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1 Agilent SPDR Application Note l

2 SPDR 120 GHz SPDRPNA/PNA-L 85071E SPDR- SPDR Q 23SPDR - - 2

3 SPDR h 4 h G 4 1 Ll L l h L 1. ' r 210 GHzSPDR f ' r ' r 10 h G ' r GHz2 3

4 h G l f 1 L L f 1. SPDR fghz h G mm lmm L f mm * * * * * * L f h = mm h = 0.05 mm f, GHz h = 0.1 mm h = 0.2 mm h = 0.35 mm h = 0.5 mm h = 0.7 mm h = 0.97 mm ' r GHzSPDR 4

5 SPDR310 GHzSPDR f 3 12 % 3. ' r110 GHzSPDR 20 mm 12 % f 01Q 01f sq s f 02Q 02 f 2Q 2 2 SPDR 2. fmhz Q hmm ' r tan

6 SPDR 4a4bSPDRSPDR SPDR l h h G z 4a. SPDR 4b. SPDR SPDR 6

7 5 PNA 85071E300PNA SPDR 85071E PNA SPDR 5. 7

8 SPDR SPDRTE01d 23 z QSPDR Rayleigh-Ritz ' r 1 ' r 1f 0f s (1) hf 0 K s (' r, h) h f 0 SPDRf s SPDRK s ' r h K s SPDR ' r h K s ' r h K s 1 K s h ' r l K s K s ' r h 1 2 tan Q 1 Q 1 Q DR C 1 P es (2) QQP es 3 (3) Q c Q 4 (4) Q c0 QQ DR Q5 Q DR Q DR0 f 0 P edr0 (5) f s P edr P edr P edr0 SPDR K 1 K 2 K s ' r h ' r h 8

9 1 % % ' r T h ' r h (6) 1T2 T 1 T 2 K s SPDR K s 0.15 % K s ' r 0.15T h ' r h (7) K s 0.15 %0.15 % Q 1%Q SPDRQSPDRQ Q c Q DR 0 9

10 SPDR SPDR 10

11 1"" Application Note JAJP 2Krupka J., Gregory A.P., Rochard O.C., Clarke R.N., Riddle B., Baker-Jarvis J.,Uncertainty of Complex Permittivity Measurement by Split-Post Dielectric Resonator Techniques, Journal of the European Ceramic Society, Number 10, pp , Krupka, J., Geyer, R.G., Baker-Jarvis, J., Ceremuga, J., Measurements of the complex permittivity of microwave circuit board substrates using split dielectric resonator and reentrant cavity techniques, Seventh International Conference on Dielectric Materials, Measurements and Applications, (Conf. Publ. No. 430), pp , Sep

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