TDSET3 10Base-T 試験手順書 TSC 資料 V1.2 2007 年 5 月 11 日作成 2008 年 10 月 21 日改訂 1
目次 1. Test 信号について 3 page 2. Template (Link Pulse) test の手順 5 page 3. Template (MAU) test の手順 14 page 4. Template (TP_IDL) test の手順 20 page 5. Differential Voltage test の手順 26 page 6. Harmonic test の手順 31 page 7. Jitter test の手順 36 page 8. Return Loss test の手順 42 page 9. Common Mode Voltage test の手順 52 page 10. Report Generatorの操作 56 page 11. TDSET3のバージョンについて 58 page 2
1 Test 信号について (1) 10Base-T ではデータはマンチェスタ符号に変換されます マンチェスタ符号化する方法はクロックとデータとでEXNRを取ります データが 1 ならば 01 と立ち上がる波形 データが 0 ならば 10 と立ち下がる波形になります この符号化されたデータから容易にクロックが再生できるようになっています Template (MAU) testではmauから接続ケーブルの信号劣化を擬似的に実現するtwisted Pair Model (TPM) を通して出力される信号にてTestします Template (Link Pulse) Test では Normal Link Pulse (NLP) 又は First Link Pulse (FLP: 33 個のパルス列 奇数番目はクロック同期用 偶数番目はネゴシエーション用 ) を使用します TPM あり / なしの信号にて Test Template (TP_IDL) Test ではフレーム送信完了後 通信していないアイドル状態に移行するためにフレームの終わりを示すために付加される信号を使用します TPM あり / なしの信号にて Test します TPM のあり / なし Load(LOAD1 LOAD2 LOAD3:100Ω) の選択は Test Fixture で行います TPM ありの場合 信号の振幅は 5~6Vpp となります 差動プローブの動作電圧範囲に要注意です TPM なしの信号 TPM ありの信号 3
1 Test 信号について (2) Test 信号の種類としてはマンチェスタ符号化擬似ランダム シーケンス信号 マンチェスタ符号化された All 1 または All 0 信号 リンク パルス信号の 3 種類があります Test 信号の出力方法としては次の 2 つの方法があります 1. ポート レジスタを設定する シリコン ベンダーから入手できる特殊なソフトウェアを使用してポート レジスタにアクセスし スクランブル パターンを伝送するように設定します ポート レジスタへのアクセスの詳細については シリコン ベンダーにお問い合わせください 2. PC にパターン ゼネレータ ソフトウェアをインストールする DUT が PC のネットワーク カードであるときには LANSleuth などのパターン ゼネレータ ソフトウェアをインストールした PC により出力することができます この場合 10Mbps のリンク パートナーが必要となります 4
2 Template (Link Pulse) test の手順 (1) Template (Link Pulse) test の試験内容 通信速度や通信モードの違うネットワーク環境の中で 機器間の通信速度 通信モードを自動的に決定するオート ネゴシエーションを実施するため 機器から送信されるパルスが Link Pulse です Link Pulse には Normal Link Pulse (NLP) と Fast Link Pulse (FLP) があり NLP は 10Base-T デバイス専用 FLP は 10/100Base-T オート ネゴシエーション デバイス用です NLP は 8~24ms 間隔のパルス FLP は 8~24ms 間隔のバースト ( パルス列 ) で 2ms のバースト幅の中に 17 のクロック パルスと 16bit のデータが含まれています バーストの中のパルスの間隔は 62.5us±7us です Link Pulse Timing Test ではリンク パルス またはリンク パルスのバーストが 16±8ms の間隔で出力されているかを Test します Link Pulse Template Test では NLP FLP のいずれも同一のマスクで 3 つの Test Load TPM の有り / 無しの条件で Test します Link Pulse 波形の一例 5
2 Template (Link Pulse) test の手順 (2) Template (Link Pulse) test の接続方法 TPM なし TPM あり Test Fixture の J850/J920 に差動プローブを接続します + 側端子を のシルク スクリーンのある側に接続します また LOAD1 / LOAD2 / LOAD3(100Ω) をジャンパーにてショートします 6
2 Template (Link Pulse) test の手順 (3) Select メニューにて Template タブから Link Pulse を選択 LOAD と TPM あり (w/) TPM なし (w/o) Configureメニューの設定 Source Data: Ch1- Ch4 Sample: 通常は使用しません ノイズの影響が結果に影響しなければ使用できます Average: 2-10,000 (Default:16) Mask Selection: Both ( 又はHead / Tail) Sequence: Normal (NLP) / Fast (FLP) Test Options: Both / Template Only / Timing Only Template (Link Pulse) test の試験方法 Test する Link Pulse の数 Link Pulse の種類 (NLP/FLP) により選択 試験を Fail とするマスク違反の波形数 7
2 Template (Link Pulse) test の手順 (4) Connect ボタンを押すと上図の表示になります Help ボタンを押すと接続方法 ( 前述接続方法 1) 又は DUT からのテスト信号についての説明が Online Help にて表示されます 8
2 Template (Link Pulse) test の手順 (5) View Wfm ボタンを押すと Link Pulse の波形が表示されます この波形がオシロで表示される波形と同じかどうか確認します 波形が正しく表示されたら Run Test ボタンを押し Test を始めます 9
2 Template (Link Pulse) test の手順 (6) Run Test ボタンをクリックすると以下の処理が行なわれます 1. DUT が接続され 有効な信号が取れているかをチェックします NG の場合 下のようなダイアログ ボックスが表示されます 2. トリガの設定を行います 3. Link Timing Test では 50 個のリンクパルスを FastFrame にて取り込み パルス間隔の平均を取ります ( 右上図 ) 4. Link Template Test では 8BT までの部分を Test する Head( 右中央 ) と 4BT から 44BT までの部分を Test する Tail( 右下図 ) とがあり Test では Mask Selection により Both( 両方 ) Head Tail が選択できます 10
2 Template (Link Pulse) test の手順 (7) 4. マスク テストにて Pass/Fail の判定を行ないます 5. 波形がマスクにかかってしまう場合 Template user control にて手動で波形位置を調整することが可能です (Horizontal Position, Vertical Position 使用 ) 波形が Mask にうまくフィットしたら OK を押します Mask と波形の移動 On: 同時 Off: 波形のみ On: 波形を Mask に自動的に Fit させます On のまま左上の Don t show again にチェックを入れると 常に Mask Auto fit On で試験します Horizontal Position Vertical Position 11
2 Template (Link Pulse) test の手順 (8) Result Details ボタン ( 下左 ) を押すと詳細な測定結果が表示されます ( 下右 ) Segment 番号に対応するマスクを表示 波形が Mask にうまくフィットしたら OK を押します マスクに Hit してしまったポイントが で囲まれ別 Window にて表示されます 12
2 Template (Link Pulse) test の手順 (9) Report Configuration ( 上左 ) にて Advanced ボタンを押し Advance Report Configuration で Use oscilloscope をチェックすると オシロの Export の設定のカラーパレットの設定が反映されます レポートのカラー表示 13
3 Template (MAU) test の手順 (1) Template (MAU) test の試験内容 10Base-T において Physical Medium Attachment (PMA) と Medium Dependent Interface (MDI) とを合わせて Medium Attachment Unit (MAU) と呼びます EUTのテスト ポート (MAU) から最小でも511bitの擬似ランダム ビット シーケンスをマンチェスタ符号化した信号を出力します Twisted Pair Model (TPM) を通して 100Ωにて終端された信号をエッジ トリガにて取り込みます PolarityがPositiveならば 立上りエッジ Negativeならば立下りエッジです マスクの公差として 10% まで許容しています マスクのスケールとして Normal 0.9 1.1 の 3 つから選ぶことができます Polarity: Positive Polarity: Negative 14
3 Template (MAU) test の手順 (2) Template (MAU) test の接続方法 Link Partnerを使用しない場合はJ2をジャンパーにてショートします ( J2の無いTest Fixture ではそのまま先に進みます ) Test FixtureのJ920に差動プローブを接続します + 側端子を のシルク スクリーンのある側に接続します LOAD3(100Ω) をジャンパーにてショートします 15
3 Template (MAU) test の手順 (3) Selectメニューにて TemplateタブからMAU を選択 Polarity: Both / Normal (Positive) / Inverted (Negative) Configureメニューの設定 Source Data: Ch1-Ch4 MAU Type: Internal / External MAU Scale: Normal / 0.9 / 1.1 MAU が Attachment Unit Interface (AUI: 同軸ケーブルや回路内部 ) で機器内で接続している場合は Internal MAU が機器の外部にあり AUI で接続している場合は External を選択します 最近では Internal が一般的です Template (MAU) test の試験方法 Test する Link Pulse の数 試験を Fail とするマスク違反の波形数 16
3 Template (MAU) test の手順 (4) View Wfm ボタンを押すと上図のような波形が表示されます この波形がオシロで表示される波形と同じかどうか確認します 波形が正しく表示されたら Run Test ボタンを押し Test を始めます 17
3 Template (MAU) test の手順 (5) Run Test ボタンをクリックすると以下の処理が行なわれます 1. DUT が接続され 有効な信号が取れているかをチェックします NG の場合 下のようなダイアログ ボックスが表示されます 2. トリガの設定を行います Polarity: Positive Polarity: Negative 18
3 Template (MAU) test の手順 (6) 3. マスク テストにて Pass/Fail の判定を行ないます 4. 波形がマスクにかかってしまう場合 Template user control にて手動で波形位置を調整することが可能です (Horizontal Position, Vertical Position 使用 ) 波形が Mask にうまくフィットしたら OK を押します Mask と波形の移動 On: 同時 Off: 波形のみ On: 波形を Mask に自動的に Fit させます On のまま左上の Don t show again にチェックを入れると 常に Mask Auto fit On で試験します Horizontal Position Vertical Position 19
4 Template (TP_IDL) test の手順 (1) Template (TP_IDL) test の試験内容 10Base-Tにおいて全てのパケット ( フレーム ) の終わりにはSOI(Start of Idle) パルスが挿入されます SOIパルス波形が-50mVよりも低くなった後は +50mVを越えることはできず マスクにも反映されています Start of TP_IDL(SOI) パルスの例 20
4 Template (TP_IDL) test の手順 (2) Template (TP_IDL) test の接続方法 TPM なし TPM あり 21 Test Fixture の J850/J920 に差動プローブを接続します + 側端子を のシルク スクリーンのある側に接続します また LOAD1 / LOAD2 / LOAD3( 100Ω:IEEE802.3, 2002 版からオプション ) をジャンパーにてショートします
4 Template (TP_IDL) test の手順 (3) Select メニューにて Template タブから TP_IDL を選択 LOAD と TPM あり (w/) TPM なし (w/o) 100Ω の LOAD はオプション Configureメニューの設定 Source Data: Ch1- Ch4 Sample: 通常は使用しません ノイズの影響が結果に影響しなければ使用できます Average: 2-10,000 (Default:16) Mask Selection: Both/ Head(~8BT)/ Tail(6BT~48BT) Template (TP_IDL) test の試験方法 Test する Link Pulse の数 試験を Fail とするマスク違反の波形数 22
4 Template (TP_IDL) test の手順 (4) View Wfm ボタンを押すと Start of TP_IDL(SOI)Pulse の波形が表示されます この波形がオシロで表示される波形と同じかどうか確認します 波形が表示されたら Run Test ボタンを押し Test を始めます 23
4 Template (TP_IDL) test の手順 (5) Run Test ボタンをクリックすると以下の処理が行なわれます 1. DUT が接続され 有効な信号が取れているかをチェックします NG の場合 下のようなダイアログ ボックスが表示されます 2. トリガの設定を行います 3. Link Template Test では 8BT までの部分を Test する Head( 右上図 ) と 4BT から 44BT までの部分を Test する Tail( 右下図 ) とがあり Test では Mask Selection により Both( 両方 ) Head Tail が選択できます 24
4 Template (TP_IDL) test の手順 (6) 4. マスク テストにて Pass/Fail の判定を行ないます 5. 波形がマスクにかかってしまう場合 Template user control にて手動で波形位置を調整することが可能です (Horizontal Position, Vertical Position 使用 ) 波形が Mask にうまくフィットしたら OK を押します Mask と波形の移動 On: 同時 Off: 波形のみ On: 波形を Mask に自動的に Fit させます On のまま左上の Don t show again にチェックを入れると 常に Mask Auto fit On で試験します Horizontal Position Vertical Position 25
5 Differential Voltage test の手順 (1) Differential Voltage test の試験内容 すべてのデータ シーケンスの中で信号出力の 100Ω 終端におけるピーク差動電圧が 2.2V から 2.8V までの間に入っているかどうかを確認します Positive 側 : +2.2V ~ +2.8V Negative 側 : -2.2V ~ -2.8V データ パケットのバースト周期が長すぎると測定を Fail することがあります 16ms 以内位が目安です 26
5 Differential Voltage test の手順 (2) Differential Voltage test の接続方法 Link Partnerを使用しない場合はJ1をジャンパーにてショートします ( J1の無いTest Fixtureではそのまま先に進みます ) Test FixtureのJ850に差動プローブを接続します + 側端子を のシルク スクリーンのある側に接続します LOAD3(100Ω) をジャンパーにてショートします 27
5 Differential Voltage test の手順 (3) Select メニューにて Parametric タブより Diff Volt を選択 Peak: MaxはPeak 値の Max 値のみで試験 Max- MinはMax 値とMin 値で試験します ( 規格の要求からするとMax-Minで行なうのが正しいといえます ) Configureメニューの設定 Source Data: Ch1-Ch4 Differential Voltage test の試験方法 28
5 Differential Voltage test の手順 (4) View Wfm ボタンを押すと Start of TP_IDL(SOI)Pulse の波形が表示されます この波形がオシロで表示される波形と同じかどうか確認します 波形が表示されたら Run Test ボタンを押し Test を始めます 29
5 Differential Voltage test の手順 (5) Run Test を行うとオシロでは以下の処理が行なわれます 1. DUTの接続確認 2. 水平軸 / 垂直軸スケール トリガ設定 3. 波形の最大 最小電圧を測定 4. 規格値との比較 30
6 Harmonic test の手順 (1) Harmonic test の試験内容 すべて 1 またはすべて 0 のマンチェスタ符号化信号出力の 100Ω 終端における高調波が基本波に対して 27dB 以下であることを確認します 24 次の高調波 (240MHz) まで測定します データ パケットのバースト周期が長すぎると測定を Fail することがあります 16ms 以内位が目安です 31
6 Harmonic test の手順 (2) Harmonic test の接続方法 Link Partnerを使用しない場合はJ1をジャンパーにてショートします ( J1の無いTest Fixtureではそのまま先に進みます ) Test FixtureのJ850に差動プローブを接続します + 側端子を のシルク スクリーンのある側に接続します LOAD3(100Ω) をジャンパーにてショートします 32
6 Harmonic test の手順 (3) Select メニューにて Parametric タブより Harmonic を選択 Configure メニューの設定 Source Data: Ch1-Ch4 Output: Math1 Math4 Averages: 2 1000000 (Default: 48) Time/Scale: 1us / 10us パケットの長さに応じて選択します パケット長が 100us 未満ならば1usを 100us 以上ならば10usを選択してください Harmonic test の試験方法 33
6 Harmonic test の手順 (4) View Wfm ボタンを押すと Start of TP_IDL(SOI)Pulse の波形が表示されます この波形がオシロで表示される波形と同じかどうか確認します 波形が表示されたら Run Test ボタンを押し Test を始めます 34
6 Harmonic test の手順 (5) Run Test を行うとオシロでは以下の処理が行なわれます 1. DUTの接続確認 2. 水平軸 / 垂直軸スケール トリガ設定 3. 指定した時間だけ波形を取り込み Math: Avg(SpectralMag(ChX)) の計算を行ないます 4. 規格値との比較 35
7 Jitter test の手順 (1) Jitter test の試験内容 Jitter test は DO(Data Out) 回路にて発生したジッタを TD(Transmit Data, 差動信号 ) 回路 TPM(Twisted Pair Model) を通して 100Ω で終端した場所で測定 更に TPM を通さず TD 回路を直接 100Ω で終端した場所でも測定します EUT のテスト ポート (MAU) から最小でも 511bit の擬似ランダム ビット シーケンスをマンチェスタ符号化した信号を出力します Twisted Pair Model (TPM) を通して 100Ω にて終端された信号をパルス幅トリガにて取り込みます トリガ ポイントでの測定 (Normal) トリガ ポイントから 800ns 後 (8BT) 850ns 後 (8.5BT) のジッタをヒストグラム法にて測定します 0.5BT におけるジッタ 1BT におけるジッタが Internal MAU の場合 ±5.5ns External MAU の場合 ±3.5ns の範囲に入っていなくても不適合ではありません Jitter Test スペック MAU Type External Internal TPM なし あり なし あり Normal <16ns (±8ns) <7ns (±3.5ns) <16ns (±8ns) <11ns (±5.5ns) 8BT <32ns (±16ns) <14ns (±7ns) <40ns (±20ns) <22ns (±11ns) 8.5BT <32ns (±16ns) <14ns (±7ns) <40ns (±20ns) <22ns (±11ns) 36
7 Jitter test の手順 (2) Jitter test の接続方法 TPM なし TPM あり Test Fixture の J850/J920 に差動プローブを接続します + 側端子を のシルク スクリーンのある側に接続します また LOAD3(100Ω) をジャンパーにてショートします 37
7 Jitter test の手順 (3) Select メニューにて Parametric タブより Jitter With Cable (TPM あり ) 又は w/o Cable (TPM なし ) を選択 Time Interval: Normal / 8BT / 8.5BT / All (Default: All) Configureメニューの設定 Source Data: Ch1-Ch4 MAU Type: Internal / External (Default: Internal) Jitter test の試験方法 38
7 Jitter test の手順 (4) View Wfm ボタンを押すと下のような波形が表示されます この波形がオシロで表示される波形と同じかどうか確認します 波形が表示されたら Run Test ボタンを押し Test を始めます TPM なし TPM あり 39
7 Jitter test の手順 (5) Run Test を行うとオシロでは以下の処理が行なわれます TPM なし 1. DUTの接続確認 2. 水平軸 / 垂直軸スケール トリガ設定 3. 波形のエッジを表示 4. ゼロ クロスの位置に水平ヒストグラムを配置 5. 約 15 秒間信号をアクイジション 6. ヒストグラムのPeak-Peakを測定 7. 規格値との比較 Test の途中に右図のようなダイアログが表示されます 同様な波形が表示されたら OK ボタンを押します もしも Test の途中で Unable to find crossover. というエラー (E413) が発生して Test が中止された場合 ダイアログが表示されている間にオシロスコープのトリガ ホールド オフを調整してください 各 Test の終わりには次のページのような波形が表示されています TPM あり 40
7 Jitter test の手順 (6) TPM なし Normal TPM あり Normal TPM なし 8BT TPM あり 8BT TPM なし 8.5BT TPM あり 8.5BT 41
8 Return Loss test の手順 (1) リターンロスはインピーダンスの不整合により発生する反射波の度合いを表します この値が大きいと反射が小さく 信号伝送品質が優れていることになります リターンロスは VSWR と関連した値となります TD/RD 回路 ( Transmit Data / Receive Data ) に入射した信号に対して反射する信号は以下の通りである必要があります 5.0MHz ~ 10MHz: 15dB 以上減衰すること リターンロスは MAU が動作中 (TD 回路においては TP_IDL を送信中 ) でも仕様を満足すること 接続するケーブルの差動インピーダンスは 85Ω 100Ω 111Ω) で行うこと Test に先立ち Calibration を行う必要があります ( Receiver Transmitter でそれぞれに ) Return Loss test の試験内容 試験は Receiver と Transmitter と両方行ないます 42
8 Return Loss test の手順 (2) Return Loss test (Calibration) の接続方法 J200 と DUT または Return Loss Calibration 基板とを Short RJ45 cable で接続します (CAT5 cable) TC1 の J290, J291 を AWG の CH1, CH2(/CH1) にそれぞれ接続 AWG の Marker1 をオシロの AUX IN に接続します Transmitter 側は下記をプローブ Test Pair A: P1(J240), P2(J230) Receiver 側は下記をプローブ Test Pair B: P3(J241), P4(J231) Return Loss Calibration 基板 43
8 Return Loss test の手順 (3) Return Loss test の Calibration 実施方法 TDS の C ドライブ C: TekApplications TDSET3 AWG Waveforms 10BaseT Return Loss (AWG 機種別フォルダ ) から使用する WFM ファイルを AWG に Copy AWG から信号を出力 (Amplitude: 2Vpp, Clock:250MHz であることを確認 ) Select メニューで 10Base-T Return Loss タブより Receiver または Transmitter を選択します Configure メニューで接続するプローブのチャンネルを指定します ( 上図 ) 44
8 Return Loss test の手順 (4) Return Loss test の Calibration 実施方法 ConnectメニューにてNew Calをクリック (Open Short Load Apply Calが有効になります ) Return Loss Calibration 基板のOPEN(J702) とTC1のJ200とをCAT5 cableで接続 右上図 Openボタンをクリックします 45
8 Return Loss test の手順 (5) Calibration が完了すると Done という文字が Open ボタンの下に現れます 右図のような波形が Return Loss Open Calibration の結果として表示されます Return Loss test の Calibration 実施方法 46
8 Return Loss test の手順 (6) 次に Return Loss Calibration 基板の SHORT(J703) と TC1 の J200 とを CAT5 cable で接続 Connect メニューの Calibration の中から Short ボタンをクリックします Calibration が完了すると Done という文字が Short ボタンの下に現れます 上記のような波形が Return Loss Short Calibration の結果として表示されます Return Loss test の Calibration 実施方法 47
8 Return Loss test の手順 (7) 次に Return Loss Calibration 基板の LOAD(J704) と TC1 の J200 とを CAT5 cable で接続 Connect メニューの Calibration の中から Load ボタンをクリックします Calibration が完了すると Done という文字が Short ボタンの下に現れます 上記のような波形が Return Loss Load Calibration の結果として表示されます 3 つの Calibration が終了したら Apply Cal をクリックします Return Loss test の Calibration 実施方法 48
8 Return Loss test の手順 (8) Select メニューにて Return Loss を選択 Transmitter (Tx) / Receiver (Rx) Configureメニュー Sources Probe: P1/P2: Ch1-Ch4 AWG Series: AWG4xx AWG2021 AWG5xx AWG6xx AWG7xx Load: 100Ω 又は 85,100,111Ω #Averages: 100-10,000 (Default:100) Smooth(0-10) (Default:7) Return Loss 波形を平滑化 値は任意 Return Loss test の試験方法 49
8 Return Loss test の手順 (9) Run Test を行なうとオシロでは右のような表示になり 以下の処理が行なわれます Ref 波形を上書きについてダイアログ ボックスが表示され Yes をクリックします トリガ設定 波形を取り込み リターンロスを計算 Ref 波形にてリターンロスを表示 AWG から信号を出力します (Noise 波形 Amplitude: 2Vpp, Clock:250MHz を確認 ) Run Testを行うと右図のような波形がオシロスコープで表示されます 上が典型的な Transmitterのリターンロス波形 下がReceiverのリターンロス波形 表示される周波数帯域は0-12.45MHzで 85/100/111ohm のいずれの波形においてもマスクにかかった場合 Failとなります Transmitter のリターンロス波形 Receiver のリターンロス波形 50
8 Return Loss test の手順 (10) スムージング : テスト後も変更可 測定結果を CSV ファイルに Export 単位は Volt db = 20*log{ (Re^2+Im^2)} 51
9 Common Mode (CM) Voltage test の手順 (1) Common Mode Voltage test の試験内容 擬似ランダムノイズ信号を DUT から出力させて Test します TD 回路の差動出力をそれぞれ 47.5Ω で終端し その中点を 49.9Ω(50Ω) で終端 中点の電圧 ( コモンモード電圧 ) をオシロスコープにて直接測定します プローブは使用しません オシロスコープ本体の入力インピーダンスは 1MΩ です テストフィクスチャ TC4 では 47.5Ω の終端抵抗のペアが 4 つの Test Pair A, B, C, D の分だけあり そのうち A(Transmitter) について Test します Histogram の Pk-Pk 測定により波形の pk-pk の値が測定され 50mV 未満であることがチェックされます 52
9 Common Mode (CM) Voltage test の手順 (2) Common Mode Voltage test の接続方法 DUT から擬似ランダム信号を出力 TC4 の J500 に DUT の Test port を接続 BNC ケーブルを J400 とオシロスコープの測定チャンネルに接続 J420 を Jumper にてショート 53
9 Common Mode (CM) Voltage test の手順 (3) Select メニューにて CM Voltage を選択 Configure メニュー Source Data: Ch1-Ch4 #Averages: 64 ( 固定 ) Common Mode Voltage test の試験方法 54
9 Common Mode (CM) Voltage test の手順 (4) Run Test を行うと上図のような波形がオシロスコープで表示されます 55
10 Report Generator の操作 (1) CSV ファイルにて保存 Report ファイル (.rpt) の保存 試験が終了して結果を保存する場合 上図のように CSV ファイル 又は Tektronix の内部形式 (.rpt) による Report ファイルにて保存することができます 56
10 Report Generator の操作 (2) 内部形式 (.rpt) の Report ファイルをリッチ テキスト フォーマット (.rtf) のファイルに変換できます 1.rtf ファイルは MS Word で編集が出来ます 3 4 2 左上図 Utilities メニューから Report Generator をクリック Generate Report タブをクリック Browse ボタンにてレポートを選択 123 左図 Report Viewer の File メニューから Export to RTF をクリック 4 57
11 TDSET3 について 本資料は TDSET3 のバージョン V3.0.3 build6 に基づいて作成されています それよりも前のバージョンを使用する場合 メニューや設定に若干の違いがある場合があります TDSET3 のバージョンは最新のものをご使用下さい 最新バージョンは次の URL からダウンロードできます 1. http://www2.tek.com/cmswpt/swfinder.lotr?va=1 Software and Firmware Finder のページにて Search by keyword の下の欄に TDSET3 とキー入力し Go ボタンをクリック 2. Tektronix: Software > TDSET3 ETHERNET COMPLIANCE TEST SOFTWARE と検索されたリンクをクリックし 飛び先のページで TDSET3 のバージョンを確認します 3. Download File ボタンをクリックします 4. Enter your Email address の下の欄に Tek Profile 登録で使用したメール アドレスをキー入力します 5. Yes, my password is: の横の欄に Tek Profile 登録で設定したパスワードをキー入力し Submit ボタンをクリックするとダウンロードを開始します 6. Tek Profile 登録が無い場合は No, I need to create a profile. にチェックを入れ メール アドレスをキー入力し Submit ボタンをクリックすると Tek Profile 登録のページにジャンプします 58