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さやねぎたや
5 years ago
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1 アプリケーションノート USB 2.0 物理レイヤテストはじめに USB 2.0 対応のデバイス設計特性評価および動作確認に携わっているエンジニアは製品の市場投入のスピードアップを日々迫られています当社の測定パッケージでは USB-IF(USB Implements Forum, Inc.) 推奨のすべてのコンプライアンステストがすばやく正確に実行できます USB 2.0(Universal Serial Bus 2.0) はコンピュータと周辺機器を接続するインタフェースの規格でデバイスを接続するためにいちいちコンピュータのケースを開いてカードをインストールする必要がありません USB 2.0に適合したデバイスの使用により接続性拡張性およびスピードが大幅に改善できます USB 2.0ではデータレートが40 倍にもなりフルモーションビデオから小型ハードディスクドライブまで利用できるようになりますしかしこのように著しく高速化するデータレートのためテストや測定において新しい次元の課題が発生しています USB 2.0の規格では新たなコンプライアンステスト ( 認証試験 ) が義務付けられています USB-IF 認証のロゴを製品につけるためには製品の特性を評価し USB 2.0の規格に適合する必要があります USB-IFのコンプライアンステストに合格するためにはロースピード (LS) フルスピード(FS) およびハイスピード (HS) のデバイスおよびハブにおいてアイダイアグラムおよび各パラメータを正確に測定できる計測器の選定が非常に重要になりますこのアプリケーションノートでは USB 2.0 物理レイヤ特性測定と電気特性テストについて説明しまた各テストに必要な計測器についても説明します

2 アプリケーションノート USB 2.0 の基礎 USB 2.0は VBUS D D+およびグランドの4 線を持ったシリアルバスで D D+はデータライン VBUSはホストまたはハブから電源供給を受ける場合の電源ラインになります USB 2.0では次のようなデータレート立上り時間が規定されていますデータレート立上り時間ロースピード (LS) 1.5Mbps ns フルスピード (FS) 12Mbps 4 20ns ハイスピード (HS) 480Mbps 500ps USB 2.0のデバイスにはセルフパワー ( デバイス自身で電源を持っているもの ) とバスパワー ( ホストから電源をもらうもの ) の2 種類がありますセルフパワーデバイスでは電力を極力引き出さないように考慮する必要がありテストについては USB2.0の仕様に規定されています USB 2.0 電気テスト USB 2.0の電気テストでは Signal Quality( 信号品質 ) Inrush Current( 突入電流 ) Drop/Droop( ドロップ / ドループ ) をテストします Signal Quality( 信号品質 ) テストデータレートが40 倍になったことにより USB 2.0のデバイス設計はよりむずかしいものになり回路基板のレイアウトジッタ立上り / 立下り時間 EMI ノイズグランドバウンスなどによる信号品質が設計上の重要事項になってきましたデバイスをUSB2.0に対応させ USB2.0の認証ロゴを取得するためには信号品質を高く維持することが必要になります Signal Qualityテストには以下の項目が含まれますアイダイアグラムテスト信号レート EOP (End of Packet) 幅クロスオーバ電圧レンジペアードJKジッタペアードKJジッタ連続ジッタ立上り時間立下り時間アイダイアグラムテストはシリアルデータアプリケーション向けの独自のテストです Signal Qualityテストにおける設定はアップストリームダウンストリームによって異なりますアップストリームテストではデバイスからホストに向かう信号が測定されますダウンストリームテストではホストからデバイスに向かう信号が測定されますダウンストリームテストは通常ハブのポートで実行されます 2

3 USB 2.0 物理レイヤテスト図 1:DPO7254 型で実行される TDSUSB2 コンプライアンステストパッケージ図 2:DPO7254 型で実行される TDSUSB2 コンプライアンステストパッケージコンプライアンステストでは十分なテストマージンを確保するためにワーストケースのシナリオを想定する必要があります具体的には被測定デバイスは6 段目の接続ポイントでテストし HUT( 被測定ハブ ) では5 段目の接続ポイントでテストしますテスト機器 Signal Qualityテストでは当社 DPO7254 型などの周波数帯域 2.5GHz 以上のリアルタイムオシロスコープが必要ですプローブとしては P6245 型 *1 またはTAP1500 型シングルエン *1 ドプローブ ( ロースピードフルスピード ) P6248 型またはTDP1500 型差動プローブ ( ハイスピード ) が必要になりますさらに TDSUSB2コンプライアンステストソフトウェアおよびテストフィクスチャが必要になります図 1は DPO7254 型デジタルフォスファオシロスコープで実行したTDSUSB2コンプライアンステストパッケージの表示例です TDSUSB2は Signal Qualityテストを全自動で実行できるためエンジニアは設計した回路をすばやく評価することができますまず信号スピード (Low FullまたはHigh Speed) を選択します次に Tier(DUTを接続する階層 ) テストポイント(DUT のテストポイント NearまたはFar) およびトラフィックの方向 ( アップストリームまたはダウンストリーム ) を設定します ( 図 2を参照 ) 以上の設定で実行ボタンを押すとテストが開始されます図 3:TDSUSB2 コンプライアンステストパッケージでは測定結果が自動的に表示されますテストは自動で実行されるため複雑なオシロスコープの設定は必要ありませんまた測定結果をUSB 2.0の規格と比較する必要もありません結果は自動的に表示されます ( 図 3を参照 ) *1 DPO7000 シリーズで使用する場合は TPA-BNC 型アダプタが必要です 3

アプリケーションノートテスト機器 Inrush Currentテストでは当社 DPO7254 型などのリアルタイムオシロスコープと TCP0030 型などの電流プローブが必要になりますさらに TDSUSB2コンプライアンステストパッケージなどのテストソフトウェア / テストフィクスチャが必要になりますこのテストパッケージでは Inrush

4V 以上であることが規定されています Dropテストでは無負荷時最大負荷時 (100mAまたは500mA) における VBUS 電圧をチェックします Inrush Current( 突入電流 ) テスト USB 2.

4 アプリケーションノートテスト機器 Inrush Currentテストでは当社 DPO7254 型などのリアルタイムオシロスコープと TCP0030 型などの電流プローブが必要になりますさらに TDSUSB2コンプライアンステストパッケージなどのテストソフトウェア / テストフィクスチャが必要になりますこのテストパッケージでは Inrush Currentをチェックするためのオシロスコープの設定が自動的に実行され電荷 (μc) キャパシタンス(μF) がオシロスコープ上で直読でき合否判定も表示されます Drop( ドロップ ) テスト図 4:DPO7254 型で測定した Inrush 電流 USB 2.0ではセルフパワーデバイスのUSBポートでVBUS の電圧が Vであることバスパワーのハブでは 4.4V 以上であることが規定されています Dropテストでは無負荷時最大負荷時 (100mAまたは500mA) における VBUS 電圧をチェックします Inrush Current( 突入電流 ) テスト USB 2.0はホットプラグ技術を採用しているためデバイスによって引き出される電流が仕様値を超えないように注意する必要があります引き出される電流が仕様値を超えるとバスに接続されたデバイスの動作が不安定になります Inrush Currentテストはセルフパワーデバイスバスパワーデバイスの両方で実施し DUT (Device Under Test) がハブのポートに接続されたときに過大電流を引き出さないことを確認します Inrush Currentは通常デバイスを接続したときにスパイク状の波形として表示されますデバイスがリセットされるタイミングによっては小さなコブ状の波形や波形のみだれが観測されることもあります ( 図 4 参照 ) Vdrop = Vアップストリーム Vダウンストリーム Vアップストリーム = VBUSアップストリームハブ接続 Vダウンストリーム = VBUSハブのダウンストリームポートバスパワーハブではダウンストリームポートで100mA の負荷がある場合アップストリームポートとダウンストリームポート間での電圧降下 (Vdrop) が100mV 以下であることが必要です電圧降下が100mV 以下であることはダウンストリームデバイスに対して4.4V 以上が供給できることを意味しますバスパワーケーブルデバイスではアップストリームコネクタとダウンストリームポート間でケーブルの電圧降下を含めてVdropが350mV 以下である必要があります Inrush Currentは理論的にはオシロスコープ上のある期間 (2 本の垂直カーソルで囲まれた範囲 ) における電流波形の積分値として計算されます USB 2.0ではデバイスによって引き出される電流の蓄積が 5.15VBUSにおいて51.5μC 以下と規定しています 4

5 USB 2.0 物理レイヤテストテスト機器 Dropテストではマルチメータが必要です TDSUSB2コンプライアンステストパッケージではマルチメータの出力を取り込んで結果を表示させることができます Droop( ドループ ) テスト PUT (Port Under Test) の無負荷時の電圧と100mA 負荷 ( すべてのポート ) 時の電圧の差をVdroopとします USB 2.0ではこのVdroopが330mV 以下であることと規定しています Droopテストでは PUTのポートに無負荷と100mA 負荷を交互に与えた場合 ( 他のポートはすべて100% 負荷 ) の電圧降下のワーストケースを想定していますすべてのVBUS 測定はローカルグランドに対して行いますテスト機器 Droopテストでは当社 DPO7254 型などのリアルタイムオシロスコープ TAP1500 型 P6243 型 *2 P6245 型 *2 などのシングルエンドプローブが必要ですさらに TDSUSB2コンプライアンステストソフトウェアおよびテストフィクスチャが必要です TDSUSB2はテストに必要なオシロスコープの設定を自動的に設定し信号を取込み Vdroopを測定します測定結果は合否判定とともに表示されます USB 2.0 High-speed( ハイスピード ) テスト USB 2.0コンプライアンステストは基本的にはUSB 1.1にしたがっていますこれに USB 2.0のHigh-speedモードが追加になっています High-speedテストでは Receiver Sensitivity( レシーバ感度 ) CHIRP( チャープ ) Monotonicity ( モノトニシティ ) およびImpedance( インピーダンス ) 測定テストが追加されます Receiver Sensitivityテストノイズ環境下での安定した動作を確保するため USB 2.0 High-speedデバイスは信号レベルが特定の値以上でIN* パケットに対して NAK * が反応する必要がありますまずDUT をTest_SE0_NAKモードにしホストとシグナルジェネレータを置き換えてINパケットを送信します信号振幅は DUTにおいて150mV 以上にしますこのレベルでは DUTはINパケットに反応してNAKを出力する必要があります次に振幅を 100mV 未満に下げますこの状態で DUTはINパケットに対して反応しないことが必要です * INパケット NAKについては USB 2.0の仕様書を参照してください *2 DPO7000 シリーズで使用する場合は TPA-BNC 型アダプタが必要です 5

6 アプリケーションノートオシロスコープ Test Mode SW データジェネレータ USB2.0 テストフィクスチャ SMA HS デバイス図 5 : DPO7254 型と DTG5000 シリーズデータジェネレータを使用した Receiver Sensitivity テストのセットアップ例図 6:CHIRP テストにおけるテストパラメータ例テスト機器 Receiver Sensitivityテストでは当社 DPO7254 型などのリアルタイムオシロスコープが必要ですまた振幅を変化させながらINパケットを出力できる AWG5000Bシリーズ AWG7000BシリーズまたはDTG5000シリーズが必要ですさらに TDP1500 型またはP6248 型 *3 などの差動プローブ TDSUSB2コンプライアンステストソフトウェアおよびテストフィクスチャが必要になります図 5は DPO7254 型とデータジェネレータを使用したセットアップ例を示しています DPO7254 型 Opt. USBには Receiver Sensitivityテストで必要なセットアップファイルやテストパターンなどが含まれています CHIRPテスト CHIRPテストでは速度検出プロトコルにおけるアップストリーム / ダウンストリームのタイミングをテストしますハブではアップストリームとダウンストリームの両方のポートでテストします CHIRPテストでは DUTをホットプラグにしシングルエンドプローブで両方のデータラインを測定しますデータとしては CHIRP K duration( 期間 ) CHIRP Reset Time High Speedターミネーション前のKJペア数およびデバイスターミネーション前 KJKJKJ 後の遅延時間を解析します図 6に DPO7254 型を使用したCHIRPテストのパラメータ例を示しますテスト機器 CHIRPテストでは当社 DPO7254 型など 2.5GHz 以上の帯域のリアルタイムオシロスコープ TAP1500 型 P6243 型 *3 P6245 型 *3 などのシングルエンドプローブが必要ですさらに TDSUSB2コンプライアンステストソフトウェアおよびテストフィクスチャが必要ですマニュアル ( 手動 ) でのCHIRPテストは非常に手間がかかります TDSUSB2コンプライアンステストパッケージを使用することでテスト手順が自動化でき結果も表示できます *3 DPO7000 シリーズで使用する場合は TPA-BNC 型アダプタが必要です 6

7 USB 2.0 物理レイヤテスト High Speed 信号品質テストの機器セットアップアプリケーションが実行している当社オシロスコープ Win 2K PC テストモードソフトウェア OHCI ポート B Recep Init 差動プローブ D3 Monotonic 信号 Non-Monotonic 信号図 7: 立上り時間 500ps の信号での Monotonic と Non-monotonic の様子 D2 D+ D- J33 デバイス SQ テスト J32 Vbus DUT Gnd B pin テストフィクスチャ DUT 図 9 : Monotonicity テストでは高速信号品質測定用のセットアップが必要になりますテスト機器信号の立上り / 立下りエッジ部分を数多くのサンプルで取込むためには可能な限り高速なサンプリングレートを持ったオシロスコープが必要になりますまたスムーズに変化していない高周波部分を減衰させることなく取込むためにはオシロスコープの周波数帯域も十分に広いことが必要ですサンプルレートは10GS/s 周波数帯域は2.5 4GHzが必要で DPO7254 型が適しています図 8:TDSUSB2 コンプライアンステストパッケージで取込んだテストパケットから各立上り / 立下りエッジをチェックした Monotonicity テストの例 Monotonicity( モノトニシティ ) テスト USB 2.0 High-speedコンプライアンステストでは Monotonicityテストが必要になります Monotonicityテストでは送信された信号の立上り / 立下りエッジが逆方向に向かうことなくスムーズに変化する必要があります立上り / 立下りエッジがスムーズに変化しない原因としては回路内のメタスタビリティ高周波ノイズジッタなどが考えられます図 7では立上り時間 500psのUSB 2.0 High-speed 信号の立上りエッジを比較しています Monotonicityテストでは TDSUSB2コンプライアンステストソフトウェアおよびテストフィクスチャも必要になります USB 2.0のMonotonicityテストはテストパケット観測時に評価されます TDSUSB2はテストパケットを取込んで立上り / 立下りエッジを測定します ( 図 8 9を参照 ) TDSUSB2と高性能オシロスコープの組合せによりテスト手順は自動化できテスト結果も再現性が保てます 7

アプリケーションノートテスト機器 Signal Inrush Receiver Impedance Droop CHIRP Quality Current テスト Sensitivity テスト Measurement テストチェックテストテストリアルタイムオシロスコープ TDR データジェネレータテストフィクスチャテストソフトウェア差動プローブシングルエンド

0 High-speedモードの信号レートは高速であるため波形およびパッケージインピーダンスは非常に重要な測定パラメータになります High-speed 規格ではケーブルシリコンおよびデバイスの差動インピーダンスが規定されています USB 2.

8 アプリケーションノートテスト機器 Signal Inrush Receiver Impedance Droop CHIRP Quality Current テスト Sensitivity テスト Measurement テストチェックテストテストリアルタイムオシロスコープ TDR データジェネレータテストフィクスチャテストソフトウェア差動プローブシングルエンドプローブ電流プローブ図 10 : DSA8200 型サンプリングオシロスコープと 80E04 型 TDR サンプリングモジュールの組合せによる TDR 測定例注 :Drop テストではマルチメータが必要です Impedance Measurement( インピーダンス ) テスト USB 2.0 High-speedモードの信号レートは高速であるため波形およびパッケージインピーダンスは非常に重要な測定パラメータになります High-speed 規格ではケーブルシリコンおよびデバイスの差動インピーダンスが規定されています USB 2.0では差動 TDRインピーダンスのステップ応答は 400psと規定されていますインピーダンスリミットは DUTコネクタを基準に定義されていますコネクタからの決められた距離におけるインピーダンスは Ωである必要がありますケーブルにおいても 90Ω±15% である必要がありますテスト機器 Impedance Measurementテストでは 80E04 型 TDRサンプリングモジュールを組込んだDSA8200 型デジタルシリアルアナライザが必要ですこの組合せでは最大 8チャンネル同時に不整合のTDRを測定できます USB 2.0 物理レイヤテストに必要な計測器 USB 2.0ではデータレートが大幅に高速化されたことで USBコンシューマ向デバイスの種類が増え職場や家庭でのPC がより使いやすいものになりますコンシューマ向製品の開発においてはいかに早く市場に製品を投入できるかが重要です適切な計測器を使うことでスケジュールに合ったUSBデバイス開発が可能になります特にオシロスコープの周波数帯域立上り時間およびサンプルレートは重要なスペックになりますまたテストフィクスチャや自動テストソフトウェアも必要です USB 2.0 物理レイヤテストで必要な計測器については上記の表を参照してください DSA8200 型によるTDR 測定例を図 10に示します規定で定められている90Ω±15% に入っていることを示しています 8

9 USB 2.0 物理レイヤテスト測定精度におけるオシロスコープの周波数帯域 / 立上り時間の影響オシロスコープで必要とされる立上り時間は測定する信号の立上り時間と密接な関係があります測定された立上り時間 [RT (measured)] オシロスコープの立上り時間 [RT(oscilloscope)] および信号の立上り時間 [RT(signal)] の間には次のような関係式が成り立ちます RT(measured) = RT(signal) 2 +RT(oscilloscope) 2 次の表はオシロスコープの立上り時間周波数帯域と測定された立上り時間の関係から測定誤差を示したものです図 11:DPO7254 型デジタルフォスファオシロスコープ USB 2.0 物理レイヤテストに必要な計測器の選定リアルタイムオシロスコープ USB 2.0の測定ではリアルタイムオシロスコープが最も重要な計測器となりますオシロスコープを選定する場合オシロスコープの立上り時間周波数帯域およびサンプルレートの仕様が重要になります以下ではリアルタイムオシロスコープに要求される性能について説明しますオシロスコープの周波数帯域 / 立上り時間と測定値の関係周波数帯域 (GHz) * 立上り時間 (ps) 測定された立上り時間測定誤差 (%) % % % % * 500psの立上り信号において上の表からオシロスコープの立上り時間が信号の立上り時間の5 倍速ければ測定誤差は1.8% に抑えられますしかしオシロスコープの立上り時間が遅くなるにしたがって測定誤差は大きくなりますしたがって 500psの立上り時間を正確に測定するためには DPO7254 型などの立上り時間が psのオシロスコープが必要になります 9

10 アプリケーションノートオシロスコープのサンプルレートの影響 500psの信号エッジを詳細に観測するためには信号エッジは最低でも10ポイント以上取込む必要があります High-speed テストで要求されるMonotonicityテストでは特に重要な要素です当社のソリューション 500psの信号エッジで10ポイント取込むためにはオシロスコープのサンプルレートは最低でも 20GS/sが必要になります当社のリアルタイムオシロスコープの一覧を次に示します仕様 DPO7254 型 TDS7404B 型 TDS7704B 型立上り / 立下り時間 100ps 100ps 62ps サンプルレート (1ch) 40GS/s 20GS/s 20GS/s 注 :USB 2.0 ではエッジレートを 500ps としています当社のその他の高性能オシロスコープにもプローブソフトウェア各種アクセサリと組合せてUSBコンプライアンステストに使用できるものがありますアプリケーションに最適な計測器の選定については当社営業所までお問い合わせください TDR (Time Domain Reflectometer) TDRはインピーダンス測定で必要になります 80E04 型 TDRサンプリングモジュールを組込んだDSA8200 型デジタルシリアルアナライザは真の差動 TDRが測定でき USB 2.0のデバイスケーブルのインピーダンス測定に適していますこのオシロスコープとサンプリングモジュールの組合せにより差動ライン特性の正負のTDR 波形が同時に表示でき差動ラインの各導線のインピーダンスまたはコモンモード電圧が直接表示できますまた真の差動測定が可能で USB 2.0デバイスで必要なインピーダンスをΩ 単位で表示することができます DPO7254 型デジタルフォスファオシロスコープは当社 Windowsベースのオシロスコープにおける高性能な機種です最高 40GS/sのリアルタイムサンプルレート 2.5GHzの周波数帯域 4チャンネル入力の性能を持ち USB 2.0で必要な設計評価デバッグに適しています優れた波形取込能力簡単な操作性拡張性も大きな特長です DPO7254 型には DPX 波形取込技術により250,000 波形 / 秒の波形取込レートがあり間欠的に発生する異常信号をすばやく取込み表示することができます信号ソース Receiver Sensitivity( レシーバ感度 ) テストでは信号ソースが必要になります AWB5000Bシリーズ AWG7000Bシリーズは USBのレシーバ感度テストに最適な信号ソースです DTG5000シリーズは750MHzのデータジェネレータでジッタの少ない信号を出力することができ USB 2.0 High-speed のコンプライアンステストシステムに簡単に組み込むことができます 2チャンネル出力ですので USBデバイスで使用される非標準の差動信号を出力できます USB 2.0のレシーバ感度テスト実行のためのセットアップファイルも用意されています 10

テストにおいてマニュアルでテストする項目としては Receiver Sensitivityテストなどがありますテストフィクスチャ各テストのセットアップのためのプロービングにはテストフィクスチャが必要ですテストフィクスチャは差動データライン (D+ D VBUS) にアクセスできオンボードの USBコネクタまたは電流プローブ用の測定ループを持っている必要があります

11 USB 2.0 物理レイヤテスト全自動テストソフトウェア TDSUSB2は USB 2.0のコンプライアンステスト用ソフトウェアですオシロスコープを自動的に設定したりテストを自動実行するなどボタン一つでテストを実行できるためテストを効率よく行うことができ測定によるエラーを防ぐこともできます半自動テストソフトウェアテストによっては自動で行える項目もありますがマニュアルで行わなければならない項目も含まれています図 12: テストフィクスチャ High-speed テストにおいてマニュアルでテストする項目としては Receiver Sensitivityテストなどがありますテストフィクスチャ各テストのセットアップのためのプロービングにはテストフィクスチャが必要ですテストフィクスチャは差動データライン (D+ D VBUS) にアクセスできオンボードの USBコネクタまたは電流プローブ用の測定ループを持っている必要があります Receiver Sensitivityテストではデータラインとデータジェネレータを接続するためのSMAケーブルが必要です TDR 測定においても接続用のケーブルが必要になります TDSUSBF 型は USB 2.0のコンプライアンステストに適したテストフィクスチャです ( 図 12 参照 ) テストソフトウェア USB 2.0コンプライアンステストはマニュアル ( 手動 ) 半自動または全自動で行いますマニュアル ( 手動 ) テスト従来コンプライアンステストは MATLABスクリプトによりテストしてきました MATLABスクリプトによるテストではオシロスコープの設定カーソルの正確な位置指定信号の取込みと.tsvファイル形式による波形保存などすべてのテスト手順をマニュアルで実行しておく必要がありますテストとセットアップは複雑であり熟練が必要です中でもテストごとにオシロスコープの設定は異なるためオシロスコープの設定は最も時間のかかる作業ですまたテスト手順をドキュメントとして残す必要がありますので非常に手間のかかる作業が必要になりますプローブ USB 2.0のコンプライアンステストではプローブは非常に重要なコンポーネントです当社は差動プローブとして P6248 型 *4 TDP1500 型シングルエンドプローブとしてP6245 型 *4 TAP1500 型また電流プローブとして TCP202 型 TCP0030 型を用意しており高密度の実装基板の狭いピン間隔や狭いスペースでのプロービングも簡単に行え信頼性の高い信号取込みが可能になります *4 DPO7000 シリーズで使用する場合は TPA-BNC 型アダプタが必要です 11

12 まとめ USB 2.0の普及によりより使いやすくなった新しい周辺機器の開発が急務になっていますしかしデータレートが高速になったことによって解決しなければならない問題もまた増えてきました当社では優れたオシロスコープ真の差動 TDR 高速データジェネレータ豊富なプローブさらに全自動テストソフトウェアとテストフィクスチャを用意し USB 2.0のコンプライアンステストを簡単にかつ正確に行えるようにしました当社は USBデバイスの設計エンジニア向に豊富な技術資料をご用意しています当社ウェブサイト ( usb) をご参照ください Tektronix お問い合わせ先 : 日本お客様コールセンター地域拠点米国中南米東南アジア諸国 / 豪州中国インド欧州 / 中近東 / 北アフリカ他 30 カ国 Updated 9 October 2009 詳細について当社は最先端テクノロジに携わるエンジニアのために資料を用意しています当社ホームページ ( をご参照ください TEKTRONIX および TEK は Tektronix, Inc. の登録商標です Windows は米国 Microsoft Corporation の登録商標です記載された商品名はすべて各社の商標あるいは登録商標です 02/11 55Z

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$(Microsoft PowerPoint - H-6_TIF2013_USB2_F [\214\335\212\267\203\202\201[\203h])$ H-6 UBS2.0 インタフェースの評価手法脇本雄太 USB2.0 の概要 USB の歴史 1995 年 :Intel によって仕様公開 1996 年 1 月 :USB-IF によって USB1.0 規格を発表 Compaq Computer Digital IBM Intel Microsoft NEC 1998 年 9 月 : 電気的仕様をより詳細に規格化し USB1.1 へ 2000 年