シンクロトロン光スペクトル 偏向電磁石による光の強度 およびアンジュレータ (APPLE-II 型,300 ma) 光の輝度 整備ビームライン仕様概要 1. 当初整備ビームライン一覧 ( 計算値 ) ビームライン名 測定手法 BL5S1 材料化学状態 構造分析 Ⅰ 硬 X 線 XAFS 蛍光分析 B

化学結合が推定できる表面分析　Ｘ線光電子分光法

1/6 ページ ユニケミー技報記事抜粋 No.39 p1 (2004) 化学結合が推定できる表面分析 X 線光電子分光法 加藤鉄也 ( 技術部試験一課主任 ) 1. X 線光電子分光法 (X-ray Photoelectron Spectroscopy:XPS) とは物質に X 線を照射すると 物質からは X 線との相互作用により光電子 オージェ電子 特性 X 線などが発生する X 線光電子分光法ではこのうち物質極表層から発生した光電子

SP8WS

GIXS でみる 液晶ディスプレイ用配向膜 日産化学工業株式会社 電子材料研究所 酒井隆宏 石津谷正英 石井秀則 遠藤秀幸 ( 財 ) 高輝度光科学研究センター 利用研究促進部門 Ⅰ 小金澤智之 広沢一郎 背景 Ⅰ ~ LCD の表示品質 ~ 液晶ディスプレイ (LCD) 一方向に揃った ( 配向した ) 液晶分子を電圧により動かすことで表示 FF 液晶分子 液晶配向と表示品質 C 電極 液晶分子の配向が乱れると表示品質が悪化

HyPix-3000 ハイブリッド型多次元ピクセル検出器 高速高分解能測定を実現する 2 次元検出器

HyPix-3000 ハイブリッド型多次元ピクセル検出器 高速高分解能測定を実現する 2 次元検出器 汎用性に優れた X 線検出器 HyPix-3000 HyPix-3000 がラボに最適な 5 つ の理由 0 次元 /1 次元 /2 次元のすべての測定モードをカバー バックグラウンドを極限までカット 広いダイナミックレンジ 高い位置分解能 ゼロデッドタイム測定を実現 最先端の技術を駆使した新型検出器

Microsoft PowerPoint _産業利用_XAFS_V1

軟 X 線光化学ビームラインにおける 軟 X 線吸収分光測定技術の現状 ( 財 ) 高輝度光科学研究センター利用研究促進部門 分光物性 II グループ 為則雄祐 2008 年 3 月 19 日 SPring-8 産業利用研究会 ( 第 23 回 ) SPring-8 における軟 X 線 & 赤外分光とその応用 1. 軟 X 線領域の吸収分光 本日の内容 軟 X 線の特徴 軟 X 線領域におけるX 線吸収分光法

Microsoft Word - IPhO2007実験問題Green問題.doc

実験問題 半導体薄膜のエネルギーバンドギャップの決定 I. はじめに半導体は導体と絶縁体の中間の電気的性質をもつものとして特徴づけられる 半導体の電気的性質を理解するために, よく知られている 光電効果 から始めよう 光電効果は量子的電子現象である 光電子 ( 光を吸収して飛び出した電子 ) は照射光 ( 光子 ) から十分なエネルギーを吸収することにより, 物質から放出される 金属から光照射によって電子

ウィークビーム法を用いた人工ダイアモンドの3次元トポグラフ

演題その 1 ウィークビーム法を用いた人工ダイアモンドの 3 次元トポグラフ 岡本博之 1, 水野薫 2, 森川公彦 2, 中野智志 3, 1 金沢大医薬保健, 2 島根大総合理工, 3 物質 材料機構 本来の実験目的 3 次元 X 線トポグラフィによる高圧実験用ダイアモンドの事前評価 ( どのような結晶が高圧実験に耐えるか ) 加圧済み結晶を使いダイアモンドの塑性変形メカニズムを明らかにする Diamond

Microsoft PowerPoint - 阪大XFELシンポジウム_Tono.ppt [互換モード]

X 線自由電子レーザーシンポジウム 10 月 19 日大阪大学レーザー研 X 線自由電子レーザーを用いた利用研究 登野健介 理研 /JASRI X 線自由電子レーザー計画合同推進本部 1 科学の基本中の基本 : 光 ( 電磁波 ) による観察 顕微鏡 望遠鏡 細胞の顕微鏡写真 赤外望遠鏡 ( すばる ) で観測した銀河 2 20 世紀の偉大な発明 : 2 種類の人工光源 レーザー LASER: Light

中性子関連技術解説書 1. はじめに 中性子利用技術名 ; 粉末中性子線回折解説書作成者 ; 技術士氏名伊東亮一 粉末中性子線回折は試料に中性子を当て 散乱される中性子線を測定して試料中の原 子構造を調べる分析法です 粉末のままで結晶構造解析ができます 2. 概要 2.1 粉末中性子線回折従来 結晶

中性子関連技術解説書 1. はじめに 中性子利用技術名 ; 粉末中性子線回折解説書作成者 ; 技術士氏名伊東亮一 粉末中性子線回折は試料に中性子を当て 散乱される中性子線を測定して試料中の原 子構造を調べる分析法です 粉末のままで結晶構造解析ができます 2. 概要 2.1 粉末中性子線回折従来 結晶構造を調べる目的では中性子線回折装置は X 線回折法と同様に使われてきました この度 J-PARC に高性能の粉末中性子線回折装置が新設されて産業へのより一層の応用が期待されています

SPring-8ワークショップ_リガク伊藤

GI SAXS. X X X X GI-SAXS : Grazing-incidence smallangle X-ray scattering. GI-SAXS GI-SAXS GI-SAXS X X X X X GI-SAXS Q Y : Q Z : Q Y - Q Z CCD Charge-coupled device X X APD Avalanche photo diode - cps 8

QOBU1011_40.pdf

印字データ名 ＱＯＢＵ1 0 1 1 (1165) コメント 研究紹介 片山 作成日時 07.10.04 19:33 図 2 (a )センサー素子の外観 (b )センサー基板 色の濃い部分が Pt 形電極 幅 50μm, 間隔 50μm (c ),(d )単層ナノ チューブ薄膜の SEM 像 (c )Al O 基板上, (d )Pt 電極との境 界 熱 CVD 条件 触媒金属 Fe(0.5nm)/Al(5nm)

産総研先端ナノ計測施設 (ANCF) の概要 産総研では 国内の産業力強化と新産業創出の先導や社会イノベーションへの貢献を目指して 先端計測分析技術の開発を実施しています 開発した先端計測装置や技術は 先端ナノ計測施設 (ANCF) にて公開しています 公開装置と測定対象例陽電子プローブマイクロアナ

先端ナノ計測施設 文部科学省 ナノテクノロジープラットフォーム 微細構造解析プラットフォーム 産総研先端ナノ計測施設 (ANCF) の概要 産総研では 国内の産業力強化と新産業創出の先導や社会イノベーションへの貢献を目指して 先端計測分析技術の開発を実施しています 開発した先端計測装置や技術は 先端ナノ計測施設 (ANCF) にて公開しています 公開装置と測定対象例陽電子プローブマイクロアナライザー

Athena の起動 デスクトップ上の Athena のアイコンをダブルクリックする もしくは スタートメニューのプロ グラム一覧から Demeter with Strawberry Pert 内の Athena をクリックする デスクトップ上のアイコン スタートメニューのプログラム一覧 プラグイン

Athena-Artemis で解析を行うために はじめに ここでは あいちシンクロトロン光センターの BL5S1 または BLS2 で測定したそれぞれのデータを Athena や Artemis で解析するための前準備について説明します 具体的には Demeter パッケージ Athena Artemis のインストール プラグインの有効化 測定データの読込方法 を述べます 当センターの上 記ビームラインで測定を行った際

Microsoft Word - C-中性子詳細解説書（中性子小角散乱法）.doc

中性子関連技術解説書 中性子利用技術名 ; 中性子小角散乱法 解説書作成者 ; 技術士氏名保坂義男 1. はじめに中性子小角散乱法は 中性子の物質透過能力や同位体識別能力および磁気解析能力などの優れた特徴を利用して 数ナノメートル (10-9m) から数ミクロン (10-6m) の大きさの微小な物質構造を解明できる方法として 幅広い科学分野での利用が期待されています 2. 中性子小角散乱法の概要中性子小角散乱法は

スライド 1

放射光施設産業利用セミナー (2016. 2. 19) 放射光施設利用による産業振興 ~ 放射光施設の概要 ~ 秋田県産業技術センター先端機能素子開発部近藤祐治 アウトライン 1. 放射光源 2. 光輸送部 3. 実験ステーション 放射光施設 光源部 光輸送部 放射光施設 強力な電磁波を発生させて, その電磁波を利用して材料やデバイスなどを評価する施設. 入射器, 蓄積リング ( 放射光源 ), ビームライン

Center News 116.indd

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科学技術・学術審議会 研究計画・評価分科会 研究評価部会（第23回）議事次第 ［資料1－3］ ［参考資料3］

X 線自由電子レーザー計画の概要 参考資料 3 X 線自由電子レーザーの概要 SPring-8 の 10 億倍を上回る高輝度の X 線レーザーを発振し 原子レベルの超微細構造 化学反応の超高速動態 変化を瞬時に計測 分析することを可能とする世界最高性能の研究基盤施設 X 線自由電子レーザー (X-FEL) を実現する これにより ライフサイエンス分野やナノテクノロジー 材料分野など 様々な科学技術分野に新たな研究領域を開拓する

液相レーザーアブレーションによるナノ粒子生成過程の基礎研究及び新規材料創成への応用 北海道大学大学院工学工学院量子理工学専攻プラズマ応用工学研究室修士 2年竹内将人

液相レーザーアブレーションによるナノ粒子生成過程の基礎研究及び新規材料創成への応用 北海道大学大学院工学工学院量子理工学専攻プラズマ応用工学研究室修士 2年竹内将人 研究背景 目的 液相レーザーアブレーション 液相に設置したターゲットに高強度レーザーパルスを照射するとターゲット表面がプラズマ化する ターゲットを構成する原子 分子が爆発的に放出され, ターゲット由来のナノ粒子ナノ粒子が生成される レーザー照射

JPS2012spring

BelleII 実験用 TOP カウンターの性能評価 2012.7.7( 土 ) 名古屋大学高エネルギー物理学研究室 (N 研究室 ) 有田義宣 BelleII に搭載する粒子識別装置 TOP カウンター 2 BelleII 実験 もっとも識別の難しい π/k 識別 BelleⅡ 実験は Belle 実験をさらに高輝度化 (40 倍 ) し 大量の B 中間子からの稀崩壊現象を探る電子陽電子コライダー

バイオ構造における SAXS 分析

バイオ構造における SAXS 分析 構造生物学における SAXSのメリット SAXS( 小角 X 線散乱 ) は 分子生物学分野の構造研究手法です 他の確立された手法では得られない貴重な情報が得られることから 広く使用されるようになってきています 生体高分子及びその複合体の構造解析を行う際 一般的に使用される手法は 結晶学とNMR( 核磁気共鳴 ) です SAXSでは これらの高分解能のテクニックのいずれを使っても得ることのできない貴重な追加情報を得られます

特長 01 裏面入射型 S12362/S12363 シリーズは 裏面入射型構造を採用したフォトダイオードアレイです 構造上デリケートなボンディングワイヤを使用せず フォトダイオードアレイの出力端子と基板電極をバンプボンディングによって直接接続しています これによって 基板の配線は基板内部に納められて

16 素子 Si フォトダイオードアレイ S12362/S12363 シリーズ X 線非破壊検査用の裏面入射型フォトダイオードアレイ ( 素子間ピッチ : mm) 裏面入射型構造を採用した X 線非破壊検査用の 16 素子 Si フォトダイオードアレイです 裏面入射型フォトダイオードアレ イは 入射面側にボンディングワイヤと受光部がないため取り扱いが容易で ワイヤへのダメージを気にすることなくシ ンチレータを実装することができます

論文の内容の要旨

論文の内容の要旨 2 次元陽電子消滅 2 光子角相関の低温そのまま測定による 絶縁性結晶および Si 中の欠陥の研究 武内伴照 絶縁性結晶に陽電子を入射すると 多くの場合 電子との束縛状態であるポジトロニウム (Ps) を生成する Ps は 電子と正孔の束縛状態である励起子の正孔を陽電子で置き換えたものにあたり いわば励起子の 同位体 である Ps は 陽電子消滅 2 光子角相関 (Angular

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2011 年 5 月 20 日 第 4 回ソフトマター研究会 産業利用における GISAXS の活用 東レリサーチセンター構造化学研究部構造化学第 2 研究室岡田一幸 1. 小角 X 線散乱 ( 反射測定 ) 薄膜中のポア (Low-k 膜 ) 2.GISAXS による粒子サイズ評価 薄膜に析出した結晶 (High-k 膜 ) 3. ポリマーの秩序構造の評価 ブロックコポリマーの自己組織化過程 4.

PowerPoint Presentation

2012 年 10 月 5 日第 7 回 SPring8 金属材料評価研究会 XAFS と TEM を用いた 鋼中ナノ炭化物の数密度評価 JFE スチール株式会社 スチール研究所 田中裕二, 山田克美, 名越正泰, 城代哲史, 船川義正, 佐藤馨 自動車部品の加工例 析出物を活用した鉄鋼材料 強度と加工性の両立 鉄鋼組織制御による材料設計 例 : 軟質相 ( フェライト )+ 微細硬質粒子 ( 析出物

Microsoft PowerPoint - S-17.ppt

In situ XRD および XAFS を用いた燃料電池アノード触媒電極の劣化解析 日本電気 ( 株 ) 松本匡史 m-matsumoto@jv.jp.nec.com 直接型メタノール燃料電池の PtRu アノードにおいて Ru は触媒被毒の原因である CO の酸化を促進する役割を持ち 電池出力の向上に不可欠な要素である しかし 長時間運転時には Ru が溶出し 性能が劣化する Ru 溶出は 運転時の

CsI(Tl) 2005/03/

CsI(Tl) 2005/03/30 1 2 2 2 3 3 3.1............................................ 3 3.2................................... 4 3.3............................................ 5 4 6 4.1..............................................

Microsoft Word - planck定数.doc

. 目的 Plck 定数 光電効果についての理解を深める. また光電管を使い実際に光電効果を観察し,Plck 定数および仕事関数を求める.. 課題 Hg- スペクトルランプから出ている何本かの強いスペクトル線のなかから, フィルターを使い, 特定の波長域のスペクトル線を選択し, それぞれの場合について光電効果により飛び出してくる電子の最高エネルギーを測定する. この測定結果から,Plck 定数 h

卓球の試合への興味度に関する確率論的分析

17 i 1 1 1.1..................................... 1 1.2....................................... 1 1.3..................................... 2 2 5 2.1................................ 5 2.2 (1).........................

els05.pdf

Web で学ぶ 平滑表面上に形成された高分子電解質積層膜のゼータ電位 本資料の掲載情報は, 著作権により保護されています 本情報を商業利用を目的として, 販売, 複製または改ざんして利用することはできません 540-0021 1 2 TEL.(06)6910-6522 192-0082 1-6 LK TEL.(042)644-4951 980-0021 TEL.(022)208-9645 460-0008

電解メッキ初期過程における電極近傍イオン種のリアルタイム観測に成功

電解メッキ初期過程における電極近傍イオン種のリアルタイム観測に成功 金属析出速度の支配因子を決定 概要千葉大学大学院工学研究院中村将志准教授 星永宏教授 東京農工大学大学院工学研究院遠藤理助教 高輝度光科学研究センター田尻寛男研究員 物質 材料研究機構坂田修身グループリーダーの研究グループは 金属イオンが析出する際の電極近傍におけるイオン種のリアルタイム観測に初めて成功し 金属イオンがどのように表面に接近し表面に吸着するかを明らかにしました

Microsystem Integration & Packaging Laboratory

2015/01/26 MemsONE 技術交流会 解析事例紹介 東京大学実装工学分野研究室奥村拳 Microsystem Integration and Packaging Laboratory 1 事例紹介 1. 解析の背景高出力半導体レーザの高放熱構造 2. 熱伝導解析解析モデルの概要 3. チップサイズの熱抵抗への影響 4. 接合材料の熱抵抗への影響 5. ヒートシンク材料の熱抵抗への影響 Microsystem

8.1 有機シンチレータ 有機物質中のシンチレーション機構 有機物質の蛍光過程 単一分子のエネルギー準位の励起によって生じる 分子の種類にのみよる ( 物理的状態には関係ない 気体でも固体でも 溶液の一部でも同様の蛍光が観測できる * 無機物質では規則的な格子結晶が過程の元になっているの

6 月 6 日発表範囲 P227~P232 発表者救仁郷 シンチレーションとは? シンチレーション 蛍光物質に放射線などの荷電粒子が当たると発光する現象 材料 有機の溶液 プラスチック 無機ヨウ化ナトリウム 硫化亜鉛 など 例えば以下のように用いる 電離性放射線 シンチレータ 蛍光 光電子増倍管 電子アンプなど シンチレーションの光によって電離性放射線を検出することは非常に古くから行われてきた放射線測定法で

予定　（川口担当分）

予定 ( 川口担当分 ) (1)4 月 13 日 量子力学 固体の性質の復習 (2)4 月 20 日 自由電子モデル (3)4 月 27 日 結晶中の電子 (4)5 月 11 日 半導体 (5)5 月 18 日 輸送現象 金属絶縁体転移 (6)5 月 25 日 磁性の基礎 (7)6 月 1 日 物性におけるトポロジー 今日 (5/11) の内容 ブロッホ電子の運動 電磁場中の運動 ランダウ量子化 半導体

<4D F736F F D2091AA92E895FB964082C982C282A282C45F >

相対強度 の特性測定方法について 製品の特性は主に光学的な特性面と電気的な特性面で仕様化されております この文書はこれらの特性がどのような方法で数値化されているか すなわち測定方法や単位系などについて解説しております また 弊社は車載用途向けの に関しましてはパッケージの熱抵抗を仕様化しておりますので その測定方法について解説しております 光学的特性 の発光量を表す単位には 2 つの単位があります

学位論文題目 Title 氏名 Author 専攻分野 Degree 学位授与の日付 Date of Degree Resource Type 報告番号 Report Number URL Kobe University Repository : Thesis 有機強誘電体薄膜の構造 配向制御および焦電デバイス応用に関する研究 黒田, 雄介 博士 ( 工学 ) 2013-03-25 Thesis or

記者発表資料

2012 年 6 月 4 日 報道機関各位 東北大学流体科学研究所原子分子材料科学高等研究機構 高密度 均一量子ナノ円盤アレイ構造による高効率 量子ドット太陽電池の実現 ( シリコン量子ドット太陽電池において世界最高変換効率 12.6% を達成 ) < 概要 > 東北大学 流体科学研究所および原子分子材料科学高等研究機構 寒川教授グループはこの度 新しい鉄微粒子含有蛋白質 ( リステリアフェリティン

レーション法 プラズマ蒸着法 粉砕法等 ) の2 つに大別することができる その中でも 近年 注目されている液中パルスプラズマ法によるナノ 2) 3) 4) 粒子の作製を検討した この方法は 水中でプラズマ ( グロー放電 ) を発生させることでH2O 分子をガス化分解し 生成した水素ラジカル (H

無機ナノ粒子を利用した高機能部材の調査 研究 松延 剛 中西貞博 中村知彦 浅田 聡 *2 安達雅浩 [ 要旨 ] ナノ粒子を利用した産業技術及びナノ粒子特性の把握や技術蓄積を目的として 作製した無機ナノ粒子の作製条件によるナノ粒子形状の違いや 吸着性及び光吸収性等の粒子特性を調査した 液中パルスプラズマ法により作製したナノ粒子は 電解液の種類や電極の金属種の違いにより 得られるナノ粒子の粒径サイズや形状が変化することを確認した

Microsoft PowerPoint - 第2回半導体工学

17 年 1 月 16 日 月 1 限 8:5~1:15 IB15 第 回半導体工学 * バンド構造と遷移確率 天野浩 項目 1 章量子論入門 何故 Si は光らず GN は良く光るのか? *MOSFET ゲート SiO / チャネル Si 界面の量子輸送過程 MOSFET には どのようなゲート材料が必要なのか? http://www.iue.tuwien.c.t/ph/vsicek/noe3.html

EDS分析ってなんですか？どのようにすればうまく分析できますか？（EDS分析の基礎）

EDS 分析ってなんですか? どのようにすればうまく分析できますか?(EDS 分析の基礎 ) ブルカー エイエックスエス ( 株 ) 山崎巌 Innovation with Integrity 目次 1 SEM EDS とは 1-1 走査電子顕微鏡と X 線分析 1-2 微少領域の観察 分析 1-3 SEM で何がわかる 1-4 試料から出てくる情報 2 EDS でどうして元素がわかるの 2-1 X

銅酸化物高温超伝導体の フェルミ面を二分する性質と 超伝導に対する上純物効果

トポロジー理工学特別講義 Ⅱ 2011 年 2 月 4 日 銅酸化物高温超伝導体の フェルミ面を二分する性質と 超伝導に対する丌純物効果 理学院量子理学専攻博士課程 3 年 黒澤徹 supervisors: 小田先生 伊土先生 アウトライン 走査トンネル顕微鏡 (STM: Scanning Tunneling Microscopy) 角度分解光電子分光 (ARPES: Angle-Resolved

FT-IRにおけるATR測定法

ATR 法は試料の表面分析法で最も一般的な手法で 高分子 ゴム 半導体 バイオ関連等で広く利用されています ATR(Attenuated Total Reflectance) は全反射測定法とも呼ばれており 直訳すると減衰した全反射で IRE(Internal Reflection Element 内部反射エレメント ) を通過する赤外光は IRE と試料界面で試料側に滲み出した赤外光 ( エバネッセント波

- 16 M7.3 14 M6.5 - - - - - A-4 A-5 A-3 F-3 F-1 C-3 G-1,E-6 C-2 D-1 F-2 E-7 J-1 J-3 B-3 K-1 B-3 I-4 I-3 I-2 I-6 C-1 I-5 B-5 B-2 J-2 A-1 A-2 E-1 B-4 I-1 E-2 E-5 B-1,E-4 E-3 A-1 A-2 A-2 A-3 A-4 A-5 A-2

王子計測機器株式会社 LCD における PET フィルムの虹ムラに関する実験結果 はじめに最近 PETフィルムはLCD 関連の部材として バックライトユニットの構成部材 保護シート タッチセンサーの基材等に数多く使用されています 特に 液晶セルの外側にPET フィルムが設けられる状態

2015.02 王子計測機器株式会社 LCD における PET フィルムの虹ムラに関する実験結果 はじめに最近 PETフィルムはLCD 関連の部材として バックライトユニットの構成部材 保護シート タッチセンサーの基材等に数多く使用されています 特に 液晶セルの外側にPET フィルムが設けられる状態のとき 表示画面を偏光メガネを通して見たときに干渉色いわゆる虹ムラが発生する場合があることはよく知られています

Design of Soft X-ray Undulator for LSS at SPring-8

次世代放尃光源としての X 線自由電子レーザー 田中隆次理化学研究所 XFEL 推進本部加速器建設グループ光源チームリーダー シンクロトロン放尃光とは? 第三世代放尃光源 第四世代放尃光源としてのXFEL 高品質電子ビームの生成 レーザー発振の原理 SPring-8 における XFEL 開発 シンクロトロン放尃光とは? 第三世代放尃光源 第四世代放尃光源としてのXFEL 高品質電子ビームの生成 レーザー発振の原理

Microsoft Word - プレリリース参考資料_ver８青柳（最終版）

別紙 : 参考資料 従来の深紫外 LED に比べ 1/5 以下の低コストでの製造を可能に 新縦型深紫外 LED Ref-V DUV LED の開発に成功 立命館大学総合科学技術研究機構の黒瀬範子研究員並びに青柳克信上席研究員は従来 の 1/5 以下のコストで製造を可能にする新しいタイプの縦型深紫外 LED(Ref-V DUV LED) の開発に成功した 1. コスト1/5 以下の深紫外 LED 1)

が円軌道を描く際に接線方向に放射が集中する 定性的には加速された電子からの双極子放射が, 相対論的効果により 1/g 程度の角度広がりをもつコーンとして電子の進行方向に集中するということで説明される ここで, g はローレンツ因子であり, 電子の運動エネルギーを静止エネルギーで規格化した相対エネルギ

分析化学における放射光の利用 放射光の特徴 後藤俊治 この度,2015 年の入門講座として 分析化学における放射光の利用 を企画いたしました 分析化学だけでなく, 様々な科学の領域で放射光の利用が活発に行われています 放射光は高輝度で指向性が高いなどの優れた特徴を持っています そのことが新たな科学研究の扉を開いています 日本でも各地で放射光の施設が稼動していて, 共同利用が可能なことによって多くの研究者が放射光を使用できるようになり,

natMg+86Krの反応による生成核からのβ線の測定とGEANTによるシミュレーションとの比較

nat Mg+ 86 Kr の反応による生成核からの β 線の測定と GEANT によるシミュレーションとの比較 田尻邦彦倉健一朗 下田研究室 目次 実験の目的 nat Mg+ 86 Kr 生成核からの β 線の測定 @RCNP 実験方法 実験結果 GEANT によるシミュレーション 解析 結果 まとめ 今後の課題 実験の目的 偏極した中性子過剰 Na アイソトープの β-γ-γ 同時測定実験を TRIUMF

I? 3 1 3 1.1?................................. 3 1.2?............................... 3 1.3!................................... 3 2 4 2.1........................................ 4 2.2.......................................

II III I ~ 2 ~

中堅中小企業向け秘密保持マニュアル

20 15 14.6 15.3 14.9 15.7 16.0 15.7 13.4 14.5 13.7 14.2 10 10 13 16 19 22 1 70,000 60,000 50,000 40,000 30,000 20,000 10,000 0 2,500 59,862 56,384 2,000 42,662 44,211 40,639 37,323 1,500 33,408 34,472

ＰＲ映画-1

- 2 -

- 2 - - 3 - (1) (2) (3) (1) - 4 - ~ - 5 - (2) - 6 - (1) (1) - 7 - - 8 - (i) (ii) (iii) (ii) (iii) (ii) 10 - 9 - (3) - 10 - (3) - 11 - - 12 - (1) - 13 - - 14 - (2) - 15 - - 16 - (3) - 17 - - 18 - (4) -

2 1980 8 4 4 4 4 4 3 4 2 4 4 2 4 6 0 0 6 4 2 4 1 2 2 1 4 4 4 2 3 3 3 4 3 4 4 4 4 2 5 5 2 4 4 4 0 3 3 0 9 10 10 9 1 1

1 1979 6 24 3 4 4 4 4 3 4 4 2 3 4 4 6 0 0 6 2 4 4 4 3 0 0 3 3 3 4 3 2 4 3? 4 3 4 3 4 4 4 4 3 3 4 4 4 4 2 1 1 2 15 4 4 15 0 1 2 1980 8 4 4 4 4 4 3 4 2 4 4 2 4 6 0 0 6 4 2 4 1 2 2 1 4 4 4 2 3 3 3 4 3 4 4

1 (1) (2)

1 2 (1) (2) (3) 3-78 - 1 (1) (2) - 79 - i) ii) iii) (3) (4) (5) (6) - 80 - (7) (8) (9) (10) 2 (1) (2) (3) (4) i) - 81 - ii) (a) (b) 3 (1) (2) - 82 - - 83 - - 84 - - 85 - - 86 - (1) (2) (3) (4) (5) (6)

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7-1 光学顕微鏡 8-2 エレクトロニクス材料評価技術 途による分類 透過型顕微鏡 体組織の薄切切 や細胞 細菌など光を透過する物体の観察に いる 落射型顕微鏡 ( 反射型顕微鏡 ) 理 学部 材料機能 学科 属表 や半導体など 光を透過しない物体の観察に いる 岩 素顕 iwaya@meijo-u.ac.jp 電 線を使った結晶の評価法 透過電 顕微鏡 査電 顕微鏡 実体顕微鏡拡 像を 体的に

PowerPoint プレゼンテーション

XAFS の基礎理論これから XAFS を始める人のために 宮永崇史 弘前大学理工学研究科 1 Outline XAFSの特徴 X 線と物質の相互作用 X 線吸収微細構造 (XAFS) EXAFSの解析法 XAFSの興味ある応用例 2 E/eV XAFS の特徴 100000 10000 5keV 1000 100 Ti K Cs Ba L M K L-I L-II L-III M-I M-II M-III

X 線 CT による竹組織の観察 R060508Tani.pdf 1. 実験の目的と装置 竹組織は, 種々のサイズの組織が分布しており, 配向もあるので, 高分解能 CT の研究には好都合 な試料である. 種々のサイズの組織の分布があることは,X 線小角散乱の実験からも示唆されてい る. 竹の主たる

X 線 CT による竹組織の観察 R060508Tani.pdf 1. 実験の目的と装置 竹組織は, 種々のサイズの組織が分布しており, 配向もあるので, 高分解能 CT の研究には好都合 な試料である. 種々のサイズの組織の分布があることは,X 線小角散乱の実験からも示唆されてい る. 竹の主たる構成元素は C( 特に竹炭は C のみ ) で, 生体観察のファントムにもなる. 竹を構成する C に対する吸収コントラストを得るには,

特許侵害訴訟における無効の主張を認めた判決─半導体装置事件−

[*1847] 12 4 11 10 364 54 4 1368 1710 68 1032 120 X Y 6.8.31 29 3 875 X Y 9.9.10 29 3 819 Y 320275 391468 46 12 21 35 2 6 3513745 39 1 30 320249 1) 1 39 1 [*1848] 2) 3) Y 10 51 2 4 39 5 39 1 3 139 7 2

Microsoft PowerPoint - XAFS実験の基礎2013改.pptx

XAFS 実験の基礎 測定の前に 理論のおさらい XAFS とは X-ray Absorption Fine Structure (X 線吸収微細構造 ) 測定するのは物質の吸光度 放射光 (X 線 ) I 0 Sample I I = I 0 exp( μ t ) I 0 : 入射 X 線強度 I : 透過 X 線強度 t : 試料厚さ μ: 線吸収係数 入射 X 線のエネルギーを変えて測定すると

富士時報　第82巻第5号(2009年9月)

Vol.82 No.5 2009 i Vol.82 No.5 2009 i Vol.82 No.5 2009 Vol.82 No.5 2009 Vol.82 No.5 2009 Vol.82 No.5 2009 i Vol.82 No.5 2009 Vol.82 No.5 2009 Vol.82 No.5 2009 Vol.82 No.5 2009 Vol.82 No.5 2009 Vol.82 No.5

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1 12123456789012345678901234 12123456789012345678901234 12123456789012345678901234 12123456789012345678901234 12123456789012345678901234 12123456789012345678901234 12123456789012345678901234 12123456789012345678901234

研究の背景有機薄膜太陽電池は フレキシブル 低コストで環境に優しいことから 次世代太陽電池として着目されています 最近では エネルギー変換効率が % を超える報告もあり 実用化が期待されています 有機薄膜太陽電池デバイスの内部では 図 に示すように (I) 励起子の生成 (II) 分子界面での電荷生

報道関係者各位 平成 6 年 8 月 日 国立大学法人筑波大学 太陽電池デバイスの電荷生成効率決定法を確立 ~ 光電エネルギー変換機構の解明と太陽電池材料のスクリーニングの有効なツール ~ 研究成果のポイント. 太陽電池デバイスの評価 理解に重要な電荷生成効率の決定方法を確立しました. これにより 有機薄膜太陽電池が低温で動作しない原因が 電荷輸送プロセスにあることが明らかになりました 3. 本方法は

X 線小角散乱 / 広角回折装置 置概要 X 線小角散乱装置 装置 :Anton Paar GmbH 製 X 線小角散乱装置 (SAXSess) 設置場所 : 駿河台校舎 2 号館地下 1 階 209B 号室設置年度 : 平成 16 年度性能 : 測定領域 2θ : (SWAX

X 線小角散乱 / 広角回折装置 置概要 X 線小角散乱装置 装置 :Anton Paar GmbH 製 X 線小角散乱装置 (SAXSess) 設置場所 : 駿河台校舎 2 号館地下 1 階 209B 号室設置年度 : 平成 16 年度性能 : 測定領域 2θ : 0.108 40.0 (SWAXS), 小角分解能 : 0.077 nm -1, 対象となる領域 (Bragg): 0.24 81.6

設備供用パンフ（表紙）

X 線光電子分光装置 (XPS) X-ray Photoelectron Spectrometer 元素分析 化学結合状態 1 固体試料における極表面領域 ( 数 nm 程度 ) の元素分析 化学状態分析 2 深さ方向元素分析 ( イオン エッチング併用 ) 3 元素の空間マッピング測定 4 紫外光電子分光 (UPS) による価電子帯の状態密度 仕事関数の測定 機種 : KRATOS 製 AXIS-HS

厚生労働省委託事業 「 平成25年度 適切な石綿含有建材の分析の実施支援事業 」アスベスト分析マニュアル1.00版

クリソタイル標準試料 UICC A 1 走査型電子顕微鏡形態 測定条件等 :S-3400N( 日立ハイテクノロジーズ )/BRUKER-AXS Xflash 4010) 倍率 2000 倍 加速電圧 5kv 162 クリソタイル標準試料 UICC A 2 走査型電子顕微鏡元素組成 cps/ev 25 20 15 C O Fe Mg Si Fe 10 5 0 2 4 6 8 10 12 14 kev

NaI(Tl) CsI(Tl) GSO(Ce) LaBr 3 (Ce) γ Photo Multiplier Tube PMT PIN PIN Photo Diode PIN PD Avalanche Photo Diode APD MPPC Multi-Pixel Photon Counter L

19 P6 γ 2 3 27 NaI(Tl) CsI(Tl) GSO(Ce) LaBr 3 (Ce) γ Photo Multiplier Tube PMT PIN PIN Photo Diode PIN PD Avalanche Photo Diode APD MPPC Multi-Pixel Photon Counter LaBr 3 (Ce) PMT 662keV 2.9% CsI(Tl) 7.1%

プレスリリース 2017 年 4 月 14 日 報道関係者各位 慶應義塾大学 有機単層結晶薄膜の電子物性の評価に成功 - 太陽電池や電子デバイスへの応用に期待 - 慶應義塾基礎科学 基盤工学インスティテュートの渋田昌弘研究員 ( 慶應義塾大学大学院理工学研究科専任講師 ) および中嶋敦主任研究員 (

プレスリリース 2017 年 4 月 14 日 報道関係者各位 慶應義塾大学 有機単層結晶薄膜の電子物性の評価に成功 - 太陽電池や電子デバイスへの応用に期待 - 慶應義塾基礎科学 基盤工学インスティテュートの渋田昌弘研究員 ( 慶應義塾大学大学院理工学研究科専任講師 ) および中嶋敦主任研究員 ( 慶應義塾大学理工学部教授 ) らは 有機薄膜デバイスの構成要素であるアントラセン分子の単層結晶薄膜

最新保全技術 ジェイ パワーシステムズ 先月号の総論では 光ファイバを用いたセンシング技術全般について説明しているが ここでは Raman 散乱光の原理を応用した分布型温度センサ (ROTDR) について詳しく説明する こ の ROTDR は DTS(Distributed Temperature

ジェイ パワーシステムズ 先月号の総論では 光ファイバを用いたセンシング技術全般について説明しているが ここでは Raman 散乱光の原理を応用した分布型温度センサ (ROTDR) について詳しく説明する こ の ROTDR は DTS(Distributed Temperature Sensing system) とも呼ばれている なお オーピサーモは ジェイ パワーシステムズの分布型温度センサの商品名である

Graphite/Graphene Index ( 以下 GG Index と呼びます ) は 今後の研究に伴い 以下の項目 が明らかになっていくことを目標としています 1) 原料黒鉛の性状の特定や同定 2) 黒鉛 グラフェン中間体 およびグラフェンの特定や同定 3) 製品黒鉛 製品グラフェン中間体

黒鉛 グラフェン分析インデックス Graphite/Graphene Index; GG Index GG Index は 黒鉛系炭素材料の特定 同定を行うための分析ツールである 測定対象物 : 黒鉛系炭素材料 ( 以下の材料 素材を含む ) 天然黒鉛 人造黒鉛 石油または石炭の派生物から生成されるカーボンブラックなどの炭素材料 膨張黒鉛 酸化黒鉛 / 酸化グラフェン グラフェン中間体 グラフェンなど

02.参考資料標準試料データ

参考資料 標準試料データ目次 クリソタイル標準試料 JAWE111 108 アモサイト標準試料 JAWE211 113 クロシドライト標準試料 JAWE311 118 クリソタイル標準試料 JAWE121 123 アモサイト標準試料 JAWE221 131 クロシドライト標準試料 JAWE321 139 アンソフィライト標準試料 JAWE411 147 トレモライト標準試料 JAWE511 155

Mirror Grand Laser Prism Half Wave Plate Femtosecond Laser 150 fs, λ=775 nm Mirror Mechanical Shutter Apperture Focusing Lens Substances Linear Stage

Mirror Grand Laser Prism Half Wave Plate Femtosecond Laser 150 fs, λ=775 nm Mirror Mechanical Shutter Apperture Focusing Lens Substances Linear Stage NC Unit PC は 同時多軸に制御はできないため 直線加工しかでき 図３は ステージの走査速度を

研究成果報告書(基金分)

様式 C-19 F-19 Z-19( 共通 ) 1. 研究開始当初の背景国内外のエネルギー問題に対応するため, 革新的な省 創エネルギーデバイス ( 低消費電力の単電子デバイスや超高効率太陽電池など ) の実現が求められている. そのためには, 機能上重要なビルディングブロックである低次元半導体ナノ材料 ( 量子ドット, 量子細線, 量子井戸など ) の規則配列構造を構築する必要がある. 低次元半導体ナノ材料を決められたサイズ

Microsoft PowerPoint - 電装研_２波長赤外線センサを用いた２波長融合処理について

2 波長赤外線センサを用いた 2 波長融合処理について 防衛装備庁電子装備研究所センサ研究部光波センサ研究室技官小山正敏 発表内容 1. 2 波長赤外線センサ (2 波長 QDIP*) の概要 2. 2 波長化のメリット 2.1 2 波長帯域の取得による運用場面の拡大 2.2 2 波長融合処理による目標抽出 識別能力の向上 2.2.1 特徴量分類処理 2.2.2 太陽光クラッタ低減処理 2.2.3

2018/6/12 表面の電子状態 表面に局在する電子状態 表面電子状態表面準位 1. ショックレー状態 ( 準位 ) 2. タム状態 ( 準位 ) 3. 鏡像状態 ( 準位 ) 4. 表面バンドのナローイング 5. 吸着子の状態密度 鏡像力によるポテンシャル 表面からzの位置の電子に働く力とポテン

表面の電子状態 表面に局在する電子状態 表面電子状態表面準位. ショックレー状態 ( 準位. タム状態 ( 準位 3. 鏡像状態 ( 準位 4. 表面バンドのナローイング 5. 吸着子の状態密度 鏡像力によるポテンシャル 表面からzの位置の電子に働く力とポテンシャル e F z ( z z e V ( z ( Fz dz 4z e V ( z 4z ( z > ( z < のときの電子の運動を考える

F 1 2 dc dz ( V V V sin t 2 S DC AC ) 1 2 dc dc 1 dc {( VS VDC ) VAC} ( VS VDC ) VAC sin t VAC cos 2 t (3.2.2) 2 dz 2 dz 4 dz 静電気力には (3.2.2) 式の右

3-2 ケルビンプローブフォース顕微鏡による仕事関数の定量測定 3-2-1 KFM の測定原理ケルビンプローブフォース顕微鏡 (Kelvin Force Microscopy: KFM) は ケルビン法という測定技術を AFM に応用した計測手法で 静電気力によるプローブ振動の計測を利用して プローブとサンプルの仕事関数差を測定するプローブ顕微鏡の手法である 仕事関数というのは 金属の表面から電子を無限遠まで取り出すのに必要なエネルギーであり

萌芽的研究支援課題成果報告書 固体高分子形燃料電池カソードに用いられる酸素還元反応触媒 Ti 窒化物および Ti-Fe 酸窒化物の局所微細構造の解明 Study of Local Micto-structure of Ti Nitride, Ti-Fe oxynitride for cathode

萌芽的研究支援課題成果報告書 固体高分子形燃料電池カソードに用いられる酸素還元反応触媒 Ti 窒化物および Ti-Fe 酸窒化物の局所微細構造の解明 Study of Local Micto-structure of Ti Nitride, Ti-Fe oxynitride for cathode catalyst of Polymer Electrolyte Fuel Cell 東京大学大学院工学系研究科化学システム工学専攻博士後期課程

機器分析問題解答 No. 2 核磁気共鳴スペクトル 1 ラジオ波領域の電磁波を利用している 2 5 スペクトル はシグナルが 2 つ スペクトル B はシグナルが 3 つ スペクトル C はシグナルが 3 つである これに対して化合物アは水素が 3 種 化合物イは水素が 4 種 化合物ウは水素が 3

機器分析問題解答 No. 1 電磁波 1 電磁波は 波動性と粒子性の両方の性質を有する 5 紫外線 > 可視光線 > 赤外線の順に エネルギーは小さくなる 6 エネルギーの大きい電磁波は 波数が大きいといえる 7 8 赤外線 可視光線 紫外線の順に 波長は小さくなり エネルギーは大きくなる 9 真空中において波長の大小に関係なく電磁波の速度は同じである 10 真空中において 電磁波は 波長に関係なく同じ速度である

PowerPoint プレゼンテーション

低温科学 A レーザーによる希薄原子気体の冷却と ボース アインシュタイン凝縮 物理第一教室量子光学研究室 http://yagura.scphys.kyoto-u.ac.jp 高橋義朗 yitk@scphys.kyoto-u.ac.jp 5 号館 203 号室 講義予定 1. イントロダクションレーザー冷却からボース アインシュタイン凝縮へ 2. 光と原子の相互作用 3. レーザー冷却 トラップの原理

金属イオンのイオンの濃度濃度を調べるべる試薬中村博 私たちの身の回りには様々な物質があふれています 物の量を測るということは 環境を評価する上で重要な事です しかし 色々な物の量を測るにはどういう方法があるのでしょうか 純粋なもので kg や g mg のオーダーなら 直接 はかりで重量を測ることが

金属イオンのイオンの濃度濃度を調べるべる試薬中村博 私たちの身の回りには様々な物質があふれています 物の量を測るということは 環境を評価する上で重要な事です しかし 色々な物の量を測るにはどういう方法があるのでしょうか 純粋なもので kg や g mg のオーダーなら 直接 はかりで重量を測ることが出来ます しかし 環境中の化学物質 ( 有害なものもあれば有用なものもある ) は ほとんどが水に溶けている状態であり

( ) 1

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特長 パッケージ 製品の特長 φ3.6 サイドビュ - タイプ 無色透明樹脂 光出力 : 5mW TYP. (I F =50mA) 鉛フリーはんだ耐熱対応 RoHS 対応 ピーク発光波長指向半値角素子材質ランク選別はんだ付け方法 ESD 出荷形態 950nm 60 deg. GaAs 放射強度選別を行い ランクごとに選別 半田ディップ マニュアルはんだ実装工程に対応 はんだ付けについては はんだ付け条件をご参照ください

物性物理学I_2.pptx

The University of Tokyo, Komaba Graduate School of Arts and Sciences I 凝縮系 固体 をデザインする 銅()面上の鉄原子の 量子珊瑚礁 IBM Almaden 許可を得て掲載 www.almaden.ibm.com/vis/stm/imagesstm5.jpg&imgrefurl=http://www.almaden.ibm.com/vis/

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平成 27 年 12 月 11 日 報道機関各位 東北大学原子分子材料科学高等研究機構 (AIMR) 東北大学大学院理学研究科東北大学学際科学フロンティア研究所 電子 正孔対が作る原子層半導体の作製に成功 - グラフェンを超える電子デバイス応用へ道 - 概要 東北大学原子分子材料科学高等研究機構 (AIMR) の菅原克明助教 一杉太郎教授 高 橋隆教授 同理学研究科の佐藤宇史准教授らの研究グループは

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( 全体 htt://home.hiroshima-u.ac.j/atoda/thermodnamics/ 9 年 月 8 日,7//8 戸田昭彦 ( 参考 G 温度計の種類 次温度計 : 熱力学温度そのものの測定が可能な温度計 どれも熱エネルギー k T を単位として決められている 9 年 月 日 ( 世界計量記念日 から, 熱力学温度 T/K の定義も熱エネルギー k T/J に基づく. 定積気体温度計

Ⅱ

X線回折解説講義資料

X 線回折 X 線回折とは X 線が結晶格子によって回折される現象のことである 1912 年にマックス フォン ラウエがこの現象を発見し X 線の正体が波長の短い電磁波であることを明らかにした 逆にこの現象を利用して物質の結晶構造を調べることが可能である このように X 線の回折の結果を解析して結晶内部で原子がどのように配列しているかを決定する手法を X 線結晶構造解析あるいは X 線回折法という

1 2 3 (p,n) (d,n) X X PIXE EMIS 1 57 Cu 59 Zn 2 PAD 15 15 N 28 Si 36 MeV (d,xn) Tc II (accid) 2 RI C 60 C 70 7 60 127 60,70 79 60,70 PE

CYRIC TOHOKU UNIVERSITY 20 1011 AVF 44m PIXE x (PET)ECAT- 1981 1986 1987 PETPT931 TOF-PETPT711 1995 3 PET(SET2400W-S) 35MeV (p,n) 1 1 2 3 (p,n) (d,n) X X PIXE EMIS 1 57 Cu 59 Zn 2 PAD 15 15 N 28 Si 36

muramatsu_ver1.key

229-ThTES α = e 2 /2ε 0 hc (John D. Barrow 2005) Radiationdominated era Matterdominated era Dark energy era 10 3 10 4 10 5 10 6 10 7 10 8 10 9 10 10 Time (years) Time 2 α = e 2 /2ε 0 hc (John D. Barrow

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光の形を整形する ( 反射鏡編 ) 宇留賀朋哉 財高輝度光科学研究センター 679 5198 兵庫県佐用郡佐用町光都 1 1 1 E-mail:urugat@spring8.or.jp 野村昌治 高エネルギー加速器研究機構 物質構造科学研究所 305 0801 茨城県つくば市大穂 1 1 E-mail:masaharu.nomura@kek.jp 1. はじめに 2. X 線の反射の基礎知識 放射光実験では,

Microsoft Word - XRD　マニュアル

リガク X 線回折装置 MiniFlex600 簡易マニュアル 2014 年 9 月 29 日管理 :2K 佐々木研究室内線 5766 装置の起動 (1)PC の電源を入れる (2) 送水装置 ( 右図 ) の電源を入れる ( ブレーカーは側面 ) RUN/STOP ボタン (3)RUN/STOP ボタンを一回押し循環を始める 循環水は毎回 3.5 L 以上必要なので確認する 温度は約 23 に設定する

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T2K 実験 南野彰宏 ( 京都大学 ) 他 T2Kコラボレーション平成 25 年度宇宙線研究所共同利用成果発表会 2013 年 12 月 20 日 1 T2K 実験 J- PARC でほぼ純粋な ν µμ ビームを生成 生成点直後の前置検出器と 295km 離れたスーパーカミオカンデでニュートリノを観測 ニュートリノ振動の精密測定 T2K 実験における振動モード 1. ν µμ ν e (ν e

開発の社会的背景 リチウムイオン電池用正極材料として広く用いられているマンガン酸リチウム (LiMn 2 O 4 ) やコバルト酸リチウム (LiCoO 2 ) などは 電気自動車や定置型蓄電システムなどの大型用途には充放電容量などの性能が不十分であり また 低コスト化や充放電繰り返し特性の高性能化

リチウムイオン電池が充放電する際の電極の詳細な電子状態を観測 軟 X 線発光分光法により充放電に伴う電子の振る舞いが明らかに 平成 26 年 11 月 25 日 独立行政法人 産業技術総合研究所 国 立 大 学 法 人 東 京 大 学 ポイント リチウムイオン電池が充放電する際の電極の電子状態を観測するための電池セルを開発 軟 X 線発光分光法によりリチウムイオン電池電極の電子の詳細な振る舞いを解明

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高エネルギー加速器セミナー OHO 08 ビームエネルギー回収型高輝度放射光光源 - ERL - 副題 : 次世代加速器技術としての可能性を秘めた ERL その原理と応用を学ぶ 008 年 9 月 日 KEK 3 号館 1 階セミナーホール Photon Factory (PF) & Photon Factory Advanced Ring (PF-AR) ERL 光源の性能と利用研究 物質構造科学研究所平野馨一

Japanese nuclear policy and its effect on EAGLE project

2018 年 8 月 23 日 JASMiRT 第 2 回国内ワークショップ 3 既往研究で取得された関連材料特性データの現状 - オーステナイト系ステンレス鋼の超高温材料特性式の開発 - 鬼澤高志 下村健太 加藤章一 若井隆純 日本原子力研究開発機構 背景 目的 (1/2) 福島第一原子力発電所の事故以降 シビアアクシデント時の構造健全性評価が求められている 構造材料の超高温までの材料特性が必要

VUV MPPC study

VUV MPPC の性能評価 2014/12/5 B02 班主催第 2 回若手研究者ミニ研究会 @ 名古屋大学 早大寄田研 ANKOK 実験 M2 鷲見貴生 暗黒物質 (WIMP) とその直接探索 暗黒物質存在の示唆 宇宙論的観測 ( 宇宙背景輻射 大規模構造 etc.) 天文学的観測 ( 銀河の回転曲線 重力レンズ etc.) 標準模型を超える理論 (SUSY, 超弦理論 etc.) 暗黒物質の存在はほとんど揺るぎない事実

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2009.3.10 支援財団研究活動助成 生体超分子を利用利用した 3 次元メモリデバイスメモリデバイスの研究 奈良先端科学技術大学院大学物質創成科学研究科小原孝介 研究背景研究背景研究背景研究背景データデータデータデータの種類種類種類種類データデータデータデータの保存保存保存保存パソコンパソコンパソコンパソコンパソコンパソコンパソコンパソコンデータデータデータデータデータデータデータデータ音楽音楽音楽音楽音楽音楽音楽音楽写真写真写真写真記録媒体記録媒体記録媒体記録媒体フラッシュメモリフラッシュメモリフラッシュメモリフラッシュメモリ動画動画動画動画

JASIS　新技術説明会 最新の高速GPCシステムHLC-8420GPC EcoSEC Eliteの紹介

JASIS 2018 新技術説明会 最新の高速 GPC システム HLC-8420GPC EcoSEC Elite の紹介 東ソー株式会社バイオサイエンス事業部 1 1. 高速 GPC 装置 HLC-8420GPC EcoSEC Elite の紹介 2. GPC ワークステーション EcoSEC Elite-WS の紹介 新製品 発表内容 2 1. 高速 GPC 装置 HLC-8420GPC EcoSEC

160mm OR16-34 ORB16-34 OR16-35 ORB16-35 OR16-43 ORB16-43 OR16-44 ORB16-44 OR16-45 ORB16-45 OR16-46 ORB16-46 OR16-47 ORB16-47 OR16-48 ORB16-48 OR16-53

IP44 120mm OR12-33 ORB12-33 OR12-34 ORB12-34 OR12-35 ORB12-35 OR12-36 ORB12-36 OR12-43 ORB12-43 OR12-44 ORB12-44 OR12-45 ORB12-45 OR12-46 ORB12-46 OR12-47 ORB12-47 OR12-48 ORB12-48 OR12-49 ORB12-49 OR12-53