捉波形にいくつの Write バーストあったかがわかります freq(f1) は差動クロック信号の周波数計測値 Write Bursts (Inputs) DQS as Timing Reference このテストは DQS 信号を基準として DQ と DQS の Eye パターン両方を描画します これにより DQ と DQS 間のスキューについての詳細がわかります DQS をタイミング基準とした Write バースト (input) テスト完了後のオシロスコープの画面は以下になります : この画面に表示されているもの : F6( 赤トレース, 下段 Eye) は捕捉信号中の Write バーストの DQS の Eye パターン このテストのタイミング基準には DQS が使用されています これにより立ち上がりエッジと立ち下がりエッジのクロスポイントはグリットの中央 ( グリット下に マークのある位置 ) にちょうど一致します 演算トレース名には DQS 信号名に対応したエイリアス名がつけられています Eye パターン描画に使用されたビット数は F6 ディスクリプタ BOX の下段に表示されています この場合では 4,336 の DQS ビットが Eye パターンに含まれます F7( 青トレース, 上段 Eye) は捕捉信号中の Write バーストの DQ の Eye パターン 演算トレース名には DQ 信号名に対応したエイリアス名がつけられています Eye パターン描画に使用されたビット数は F7 ディスクリプタ BOX の下段に表示されています この場合では 4, Rev A 35

36 の DQ ビットが Eye パターンに含まれます Measure セクションにおいて : tdqdqs(p2) は DQ と DQS 間のスキュー計測値 この計測は1バースト毎に1 回行われるため 統計表示テーブルの num 値を見ることで捕捉波形にいくつの Write バーストあったかがわかります freq(f1) は差動クロック信号の周波数計測値 Read Bursts (Outputs) CK as Timing Reference このテストは CK 信号を基準として DQ と DQS 両方の Eye パターンを描画します これにより DQS と CK の間のスキューに対しての詳細がわかります CK をタイミング基準とした Read バースト (output) 完了後のオシロスコープ画面は以下になります : この画面に表示されているもの : F6( 赤トレース, 下段 Eye) は捕捉信号中の Read バーストの DQS の Eye パターン このテストのタイミング基準には CK が使用されています 演算トレース名には DQS 信号名に対応したエイリアス名がつけられています Eye パターン描画に使用されたビット数は F6 ディスクリプタ BOX の下段に表示されています この場合では 26,521 の DQS ビットが Eye パターンに含まれます F7( 青トレース, 上段 Eye) は捕捉信号中の Read バーストの DQ の Eye パターン 演算トレース名には DQ 信号名に対応したエイリアス名がつけられています Eye パターン描画に使用されたビット数は F7 ディスクリプタ BOX の下段に表示されています この場合では 26,522 の DQ ビットが Eye パターンに含まれます Rev A 36

37 QPHY-DDR3 オペレーターズ マニュアル Measure セクションにおいて : tdqdqs(p2) は DQ と DQS 間のスキュー計測値 この計測は1バースト毎に1 回行われるため 統計表示テーブルの num 値を見ることで捕捉波形にいくつの Read バーストあったかがわかります freq(f1) は差動クロック信号の周波数計測値 Read Bursts (Outputs) DQS as Timing Reference このテストは DQS 信号を基準として DQ と DQS の Eye パターン両方を描画します これにより DQ と DQS 間のスキューについての詳細がわかります DQS をタイミング基準とした Read バースト (output) テスト完了後のオシロスコープの画面は以下になります : この画面に表示されているもの : F6( 赤トレース, 下段 Eye) は捕捉信号中の Read バーストの DQS の Eye パターン このテストのタイミング基準には DQS が使用されています これにより立ち上がりエッジと立ち下がりエッジのクロスポイントは 2 グリット目にちょうど一致します ( グリット下に マークのある位置 ) 演算トレース名には DQS 信号名に対応したエイリアス名がつけられています Eye パターン描画に使用されたビット数は F6 ディスクリプタ BOX の下段に表示されています この場合では 27,579 の DQS ビットが Eye パターンに含まれます F7( 青トレース, 上段 Eye) は捕捉信号中の Read バーストの DQ の Eye パターン 演算トレース名には DQ 信号名に対応したエイリアス名がつけられています Eye パターン描画に使用されたビット数は F7 ディスクリプタ BOX の下段に表示されています この場合では 27,580 の DQ ビットが Eye パターンに含まれます Rev A 37

38 Measure セクションにおいて : tdqdqs(p2) は DQ と DQS 間のスキュー計測値 この計測は1バースト毎に1 回行われるため 統計表示テーブルの num 値を見ることで捕捉波形にいくつの Read バーストあったかがわかります freq(f1) は差動クロック信号の周波数計測値 Rev A 38

39 QPHY-DDR3 オペレーターズ マニュアル Electrical Tests on Write Bursts これら Electrical 試験項目は以下に示されるプローブ構成を使用して Write バースト (input) に対して 実施されます SlewR/SlewF, Input Slew Rate これらの試験はプローブ構成 2 3および5を使用して行います これら試験の目的は全ての Write バースト (input) 信号のスリューレートの特性評価です この試験は立ち上がり (SlewR) および立ち下がり (SlewF) エッジ両方に対して行われます シングルエンド信号に対する SlewR は Vref から VIH(ac)min まで SlewF は Vref から VIL(ac)max までを計測します 差動信号に対する SlewR は VILdiff(ac)max から VIHdiff(ac)min まで SlewF は VIHdiff(ac)min から VILdiff(ac)max までを計測します Note : DQ に対しての SlewR のみ以下で解説します SlewF でも VIL(ac) が VIH(ac) の代わりに使用される以外は計測方法としては同じになります SlewR テスト完了後のオシロスコープ画面は以下になります : この画面に表示されているもの : Z2 はプローブ デスキュー適用後の DQS 信号 すなわち F2 のズームトレース t@slewrmin で表示される SlewR 計測における 最悪ケース結果 の位置をズームしています DQS と割り当てられた信号名が画面上の波形トレースに表示されています この信号波形は参考表示になります Z3 はプローブ デスキュー適用後の DQ 信号 すなわち F3 のズームトレース t@slewrmin で表示される SlewR 計測値における 最悪ケース結果 の位置をズームしています DQ と Rev A 39

40 割り当てられた信号名が画面上の波形トレースに表示されています この信号トレースが この試験において計測される対象です SlewR/SlewF 試験結果 Measure セクションにおいて : SlewR(P1) は立ち上がりエッジにおける DQ のスリューレート計測値 この値は Vref から VIH(ac)min までで計測されます 統計表示テーブル中の最小値は結果レポート中の SlewR of DQ min に相当します このテストは規格値の無い Informational only のテストになります tdqdqs(p2) は DQ と DQS 間のスキュー計測値 この計測は1バーストにつき1 回実施されるため この計測値の統計表示テーブルの num 値を見ることで Write バーストがいくつあったかがわかります t@slewrmin(p4) は SlewR が最小値になった位置を示します これは 最悪ケース結果 の波形位置をズーム表示するのに使用されます slew(z3) は SlewR の最小値を示し スリューレート計測マーカを表示するのに使用されます Rev A 40

41 QPHY-DDR3 オペレーターズ マニュアル VIH(ac)/VIL(ac), Differential AC input logic high/low これらの試験項目はプローブ構成 2および3で実施されます VIH(ac) は Vref から Vref の区間の Hi パルスのローカル最大値を計測します VIL(ac) は Vref から Vref の区間の Low パルスのローカル最小値を計測します Note: VIH(ac)min のみ以下で解説します VIL(ac)max は Low パルスを使用する以外計測手順は全く同じになります VIH(ac) 試験を完了した後のオシロスコープ画面は以下になります : この画面に表示されているもの : Z2 はプローブ デスキュー適用後の DQS 信号 すなわち F2 のズームトレース t@vih(ac)min で表示される VIH(ac) 計測における 最悪ケース結果 の位置をズームしています DQS と割り当てられた信号名が画面上の波形トレースに表示されています この信号波形は参考表示になります Z3 はプローブ デスキュー適用後の DQ 信号 すなわち F3 のズームトレース t@vih(ac)min で表示される VIH(ac) 計測値における 最悪ケース結果 の位置をズームしています DQ と割り当てられた信号名が画面上の波形トレースに表示されています この信号トレースがこの試験において計測される対象です VIH(ac)/VIL(ac) 試験結果 Rev A 41

42 Measure セクションにおいて : VIH(ac)(P1) は Vref から Vref の区間の DQ のローカル最大値を計測します 統計表示テーブルの最小値が VIH(ac)min 値に相当します この試験は計測値が Vref + 使用される AC レベルより大きければパスします t@vih(ac)min(p4) は VIH(ac) の最小値が計測された時間位置を示しています これは 最悪ケース結果 の波形位置をズーム表示するのに使用されます freq(f1) は差動クロック信号の周波数を計測します Rev A 42

43 QPHY-DDR3 オペレーターズ マニュアル Time Above AC-Level (tdvac and tvac) これはプローブ構成 2で実施される2つの試験からなるグループです この試験の目的はリングバックが発生する前に許される時間を確認することです tdvac は差動入力 (DQS および CK) に対して VIHdiff(ac) を超える時間および VILdiff(ac) を下回る時間を計測します tvac は入力に対して VIH(ac) を超える時間および VIL(ac) を下回る時間を計測します これらの信号は Write バーストが検出されたときに計測のみされます Note: VIHdiff(ac) に対して計測される DQS の tdvac のみ以下で解説します VILdiff(ac) に関する計測手順はまったく同じになります tvac は VIHdiff(ac) と VILdiff(ac) ではなく VIH (ac) を超える部分で計測されます tdvac 試験が完了した後のオシロスコープ画面は以下になります : この画面に表示されているもの : Z2 はプローブ デスキュー適用後の DQS 信号 すなわち F2 のズームトレース t@vacmin で表示される tdvac 計測における 最悪ケース結果 の位置をズームしています DQS と割り当てられた信号名および VIHdiff(ac) レベルが表示されています tdvac/tvac 結果 Measure セクションにおいて : Rev A 43

44 tvacvih(p1) は DQS に対し VIHdiff(ac) を超える時間を計測します VIHdiff(ac) はトレース ラベル DQS at VIH(ac) によって表示されます 統計表示テーブルの最小値が tdvac Pos min of DQS に相当します 使用される AC レベルはレポートに記載されます この試験は計測値が定義された判定値以上であればパスします tdqdqs(p2) は DQ と DQS 間のスキューを計測します この計測は1バースト毎に1 回おこなわれるので 統計表示テーブルの num 値を見ることで Write バーストが捕捉波形にいくつ含まれるかがわかります は tdvac の最小値の時間位置を示します これは 最悪ケース結果 の波形位置をズーム表示するのに使用されます freq(f1) は差動クロック信号の周波数を計測します Rev A 44

45 QPHY-DDR3 オペレーターズ マニュアル AC Over/Undershoot これはプローブ構成 2 3 4および5を使用し DQ, DQS, CK および ADD に対して実施される4つの項目からなる試験グループです この試験の目的は Write バースト中の DQ, DQS, および CK に対して VDDQ を超えるオーバーシュートおよび VSSQ を下回るアンダーシュートを評価することです ピーク振幅および面積が試験されます Note: DQ に対するオーバーシュートのみ以下で解説します DQS, CK および ADD に対しての計測手順は全く同じです 同様にアンダーシュートに対する計測手順は VDDQ の代わりに VSSQ を使用する以外は全く同一です Peak Amplitude Overshoot Peak Amplitude 試験を完了した後のオシロスコープ画面は以下になります : この画面に表示されているもの : Z2 はプローブ デスキュー適用後の DQS 信号 すなわち F2 のズームトレース t@peakmax で表示される Overshoot Peak Amplitude 計測における 最悪ケース結果 の位置をズームしています DQS と割り当てられた信号名がトレース上に表示されています この信号波形は参考表示になります Z3 はプローブ デスキュー適用後の DQ 信号 すなわち F3 のズームトレース t@peakmax で表示される Overshoot Peak Amplitude 計測値における 最悪ケース結果 の位置をズームしています DQ と割り当てられた信号名が画面上の波形トレースに表示されています この信号トレースがこの試験において計測される対象です Rev A 45

46 Overshoot/Undershoot 結果 Measure セクションにおいて : OvershootPeak(P1) は各 DQ パルスにおいて VDDQを超えるオーバーシュートのピーク振幅を計測します VDDQ レベルはグリット上に一点鎖線カーソルで ピーク振幅レベルはもう一つのカーソルで表示されます ピーク振幅は遷移 ~1UI 後のみの区間で計測されます もしピーク値が VDDQ を超えることが無い場合は負の計測値を返します 統計表示テーブルにおける最大値は結果レポート中の DQ Overshoot peak amplitude Max に相当します この試験は計測値が 400mV 以下でパスします t@peakmax(p3) は Overshoot Peak の最大値の時間位置を示します これは 最悪ケース結果 の波形位置をズーム表示するのに使用されます Rev A 46

47 QPHY-DDR3 オペレーターズ マニュアル Area Overshoot Area 試験を完了した後のオシロスコープ画面は以下になります : この画面に表示されているもの : Z2 はプローブ デスキュー適用後の DQS 信号 すなわち F2 のズームトレース t@areamax で表示される Overshoot Area 計測における 最悪ケース結果 の位置をズームしています DQS と割り当てられた信号名がトレース上に表示されています この信号波形は参考表示になります Z3 はプローブ デスキュー適用後の DQ 信号 すなわち F3 のズームトレース t@areamax で表示される Overshoot Area 計測値における 最悪ケース結果 の位置をズームしています DQ と割り当てられた信号名が画面上の波形トレースに表示されています この信号トレースがこの試験において計測される対象です Rev A 47

48 Overshoot/Undershoot 結果 Measure セクションにおいて : OvershootArea(P1) は各 DQ パルスにおいて VDDQ を超えるオーバーシュートの面積を計測します VDDQ レベルはグリット上にカーソルで表示されます オーバーシュート面積は遷移 ~1UI 後のみの区間で計測されます 統計値表示テーブルにおける最大値が DQ Overshoot area Max に相当します この試験は計測値が規定された判定値以下でパスします t@areamax(p3) は Overshoot Area の最大値の時間位置を示します これは 最悪ケース結果 の波形位置をズーム表示するのに使用されます Rev A 48

49 QPHY-DDR3 オペレーターズ マニュアル VSWING(MAX), Input Signal Maximum Peak to Peak Swing この試験はプローブ構成 3を使用して実施されます この試験の目的は ADD/CTRL 信号の Peak to Peak の最大スイング値を評価することです VSWING 試験完了後のオシロスコープ画面は以下になります : この画面に表示されているもの : Z1 はプローブ デスキュー適用後の CK 信号 すなわち F1 のズームトレース t@vswingma で表示される VSWING 計測における 最悪ケース結果 の位置をズームしています CK と割り当てられた信号名がトレース上に表示されています この信号波形は参考表示になります Z4 はプローブ デスキュー適用後の ADD 信号 すなわち F4 のズームトレース t@vswingma で表示される VSWING 計測値における 最悪ケース結果 の位置をズームしています ADD と割り当てられた信号名が画面上の波形トレースに表示されています この信号トレースがこの試験において計測される対象です VSWING 試験結果 Measure セクションにおいて : VSWING(P1) は ADD/CTRL パルスに対して peak to peak スイングを計測します これは VIH(ac) と VIL(ac) の差を求めます 統計表示テーブルの最大値が結果レポート中の VSWING Max に相当します この試験は判定値の無い Informational only の項目で DDR2 からの古い方式で計測されます t@vswingma(p3) は VSWING の最大値の時間位置を示します これは 最悪ケース結果 の波形位置をズーム表示するのに使用されます Rev A 49

50 freq(f1) は差動クロック信号の周波数を計測します VSEH(ac)min/VSEL(ac)max, Single-ended AC high/low level この試験はプローブ構成 4および5で実施します VSEH(ac) は Vref から Vref の区間の Hi パルスのローカル最大値および VIL(ac) は Vref から Vref の区間の Low パルスのローカル最大値を計測します これはシングルエンド信号に対する VIH(ac)/VIL(ac) と同等です Note: VSEH(ac)min のみ以下で解説します VSEL(ac) の計測手順は Low パルスを使用する以外は全く同じです VSEH(ac) 試験完了後のオシロスコープの画面は以下になります : この画面に表示されているもの : Z2 はプローブ デスキュー適用後の DQS_t 信号 すなわち F2 のズームトレース t@vsehacmin で表示される VSEH(ac) 計測における 最悪ケース結果 の位置をズームしています DQS_t と割り当てられた信号名がトレース上に表示されています この信号トレースがこの試験において計測される対象です Z4 はプローブ デスキュー適用後の DQS_c 信号 すなわち F4 のズームトレース t@vsehacmin で表示される VSEH(ac) 計測値における 最悪ケース結果 の位置をズームしています DQS_c と割り当てられた信号名が画面上の波形トレースに表示されています この信号波形は参考表示になります Rev A 50

51 QPHY-DDR3 オペレーターズ マニュアル VSEH/VSEL(ac) 試験結果 Measure セクションにおいて : VSEH(ac)(P1) は Vref から Vref の区間の DQS_t のローカル最小値を計測します 統計表示テーブルの最小値は結果レポート中の VSEH(ac) Min DQS_t に相当します この試験は計測値が Vref + 使用される AC レベルよりも大きい場合にパスします t@vsehacmin(p4) は VSEH(ac) の最小値の時間位置を示します これは 最悪ケース結果 の波形位置をズーム表示するのに使用されます freq(f1) は差動クロック信号の周波数を計測します Rev A 51

52 VIX(ac), AC Differential Input Cross Point Voltage この試験はプローブ構成 4および5を使用して実施されます この試験の目的は差動入力のクロスポイント電圧の評価です VIX(ac) は差動入力信号がどの電圧で交差するかを計測します VIX(ac) の代表値は送信デバイスの約 0.5 VDDQ と想定されています 最大値と最小値の両方が計測されます VIX(ac) 試験完了後のオシロスコープ画面は以下になります : この画面に表示されているもの : Z2 はプローブ デスキュー適用後の DQS_t 信号 すなわち F2 のズームトレース t@vix(ac)max で表示される VIX(ac) 計測における 最悪ケース結果 の位置をズームしています DQS_t と割り当てられた信号名がトレース上に表示されています Z4 はプローブ デスキュー適用後の DQS_c 信号 すなわち F4 のズームトレース t@vix(ac)max で表示される VIX(ac) 計測値における 最悪ケース結果 の位置をズームしています DQS_c と割り当てられた信号名が画面上の波形トレースに表示されています VIX(ac) 試験結果 Measure セクションにおいて : VIX (ac)(p1) は DQS_t と DQS_c が交わる点の電圧値を計測します 統計表示テーブルの最大値は結果レポート中の VIX(ac) max に相当します tdqdqs(p2) は DQ と DQS のスキューを計測します この計測は1バースト毎に1 回行われ Rev A 52

53 QPHY-DDR3 オペレーターズ マニュアル るので 統計表示テーブル中の num 値を見ることで捕捉波形中にいくつの Write バーストがあるかがわかります は VIX(ac) が最大値となる時間位置を示します これは 最悪ケース結果 の波形位置をズーム表示するのに使用されます freq(f1) は差動クロック信号の周波数を計測します Rev A 53

54 Electrical Tests on Read Bursts これらの電気試験は以下に示されるプローブ構成で Read バースト (output) に対して実施されます VOH(ac)/VOL(ac), Differential AC output logic high/low これらの試験はプローブ構成 2を使用して実施されます VOH(ac) は Vref から Vref 間の Hi パルスのローカル最大値と最小値を計測します VOL(ac) は Vref から Vref 間の Low パルスのローカル最大値と最小値を計測します Note: VOH(ac) のみ以下で解説します VOL(ac) の計測手順は Low パルスを用いること以外は全く同じになります VOH(ac) 試験完了後のオシロスコープ画面は以下になります : この画面に表示されているもの : Z2 はプローブ デスキュー適用後の DQS 信号 すなわち F2 のズームトレース t@voh(ac)max で表示される VOH(ac) 計測における 最悪ケース結果 の位置をズームしています DQS と割り当てられた信号名がトレース上に表示されています この信号波形は参考表示になります Z3 はプローブ デスキュー適用後の DQ 信号 すなわち F3 のズームトレース t@voh(ac)max で表示される VOH(ac) 計測値における 最悪ケース結果 の位置をズームしています DQ と割り当てられた信号名が画面上の波形トレースに表示されています この信号トレースがこの試験において計測される対象です Rev A 54

55 QPHY-DDR3 オペレーターズ マニュアル VOH(ac)/VOL(ac) 試験結果 Measure セクションにおいて : VOH (ac)(p1) は Vref から Vref の区間の DQ のローカル最小値を計測します 統計表示テーブルの最大値は結果レポート中の VOH(ac) max に相当します この試験は判定値の無い Informational Only の項目になります t@voh(ac)max(p4) は VOH(ac) が最大値となる時間位置を示します これは 最悪ケース結果 の波形位置をズーム表示するのに使用されます freq(f1) は差動クロック信号の周波数を計測します Rev A 55

56 SRQ, Output Slew Rate この試験はプローブ構成 2で実施されます この試験の目的は捕捉波形中の全ての Read バースト (output) における DQ と DQS のスリューレートを評価することです この試験は立ち上がりエッジ (SRQ) および立ち下がりエッジ (SRF) 両方に対して実施され 最小値と最大値が計測されます Note: DQ の立ち上がりエッジにおけるスリューレートのみ以下で解説します 立ち下がりエッジにおける計測手順は VOL(ac) から VOH(ac) で求める代わりに VOH(ac) から VOL(ac) で求める以外は全く同じです DQS に対する計測方法も同様に全く同じになります SRQ 計測完了後のオシロスコープ画面は以下になります : この画面に表示されているもの : Z2 はプローブ デスキュー適用後の DQS 信号 すなわち F2 のズームトレース t@srq Rmin で表示される SRQ R 計測における 最悪ケース結果 の位置をズームしています DQS と割り当てられた信号名がトレース上に表示されています この信号波形は参考表示になります Z3 はプローブ デスキュー適用後の DQ 信号 すなわち F3 のズームトレース t@srq Rmin で表示される SRQ R 計測値における 最悪ケース結果 の位置をズームしています DQ と割り当てられた信号名が画面上の波形トレースに表示されています この信号トレースがこの試験において計測される対象です Rev A 56

57 QPHY-DDR3 オペレーターズ マニュアル SRQ 結果 Measure セクションにおいて : SRQ R(P1) は立ち上がりエッジからの DQ のスリューレートを計測します 立ち上がりエッジからのスリューレートは VOL(ac) から VOH(ac) までを計測して行われます 統計表示テーブルの最小値は結果レポート中の SRQ R of DQ min に相当します tdqdqs(p2) は DQ と DQS 間のスキュー値を計測します この計測は1バースト毎に1 回行われるので 統計表示テーブル中の num 値を見ることで捕捉波形中にいくつの Read バーストがあるかがわかります t@srq Rmin(P4) は SRQ R が最小値となる時間位置を示します これは 最悪ケース結果 の波形位置をズーム表示するのに使用されます P5:slew(Z3) は SRQ R の最小値を示し スリューレート計測マーカの表示に使用されます freq(f1) は差動クロック信号の周波数を計測します Rev A 57

58 VSWING, Output Signal Maximum Peak to Peak Swing この試験はプローブ構成 2を使用して実施されます この試験の目的は全ての Read バースト中の DQ と DQS の peak to peak スイングを評価することです VSWING 試験完了後のオシロスコープ画面は以下になります : この画面に表示されているもの : Z2 はプローブ デスキュー適用後の DQS 信号 すなわち F2 のズームトレース t@vswing で表示される VSWING 計測における 最悪ケース結果 の位置をズームしています DQS と割り当てられた信号名がトレース上に表示されています この信号波形は参考表示になります Z3 はプローブ デスキュー適用後の DQ 信号 すなわち F3 のズームトレース t@vswing で表示される VSWING 計測値における 最悪ケース結果 の位置をズームしています DQ と割り当てられた信号名が画面上の波形トレースに表示されています この信号トレースがこの試験において計測される対象です VSWING 試験結果 Measure セクションにおいて : VSWING(P1) は DQ パルスに対して peak to peak スイングを計測します これは VOH(ac) と VOL(ac) の差を求めます 統計表示テーブルの最大値が結果レポート中の VSWING Max of DQ に相当します この試験は判定値の無い Informational only の項目で DDR2 からの古い方式で計測されます Rev A 58

59 QPHY-DDR3 オペレーターズ マニュアル は VSWING の最大値の時間位置を示します これは 最悪ケース結果 の波 形位置をズーム表示するのに使用されます freq(f1) は差動クロック信号の周波数を計測します Rev A 59

60 Electrical Tests on Supply Signals この電気試験はプローブ構成 6 を使用して実施されます Vref(DC) この試験の目的は Vref 信号におけるノイズと Vref レベルを評価することです Vref(DC) レベルは捕捉期間にわたっての Vref の線型平均になります この平均値は 0.49*VDD と 0.51*VDD の間であることが期待されます さらに Vref の Vref(DC) からの最大偏差は VDD の ±1% までとなっています Vref 試験完了後のオシロスコープ画面は以下になります : この画面に表示されているもの : F3 は Vref 信号を捕捉した C3 のズームトレース max, min および mean の位置にラベルが 表示されています Vref 結果 Measure セクションにおいて : mean(f3) は捕捉期間にわたっての Vref 信号の平均値を計測します この値は Vref(DC) 値であり 0.49*VDD と 0.51*VDD の間であればパスします max(f3) は Vref 信号の最大値を計測します これは結果レポート中の Vref Max に相当しま Rev A 60

61 QPHY-DDR3 オペレーターズ マニュアル す Vref(DC) からの偏差が VDD の 1% 未満のあればパスとなります min(f3) は Vref 信号の最小値を計測します これは結果レポート中の Vref Min に相当しま す Vref(DC) からの偏差が VDD の 1% 未満であればパスとなります Rev A 61

62 Timing Tests on Write Bursts これらの試験は以下に示されたプローブ構成を使用し Write バースト (input) に対して実施されます tdqss, CK to DQS Skew この試験はプローブ構成 2を使用して実施されます この試験の目的は Write バースト中の CK に関係した DQS 立ち上がりエッジのタイミングマージンを評価することです この試験は Vref レベルにおける CK 立ち上がりエッジと Vref レベルにおける最近接の DQS 立ち上がりエッジの時間差を計測します この試験は Read バーストにおける tdqsck と非常によく似ています tdqss 試験完了後のオシロスコープ画面は以下になります : この画面に表示されているもの : Z1 はプローブ デスキュー適用後の CK 信号 すなわち F1 のズームトレース t@dqssmax で表示される tdqss 計測における 最悪ケース結果 の位置をズームしています 計測されたエッジの Vref の位置にトレース名が表示されています Z2 はプローブ デスキュー適用後の DQ 信号 すなわち F2 のズームトレース t@dqssmax で表示される tdqss 計測値における 最悪ケース結果 の位置をズームしています DQS と割り当てられた信号名が画面上の計測されたエッジの Vref の位置に表示されています Measure セクションにおいて : tdqss 結果 Rev A 62

63 QPHY-DDR3 オペレーターズ マニュアル tdqss(p1) は CK と DQS 間のスキューを計測します このスキュー値は Vref における CK の立ち上がりエッジと最近接の Vref における DQS の立ち上がりエッジの時間を計測します 基本的に2つのトレースラベルの間隔を計測します 統計表示テーブルの最大値は結果レポート中の tdqss max に相当し mtck(avg) を単位として記載されます tdqdqs(p2) は DQ と DQS 間のスキューを計測します この計測は1バースト毎に1 回行われるので 統計表示テーブル中の num 値を見ることで捕捉波形中にいくつの Write バーストがあるかがわかります は tdqss が最大値をとる時間位置を示します これは 最悪ケース結果 の波形位置をズーム表示するのに使用されます freq(f1) は差動クロック信号の周波数を計測します Rev A 63

64 tdqsh/tdqsl, DQS Input High/Low Pulse Width この試験はプローブ構成 2を使用して実施されます これらの試験は Write バースト中の各 DQS 遷移に対して Hi(tDQSH) および Low(tDQSL) のパルス幅を計測します tdqsh/tdqsl の最大値 最小値とも計測されます この試験は Read バーストにおける tqsh および tqsl と非常によく似ています Note: tdqsh についてのみ以下で解説します tdqsl の計測手順は DQS に対して立ち上がりエッジから立ち下がりエッジの計測を行う代わりに立ち下がりエッジから立ち上がりエッジで行う事以外は全く同様です tdqsh 試験完了後のオシロスコープ画面は以下になります : この画面に表示されているもの : Z2 はプローブ デスキュー適用後の DQS 信号 すなわち F2 のズームトレース t@tdqshmin で表示される tdqsh 計測値における 最悪ケース結果 の位置をズームしています DQS と割り当てられた信号名が画面上の計測されたエッジの Vref の位置に表示されています tdqsh/tdqsl 結果 Rev A 64

65 QPHY-DDR3 オペレーターズ マニュアル Measure セクションにおいて : tdqsh(p1) は DQS の Hi 区間の時間を計測します この Hi 区間の時間は DQS が立ち上がりエッジで Vref をよぎってから 次ぎに立ち下がりエッジで Vref をよぎる時間を計測する事で決定されます 統計表示テーブルの最小値は結果レポート中の tdqsh min に相当し mtck(avg) を単位として記載されます tdqdqs(p2) は DQ と DQS 間のスキューを計測します この計測は1バースト毎に1 回行われるので 統計表示テーブル中の num 値を見ることで捕捉波形中にいくつの Write バーストがあるかがわかります t@tdqshmin(p4) は tdqsh が最小値をとる時間位置を示します これは 最悪ケース結果 の波形位置をズーム表示するのに使用されます freq(f1) は差動クロック信号の周波数を計測します Rev A 65

66 tdipw, DQ Input Pulse Width この試験はプローブ構成 2を使用して実施されます この試験は Write バースト中の DQ 信号のパルス幅を計測します Hi および Low 両パルスの最小値が計測されます tdipw 試験完了後のオシロスコープ画面は以下になります : この画面に表示されているもの : Z3 はプローブ デスキュー適用後の DQ 信号 すなわち F3 のズームトレース t@tdipwmin で表示される tdipw 計測における 最悪ケース結果 の位置をズームしています 計測されたエッジの Vref の位置にトレース名 DQ が表示されています tdipw 結果 Measure セクションにおいて : tdipwhigh(p1) は DQ の Hi 区間の時間を計測します この Hi 区間の時間は DQS が立ち上がりエッジで Vref をよぎってから ( 画面中央 ) 次ぎに立ち下がりエッジで Vref をよぎる ( トレース ラベルが表示されている箇所 ) 時間を計測する事で決定されます 統計表示テーブルの最小値は結果レポート中の tdipw High min に相当し ps を単位として記載されます tdqdqs(p2) は DQ と DQS 間のスキューを計測します この計測は1バースト毎に1 回行われるので 統計表示テーブル中の num 値を見ることで捕捉波形中にいくつの Write バーストがあるかがわかります Rev A 66

67 QPHY-DDR3 オペレーターズ マニュアル は tdipw が最小値をとる時間位置を示します これは 最悪ケース結果 の波形位置をズーム表示するのに使用されます freq(f1) は差動クロック信号の周波数を計測します Rev A 67

68 tdss/tdsh, DQS to CK Setup/Hold Time この試験はプローブ構成 2を使用して実施されます この試験の目的は Write バースト中の DQS 立ち下がりエッジと CK 立ち上がりエッジのホールド タイムを評価することです tdss および tdsh 両方に対して最小値が計測されます Note: tdss のみ以下で解説します tdsh の計測手順はセットアップ タイムではなくホールド タイムを計測する以外は同様です tdss 試験完了後のオシロスコープ画面は以下になります : この画面に表示されているもの : Z1 はプローブ デスキュー適用後の CK 信号 すなわち F1 のズームトレース t@dssmax で表示される tdss 計測における 最悪ケース結果 の位置をズームしています 計測されたエッジの Vref の位置にトレース名が表示されています Z2 はプローブ デスキュー適用後の DQS 信号 すなわち F2 のズームトレース t@dssmax で表示される tdss 計測値における 最悪ケース結果 の位置をズームしています DQS と割り当てられた信号名が画面上の計測されたエッジの Vref の位置に表示されています tdss/tdsh 結果 Measure セクションにおいて : tdss(p1) は DQS が立ち下がりエッジで Vref をよぎってから CK が立ち上がりエッジで Vref をよぎるまでのセットアップ タイムを計測します 基本的に2つのトレース ラベルの Rev A 68

69 QPHY-DDR3 オペレーターズ マニュアル 間の時間を計測します 統計表示テーブルの最小値は結果レポート中の tdss min に相当し mtck(avg) を単位として記載されます tdqdqs(p2) は DQ と DQS 間のスキューを計測します この計測は1バースト毎に1 回行われるので 統計表示テーブル中の num 値を見ることで捕捉波形中にいくつの Write バーストがあるかがわかります は tdss が最小値をとる時間位置を示します これは 最悪ケース結果 の波形位置をズーム表示するのに使用されます freq(f1) は差動クロック信号の周波数を計測します Rev A 69

70 tds(base)/tdh(base), DQ to DQS Setup/Hold Time この試験はプローブ構成 2を使用して実施されます この試験の目的は Write バースト中の DQ と DQS 間のセットアップとホールド タイムを評価することです tds(base) および tdh(base) 両方に対して最小値が計測されます ベース値はセットアップ / ホールド タイムからディレーティング ( デルタ ) ファクタを差し引いたものに等しくなります ディレーティング ファクタは信号の計測されたスリューレートに対して判定値の補正を提供し 計測されたスリューレートと AC レベルに依存します Note: tds のみ以下で解説します tdh に対する計測手順はセットアップ タイムの代わりにホールド タイムを使用する以外は全く同様です tds 試験完了後のオシロスコープ画面は以下になります : この画面に表示されているもの : Z2 はプローブ デスキュー適用後の DQS 信号 すなわち F2 のズームトレース t@dsmin で表示される tds 計測における 最悪ケース結果 の位置をズームしています 計測されたエッジの Vref の位置にトレース名 DQS が表示されています Z3 はプローブ デスキュー適用後の DQ 信号 すなわち F3 のズームトレース t@dsmin で表示される tds 計測値における 最悪ケース結果 の位置をズームしています トレース ラベルには DQ の信号名が割り振られ VIH/VIL(ac) とディレーティング適用後の位置に配置されます Rev A 70

71 QPHY-DDR3 オペレーターズ マニュアル tds/tdh 結果 Measure セクションにおいて : tds(base)(p1) は判定値と比較される値としてベース セットアップ タイムを計測します ベース セットアップ タイムはトータル セットアップ タイムからディレーティング ( デルタ ) ファクタを差し引いたものに等しくなります 立ち上がりエッジにおいてトータル セットアップ タイムは VIH(ac)min をよぎる DQ の時間と Vref をよぎる DQS の時間間隔で計測され 立ち下がりエッジにおいては VIL(ac)max をよぎる DQ の時間と Vref をよぎる DQS の時間間隔で計測されます ディレーティング値 (P6) は計測値から差し引かれます 基本的に DQS at Vref と DQ derated のトレースラベル間の時間を計測します 統計表示テーブルの最小値は結果レポート中の tds(base)min に相当し ps を単位として記載されます tdqdqs(p2) は DQ と DQS 間のスキューを計測します この計測は1バースト毎に1 回行われるので 統計表示テーブル中の num 値を見ることで捕捉波形中にいくつの Write バーストがあるかがわかります t@tdsmin(p4) は tds が最小値をとる時間位置を示します これは 最悪ケース結果 の波形位置をズーム表示するのに使用されます tdsdelta@min(p5) は tds 最小値におけるディレーティング値を示します この値は計測された DQ(P7) と DQS(P8) のスリューレートの値をテーブルから読みこんで来て計算されます tdsdelta(p6) は全体波形に渡って計算されたディレーティング値を示します この値は計測された DQ(P7) および DQS(P8) のスリューレート値をベースにしています DQ Slew(P7) は最小 tds 値における DQ スリューレートを計測します 立ち上がりエッジにおけるスリューレートは Vref と VIH(ac)min の間を計測し 立ち下がりエッジにおけるスリューレートは Vref と VIL(ac)max の間を計測します DQS Slew(P8) は tds 最小値における DQS スリューレートを計測します 立ち上がりエッジにおけるスリューレートは Vref と VIH(ac)min の間を計測し 立ち下がりエッジにおけるスリューレートは Vref と VIL(ac)max の間を計測します Rev A 71

72 twpre/twpst, Write Pre/Postamble Time これらの試験はプローブ構成 2を使用して実施されます この試験の目的は捕捉波形における全ての Write バースト中のプリアンブルおよびポストアンブルの時間を評価することです twpre はプリアンブルが開始した (DQS が idle から動き始めた ) 時点とプリアンブルが終了した時点 (DQS が Vref に達した ) の間のタイミングを計測します twpst はポストアンブルが開始した (DQS が Vref に達した ) 時点からポストアンブルが終了した (DQS が idle に戻った ) 時点の間のタイミングを計測します それら両方の試験は信号の形によって影響を受け誤差となる可能性がある信号開始時点の決定に補間アルゴリズムを使用します Note: twpre のみ以下で解説します TWPRE と twpst の違いはプリアンブルの測定か ポストアンブルの測定かだけです twpre 試験完了後のオシロスコープ画面は以下になります : この画面に表示されているもの : Z2 はプローブ デスキュー適用後の DQS 信号 すなわち F2 のズームトレース t@wpremin で表示される twpre 計測における 最悪ケース結果 の位置をズームしています 補間アルゴリズムにより決定された デバイスが idle から動いた時点と Vref に戻った時点の位置にトレース名 DQS が表示されています この信号トレースがこの試験において計測される対象です Z3 はプローブ デスキュー適用後の DQ 信号 すなわち F3 のズームトレース t@wpremin で表示される twpre 計測値における 最悪ケース結果 の位置をズームしています DQ の信号名が割り振らたトレース ラベルが配置されます この信号波形は参考表示になります Rev A 72

73 QPHY-DDR3 オペレーターズ マニュアル twpre/twpst 結果 Measure セクションにおいて : twpre(p1) は DQS が idle から動きはじめてから最初に Vref を立ち上がりエッジでよぎるまでの時間を計測します この idle レベルから逸脱した時間は補間によって決定された位置にトレース ラベルで表示されます 基本的に2つのトレース ラベル間の時間を計測します 統計表示テーブルにおける最小値が結果レポート中の twpre min に相当し mtck(avg) を単位として記載されます tdqdqs(p2) は DQ と DQS 間のスキューを計測します この計測は1バースト毎に1 回行われるので 統計表示テーブル中の num 値を見ることで捕捉波形中にいくつの Write バーストがあるかがわかります t@twpremin(p4) は twpre が最小値をとる時間位置を示します これは 最悪ケース結果 の波形位置をズーム表示するのに使用されます Rev A 73

74 tis(base)/tih(base), ADD and CTRL Setup/Hold Time この試験はプローブ構成 3を使用して実施されます この試験の目的は Write バースト中の ADD/CTRL 信号と CK 間のセットアップおよびホールド タイムを評価することです tis(base) および tih(base) 両方の最小値が計測されます ベース値はセットアップ / ホールド タイムからディレーティング ( デルタ ) ファクタを差し引いたものに等しくなります ディレーティング ファクタは信号の計測されたスリューレートに対して判定値の補正を提供し 計測されたスリューレートと AC レベルに依存します Note: tis のみ以下で解説します tih に対する計測手順はセットアップ タイムの代わりにホールド タイムを使用する以外は全く同様です tis 試験完了後のオシロスコープ画面は以下になります : この画面に表示されているもの : Z1 はプローブ デスキュー適用後の CK 信号 すなわち F1 のズームトレース t@ismin で表示される tis 計測における 最悪ケース結果 の位置をズームしています 計測されたエッジの Vref の位置にトレース名 CK が表示されています Z4 はプローブ デスキュー適用後の ADD/CTRL 信号 すなわち F4 のズームトレース t@ismin で表示される tis 計測値における 最悪ケース結果 の位置をズームしています トレース ラベルには ADD/CTRL の信号名が割り振られ VIH/VIL(ac) とディレーティング適用後の位置に配置されます tis/tih 結果 Rev A 74

75 QPHY-DDR3 オペレーターズ マニュアル Measure セクションにおいて : tis(base)(p1) は判定値と比較される値としてベース セットアップ タイムを計測します ベース セットアップ タイムはトータル セットアップ タイムからディレーティング ( デルタ ) ファクタを差し引いたものに等しくなります 立ち上がりエッジにおいてトータル セットアップ タイムは VIH(ac)min をよぎる ADD/CTRL の時間と Vref をよぎる CK の時間間隔で計測され 立ち下がりエッジにおいては VIL(ac)max をよぎる ADD/CTRL の時間と Vref をよぎる CK の時間間隔で計測されます ディレーティング値 (P6) は計測値から差し引かれます 基本的に CK at Vref と ADD/CTRL derated のトレースラベル間の時間を計測します 統計表示テーブルの最小値は結果レポート中の tis(base)min に相当し ps を単位として記載されます tdqdqs(p2) は DQ と DQS 間のスキューを計測します この計測は1バースト毎に1 回行われるので 統計表示テーブル中の num 値を見ることで捕捉波形中にいくつの Write バーストがあるかがわかります t@tismin(p4) は tis が最小値をとる時間位置を示します これは 最悪ケース結果 の波形位置をズーム表示するのに使用されます tisdelta@min(p5) は tis 最小値におけるディレーティング値を示します この値は計測された ADD/CTRL(P7) と CK(P8) のスリューレートの値をテーブルから読みこんで来て計算されます tisdelta(p6) は全体波形に渡って計算されたディレーティング値を示します この値は計測された ADD/CTRL(P7) および CK(P8) のスリューレート値をベースにしています AD/CTLSlew(P7) は最小 tis 値における ADD/CTRL スリューレートを計測します 立ち上がりエッジにおけるスリューレートは Vref と VIH(ac)min の間を計測し 立ち下がりエッジにおけるスリューレートは Vref と VIL(ac)max の間を計測します CKSlew(P8) は tis 最小値における CK スリューレートを計測します 立ち上がりエッジにおけるスリューレートは Vref と VIH(ac)min の間を計測し 立ち下がりエッジにおけるスリューレートは Vref と VIL(ac)max の間を計測します Rev A 75

76 tipw, Control and Address Input Pulse Width for Each Input この試験は Write バースト中における ADD/CTRL 信号のパルス幅を計測します Hi および Low パルス両方に対しての最小値が計測されます tipw 試験完了後のオシロスコープ画面は以下になります : この画面に表示されているもの : Z4 はプローブ デスキュー適用後の ADD/CTRL 信号 すなわち F4 のズームトレース t@tipwmin で表示される tipw 計測における 最悪ケース結果 の位置をズームしています 計測されたエッジの Vref の位置にトレース名 ADD/CTRL が表示されています tdipw 結果 Measure セクションにおいて : tipwhigh(p1) は ADD/CTRL の Hi 区間の時間を計測します この Hi 区間の時間は ADD/CTRL が立ち上がりエッジで Vref をよぎってから ( 画面中央 ) 次ぎに立ち下がりエッジで Vref をよぎる ( トレース ラベルが表示されている箇所 ) 時間を計測する事で決定されます 統計表示テーブルの最小値は結果レポート中の tipw High min に相当し ps を単位として記載されます tdqdqs(p2) は DQ と DQS 間のスキューを計測します この計測は1バースト毎に1 回行われるので 統計表示テーブル中の num 値を見ることで捕捉波形中にいくつの Write バーストがあるかがわかります t@tipwmin(p4) は tipw が最小値をとる時間位置を示します これは 最悪ケース結果 の波形位置をズーム表示するのに使用されます Rev A 76

77 QPHY-DDR3 オペレーターズ マニュアル Timing Tests on Read Bursts これらタイミング試験は以下に示すプローブ構成を使用して Read バースト (input) に対して実施されます tdqsq, DQS to DQ Skew この試験はプローブ構成 2を使用して実施されます この試験の目的は最新の有効な DQ 遷移を評価することです この試験は Read バーストにおける全ての DQ 遷移に対して DQS が Vref をよぎる位置と DQ が Vref をよぎる位置間の最大スキュー値を計測します tdqdqs 試験完了後のオシロスコープ画面は以下になります : この画面に表示されているもの : Z2 はプローブ デスキュー適用後の DQS 信号 すなわち F2 のズームトレース t@dqsqmax で表示される tdqsq 計測における 最悪ケース結果 の位置をズームしています DQS と割り振られたトレース名が Vref 位置に表示されます Z3 はプローブ デスキュー適用後の DQ 信号 すなわち F3 のズームトレース t@dqsqmax で表示される tdqsq 計測値における 最悪ケース結果 の位置をズームしています DQ と割り振らたトレース名 Vref 位置に表示されます tdqsq 結果 Measure セクションにおいて : tdqsq(p1) は各 DQ 遷移に対して DQS が Vref をよぎる位置から DQ が Vref をよぎる位置ま での時間を計測します 基本的に 2 つのトレース ラベル間の時間を計測します 統計表 Rev A 77

78 示テーブルにおける最大値が結果レポート中の tdqsq Max に相当し ps を単位として記載されます tdqdqs(p2) は DQ と DQS 間のスキューを計測します この計測は1バースト毎に1 回行われるので 統計表示テーブル中の num 値を見ることで捕捉波形中にいくつの Read バーストがあるかがわかります は tdqsq が最大値をとる時間位置を示します これは 最悪ケース結果 の波形位置をズーム表示するのに使用されます freq(f1) は差動クロック信号の周波数を計測します Rev A 78

79 QPHY-DDR3 オペレーターズ マニュアル tqsh/tqsl, DQS Output High/Low Time この試験はプローブ構成 2を使用して実施されます これらの試験は Read バースト中の各 DQS 遷移に対して Hi(tQSH) および Low(tQSL) のパルス幅を計測します tqsh/tqsl の最大値 最小値とも計測されます この試験は Write バーストにおける tdqsh および tdqsl と非常によく似ています Note: tqsl についてのみ以下で解説します tqsh の計測手順は DQS に対して立ち下がりエッジから立ち上がりエッジの計測を行う代わりに立ち上がりエッジから立ち下がりエッジで行う事以外は全く同様です tqsl 試験完了後のオシロスコープ画面は以下になります : この画面に表示されているもの : Z2 はプローブ デスキュー適用後の DQS 信号 すなわち F2 のズームトレース t@tqslmin で表示される tqsl 計測値における 最悪ケース結果 の位置をズームしています DQS と割り当てられた信号名が画面上の計測されたエッジの Vref の位置に表示されています tqsh/tqsl 結果 Measure セクションにおいて : tqsl(p1) は DQS の Low 区間の時間を計測します この Low 区間の時間は DQS が立ち下がり エッジで Vref をよぎってから 次ぎに立ち上がりエッジで Vref をよぎる時間を計測する Rev A 79

80 事で決定されます 統計表示テーブルの最小値は結果レポート中の tqsl min に相当し mtck(avg) を単位として記載されます tdqdqs(p2) は DQ と DQS 間のスキューを計測します この計測は1バースト毎に1 回行われるので 統計表示テーブル中の num 値を見ることで捕捉波形中にいくつの Read バーストがあるかがわかります は tqsl が最小値をとる時間位置を示します これは 最悪ケース結果 の波形位置をズーム表示するのに使用されます freq(f1) は差動クロック信号の周波数を計測します Rev A 80

81 QPHY-DDR3 オペレーターズ マニュアル tqh, DQ Output Hold Time この試験はプローブ構成 2を使用して実施されます この試験の目的は最初の有効でない DQ 遷移を評価することです この試験は DQS が Vref をよぎってから次に Vref をよぎるまでの最小時間を計測します tqh 試験完了後のオシロスコープ画面は以下になります : この画面に表示されているもの : Z2 はプローブ デスキュー適用後の DQS 信号 すなわち F2 のズームトレース t@tqhmax で表示される tqh 計測における 最悪ケース結果 の位置をズームしています DQS と割り振られたトレース名が Vref 位置に表示されます Z3 はプローブ デスキュー適用後の DQ 信号 すなわち F3 のズームトレース t@tqhmax で表示される tqh 計測値における 最悪ケース結果 の位置をズームしています DQ と割り振らたトレース名 Vref 位置に表示されます tqh 結果 Measure セクションにおいて : tqh(p1) は DQS のホールド タイムを計測します ホールド タイムは DQS が Vref をよぎってから 次に Vref をよぎる時間の間隔を計測する事で決定されます 基本的に2つのマーカ位置の間隔を計測します 統計表示テーブルの最小値は結果レポート中の tqh min に相当し mtck(avg) を単位として記載されます tdqdqs(p2) は DQ と DQS 間のスキューを計測します この計測は1バースト毎に1 回行わ Rev A 81

82 れるので 統計表示テーブル中の num 値を見ることで捕捉波形中にいくつの Read バーストがあるかがわかります は tqh が最小値をとる時間位置を示します これは 最悪ケース結果 の波形位置をズーム表示するのに使用されます freq(f1) は差動クロック信号の周波数を計測します Rev A 82

83 QPHY-DDR3 オペレーターズ マニュアル tdqsck, CK to DQS Skew この試験はプローブ構成 2を使用して実施されます この試験の目的は Read バースト中の CK に関係した DQS 立ち上がりエッジのタイミングマージンを評価することです この試験は Vref レベルにおける CK 立ち上がりエッジと Vref レベルにおける最近接の DQS 立ち上がりエッジの時間差を計測します この試験は Write バーストにおける tdqss と非常によく似ています tdqss 試験完了後のオシロスコープ画面は以下になります : この画面に表示されているもの : Z1 はプローブ デスキュー適用後の CK 信号 すなわち F1 のズームトレース t@dqsckmax で表示される tdqsck 計測における 最悪ケース結果 の位置をズームしています 計測されたエッジの Vref の位置にトレース名が表示されています Z2 はプローブ デスキュー適用後の DQ 信号 すなわち F2 のズームトレース t@dqsckmax で表示される tdqsck 計測値における 最悪ケース結果 の位置をズームしています DQS と割り当てられた信号名が画面上の計測されたエッジの Vref の位置に表示されています tdqsck 結果 Measure セクションにおいて : tdqsck(p1) は CK と DQS 間のスキューを計測します このスキュー値は Vref における CK の立ち上がりエッジと最近接の Vref における DQS の立ち上がりエッジの時間を計測します Rev A 83

84 基本的に2つのトレースラベルの間隔を計測します 統計表示テーブルの最大値は結果レポート中の tdqsck max に相当し mtck(avg) を単位として記載されます tdqdqs(p2) は DQ と DQS 間のスキューを計測します この計測は1バースト毎に1 回行われるので 統計表示テーブル中の num 値を見ることで捕捉波形中にいくつの Read バーストがあるかがわかります は tdqsck が最大値をとる時間位置を示します これは 最悪ケース結果 の波形位置をズーム表示するのに使用されます freq(f1) は差動クロック信号の周波数を計測します Rev A 84

85 QPHY-DDR3 オペレーターズ マニュアル thz/tlz, High/Low Impedance Time この試験はプローブ構成 2を使用して実施されます この試験の目的は Hi および Low インピーダンス タイムを評価することです これらの試験はデバイスがドライブを停止した時点 (thz) もしくはドライブを開始した時点 (tlz) と CK が Vref をよぎる時点の時間を計測します thz は最大値のみ tlz は最小値と最大値両方を計測します これらの試験は DQ および DQS 両方に対して実施されます どちらの試験とも 波形の形によって影響をうけ誤差を生じる可能性のある信号開始ポイントを決定するのに補間アルゴリズムを使用します Note: tlz(dq) のみ以下で解説します tlz と thz の違いはドライブ開始かドライブ停止かの違いのみになります tlz は CK エッジから DQ/DQS がドライブ開始するまでの時間を計測します thz は CK エッジから DQ/DQS がドライブを停止するまでの時間を計測します この計測手順は DQS に対するものと同様です tlz(dq) 試験完了後のオシロスコープ画面は以下になります : この画面に表示されているもの : Z1 はプローブ デスキュー適用後の CK 信号 すなわち F1 のズームトレース t@lzmax で表示される tlz 計測における 最悪ケース結果 の位置をズームしています 計測されたエッジの Vref の位置にトレース名が表示されています Z3 はプローブ デスキュー適用後の DQ 信号 すなわち F3 のズームトレース t@lzmax で表示される tlz 計測値における 最悪ケース結果 の位置をズームしています DQ と割り当てられた信号名がドライブ停止した位置に表示されています この信号トレースがこの試験において計測される対象です Rev A 85

86 thz/tlz 結果 Measure セクションにおいて : tlz(p1) は CK から DQ がドライブを開始するまでの時間を計測します この時間位置は補間アルゴリズムによって決定された場所にトレースラベルで表示されます 基本的に2つのトレースラベルの間隔を計測します 統計表示テーブルの最大値は結果レポート中の tlz max に相当します 判定値は任意のクロック ジッタを考慮してディレーティングされます tdqdqs(p2) は DQ と DQS 間のスキューを計測します この計測は1バースト毎に1 回行われるので 統計表示テーブル中の num 値を見ることで捕捉波形中にいくつの Read バーストがあるかがわかります t@tlzmax(p3) は tlz が最大値をとる時間位置を示します これは 最悪ケース結果 の波形位置をズーム表示するのに使用されます freq(f1) は差動クロック信号の周波数を計測します Rev A 86

87 QPHY-DDR3 オペレーターズ マニュアル trpre/trpst, Read Preamble この試験はプローブ構成 2を使用して実施されます この試験の目的は捕捉波形中の Read バーストにおけるプリアンブルおよびポストアンブルの時間を評価することです trpre はプリアンブルが開始して (DQS が idle から動き出して ) からプリアンブルが終了する (DQS が Vref に戻る ) までの時間を計測します trpst はポストアンブルが開始して (DQS が Vref) からポストアンブルが終了する (DQS が idle に戻る ) までの時間を計測します それら両試験は波形の形によって影響をうけ誤差を生じる信号開始時点の決定に補間アルゴリズムを使用します Note: trpre のみ以下で解説します trpre と trpst の違いはプリアンブルを測定するかポストアンブルを測定するかの違いのみです trpre 試験完了後のオシロスコープ画面は以下になります : この画面に表示されているもの : Z2 はプローブ デスキュー適用後の DQS 信号 すなわち F2 のズームトレース t@rpremin で表示される trpre 計測値における 最悪ケース結果 の位置をズームしています 補間アルゴリズムにより決定された デバイスが idle から動いた時点と Vref に戻った時点の位置にトレース名 DQS が表示されています trpre/trpst 結果 Measure セクションにおいて : trpre(p1) は DQS が idle から動きはじめてから最初に Vref を立ち上がりエッジでよぎるまでの時間を計測します この idle レベルから逸脱した時間は補間によって決定された位置にトレース ラベルで表示されます 基本的に2つのトレース ラベル間の時間を計測します 統計表示テーブルにおける最小値が結果レポート中の trpre min に相当し Rev A 87

88 mtck(avg) を単位として記載されます tdqdqs(p2) は DQ と DQS 間のスキューを計測します この計測は1バースト毎に1 回行われるので 統計表示テーブル中の num 値を見ることで捕捉波形中にいくつの Write バーストがあるかがわかります は twpre が最小値をとる時間位置を示します これは 最悪ケース結果 の波形位置をズーム表示するのに使用されます freq(f1) は差動クロック信号の周波数を計測します Rev A 88

89 QPHY-DDR3 オペレーターズ マニュアル QPHY-DDR3 変数 Custom Speed Grade in MT/s この変数は使用するカスタム スピード グレードを定義することを可能にします このスピード グレードはオシロスコープのタイムベースおよびサンプリング レートを設定するのに使用されます 詳細は Clock Period Per Screen Division の項目をご覧ください この変数のデフォルト値は 0 です デフォルト値では QPHY は選択された判定値セットからスピードグレードを読み込みます Waveform Path この変数は波形の保存や読み出し先のオシロスコープ上のパス名を指定します When Use Stored Waveforms が No になっている場合 捕捉された波形は試験開始時に この指定されたパスの中の DUT 名とセッション番号がつけられた名称のサブフォルダに保存されます 保存波形データのファイル名の規則の詳細については Appendix A を参照してください When Use Stored Waveforms が Yes の場合は QPHY はこの指定されたパスの中の DUT 名とセッション番号がつけられた名称のサブフォルダに保存された波形を呼び出します この変数のデフォルト値は D: Waveforms DDR3 です Script Execution Settings Enable Prompt before Signal Acquisition True に設定された場合 波形捕捉を開始する前にメッセージが表示されます これによりユーザは波形捕捉前に Read/Write バーストを発生させたり トリガ条件を手動で変更したり出来ます この変数のデフォルト値は False です Silent Mode この変数を Yes に設定した場合 QPHY は何もメッセージを出すこと無く動作します この変数のデフ ォルト値は No です Stop On Test この変数を Yes に設定した場合 スクリプトは各試験毎に毎回停止し その試験結果を見てから先に進めるようになります スクリプトが停止した時点でオシロスコープの設定を変更して波形をさらに詳細にデバックして調べることも出来ます デバック終了後 ボタンをクリックすればシームレスに試験は継続します この変数のデフォルト値は No です Use Chip Select この変数を Yes にした場合 マルチ-ランク システムにおいて 正しく Read および Write バーストを識別出来るようにチップ セレクト信号を使用するようになります チップ セレクト ラインは Overall Read Latency と Overall Write Latency 変数と共に適切な Read および Write バーストを正しく識別するのに使用されます この変数を使用するには CS に接続されたもう一本のプローブが必要です この変数のデフォルト値は No です Rev A 89

90 Signal Names これらの変数を使用すると試験レポートとスクリーンショットに現れる信号名をユーザ定義する事が出 来ます DQ Signal Name この変数で試験レポートとスクリーンショットに現れる DQ 信号の名称をユーザ定義出来ます デフォ ルト信号名は DQ0 です DQS Signal Name この変数で試験レポートとスクリーンショットに現れる DQS 信号の名称をユーザ定義出来ます デフォ ルト信号名は DQS0 です DQS_t Signal Name この変数で試験レポートとスクリーンショットに現れる DQS_t 信号の名称をユーザ定義出来ます デフ ォルト信号名は DQS0_t です DQS_c Signal Name この変数で試験レポートとスクリーンショットに現れる DQS_t 信号の名称をユーザ定義出来ます デフ ォルト信号名は DQS0_c です ADD/CTRL Signal Name この変数で試験レポートとスクリーンショットに現れる ADD/CTRL 信号の名称をユーザ定義出来ます デフォルト信号名は A0 です CK_t Signal Name この変数で試験レポートとスクリーンショットに現れる CK_t 信号の名称をユーザ定義出来ます デフォ ルト信号名は CK0_t です CK_c Signal Name この変数で試験レポートとスクリーンショットに現れる CK_c 信号の名称をユーザ定義出来ます デフ ォルト信号名は CK0_c です Chip Select Signal Name この変数で試験レポートとスクリーンショットに現れる CS 信号の名称をユーザ定義出来ます デフォル ト信号名は CS0# です Rev A 90

91 QPHY-DDR3 オペレーターズ マニュアル Virtual Probe Setup これらの変数は Virtual Probe 機能を使用したい場合に設定する必要があります Virtual Probe Control この変数で VirtualProbing をイネーブルにし どの試験グループに適用するかを定義します ユーザは Read バースト Write バーストあるいはその両方 いづれに Virtual Probe を適用するか選択します Virtual Probe 機能を使用するには Virtual Probe オプションがオシロスコープに入っていなければなりません この変数のデフォルト値は Off です Virtual Probe Tool Selection この変数では Virtual Probe をイネーブルにした際に Virtual Probe at もしくは Virtual Probe どちらを使用するかを選択します この変数のデフォルト値は です VP at Receiver Path この変数は Virtual Probe at Receiver の設定ファイルを保存 / 読み込みするオシロスコープ上のパスを指 定します VP@Rcvr setup file name これらの変数は各信号 (Dqse, DQSdiff, あるいは Ckdiff) に対する VP@Rcvr 設定ファイルの名称を定義 します VirtualProbe Path この変数は Virtual Probe 設定ファイルを保存 / 読み込みするオシロスコープ上のパスを指定します VirtualProbe setup file name この変数は試験する全ての信号に対して使用される VirtualProbe 設定ファイルの名称を定義します Demo Settings これらの変数は 保存波形を使用して QPHY を走らせたい場合に設定する必要があります Use Stored Waveforms この変数を Yes に設定すると 以前保存した波形を使用して QPHY を走らせることが出来ます Waveform Path で指定された場所から波形を読み出して使用します この変数のデフォルト値は No です Recalled Waveform File Index (5 digits) QPHY はファイルに付加された 5 桁のインデックスを使用して保存ファイルを読み出します この変数 のデフォルト値は です Rev A 91

92 Define format used to set trace names この変数は QPHY が波形保存 / 読み込みする方法を定義します LeCroy が指定されている場合 信号名から割り振られたフォーマットに従った名称でファイルは自動的に保存 / 読み込みされます もし Dialog が選択された場合 保存 / 読み込みの際にユーザはポップアップウィンドウにてファイル名を入力します この変数のデフォルト値は LeCroy です Use Stored Trace for Speed Grade このオプションを設定すると QPHY は実行中に一回だけクロック周波数 ( これは選択されたスピードグ レードの確認に使用されます ) の計測をするようになります この変数のデフォルト値は No です Rev A 92

93 QPHY-DDR3 オペレーターズ マニュアル Advanced Settings これらの変数は QualiPHY スクリプトを介してより複雑な制御を行う上級者向け設定です Clock Period Per Screen Division この変数では DUT スピードグレード MT/s と Max. Number of Samples Per Clock Period で指定された値を用いて水平軸 1 目盛あたり何クロック サイクルを捕捉するかを規定し オシロスコープのタイムベースおよびサンプリング レートがそれにより設定されます この変数のデフォルト値は 3341 クロック周期です ( これは 667MT/s および1 周期あたり 100 サンプル ポイントの設定で 3.3MS 最大に対して 10us/div タイムベース設定になります ) Timebase = [Clock Period Per Screen Division] / ([DUT Speed Grade in MT/s] / 2 * 1e6) Maximum Samples = [Max. Number Of Samples Per Clock Period] * [Clock Period Per Screen Division] * 10 Number of Cycles for Clock test JEDEC 規格はクロックのコンプライアンス テストにおいて 200 サイクルを規定しています この変 数ではいずれの正の整数でも指定できます この変数のデフォルト値は 200 サイクルです Max. Number Of Samples Per Clock Period この変数で指定されたクロック周期あたりのサンプル ポイント数になるようにオシロスコープのタイムベースとサンプリング レートを設定します 詳細は Clock Period Per Screen Division の項目を参照ください 10, 20, 50, 100, 200, 500 あるいは 1000 の中から選択します この変数のデフォルト値は 100 になります Advanced Settings Standard Levels SE AC Input Levels for ADD/CMD この変数は ADD/CMD 信号に対して使用される AC レベルを選択します Auto に設定されている場合は AC レベルは以下の表に従って選択されます この変数のデフォルト値は Auto です SE DC Input Levels for ADD/CMD この変数は ADD/CMD 信号に対して使用される DC レベルを選択します Auto に設定されている場合は DC レベルは以下の表に従って選択されます この変数のデフォルト値は Auto です Rev A 93

94 SE AC Input Levels for DQ この変数は DQ 信号に対して使用される AC レベルを選択します Auto に設定されている場合は AC レ ベルは以下の表に従って選択されます この変数のデフォルト値は Auto です SE DC Input Levels for DQ この変数は DQ 信号に対して使用される DC レベルを選択します Auto に設定されている場合は DC レ ベルは以下の表に従って選択されます この変数のデフォルト値は Auto です Rev A 94

95 QPHY-DDR3 オペレーターズ マニュアル Advanced Settings Custom Levels Standard or Custom Levels この変数は Standard あるいは Custom レベルを設定します Standard は Standard Levels 変数のセクションで指定された JEDEC 仕様によって規定されたレベルを使用します Custom は Custom Levels 変数のセクションで指定された VIH/VIL AC/DC レベルを使用します この変数のデフォルト値はStandard です VDD, VDDQ, VIH(ac), VIH(dc), VIL(ac), VIL(dc), Vref, VSS これらの変数は各レベルに対して使用されるカスタム値を設定します 各変数の単位は mv です これ らの変数は Custom レベルが選択されているときのみ使用されます Advanced Settings Latency Settings Overall Read Latency この変数は DDR コマンド (Read) から関連する Read バーストの最初のデータビットまでの Delay を規定します この設定はマルチ-ランク システムにおいて Read および Write バーストを適切に識別するためにチップ セレクトを使用する場合に必要となります このレイテンシはクロック周期で規定されます この変数のデフォルト値は 5 です Overall Write Latency この変数は DDR コマンド (Read) から関連する Write バーストの最初のデータビットまでの Delay を規定します この設定はマルチ-ランク システムにおいて Read および Write バーストを適切に識別するためにチップ セレクトを使用する場合に必要となります このレイテンシはクロック周期で規定されます この変数のデフォルト値は 5 です Probe Setup - Common Variables このセクションでは全てのプローブ構成に共通する変数をカバーします 各プローブ構成ごとの変数は 個別プローブ構成のセクションにてカバーされます Probe Tip Selection この変数は使用するプローブ先端の種類を指定します 選択可能なプローブ先端は SI, PT, SMA/SMP, SP, および HiTemp になります この変数のデフォルト値は SI です Channel Gain 垂直軸スケールを V/div でマニュアル指定出来ます Channel Index 入力チャンネルの割り振りをマニュアル指定出来ます Rev A 95

96 Channel Invert 信号の正負反転を設定できます (+/- 逆にプロービングしてしまった場合に設定します ) Channel Offset 電圧オフセットを V を単位としてマニュアル設定します Probe Setup: CKdiff これらの変数は差動クロック (CK) のみを使用する構成のプローブセットアップを指定します CAS Latency, CAS Write Latency, Speed Bin この変数は JESD79-3F の Table で定義された tck(avg) 判定値を定義します これらの変数は Speed Bin Parameters Automatic Selection が No に設定されている場合に使用されます この変数のデフォルト値は CAS Latency(CL) が 5 CAS Write Latency(CWL) が 5 および Speed Bin が DDR3-1600H となります Speed Bin Parameters Automatic Selection この変数を Yes に設定すると QPHY は CL, CWL, および Speed Bin を有効な組み合わせに自動設定しま す No とすると QPHY は別途定義された値を使用します この変数のデフォルト値は Yes です Probe Setup: CKdiff-DQSdiff-DQse これらの変数は差動クロック (CK) シングルエンド データ (DQ) および差動ストローブ (DQS) を使用 するプローブ構成に対するプローブ セットアップです Input Slew Rate この変数は入力スリューレート試験でテストされる信号の設定をします DQ, DQS, および CK もしくはそのうちひとつの信号のみを選択します この変数のデフォルト値は DQ, DQS, および CK になります tdqsck この変数は もし tdqsck が tck より小さい場合の設定を行います この変数のデフォルト設定値は No です Probe Setup: CKdiff-DQSdiff-DQse-ADD/CTRLse これらの変数は差動クロック (CK) シングルエンド データ(DQ) 差動ストローブ(DQS) およびシングルエンド アドレス (ADD)/ コントロール (CTRL) 信号を使用する構成に対するプローブ設定をおこないます Rev A 96

97 QPHY-DDR3 オペレーターズ マニュアル Input Slew Rate この変数は入力スリューレート試験においてテストされる信号を指定します ユーザは ADD, DQ, DQS, および CK もしくはそれら信号のうちひとつを指定します この変数のデフォルト値は ADD のみです QPHY-DDR3 Limit Sets DDR3-800 このセットは 800MT/s に対する JEDEC JESD79-3F DDR 規格仕様の規格値に相当します DDR このセットは 1066MT/s に対する JEDEC JESD79-3F DDR 規格仕様の規格値に相当します DDR このセットは 1333MT/s に対する JEDEC JESD79-3F DDR 規格仕様の規格値に相当します DDR このセットは 1600MT/s に対する JEDEC JESD79-3F DDR 規格仕様の規格値に相当します DDR このセットは 1866MT/s に対する JEDEC JESD79-3F DDR 規格仕様の規格値に相当します DDR このセットは 2133MT/s に対する JEDEC JESD79-3F DDR 規格仕様の規格値に相当します DDR3L-800 このセットは 800MT/s に対する JEDEC JESD79-3-1A.01 DDR3L 規格仕様の規格値に相当します DDR3L-1066 このセットは 1066MT/s に対する JEDEC JESD79-3-1A.01 DDR3L 規格仕様の規格値に相当します DDR3L-1333 このセットは 1333MT/s に対する JEDEC JESD79-3-1A.01 DDR3L 規格仕様の規格値に相当します DDR3L-1600 このセットは 1600MT/s に対する JEDEC JESD79-3-1A.01 DDR3L 規格仕様の規格値に相当します DDR3L-1866 このセットは 1866MT/s に対する JEDEC JESD79-3-1A.01 DDR3L 規格仕様の規格値に相当します Rev A 97

98 Appendix A: File name conventions for saved waveforms QPHY-DDR3 は指定されたファイル名ルールに従って各捕捉波形を保存します この波形名の定義に従って ユーザは以前実施した試験時の波形を呼び戻して再度試験を実施し テスト結果を再現することが出来ます QPHY-DDR3 を demo モードで動作させる場合 QPHY がどの波形を呼び戻せばいいのかを知らせるために適切にこの設定を行う必要があります ここで標準的な QPHY-DDR3 波形名は以下の様になっています :C2_CKDQ0DQS3_DQS3 _00014.trc C2 : 信号を捕捉するチャンネルになります このケースでは C2 を使用しています Demo モードで動作させるときはこの部分の指定が Channel Index 変数での指定と合致していなければなりません 指定可能な値 : C1, C2, C3, C4 CKDQ0DQS3 : この指定は波形捕捉に使用されるプローブセットアップを示します Demo モードで動作させるときはこの部分の指定が試験実施時のプローブ構成に合致していなければなりません 指定可能な値 :CK (CK diff probe Setup), CKDQxDQSx (CK-DQ-DQS 3 probe setup), CKDQxDQSxAx (CK-DQ-DQS-Add 4 probe setup), 他 DQS3 : この指定は Signal Name 変数にて設定された この波形トレースの信号名です Demo モードで動作させるときはこの部分の指定が Signal Name 変数での指定に合致していなければなりません 指定可能な値 :DQ0-63, DQS0-15, 他 : これはファイル番号です QPHY は各試験時にひとつずつカウントアップしてファイル名をつけてゆきます Demo モードで動作させるときには Recalled Waveform File Index 変数での指定値に合致していなければなりません 指定可能な値 : 任意の 5 桁の数字 ファイル名ルールのまとめ Rev A 98

99 QPHY-DDR3 オペレーターズ マニュアル Appendix B: Common Warning Messages Clock Speed Grade 各試験の最初に QPHY はクロック スピードを計測します この計測は使用される適切な試験判定値セットを確認するのに使用されます 計測されたスピード グレードが選択されているスピード グレードに対して 10% 以上異なる場合 Warning メッセージが表示されます 保存波形で試験を走らせようとする際に もし表示されたデータ レートがゼロであるならば これは波形が QPHY によって適切に読み込まれなかったことを示しています Clock Speed Grade Warning 解決策 適切な試験判定値セットが選択されているか確認します またはもし カスタム スピード グレード が使用されている場合 Custom Speed Grade 変数を確認します Read/Write Burst 各捕捉を行った最初に QPHY は十分な Read もしくは Write バーストが捕捉された波形の中に含まれているかどうかをチェックします 10 の Read もしくは Write バーストが検出されない場合 以下の warning メッセージが表示されます 10 以下のバーストしか検出されなかった場合 統計的な有効性が十分に確保されません R/W Burst Detection Warning 解決策 デバイスが十分な DQ および DQS 遷移をもっているか確認します 捕捉長あるいはバースト密度は増や すことが出来ます 捕捉長を増やすには Clock Period Per Screen Division 変数を調整します DUT Name Demo モードで QPHY を走らせている時に もし DUT 名が Demo 出ない場合に以下のメッセージが表示さ Rev A 99

100 れます 保存された波形の含まれているフォルダ名に DUT 名があっていなければなりません DUT Name Warning 解決策 DUT 名が保存波形の含まれるフォルダ名に一致しているか確認します 確認したら OK を押します Rev A 100

101 QPHY-DDR3 オペレーターズ マニュアル Appendix C: Error Messages QualiPHY 動作中に現れることのある以下のメッセージについて解説します Warning, no valid technology package has been found このメッセージは QualiPHY アプリケーション を起動する前にオシロスコープにどの規格のオプションもアクティベートされていない場合に現れます もしご購入済みの規格がアクティベートされていない場合はサポートにお問いあわせください No devices connected to the application or device not alive Failed to communicate with the DSO application! このメッセージはリモート PCからQualiPHYを走らせている場合に a) オシロスコープが接続されていない もしくは b) オシロスコープがオフラインである場合に現れます もしくはオシロスコープ上で走らせている場合でもリモートコントロールの設定が TCPIP 接続になっていない場合に現れます リモートコントロールの設定の章をご覧ください This test requires Firmware version x.x.x.x or higher. 使用するオシロスコープのファームウェアをアップデートする必要があります のオシロスコープ > ファームウェア アップグレードから各オシロスコープ用最新ファームウェアをダウンロードしてアップデートします An <oscilloscope model> or better is required for <test>. このオシロスコープでは動作しません リモ ートコントロールから使用している場合は他のオシロスコープで使用できるかもしれません This test requires the <name> option. QualiPHY コンポーネントの他に記載されたオプションの購入と アクティベートが必要です Rev A 101

102 Rev A 102

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