Agilent U7233A DDR1 コンプライアンス テスト アプリケーション Infiniium 8000/80000/90000 シリーズ オシロスコープ用 Data Sheet

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1 Agilent U7233A DDR1 コンプライアンス テスト アプリケーション Infiniium 8000/80000/90000 シリーズ オシロスコープ用 Data Sheet

2 DDR1 デザインの容易なテスト デバッグ 評価 Agilent U7233A DDR1 コンプライアンス テスト アプリケーションを使用すると DDR1 デザインのテスト デバッグ 評価が容易に行えます U7233A ソフトウェアは JEDEC 1 JESD79E DDR(Double Data Rate) SDRAM 規格および JESD209 LPDDR (Low Power Double Data Rate) SDRAM 規格に準拠したテストを行います この他に アドバンスド デバッグ モードを備え JEDEC 仕様に準拠しない速度で動作するエンベディッド メモリ インタフェースのテストも行えます このテスト アプリケーションは セットアップ ウィザードで簡単に設定が行え マージン解析などの包括的なレポートも出力できます DDR1 は立ち上がりと立ち下りの両方のクロック エッジでデータ伝送が行われる第一世代の最先端のメモリ テ クノロジーです DDR1 は これまでのシングル データ レートに比べて 優れた性能を備えています DDR1 製造の成熟に伴い 製造コストは大幅に低減され 特に民生品で幅広く使用されています DDR1 には FBGA(fine ball-grid array) パッケージと TSOP (thin small-outline package) の 2 種類のパッケージがあります メモリ システムの相互運用性にはシグナル インテグリティの評価が欠かせません JEDEC 規格に準拠したメモリ システムは 信頼性と相互運用性を備え メモリ システムを適切に機能させることができます U7233A DDR1 コンプライアンス テスト アプリケーションは Agilent Infiniium 8000/80000/90000 シリーズ オシロスコープで使用できます 1 JEDEC(Joint Electronic Device Engineering Council)Solid State Technology Association は エレクトロニクス業界全体を代表する EIA(Electronic Industries Alliance) の中の半導体エンジニアリングの標準化を行う団体です 2

3 特長 U7233A DDR1 コンプライアンス テスト アプリケーションには DDR1 デザインの検証を容易にするさまざまな特長があります 迅速なセットアップ 設定 テストのための新しいセットアップ ウィザード JEDEC JESD79E および JESD209 仕様に準拠したコンプライアンス テスト 複雑な測定を自動化して包括的な解析が可能 InfiniiScan の ゾーン クォリファイ 機能によるユニークな読込み / 書込み信号分離手法 包括的なテスト カバレージ DDR1 コンプライアンス テスト ソフトウェアにより オシロスコープを使って JEDEC の電気 / タイミング仕様に基づいた自動テストとマージン解析が行えます このアプリケーションは 各テスト用にオシロスコープを自動的に設定し 詳細なレポートを提供します また どの程度のマージンでデバイスが各仕様に合格 / 不合格したかを示すマージン解析機能も備えています DDR1 テストの問題として ターゲット デバイスとの接続 オシロスコープの設定 テストの実行 測定結果の解析があります DDR1 コンプライアンス テスト アプリケーションは これらの作業のほとんどを自動的に行います 同一メモリ チャネルの隣接ランクに起因した負荷の分離と解析 ディレーティング テーブルの計算を自動的に行い セットアップ / ホールド時間を スルー レートに基づいて測定 3

4 容易なテスト定義 このテスト アプリケーションにより Agilent Infiniium オシロスコープを使用して DDR1 デバイスのテストを効率よく行うことができます またセットアップの定義 テストの実行 テスト結果の表示などの手順は テスト フレームワークによりガイドされ 簡単に行えます セットアップ ページで DDR1 デバイスのタイプを選択すると この選択に基づいて自動的にテストをフィルタリングします その後 テストのカテゴリを選択するか 個々のテストを指定します ユーザ インタフェースは 再接続が最も少なくなるように調整するため 時間を節約でき 作業ミスも少なくなります テストや設定はプロジェクト ファイルとして保存し 後で呼び出したり 以前のテスト結果を素早く確認することができます 図 1. DDR1 アプリケーション テストのセットアップ画面 コンプライアンスまたはアドバンスド デバッグのいずれかのテスト モードと デバイスの速度を選択します 図 2. Agilent の自動テスト エンジンは テスト セットアップに基づいて テストの選択をフィルタリングします 個々のテストまたはテストのグループを マウスをクリックして容易に選択できます 4

5 構成と接続ガイド U7233A DDR1 コンプライアンス テスト アプリケーションを使用すると テスト セットアップが柔軟に行えます このアプリケーションでは 電圧しきい値 解析に使用する波形の数 違反設定などのクリティカルな各テスト パラメータを定義できます 設定すると 選択したテストの接続図が接続ページに表示されます マルチ テスト トライアル機能により DDR1 デバイスの性能を広範囲に評価することができます 停止条件が成立するまで 選択したテストを連続的に行えます アプリケーションはワースト ケースの条件を保存でき 信号内の異常を容易に解析できます 図 3. ソフトウェアが 選択したテストの接続図を示して手順をガイドします 5

6 包括的な解析レポート 測定結果に加え U7233A DDR1 コンプライアンス テスト アプリケーションには 指定したリミット値にどの程度近いかを示すマージン機能もあります またレベルを指定して警告を出すことができます さらに各測定に対するさまざまな統計データも計算でき ワーストケースの条件も保存できます 図 4. 繰り返し実行機能により 停止条件が成立するまで 選択したテストを実行できます これにより デバイスの性能を広範囲にテストできます 図 5. DDR1 テスト アプリケーションは テスト パラメータ 合格 / 不合格のステータス テスト仕様の範囲 測定値 合格 / 不合格マージンをドキュメント化できます 6

7 詳細な性能レポート機能 U7233A DDR1 コンプライアンス テスト アプリケーションは デバイスの性能 ステータス マージンが記録された HTML レポートを作成します このレポートには 測定のスクリーン ショットも記録でき 印刷したり ベンダや顧客との情報共有にも便利です 図 6. DDR1 テスト アプリケーションのサマリ レポート テストごとに テスト リミット値 テスト概要 保存された波形も含めたテスト結果などの詳細が表示されます さらに 合格 / 不合格のマージンも表示され マージン解析が可能です 7

8 システム デバイスの要件 テスト時間の短縮には 適切な RAM 信頼性ソフトウェアを組み合わせて使用し ランダムなパターンを生成することが必要です メモリテストでは通常 DOS/Windows /Linux システムで実行可能な RAM 信頼性テスト ソフトウェアが使用されます 表 1. U7233A テスト アプリケーションがサポートしている JEDEC テスト 対応速度 仕様 DDR-200 DDR-266 DDR-333 DDR-400 AC および DC 入力測定レベル 表 6(JESD79E):AC 電気特性および DC 動作条件 (51 ページ ) 実行されるテスト 表 7(JESD79E):AC 動作条件 (52 ページ ) Agilent U7233A DDR1 コンプライアンス テスト アプリケーションは JEDEC JESD79E DDR SDRAM 仕様および JESD209 LPDDR(Low Power Double Data Rate)SDRAM 仕様のクロック / 電気 / タイミング パラメータをサポートしています このアプリケーションを使用すると Agilent Infiniium 8000/80000/90000 シリーズ オシロスコープを使って すべての DDR1 デバイスのコンプライアンス テストが行えます この他に アドバンスド デバッグ機能により 規格では定義されていない一般的なテストが可能です これらのテストは 仕様を超えた条件でテストする場合に必要となります また 読み込み信号と書き込み信号を分離できるので 即座に信号のデバッグに取り掛かれます 表 8(JESD79E): ロー パワー DDR SDRAM の電気特性 (52 ページ ) 表 13(JESD79E):DQ DQS DM の入力スルー レート (60 ページ ) 表 15(JESD209): 出力スルー レート特性 (63 ページ ) 表 16(JESD209):AC オーバシュート / アンダーシュートの仕様 (63 ページ ) 表 20(JESD79E): アドレスおよび制御ピンの AC オーバシュート / アンダーシュートの仕様 (61 ページ ) 表 21(JESD79E): データ ストローブのオーバシュート / アンダーシュートの仕様とマスク ピン (61 ページ ) 電気特性および AC タイミング 表 11(JESD79E): 電気特性および AC タイミング パート A: DDR333 DDR266 DDR200 デバイス (56 ページ ) 表 11(JESD79E): 電気特性および AC タイミング パート B: DDR400A DDR400B DDR400C(57 ページ ) 表 12(JESD79E):DDR333 DDR266 DDR200 デバイスの AC タイミング変動 (58 ページ ) 表 14(JESD209):LPDDR デバイスの AC タイミング変動 (59 ページ ) 8

9 表 2. U7233A テスト アプリケーションのアドバンスド デバッグ機能 測定項目 対応速度 コンプライアンス モードでのすべての JEDEC テスト ユーザ設定可能 ハイ / ロー ステート リンギング テスト ユーザ設定可能 使用可能なオシロスコープ U7233A DDR1 コンプライアンス テスト アプリケーションは オペレーション ソフトウェアのリビジョンが 1.20 以上の シリーズ オシロスコープおよびオペレーション ソフトウェア (Windows XP Pro) のリビジョ ンが 5.30 以上の 8000 および シリーズ オシロスコープで使用できます これ以前のソフトウェア リビジョンのオシロスコープは 以下のページの無料アップグレード ソフトウェアをご使用ください DDR1 データ レート推奨オシロスコープ帯域幅サンプリング レート 最大 400 MT/s DSO/MSO8064A DSO/MSO8104A DSO/DSA90254A DSO/DSA90404A DSO/DSA90604A DSO/DSA90804A DSO/DSA91204A DSO/DSA91304A 600 MHz 1 GHz 2.5 GHz 4 GHz 6 GHz 8 GHz 12 GHz 13 GHz 2 または 4 G サンプル /s 2 または 4 G サンプル /s 20 G サンプル /s 20 G サンプル /s 20 G サンプル /s 40 G サンプル /s 40 G サンプル /s 40 G サンプル /s 注 : 1. フル評価には 1 GHz 帯域幅以上をお勧めします 2. 4 GHz 以上の帯域幅の Infiniium 90000/80000 シリーズ オシロスコープには オプション 005 のノイズ リダクションの追加をお勧めします 3. JEDEC JESD79E/JESD209 では DDR1 信号の立ち上がり / 立ち下り時間を指定していません 必要なオシロスコープ帯域幅も記載されていません DDR1 デバイスの信号の最高速の立ち上がり / 立ち下がり時間に基づいて DDR1 信号に必要なオシロスコープ帯域幅を決めてください 表 3 を参照してください 8000/80000/90000 シリーズ オシロスコープの場合は 以下の計算式を使ってオシロスコープの帯域幅を決めることができます 最大信号周波数成分 = 0.5 / 最高速の立ち上がりまたは立ち下がり時間 (10 90 %) 3 % 確度の測定に必要なオシロスコープの帯域幅 = 1.4 最大信号周波数成分 5 % 確度の測定に必要なオシロスコープの帯域幅 = 1.2 最大信号周波数成分 10 % 確度の測定に必要なオシロスコープの帯域幅 = 1.0 最大信号周波数成分 表 3. Infiniium DSO/MSO8000 および DSO/DSA90000A シリーズ オシロスコープの立ち上がり / 立ち下がり時間の仕様 立ち上がり時間 / 立ち下がり時間 8064A 8104A 90254A 90404A 90604A 90804A 91204A 91304A % 583 ps 350 ps 140 ps 105 ps 70 ps 54 ps 35 ps 32 ps 9

10 オーダ情報 Infiniium 8000 シリーズ オシロスコープの要件 U7233A DDR1 コンプライアンス テスト アプリケーションを 新品またはご使用の Infiniium 8000/80000/ シリーズ オシロスコープ用に購入する場合は 右のようにオーダします モデル番号 DSO8000/MSO8000 U7233A N5415A 概要 ソフトウェアが 5.30 以上の Infiniiium シリーズ オシロスコープ DDR1 コンプライアンス テスト アプリケーション ( アプリケーション サーバ ライセンス用は オプション N5435A-021) InfiniiScan 波形 イベント検索ソフトウェア ( 新品のオシロスコープでは オプション 009) 116x/113xA 1 2 InfiniiMax I/II プローブ アンプ (3 個以上必要 ) Infiniium および シリーズ オシロスコープの要件 モデル番号 概要 または ソフトウェア バージョンが 1.20 以上の Infiniiium シリーズ オシロスコープソフトウェア バージョンが 5.30 以上の Infiniiium シリーズ オシロスコープ N5403A N5404A U7233A または N5459A N5414A ノイズ リダクション ( 新品の 80000/90000 シリーズ オシロスコープではオプション 005) の追加を推奨 ロング メモリ オプション ( 新品の シリーズ オシロスコープではオプション 001) の追加を推奨 DDR1 コンプライアンス テスト アプリケーション ( 新品の シリーズ オシロスコープではオプション 031 アプリケーション サーバ ライセンスの場合は N5435A-021) DDR ソフトウェア バンドル製品 (U7233A N5413A U7231A を含むバンドル製品 ) InfiniiScan 波形 イベント検索ソフトウェア ( 新品の または オシロスコープでは オプション 009 またはアプリケーション サーバ ライセンスの場合はオプション N5435A-004) 116xA/113xA 1 2 InfiniiMax I/II プローブ アンプ (3 個以上必要 ) 1 プローブ アンプが信号測定の帯域幅要件を満たしていることを確認してください プローブ アンプとプローブ ヘッドについては 以下の プローブ アクセサリ を参照してください 2 複数の RANK テストには チップ セレクト (CS) ピンの追加プロービングに 4 本のプローブが必要です プローブ アクセサリ InfiniiMax プローブ アンプ モデル番号 1169A 1168A 1134A 1132A 1131A 1130A 概要 12 GHz 差動プローブ アンプ 10 GHz 差動プローブ アンプ 7 GHz 差動プローブ アンプ 5 GHz 差動プローブ アンプ 3.5 GHz 差動プローブ アンプ 1.5 GHz 差動プローブ アンプ 10

11 プローブ アクセサリ InfiniiMax プローブ ヘッド モデル番号 N5381A N5382A E2677A E2675A N5425A 概要 InfiniiMax II 12 GHz はんだ付け差動プローブ ヘッドとアクセサリ InfiniiMax II 12 GHz 差動ブラウザ InfiniiMax 12 GHz はんだ付け差動プローブ ヘッドとアクセサリ InfiniiMax 6 GHz 差動ブラウザ プローブ ヘッドとアクセサリ InfiniiMax 12 GHz ZIF プローブ ヘッド N5426A ZIF チップ ( 10) N5451A ロング ワイヤ ZIF チップ ( 10) E2678A E261xA/B E264xA InfiniiMax 12 GHz ソケット型差動プローブ ヘッドとアクセサリ E2678A と組み合せて使用する DDR1 TSOP プロービング用ウェッジ アダプタ (3 ~ 8 信号 ) E2678A と組み合せて使用する DDR1 TSOP プロービング用ウェッジ アダプタ (16 信号 ) 関連カタログ タイトルカタログ タイプカタログ番号 Infiniium DSO/DSA90000A シリーズ Data Sheet JAJP Infiniium 8000 シリーズ オシロスコープ Data Sheet JAJP Infiniium 80000B シリーズ オシロスコープ InfiniiMax シリーズ プローブ Data Sheet JAJP N5414A/N5415A 波形 イベント検索ソフトウェア Data Sheet JAJP シリーズオシロスコープのプローブ アクセサリおよびオプション Selection Guide Data Sheet JA 製品の Web サイト アプリケーションおよび製品の最新情報および詳細情報は Agilent の製品 Web サイト ( u7233a) をご覧ください E2688A/N5384A Infiniium 54830/54850 用クロック リカバリ機能内蔵ハイスピード シリアル データ解析ソフトウェア Data Sheet JA EZJIT/EZJIT Plus ジッタ解析ソフトウェア Data Sheet JAJP DDR メモリ バスのシグナル インテグリティの迅速な解析方法 Application Note JAJP 11

12 Agilent からの最新情報を記載した電子メール を無料でお送りします 測定器ソリューションを迅速に選択して 使用 できます Agilent Open Agilent Direct Agilent は テスト システムの接続とプログ ラミングのプロセスを簡素化することにより 電子製品の設計 検証 製造に携わるエンジニ アを支援します Agilent の広範囲のシステム 対応測定器 オープン インダストリ ソフトウ ェア PC 標準 I/O ワールドワイドのサポートは テスト システムの開発を加速します Remove all doubt アジレント テクノロジーでは 柔軟性の高い高品質な校正サービスと お客様のニーズに応じた修理サービスを提供することで お使いの測定機器を最高標準に保つお手伝いをしています お預かりした機器をお約束どおりのパフォーマンスにすることはもちろん そのサービスをお約束した期日までに確実にお届けします 熟練した技術者 最新の校正試験プログラム 自動化された故障診断 純正部品によるサポートなど アジレント テクノロジーの校正 修理サービスは いつも安心で信頼できる測定結果をお客様に提供します また お客様それぞれの技術的なご要望やビジネスのご要望に応じて アプリケーション サポート システム インテグレーション 導入時のスタート アップ サービス 教育サービスなど 専門的なテストおよび測定サービスも提供しております 世界各地の経験豊富なアジレント テクノロジーのエンジニアが お客様の生産性の向上 設備投資の回収率の最大化 測定器のメインテナンスをサポートいたします 詳しくは : アジレント テクノロジー株式会社本社 東京都八王子市高倉町 9-1 計測お客様窓口受付時間 9:00-19:00( 土 日 祭日を除く ) FAX Web は 24 時間受け付けています TEL ( ) FAX ( ) contact_japan@agilent.com 電子計測ホームページ 記載事項は変更になる場合があります ご発注の際はご確認ください Copyright 2008 アジレント テクノロジー株式会社 LXI は GPIB の LAN ベースの後継インタフェースで さらに高速かつ効率的なコネクティビティを提供します Agilent は LXI コンソーシアムの設立メンバです Microsoft と Windows は Microsoft Corporation の米国登録商標です July 17, JAJP DEP