4 端子測定各種治具 同軸型 4 端子コンタクトフ ローフ を使用した応用製品の紹介 PATENT ( テストフィクスチャーハ リエーション ) 同軸型 4 端子コンタクトプローブ (PATENT) は 最小 0.4 ピッチまで取り揃えております コンタクトプローブと配線技術 (PATENT) を駆使して 各種治具に応用展開できます 開発 ~ 品質 ~ 量産に至る各部門 工程で 仕様や目的に合せて設計製作致します W - CSP 測定用ソケット チップの研究開発や 品質保証テ ータ取りなどに使用出来るカスタムソケット ヘ ンシル型フ ローフ 4 端子測定を手軽に実施出来る 各種計測器用のテストリード フ ローフ カート ウェハチップ量産検査用 電極ユニット ハンドラ プローバ用ユニット コンハ クトソケット 量産向け安価 コンパクトソケット LED 光学特性測定ヘット SMD タイプ試験用光学及び電気特性試験用ヘッド 2010.01M
同軸型 4 端子コンタクトフ ローフ を使用した W-CSP 検査用ソケット PATENT ウエハよりチップをダイシング後 同軸型 4 端子コンタクトプローブ (PATENT) を利用して手動測定ができます 用途として チップの開発や抜取り検査 不良解析などにご使用できます ハウジングには BGA LGA などの多様なチップの検査用途の合わせて 同軸型 4 端子コンタクトプローブ (PATENT) ファインピッチコンタクトプローブが 使用できます チップ 引出し端子 I 端子 : 電流端子 : 外部導体からの引出し端子 (4 本 ) です V 端子 : 電圧端子 : 内部導体からの引出し端子 (4 本 ) です チップサイズ : 1.0mm チップの ball 径 : φ0.26(0.4p) 配線基板 : フレキシブルプリント基板 特長 回転機構クラムシェルソケットの例 BGA LGA ベアチップなどの動作確認検査ができます MOS-FET のオン抵抗値測定ができます 端子間の電圧測定ができます ソケットの蓋は 着脱可能で 自動機 ( ハンドラ式 ) 検査にも使用できます ケルビン 非ケルビン測定比較 工程能 力力 出 力力電圧測定 ( 非ケルビン ) の 工程能 力力 同一サンプル 同一条件にて測定 出 力力電圧測定 ( ケルビン ) の 工程能 力力 工程データ LSL 1.44 目標 1.5 USL 1.56 標本平均 1.487 07 標本番号 210 標準偏差 ( サブグループ内 ) 0.003 56731 標準偏差 ( 全体 ) 0.003 92682 L SL 目標 U SL サブグループ内全体 潜在的な ( サブグループ内 ) 工程能力 Cp 5.6 1 CPL 4.4 0 CPU 6.8 1 Cpk 4.4 0 CCpk 5.6 1 工程データ L SL 1.44 目標 1.5 U SL 1.56 標本平均 1.49 85 4 標本番号 21 0 標準偏差 ( サブグループ内 ) 0.00 26 3412 標準偏差 ( 全体 ) 0.00 27 9619 LSL 目標 USL サブグループ内全体潜在的な ( サブグループ内 ) 工程能力 Cp 7.59 CP L 7.41 CP U 7.78 Cpk 7.41 CC pk 7.59 全体の工程能力 全体の工程能力 観測された性能 P P M?<?LSL 0.00 P P M?>?U SL 0.00 P P M 合計 0.00 期待されるサブグループ内性能 PP M?<?LSL 0.00 PP M?>?USL 0.00 PP M 合計 0.00 1.440 1.456 1.472 1.488 1.504 期待される全体性能 P P M?<?LS L 0.00 P P M?>?U SL 0.00 P P M 合計 0.00 1.520 1.536 1.552 Pp 5.0 9 PPL 4.0 0 PPU 6.1 9 Ppk 4.0 0 Cpm 1.4 8 観測された性能 P PM?<?LSL 0.00 P PM?>?USL 0.00 P PM 合計 0.00 期待されるサブグループ内性能 PPM?<?LS L 0.00 PPM?>?U SL 0.00 PPM 合計 0.00 1.440 1.456 1.472 1.488 1.50 4 期待される全体性能 PPM?<?LSL 0.00 PPM?>?U SL 0.00 PPM 合計 0.0 0 1.520 1.53 6 1.552 Pp 7.15 PP L 6.98 PP U 7.33 Ppk 6.98 Cpm 6.34 非ケルビン Cpk=4.40 に対し ケルビンタイプでは Cpk=7.41 と向上 2009.07 U
プローブカード 同軸型 4 端子コンタクトプローブ搭載! PATENT ウエハーでの 4 端子測定を可能にする同軸型 4 端子コンタクトプローブ ( PATENT) を搭載したプローブカードです WLCSP などの端子に垂直にコンタクトし 狭面積での評価が可能です 特長 端子間ピッチ最小 0.4mm に対応可能です コンタクトプローブ交換が簡単な構造です 垂直コンタクトによりプローブレイアウトに高い自由度があります 4 端子法による測定を可能にします 低電流による高精度の測定も可能とします 各テスターメーカーの試験装置に合わせた形状にて承ります パフォーマンスボード搭載例 注意 : 上記仕様は 予告なしに変更されることがあります 詳細はお問い合わせ下さい 2010.01 T
PATENT 同軸型 4 端子コンタクトプローブ 搭載! コンパクトソケット 本ソケットは 同軸型 4 端子コンタクトプローブ D02-NP040W ( PATENT) を搭載した ICソケットです 0.4mm の狭ピッチでコンパクト & ローコストながら高性能な 4 端子法 用途 開発段階での動作確認用に! 量産試作時の品質確認用に! 中量生産時の出荷検査用に! 品質管理の抜取り検査用に! 品質管理の不良解析用に! 特長 コンパクトソケット デバイス押え板採用 ワイヤープッシャーの使用とワイヤーロック機構採用 ワイヤープッシャーの弾力を利用している為 コンタクトプローブによるダメージを受けません 本体と絶縁体がセパレートタイプとなっており メンテナンスが容易である 最大のコストパフォーマンスを提供いたします ローコスト & 安定した高品質 同軸型 4 端子コンタクトプローブからの引出しは 2 種類用意しています 1. 当社特許のバンプ構造を有する同軸ケーブルによる引出し 2. 当社独自のハイブリット PCB による引出し 製品仕様 コンパクトソケット 使用同軸型 4 端子コンタクトプローブ : D02-NP040W 対象デバイス : 半導体 WCSP BGA LGA 各種 SMD タイプ電子デバイス等も対応 入出力コネクタ : カスタマイズ仕様にて提供いたします 注意 : 上記仕様は 予告なしに変更されることがあります 詳細はお問い合わせ下さい 2009.11 Y
同軸型コンタクトプローブ を使用した 4 端子測定の各種計測器向け PATENT ペンシル型プローブ 同軸型コンタクトプローブ (PATENT) の応用製品として ペンシル型プローブを開発しました 4 端子測定が手軽にできる各種計測器のテストリード ( テストフィクスチャ ) としてご提供致します 先端のプローブチップは交換可能であり ランニングコストの低減にも寄与します 先端部 ( プローブチップ ) 用途 同軸型 4 端子コンタクトプローブの先端部寸法 半導体 電子部品の低抵抗 低インピーダンス測定ができます 4 端子測定用テストリードとして ハンドリングの自由な測定ができます 特長 4 端子測定が 手軽にできます テストリード ( テストフィクスチャ ) は 先端部 ( プローブチップ ) を交換することで再利用できます ケーブルは AWG42 極細同軸ケーブルの利用により 電気的なノイズの影響を受けません バナナアダプタ及びLCRメータ対応プローブアダプターの利用で 各種計測器で 4 端子測定が出来ます ペンシル型プローブの利用 1. ビルドアップ構造の高密度配線基板の端子間抵抗値測定及び 電圧測定が簡単にできます 2. 小径パッド (φ0.25mm) 狭ピッチ (0.4mm 以上 ) の IC チップの 4 端子測定が手軽にできます 注意 : 上記仕様は 予告なしに変更されることがあります 詳細はお問い合わせ下さい 2010.10 T
L オプション LCR メータ対応プローブアダプター ( 当社品名 :YS-001) LLCR 詳細は当社営業部へお問い合わせ下さい LCR メータ対応プローブアダプター ( 当社品名 :YS-001) LCRLCR LCRメータでの測定の際は ペンシル本体の BNCコネクターをLCRメータに直接接続できますが 4 端子測定の結果を得ることが出来ません 当社 LCR メータ対応プローブアダプター を介して LCR メータに接続することをお勧めいたします ミリオームメーターでのご使ミリオーム使 用例例 2010.10 T