金属上に施された塗装メッキなどの被膜の厚さを非破壊で測定多年にわたる技術の蓄積から生まれたケツトの膜厚計は諸官庁ならびに民間各社に多数の納入実績がありさまざまな分野で膜厚の検査管理機器として活躍していますミクケロツかトらのマク膜ロ厚ま計でシリーズ2 電磁膜厚計 LE-200J JIS K

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おきみちひろなが
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金属上に施された塗装メッキなどの被膜の厚さを非破壊で測定多年にわたる技術の蓄積から生まれたケツトの膜厚計は諸官庁ならびに民間各社に多数の納入実績がありさまざまな分野で膜厚の検査管理機器として活躍していますミクケロツかトらのマク膜ロ厚ま計でシリーズ2 電磁膜厚計 LE-200J JIS K5600 規格適合商品 ( 巻末に適合規格一覧 ) 通商産業省選定グッドデザイン商品

1 金属上に施された塗装メッキなどの被膜の厚さを非破壊で測定多年にわたる技術の蓄積から生まれたケツトの膜厚計は諸官庁ならびに民間各社に多数の納入実績がありさまざまな分野で膜厚の検査管理機器として活躍していますミクケロツかトらのマク膜ロ厚ま計でシリーズ2 電磁膜厚計 LE-200J JIS K5600 規格適合商品 ( 巻末に適合規格一覧 ) 通商産業省選定グッドデザイン商品ポータブルタイプのプリンタ内蔵型膜厚計です磁性金属上に施されたメッキ ( 電解ニッケルメッキは除く ) 塗装ライニングなどの膜厚を被膜に傷をつけることなくすばやく正確に測定しますさらに測定結果をその場でプリントアウトすることができます統計計算アプリケーションメモリ ( 検量線メモリ ) 機能リミット設定など便利な機能も装備しています仕様 LE-200J 測定方式電磁誘導式測定対象磁性金属上の非磁性被膜測定範囲 μm または60.00mils 測定精度 15μm 未満 :±0.3μm 15μm 以上 :±2% 分解能 100μm 未満 :0.1μm 100μm 以上 :1.0μm データメモリ数 1500 点検量線メモリ数 4 本適合規格 JIS K JIS H0401 JIS H8401 JIS H8501 JIS H8641 / ISO 1460 ISO 2064 ISO 2178 ISO 2808 ISO /BS C5 / ASTM B 499 ASTM D ASTM E 376 統計機能測定回数平均値標準偏差最大値最小値ブロック番号プローブ一点接触定圧式 (LEP-J) 表示方法デジタル ( L C D 表示最小桁 0. 1μ m ) 外部出力 R S C( 転送速度 b p s ) 電源 AC100V( 50/60Hz) または電池 1.5V( 単 3アルカリ ) 本体部 6 プリンタ部 4 寸法質量 120( W) 250(D) 55(H)mm 1.0kg 付属品標準板鉄素地標準板ケース電池 1. 5 V( 単 3 アルカリ ) ACアダプタプローブアダプタプリンタ用紙キャリングケースオプション L 字型プローブ ( LEP-21L) RS-232C 接続ケーブルデータ管理ソフトデータロガー K D L M c W A V E L i t e M c W A V E Standard McWAVE Professional MultiProp McWAVE Lite McWAVE Standard McWAVE Professional MultiProp はCEC 社の商標です

渦電流膜厚計 LH-200J デュアルタイプ膜厚計 LZ-200J コンパクトなボディにプリンタを内蔵した膜厚計です非磁性金属上の絶縁被膜を傷つけることなくすばやく正確に測定し測定結果をその場でプリントアウトすることができます統計計算アプリケーションメモリ ( 検量線メモリ ) 機能リミット設定など便利な機能も装備しています電磁式と渦電流式の両機能を備え

00mils 測定精度 50μm 未満 :±1μm 50μm 以上 :±2% 分解能 100μm 未満 :0.1μm 100μm 以上 :1.

2 渦電流膜厚計 LH-200J デュアルタイプ膜厚計 LZ-200J コンパクトなボディにプリンタを内蔵した膜厚計です非磁性金属上の絶縁被膜を傷つけることなくすばやく正確に測定し測定結果をその場でプリントアウトすることができます統計計算アプリケーションメモリ ( 検量線メモリ ) 機能リミット設定など便利な機能も装備しています電磁式と渦電流式の両機能を備えしかもプリンタを内蔵したポータブルタイプの膜厚計です磁性金属上および非磁性金属上のさまざまな被膜厚測定にすばやく対応しますボタンひとつで平均値標準偏差最大値最小値が求められる統計計算機能アプリケーションメモリ ( 検量線メモリ ) 機能リミット設定機能などを装備しています仕様 LH-200J 測定方式渦電流式測定対象非磁性金属上の絶縁被膜測定範囲 0 800μmまたは32.00mils 測定精度 50μm 未満 :±1μm 50μm 以上 :±2% 分解能 100μm 未満 :0.1μm 100μm 以上 :1.0μm データメモリ数 1500 点検量線メモリ数 4 本適合規格 JIS K JIS H8501 JIS H /ISO 2064 ISO 2360 ISO 2808 ISO /BS 3900-C5 / ASTM B 244 ASTM D ASTM E 376 統計機能測定回数平均値標準偏差最大値最小値ブロック番号プローブ一点接触定圧式 (LHP-J) 表示方法デジタル ( L C D 表示最小桁 0. 1μ m ) 外部出力 R S C( 転送速度 b p s ) 電源 AC100V( 50/60Hz) または電池 1.5V( 単 3アルカリ ) 本体部 6 プリンタ部 4 寸法質量 120( W) 250(D) 55(H)mm 1.0kg 付属品標準板アルミ素地標準板ケース電池 1.5V ( 単 3アルカリ ) ACアダプタプローブアダプタプリンタ用紙キャリングケースオプション RS-232C 接続ケーブルデータ管理ソフト : データロガー K D L M c W A V E Lite McWAVE Standard McWAVE Professional MultiProp McWAVE Lite McWAVE Standard McWAVE Professional MultiProp は CEC 社の商標です仕様 LZ-200J 測定方式電磁誘導式 / 渦電流式兼用測定対象磁性金属上の非磁性被膜および非磁性金属上の絶縁被膜測定範囲電磁誘導式 :0 1500μm または60.00mils 渦電流式 :0 800μmまたは32.00mils 測定精度電磁誘導式 :15μm 未満 :±0.3μm 15μm 以上 :±2% 渦電流式 :50μm 未満 :±1μm 50μm 以上 :±2% 分解能 100μm 未満 :0.1μm 100μm 以上 :1.0μm データメモリ数 1500 点検量線メモリ数 4 本適合規格電磁誘導式での測定時はLE-200J 渦電流式での測定時はLH-200Jと同様統計機能測定回数平均値標準偏差最大値最小値ブロック番号プローブ一点接触定圧式 (LEP-J LHP-J) 表示方法デジタル ( L C D 表示最小桁 0. 1μ m ) 外部出力 R S C( 転送速度 b p s ) 電源 AC100V( 50/60Hz) または電池 1.5V( 単 3アルカリ ) 本体部 6 プリンタ部 4 寸法質量 120( W) 250(D) 55(H)mm 1.0kg 付属品標準板鉄素地アルミ素地標準板ケース電池 1.5V( 単 3アルカリ ) ACアダプタプローブアダプタプリンタ用紙キャリングケースオプション L 字型プローブ ( LEP-21L) RS-232C 接続ケーブルデータ管理ソフトデータロガー K D L M c W A V E L i t e M c W A V E Standard McWAVE Professional MultiProp McWAVE Lite McWAVE Standard McWAVE Professional MultiProp はCEC 社の商標です 3

電磁膜厚計 LE-373 渦電流膜厚計 LH-373 LE-373は磁性体上のメッキ ( 電解ニッケルメッキは除く ) 塗装などの被膜厚を測定する膜厚計ですプリンタやコンピュータにデータを転送することができアプリケーションメモリ ( 検量線メモリ ) 機能測定データメモリ膜厚管理の上下限設定簡単な統計処理データ出力など 16 種の機能を装備しています測定スタンド

2500μmまたは99.0mils 測定精度 50μm 未満 :±1μm 50μm 以上 1000μm 未満 :± 2 % 10 0 0μ m 以上 :± 3 % 分解能 100μm 未満 :0.

3 電磁膜厚計 LE-373 渦電流膜厚計 LH-373 LE-373は磁性体上のメッキ ( 電解ニッケルメッキは除く ) 塗装などの被膜厚を測定する膜厚計ですプリンタやコンピュータにデータを転送することができアプリケーションメモリ ( 検量線メモリ ) 機能測定データメモリ膜厚管理の上下限設定簡単な統計処理データ出力など 16 種の機能を装備しています測定スタンド外部出力ケーブルなどのオプションも充実しています LH-373は非磁性金属上の絶縁被膜厚を測定する膜厚計ですアルマイトなどの比較的に薄い被膜厚を精度良く測定することができます付加機能はLE-373と同様コンピュータへのデータ転送測定回数平均値最大最小値標準偏差などの簡単な統計処理が可能です 4 仕様 LE-373 測定方式電磁誘導式測定対象磁性金属上の非磁性被膜測定範囲 μmまたは99.0mils 測定精度 50μm 未満 :±1μm 50μm 以上 1000μm 未満 :± 2 % μ m 以上 :± 3 % 分解能 100μm 未満 :0.1μm 100μm 以上 :1μm 適合規格 JIS K JIS H0401 JIS H8401 JIS H8501 JIS H8641 / ISO 1460 ISO 2064 ISO 2178 ISO 2808 ISO /BS C5 / ASTM B 499 ASTM D ASTM E 376 データメモリ数約 39,000 点検量線メモリ数 100 本プローブ一点接触定圧式 (LEP-J) 表示方法デジタル ( バックライト付 LCD dots 表示最小桁 0.1μm) 外部出力パソコン (USBまたはRS-232C) 電源電池 1. 5 V( 単 3 アルカリ ) 4 使用環境温度 0 40 寸法質量 7 5( W ) 1 4 5( D ) 3 1( H ) mm k g 付属品標準板セット標準板ケース鉄素地 ( FE ) プローブアダプタキャリングケース電池 1. 5 V( 単 3 アルカリ ) 4 オプション標準板 ( 付属品以外の厚さ ) 測定スタンドLW- 990 パソコンケーブル RS-232C-USBケーブルデータ管理ソフトデータロガー LDL- 0 3 データ管理ソフト M c W A V E シリーズ McWAVE シリーズは CEC 社の商標です仕様 LH-373 測定方式渦電流式測定対象非磁性金属上の絶縁被膜膜測定範囲 μm または47.0mils 測定精度 50μm 未満 :±1μm 50μm 以上 1000μm 未満 :± 2 % μ m 以上 :± 3 % 分解能 100μm 未満 :0.1μm 100μm 以上 :1μm 適合規格 JIS K JIS H8501 JIS H /ISO 2064 ISO 2360 ISO 2808 ISO / BS 3900-C5 / ASTM B 244 ASTM D ASTM E 376 データメモリ数約 39,000 点検量線メモリ数 100 本プローブ一点接触定圧式 (LEP-J) 表示方法デジタル ( バックライト付 LCD dots 表示最小桁 0.1μm) 外部出力パソコン (USBまたはRS-232C) 電源電池 1. 5 V( 単 3 アルカリ ) 4 使用環境温度 0 40 寸法質量 7 5( W ) 1 4 5( D ) 3 1( H ) mm k g 付属品標準板セット標準板ケースアルミ素地 ( N F E ) プローブアダプタキャリングケース電池 1. 5 V( 単 3 アルカリ ) 4 オプション標準板 ( 付属品以外の厚さ ) 測定スタンドLW- 990 パソコンケーブル RS-232C-USBケーブルデータ管理ソフトデータロガー LDL- 0 3 データ管理ソフト M c W A V E シリーズ McWAVE シリーズは CEC 社の商標です

デュアルタイプ膜厚計 LZ-373 LZ-373は磁性体および非磁性金属上の被膜厚の測定ができるデュアルタイプの膜厚計です多様な素材多様な被膜を扱う現場用として最適な膜厚計ですコンピュータへのデータ転送測定回数平均値最大最小値標準偏差などの簡単な統計処理や 16 種類もの付加機能を装備しています仕様 LZ-373 測定方式電磁誘導 /

4 デュアルタイプ膜厚計 LZ-373 LZ-373は磁性体および非磁性金属上の被膜厚の測定ができるデュアルタイプの膜厚計です多様な素材多様な被膜を扱う現場用として最適な膜厚計ですコンピュータへのデータ転送測定回数平均値最大最小値標準偏差などの簡単な統計処理や 16 種類もの付加機能を装備しています仕様 LZ-373 測定方式電磁誘導 / 渦電流式兼用測定対象磁性金属上の非磁性被膜および非磁性金属上の絶縁被膜測定範囲電磁誘導式 :0 2500μmまたは99.0mils 渦電流式 :0 1200μm または47.0mils 測定精度 50μm 未満 :±1μm 50μm 以上 1000μm 未満 :± 2 % μ m 以上 :± 3 % 分解能 100μm 未満 :0.1μm 100μm 以上 :1μm 適合規格電磁誘導式での測定時はLE-373 渦電流式での測定時はLH-373と同様データメモリ数約 39,000 点検量線メモリ数電磁誘導式 50 本渦電流式 50 本プローブ一点接触定圧式 (LEP-J) 表示方法デジタル ( バックライト付 LCD dots 表示最小桁 0.1μm) 外部出力パソコン (USBまたはRS-232C) 電源電池 1. 5 V( 単 3 アルカリ ) 4 使用環境温度 0 40 寸法質量 7 5( W ) 1 4 5( D ) 3 1( H ) mm k g 付属品標準板セット標準板ケース鉄素地 ( FE- 373) アルミ素地 (NFE-373) プローブアダプタキャリングケース電池 1.5V( 単 3アルカリ ) 4 オプション標準板 ( 付属品以外の厚さ ) 測定スタンドLW- 990 パソコンケーブル RS-232C-USBケーブルデータ管理ソフトデータロガー LDL- 0 3 データ管理ソフト M c W A V E シリーズ McWAVE シリーズは CEC 社の商標です 5

デュアルタイプ膜厚計 L Z - 9 9 0 エスカル電磁膜厚計 L-2B LZ -990はシンプルな小型膜厚計ながら検量線メモリ機能測定データメモリ膜厚管理の上下限設定簡易統計処理データ出力など 15 種の機能を装備しています磁性金属と非磁性金属上に施された被膜厚の測定が可能でしかも素材を自動判別しその測定モードへ切り替わりますプリンタや測定スタンド

測定対象磁性金属上の非磁性被膜および非磁性金属上の絶縁被膜測定範囲 0 2000μmまたは0 80.0mils 測定精度 50μm 未満 ±1μm 50μm 以上 1000μm 未満 ±2% 1000μm 以上 ±3% 分解能 100μm 未満 0.

5 デュアルタイプ膜厚計 L Z エスカル電磁膜厚計 L-2B LZ -990はシンプルな小型膜厚計ながら検量線メモリ機能測定データメモリ膜厚管理の上下限設定簡易統計処理データ出力など 15 種の機能を装備しています磁性金属と非磁性金属上に施された被膜厚の測定が可能でしかも素材を自動判別しその測定モードへ切り替わりますプリンタや測定スタンド外部出力ケーブルなどのオプションも充実しています薄いメッキや塗装屋外タンクの内張建造物車両船舶などの厚い塗装などいろいろな塗装の厚さをスピーディに測定しますまた非破壊式なので塗装表面を傷つけることもありません電源は乾電池で現場での測定に大変便利です 6 仕様 LZ-990 エスカル測定方式電磁渦電流式兼用 ( 自動判別機能付き ) 測定対象磁性金属上の非磁性被膜および非磁性金属上の絶縁被膜測定範囲 μmまたは0 80.0mils 測定精度 50μm 未満 ±1μm 50μm 以上 1000μm 未満 ±2% 1000μm 以上 ±3% 分解能 100μm 未満 0.1μm 100μm 以上 1μm 適合規格 JIS K JIS H0401 JIS H8401 JIS H8501 JIS H8641 JIS H8680-2/ ISO 1460 ISO 2064 ISO 2178 ISO 2360 I S O 2808 I S O / B S 3900-C5 / ASTM B 244 ASTM B 499 ASTM D ASTM E 376 表示方法デジタル ( バックライト付 LCD 表示最小桁 0.1μm) データメモリ数約 1000 点検量線メモリ数電磁式渦電流式各 8 種計 16 本電源電池 1. 5 V ( 単 4 アルカリ ) 2 使用環境温度 0 40 外部出力パソコン ( U S B ) プリンタ ( R S C ) に出力可能寸法質量 8 2( W ) ( D ) 3 2( H )m m 約 g 付属品ゼロ板ホルダ ( 鉄素地アルミ素地 ) 標準板 ( μm) キャリングポーチ電池 1. 5 V( 単 4 アルカリ ) 2 リストストラップオプション標準板 ( 付属品以外の厚さ ) 測定スタンドLW- 990 プリンタVZ-330 プリンタケーブル USBパソコンケーブル透明保護カバーデータ管理ソフトデータロガー LDL-01 仕様 L-2B 測定方式電磁誘導式測定対象磁性金属上の非磁性被膜測定範囲 Aレンジ :0 0.5mm Bレンジ :0.3 5mm 測定精度指示値に対して ±5% プローブ二磁極式表示方法アナログ電源電池 1. 5 V( 単 1 ) 4 寸法質量 2 2 0( W ) 1 2 0( D ) 1 5 0( H )m m 2. 3 k g 付属品標準板電池 1. 5 V( 単 1 ) 4 キャリングケース

膜厚計用測定スタンド LW-990 膜厚計のプローブまたは一体型の膜厚計を膜厚計用スタンド

人為的な測定エラーが軽減し繰り返し精度の高い測定を行うことができます特にパイプ状の測定対象物などで有効です

LZ-990 での使用例膜厚計 LZ-373 での使用例仕様 LW-990 寸法質量 1 5 0( W )

5 k g 対応センサプローブタイプ : LEP および LHP-20/20C/20J /30/30C/30J

6 膜厚計用測定スタンド LW-990 膜厚計のプローブまたは一体型の膜厚計を膜厚計用スタンド LW-990の昇降部に取り付けることで膜厚計の測定部が測定対象物に一定の力や角度で接触するため人為的な測定エラーが軽減し繰り返し精度の高い測定を行うことができます特にパイプ状の測定対象物などで有効ですプローブタイプの膜厚計およびデュアルタイプ膜厚計 L Z エスカルに対応しています膜厚計 LZ-990 での使用例膜厚計 LZ-373 での使用例仕様 LW-990 寸法質量 1 5 0( W ) 2 1 0( D ) 2 8 0( H )m m 2. 5 k g 対応センサプローブタイプ : LEP および LHP-20/20C/20J /30/30C/30J 本体一体タイプ : LZ-990 付属品ネジ 2 LZ-990 用アタッチメントケーブルクリッププローブホルダー ( 黒白 ) プローブ用アタッチメントボルトシャフト台六角レンチ 2 付属品ケース 7

電磁膜厚計デルタスコープ FMP30 渦電流膜厚計イソスコープ FMP30 本器は鉄や鋼などの磁性金属上に施された亜鉛クローム銅錫塗料プラスチックエナメルなどの非磁性被膜厚測定に用います測定プローブはペンシル型 ( 標準定圧タイプ ) のほか曲面用やパイプ内面用など測定対象に適合する各種タイプを用意また 1 0 0 本のアプリケーション ( 検量線 ) メモリ

曲面用やパイプ内面用など測定対象に適合する各種タイプを用意また広範な統計評価とグラフィック表示 U S B 端子から P Cへのデータ転送プリンタ出力 ( オプション ) などが可能です 8 仕様デルタスコープ FMP30 測定方式電磁誘導式測定対象磁性体上の非磁性被膜測定範囲精度プローブにより異なりますお問い合わせくださいデータメモリ数 20,000 点検量線メモリ数

7 電磁膜厚計デルタスコープ FMP30 渦電流膜厚計イソスコープ FMP30 本器は鉄や鋼などの磁性金属上に施された亜鉛クローム銅錫塗料プラスチックエナメルなどの非磁性被膜厚測定に用います測定プローブはペンシル型 ( 標準定圧タイプ ) のほか曲面用やパイプ内面用など測定対象に適合する各種タイプを用意また本のアプリケーション ( 検量線 ) メモリ 20,000ポイントの測定値メモリ広範な統計評価とグラフィック表示 U S B 端子から P C へのデータ転送プリンタ出力 ( オプション ) などが可能です本器はアルミや銅などの非磁性金属上に施された塗料やプラスチックまたアルミ上の陽極酸化被膜やクローム無電解ニッケル ( 条件付 ) などの絶縁被膜厚測定に用います測定プローブはペンシル型 ( 標準定圧タイプ ) のほか曲面用やパイプ内面用など測定対象に適合する各種タイプを用意また広範な統計評価とグラフィック表示 U S B 端子から P Cへのデータ転送プリンタ出力 ( オプション ) などが可能です 8 仕様デルタスコープ FMP30 測定方式電磁誘導式測定対象磁性体上の非磁性被膜測定範囲精度プローブにより異なりますお問い合わせくださいデータメモリ数 20,000 点検量線メモリ数 100 本統計機能等測定回数平均値標準偏差最小最大値上下限設定プローブ一点接触定圧式表示方法デジタル ( L C D ) 外部出力 USB 電源電池 1. 5 V( 単 3 アルカリ ) 4 自動節電機能有り寸法質量 8 5( W ) 1 6 0( D ) 3 5( H )m m k g 付属品プローブ FGA B1.3 標準板鉄素地インターフェースケーブル FNP/PC 電池 1.5V( 単 3アルカリ ) 4 キャリングケースストラップ U S B ドライバオプションプリンタF6100 ACアダプタFMP30-40 測定スタンドV12 仕様イソスコープ FMP30 測定方式渦電流式測定対象非磁性金属上の絶縁被膜測定範囲精度プローブにより異なりますお問い合わせくださいデータメモリ数 20,000 点検量線メモリ数 100 本統計機能等測定回数平均値標準偏差最小最大値上下限設定プローブ一点接触定圧式表示方法デジタル ( L C D ) 外部出力 USB 電源電池 1. 5 V( 単 3 アルカリ ) 4 自動節電機能有り寸法質量 8 5( W ) 1 6 0( D ) 3 5( H )m m k g 付属品プローブFTA3.3 標準板アルミ素地インターフェースケーブル FNP/PC 電池 1.5V( 単 3アルカリ ) 4 キャリングケースストラップ U S B ドライバオプションプリンタF6100 ACアダプタFMP30-40 測定スタンドV12

デュアルタイプ膜厚計デュアルスコープ FMP100 マルチシステム膜厚計フィッシャースコープ MMS PC2 本器は鉄や鋼などの磁性金属上に施された非磁性被膜厚測定およびアルミや銅などの非磁性金属上に施された塗料やプラスチックまたアルミ上の陽極酸化被膜やクローム無電解ニッケル ( 条件付 ) などの絶縁被膜厚測定に用います組込みソフトウェアはMS Windows CEベースで動作し

お問い合わせくださいメモリ 2 5 6 M B( 測定データとアプリケーションメモリ ) 統計機能測定回数平均値標準偏差工程能力指数などプローブ一点接触定圧式表示方法デジタル ( カラー LCD タッチパネル方式) 外部出力 USB 電源充電池 ( Mignon LR6など ) またはACアダプタ寸法質量 8 9( W ) 1 7 0( D ) 4 0( H )m m 0.

測定対象 MMC PC パーマ電磁誘導式磁性金属上の非磁性被膜 MMC PC イソ渦電流式非磁性金属上の絶縁被膜 MMC PC デュアル MMC PC ニッケル MMC PC フェライト MMC PC シグマ MMC PC スルーホール電磁誘導式渦電流式電磁誘導式位相感応渦電流式電磁誘導 F 式磁性金属上の非磁性被膜非磁性金属上の絶縁被膜磁性 / 非磁性金属上の磁性被膜 (

8 デュアルタイプ膜厚計デュアルスコープ FMP100 マルチシステム膜厚計フィッシャースコープ MMS PC2 本器は鉄や鋼などの磁性金属上に施された非磁性被膜厚測定およびアルミや銅などの非磁性金属上に施された塗料やプラスチックまたアルミ上の陽極酸化被膜やクローム無電解ニッケル ( 条件付 ) などの絶縁被膜厚測定に用います組込みソフトウェアはMS Windows CEベースで動作し画期的なペンタッチのカラーディスプレイの採用をはじめさまざまな統計処理とそのグラフィック表示を可能としています P Cとのデータ親和性に富み ASCIIやPDFフォーマットを U S B 端子からデータ出力することが可能です仕様デュアルスコープ FMP100 測定方式電磁誘導 / 渦電流式兼用測定対象磁性体上の非磁性被膜 / 非磁性金属上の絶縁被膜測定範囲精度プローブにより異なりますお問い合わせくださいメモリ M B( 測定データとアプリケーションメモリ ) 統計機能測定回数平均値標準偏差工程能力指数などプローブ一点接触定圧式表示方法デジタル ( カラー LCD タッチパネル方式) 外部出力 USB 電源充電池 ( Mignon LR6など ) またはACアダプタ寸法質量 8 9( W ) 1 7 0( D ) 4 0( H )m m k g 付属品プローブ電磁誘導式 FD10 / 渦電流式 FD10 オプションプリンタF6100 測定スタンド V12などフィッシャースコープ MMS PC2は測定対象に適応させ 8 種類の測定モジュールを選択することができるマルチファンクションの膜厚測定材料試験システムです多彩な測定モジュールと測定プローブの組合せでさまざまな種類の膜厚測定に対応します品名測定方式測定対象 MMC PC パーマ電磁誘導式磁性金属上の非磁性被膜 MMC PC イソ渦電流式非磁性金属上の絶縁被膜 MMC PC デュアル MMC PC ニッケル MMC PC フェライト MMC PC シグマ MMC PC スルーホール電磁誘導式渦電流式電磁誘導式位相感応渦電流式電磁誘導 F 式磁性金属上の非磁性被膜非磁性金属上の絶縁被膜磁性 / 非磁性金属上の磁性被膜 ( 例えばニッケルなど ) オーステナイト鋼のフェライト含有量位相感応渦電流式磁性 / 非磁性金属上の金属被膜渦電流式プリント基板のスルーホール銅被膜 MMC PC PCB 電気抵抗式プリント基板上の銅被膜 MMC PC 位相感応渦電流式磁性 / 非磁性金属上の被膜デュープレックス MMC PC ベータ β 線後方散乱量お問い合わせください仕様フィッシャースコープ MMS PC2 測定方式モジュールにより異なります上表参照測定対象モジュールにより異なります上表参照測定範囲モジュールにより異なりますお問い合わせください測定精度モジュールにより異なりますお問い合わせくださいメモリ 100 万件の測定データ 1000 本のアプリケーションメモリ統計機能測定回数平均値標準偏差工程能力指数など表示方法デジタル ( カラー LCD タッチパネル方式) 入出力端子 USB LANカード CFカード電源 ACアダプタ寸法質量 3 5 1( W ) 2 7 0( D ) 1 6 5( H )m m 5 k g 9

デュアルタイプ膜厚計デュアルスコープMP0 ZERO R-USB デュアルタイプ膜厚計デュアルスコープMP0 ZERO R-FP デュアルスコープ MP0R-USBは操作性に優れた小型ボディでありながら高精度と十分な機能を誇る小型膜厚計です表示部は前面と上面にバックライト付きのデュアルディスプレイを装備電磁式と渦電流式を兼ねるデュアルタイプでしかも素地の材質を自動判別することができます

MP0R-USB 測定方式電磁誘導式 / 渦電流式兼用測定対象磁性金属上の非磁性被膜および非磁性金属上の絶縁被膜測定範囲 0 2000μm( 電磁渦電流式 ) 測定精度 0 50μm:±1μm 以内 50 1000μm:± 2% 以内 1000 2000μm:±3% 以内分解能 100μm 以下 0.1μm 100μm 以上 1.

9 デュアルタイプ膜厚計デュアルスコープMP0 ZERO R-USB デュアルタイプ膜厚計デュアルスコープMP0 ZERO R-FP デュアルスコープ MP0R-USBは操作性に優れた小型ボディでありながら高精度と十分な機能を誇る小型膜厚計です表示部は前面と上面にバックライト付きのデュアルディスプレイを装備電磁式と渦電流式を兼ねるデュアルタイプでしかも素地の材質を自動判別することができますプローブ交換などの煩わしい操作から解放され即座に測定を開始することができますデュアルスコープ M P 0 R - F P は従来器では本体と一体になっていたセンサ部をプローブ化しより操作性を向上させた製品です下地の金属を自動認識する自動素地判別機能や前面上面の2つのバックライト付き液晶ディスプレイワイヤレスデータ送信機能などはそのまま継承されています 10 仕様デュアルスコープ MP0R-USB 測定方式電磁誘導式 / 渦電流式兼用測定対象磁性金属上の非磁性被膜および非磁性金属上の絶縁被膜測定範囲 μm( 電磁渦電流式 ) 測定精度 0 50μm:±1μm 以内 μm:± 2% 以内 μm:±3% 以内分解能 100μm 以下 0.1μm 100μm 以上 1.0μm 統計機能平均値標準偏差測定回数最小値最大値その他機能自動素材判別自動電源 ON/OFF 上下限設定プローブ 1 点接触定圧式表示方法デジタル ( L C D ) 電源電池 1. 5 V( 単 3 アルカリ ) 2 寸法質量 6 4( W ) 3 0( D ) 8 5( H )m m k g 付属品鉄素地アルミ素地標準板ストラップ本体ケース電池 1. 5 V( 単 3 ) 2 仕様デュアルスコープ MP0R-FP 測定方式電磁誘導式 / 渦電流式兼用測定対象磁性金属上の非磁性被膜および非磁性金属上の絶縁被膜測定範囲 μm( 電磁渦電流式 ) 測定精度 0 50μm:±1μm 以内 μm:± 2% 以内 μm:±3% 以内分解能 100μm 以下 0.1μm 100μm 以上 1.0μm 統計機能平均値標準偏差測定回数最小値最大値その他機能自動素材判別自動電源 ON/OFF 上下限設定プローブ 1 点接触定圧式表示方法デジタル ( L C D ) 電源電池 1. 5 V( 単 3 アルカリ ) 2 寸法質量 6 4( W ) 3 0( D ) 8 5( H )m m k g 付属品鉄素地アルミ素地標準板ストラップ本体ケース電池 1. 5 V( 単 3 ) 2

油膜塗布量測定器マイクロダーム BTF ガラス上膜厚測定器マイクロダーム HH-3 Pm プレス加工において加工前に鋼板へ塗布されている潤滑剤防錆油の量は多すぎても少なすぎても問題を引き起こす原因となりますそのため塗布された油量の管理が求められています油量の正確な管理は生産品の不良削減均一な品質での生産金型の寿命延長といった効果をもたらすと同時に潤滑剤

これらの素材上の樹脂被膜厚の測定は試料の切断面で計測する方法が採られてきました H H -3プローブはベータ線後方散乱方式を採用した小型プローブで非破壊での被膜厚測定を実現していますまたこのプローブは汎用性に富みさまざまな形状の試料広範な測定対象物に対応します本体はバッテリー駆動のポータブルタイプですので製造ラインや品質管理室など使用する場所を選びませんガラスメーカー

10 油膜塗布量測定器マイクロダーム BTF ガラス上膜厚測定器マイクロダーム HH-3 Pm プレス加工において加工前に鋼板へ塗布されている潤滑剤防錆油の量は多すぎても少なすぎても問題を引き起こす原因となりますそのため塗布された油量の管理が求められています油量の正確な管理は生産品の不良削減均一な品質での生産金型の寿命延長といった効果をもたらすと同時に潤滑剤防錆油の消費削減が見込め環境負荷の軽減にもつながります本器は加工前の鋼板に塗布されている潤滑剤防錆油の量を簡単な操作で正確に測定することができますまたポータブルタイプですので加工現場や品質管理室などさまざまな場所へ持ち運んで使用することもできます本器はガラスやセラミックに施されたプライマーなどの樹脂被膜厚を非破壊で測定することができます従来これらの素材上の樹脂被膜厚の測定は試料の切断面で計測する方法が採られてきました H H -3プローブはベータ線後方散乱方式を採用した小型プローブで非破壊での被膜厚測定を実現していますまたこのプローブは汎用性に富みさまざまな形状の試料広範な測定対象物に対応します本体はバッテリー駆動のポータブルタイプですので製造ラインや品質管理室など使用する場所を選びませんガラスメーカーガラス加工業また自動車や家電などの部品製造業での活用が期待されています仕様マイクロダーム BTF 測定方式ベータ線後方散乱方式測定対象金属上の油膜厚検量線メモリ 20 本測定値メモリ数 35,000 点統計計算平均値 / 標準偏差 / 最大値最小値電源 NiMH 充電式バッテリー ( 連続使用約 20 時間 ) 寸法質量本体 :125(W) 250(D) 62.5(H) mm 0.65Kg 付属品収納ケース充電スタンド充電スタンド用ケーブル充電池 2 本体プローブ接続ケーブル 2 調整用標準板フィルム製造元 UPA Technology( 米国 ) 仕様マイクロダーム HH-3 Pm 測定方式ベータ線後方散乱方式測定対象ガラスおよびセラミック上の樹脂被膜厚検量線メモリ 20 本測定値メモリ数 35,000 点統計計算平均値 / 標準偏差 / 最大値最小値電源 NiMH 充電式バッテリー ( 連続使用約 20 時間 ) 寸法質量本体 :125(W) 250(D) 62.5(H) mm 0.65Kg 付属品収納ケース充電スタンド充電スタンド用ケーブル充電池 2 調整用標準板フィルム製造元 UPA Technology( 米国 ) 11

膜厚計エルニクス 8500 薄膜厚測定器ストランドゲージエルニクス8500は厚膜塗装の測定や曲率面の測定に対応したコンパクトサイズの膜厚計ですプローブは着脱可能なため手の届きにくい狭い箇所を測定する場合やさまざまな角度からプローブを押し当てる場合などでスムーズな測定が可能ですデュアルプローブはワイヤレスとしても使用でき磁性金属上と非磁性金属上の塗膜測定が可能です

1 m m 以下の素地に施された被膜を測定できますから特にアルマイト工場アルミ缶の製造工場等では定評があります 12 仕様エルニクス8500 Premium / Basic 測定方式電磁誘導式渦電流式 ( W D P のみ ) 測定対象磁性金属上の非磁性被膜 (FeP WDP) 非磁性 ( 非鉄 ) 金属上の絶縁被膜 (WDP) 測定範囲 0 5000μm(5000μmは5.

1 μm 1μm) データメモリ数 Premium:13,000 点以上 ( ただし 2,000 点 / 1 バッチ ) B a s i c:1 0 0 点バッチ数 Premium:200 個 Basic:1 個検量線メモリ数ユーザーキャリブレーション P r e m i u m:1 0 0 本 B a s i c:1 本プローブ Feプローブ (FeP) または

11 膜厚計エルニクス 8500 薄膜厚測定器ストランドゲージエルニクス8500は厚膜塗装の測定や曲率面の測定に対応したコンパクトサイズの膜厚計ですプローブは着脱可能なため手の届きにくい狭い箇所を測定する場合やさまざまな角度からプローブを押し当てる場合などでスムーズな測定が可能ですデュアルプローブはワイヤレスとしても使用でき磁性金属上と非磁性金属上の塗膜測定が可能です上限下限値設定や統計計算処理など膜厚測定に便利な機能も充実していますアルマイト処理被膜塗装各種高分子によるコーティング被膜など金属素地上に施された薄い絶縁被膜の測定に適した膜厚計です従来一般的膜厚計では不可能とされてた厚さ 0. 1 m m 以下の素地に施された被膜を測定できますから特にアルマイト工場アルミ缶の製造工場等では定評があります 12 仕様エルニクス8500 Premium / Basic 測定方式電磁誘導式渦電流式 ( W D P のみ ) 測定対象磁性金属上の非磁性被膜 (FeP WDP) 非磁性 ( 非鉄 ) 金属上の絶縁被膜 (WDP) 測定範囲 μm(5000μmは5.00mmと表示 ) 測定精度 μm 未満 :±1μm+2% 2000μm 以上 ±3.5% (2000μm は2.00mmと表示 ) 分解能 100μm 未満 0.1μm 1000μm 未満 1μm 1000μm 以上 10μm P remiumは100μm 未満の場合 3 段階切り替え可能 ( μ m 0. 1 μm 1μm) データメモリ数 Premium:13,000 点以上 ( ただし 2,000 点 / 1 バッチ ) B a s i c:1 0 0 点バッチ数 Premium:200 個 Basic:1 個検量線メモリ数ユーザーキャリブレーション P r e m i u m:1 0 0 本 B a s i c:1 本プローブ Feプローブ (FeP) またはワイヤレスデュアルプローブ ( W D P ) 付加機能 Premium: 各種設定 14 種 Basic: 各種設定 10 種電源電池 1. 5 V( 単 3 アルカリ ) 2 個寸法質量 67(W) 124(D) 33(H)mm 0.12Kg 付属品鉄素地アルミ素地 ( W D P ) 標準板 3 枚 ( μm) キャリングケースプローブ接続ケーブル ( F e P ) ストラップ ( W D P ) ソフトケースかんたんガイド ( メニューリスト ) 仕様ストランドゲージ測定方式導電率式測定対象金属上の絶縁被膜測定範囲 μm( ただし比重が 1のとき ) 測定精度お問い合わせくださいプローブ曲面測定用表示方法アナログ電源 AC100V(50/60Hz) 寸法質量 1 9 0( W ) 2 1 0( D ) 1 0 0( H )m m 1. 7 k g オプション平面測定用プローブ

未乾燥塗膜厚測定ゲージウエットゲージ膜厚計データ管理ソフトウェア McWAVE Lite/Standard /Professional Multi PROP 簡易型の厚さ測定ゲージです乾燥途中のウエットな状態の塗膜に押し当て刻まれた溝の深さで判断します塗膜面を傷つける方法ですが

基本統計値はリアルタイムで演算され任意の表スタイルにまとめたり編集したデータを MS Excelへ渡したりといった多彩な編集機能のあるソフトウェアです McWAVE Standard はLite 版のすべての機能に加え X-R 管理図やシグマ ( σ) 管理などのヒストグラムを表示

印刷するソフトウェアです McWAVE Lite 統計機能 : ロットおよび全データの平均標準偏差最大最小範囲変動係数 n 値印刷 : データ一覧 McWAVE Std.

の仕様に追加 ) 素地補正運用機能 Multi PROP データ登録 : 受信データ500 件工事管理 999 件編集登録 5 0 0 件 ( 工事単位 ) フォーム印刷 : 指定フォームヒストグラム出来形管理図実績一覧表 X - R グラフフォーム種 : 建設省福北高速

12 未乾燥塗膜厚測定ゲージウエットゲージ膜厚計データ管理ソフトウェア McWAVE Lite/Standard /Professional Multi PROP 簡易型の厚さ測定ゲージです乾燥途中のウエットな状態の塗膜に押し当て刻まれた溝の深さで判断します塗膜面を傷つける方法ですが簡便なので用途を選べば実に便利なゲージですタイプ 1 タイプ 2 仕様ウエットゲージ測定範囲 1 型 :25μm 700μm 2 型 :100μm 1500μm M cwav E L i t eはケツト膜厚計から P Cへ自由なスタイルでデータ転送が可能で基本統計値はリアルタイムで演算され任意の表スタイルにまとめたり編集したデータを MS Excelへ渡したりといった多彩な編集機能のあるソフトウェアです McWAVE Standard はLite 版のすべての機能に加え X-R 管理図やシグマ ( σ) 管理などのヒストグラムを表示印刷することができる高機能版です McWAVE ProfessionalはStandard 版の機能に加え PC 上で多数の素地補正データを登録運用することができるなど大幅な機能強化が図られています Multi Propは膜厚計の測定データを公団公社等の指定フォームに変換し印刷するソフトウェアです McWAVE Lite 統計機能 : ロットおよび全データの平均標準偏差最大最小範囲変動係数 n 値印刷 : データ一覧 McWAVE Std. (Liteの仕様に追加) X-R : グラフ上のカーソル移動でロット単位の測定データと統計値の表示ヒストグラム : 級数範囲 ±3σ 範囲の任意設定正規分布と 12 種類の統計値表示印刷 :X-Rグラフヒストグラム McWAVE Pro. (Std. の仕様に追加 ) 素地補正運用機能 Multi PROP データ登録 : 受信データ500 件工事管理 999 件編集登録件 ( 工事単位 ) フォーム印刷 : 指定フォームヒストグラム出来形管理図実績一覧表 X - R グラフフォーム種 : 建設省福北高速首都高速英文阪神高速水門 4 モノレール大阪市本四公団名古屋高速中部地建東京都岩手県水門 5 建設省 ( 正 ) 北陸地建英文 ( J H ) 阪神高速 ( 正 ) 阪神高速 ( 2 ) モノレール ( 正 ) 鋼道路橋塗装便覧動作環境 : Windows 8/7/Vista/XP/2000/98/95/NT が動作するPC McWAVE 各種 Multi PROP は CEC 社 Windows MS Excelはマイクロソフト社の商標です 13

膜厚計データ管理ソフトウェアデータロガーソフト KDL-01 膜厚計データ管理ソフトウェアデータロガーソフト LDL-01/02/03 データロガー K D L - 0 1 はケツト製品の測定データを RS-232CでMicrosoft Windows 2000/XP/Vista/7/8/8.

) が動作する PCに取り込み Microsoft Excelに自動的に貼り付けるソフトウェアです 14 対応器種現行器種 : LE-200J LH-200J LZ-200J 生産終了器種 : LE-200W LZ-200W LE-200C LH-200C LZ-200C LE-330 LH-330 LZ-330 LE-330C LH-330C LZ-330C LE-330J LH-330J

13 膜厚計データ管理ソフトウェアデータロガーソフト KDL-01 膜厚計データ管理ソフトウェアデータロガーソフト LDL-01/02/03 データロガー K D L はケツト製品の測定データを RS-232CでMicrosoft Windows 2000/XP/Vista/7/8/8.1 が動作する PCに取り込み Microsoft Excelに自動的に貼り付けるソフトウェアですデータロガー LDL-01 データロガー LDL- 0 2 およびデータロガー L D L は膜厚計の測定データを RS-232CでMicrosoft Windows 2000/XP/Vista/( データロガー L D L のみ W i n d o w s 7 に対応 ) が動作する PCに取り込み Microsoft Excelに自動的に貼り付けるソフトウェアです 14 対応器種現行器種 : LE-200J LH-200J LZ-200J 生産終了器種 : LE-200W LZ-200W LE-200C LH-200C LZ-200C LE-330 LH-330 LZ-330 LE-330C LH-330C LZ-330C LE-330J LH-330J LZ-330J LE-330W LZ-330W 動作環境 Windows 2000/XP/Vista/7/8/8.1が動作する PC ( Windows ExcelはMicrosoft 社の商標です ) 対応器種 LDL-01 : LZ-990 エスカル LDL-02 : LE-370 LH-370 LZ-370( 生産終了器種 ) LDL-03 : LE-373 LH-373 LZ-373 動作環境 Windows 2000/XP/Vista/7が動作するPC ( Windows ExcelはMicrosoft 社の商標です )

14 資料付属標準板一覧 ( 製品に付属する標準板は下表と同値ではなく実測した近似値のものとなっています ) 器種枚数厚さ (μm) 材質 LE-200J/LZ-200J ポリエステルフィルム LH-200J ポリエステルフィルム LE-373/LZ ポリエステルフィルム LH ポリエステルフィルム LZ ポリエステルフィルム L-2B ベリリウム銅合金オプション標準板一覧 ( 下表と同値ではなく実測した近似値のものとなっています ) 材質厚さ (μm) ポリエステルフィルムベリリウム銅合金プローブ一覧種類ペン型プローブ ( 標準付属 ):LEP-J/LHP-J L - 2 B 用 ( 標準付属 ) LE-200J/LH-200J/LZ-200J 製品型式 L-2B LE-373/LH-373/LZ 寸法 φ13 φ φ6 16 種類 L 字型プローブ ( オプション ): LEP-21L/LHP-21L パイプ内面測定用プローブ ( オプション ):LEP-22 LE-200J/LH-200J/LZ-200J 製品型式 LE-200J LE-373/LH-373/LZ φ 寸法膜厚計適合規格一覧測定方式器種名規格電磁誘導式渦電流式 LE-200J LE-373 LH-200J LH-373 JIS K JIS H0401 JIS H8401 JIS H8501 JIS H8641 ISO 1460 ISO 2064 ISO 2178 ISO 2808 ISO / BS 3900-C5 / ASTM B 499 ASTM D ASTM E 376 JIS K JIS H8501 JIS H ISO 2064 ISO 2360 ISO 2808 ISO / BS 3900-C5 / ASTM B 244 ASTM D ASTM E 376 デュアルタイプ LZ-200J LZ-373 LZ-990 電磁誘導式の場合渦電流式の場合 JIS K JIS H0401 JIS H8401 JIS H8501 JIS H8641 ISO 1460 ISO 2064 ISO 2178 ISO 2808 ISO / BS 3900-C5 / ASTM B 499 ASTM D ASTM E 376 JIS K JIS H8501 JIS H ISO 2064 ISO 2360 ISO 2808 ISO / BS 3900-C5 / ASTM B 244 ASTM D ASTM E 376

15 資料測定方式ごとの測定可能な素地と被膜電磁方式渦電流方式ベータ線方式フィッシャースコープ条件付可被膜の種類素地 ( 下地 ) の種類ゴムプラスチックエナメルペイント皮膜クロメート陽極酸化皮膜燐酸ニッケル(ニッケル(電解)アルミニウムカドミウムパラジクロームハンダ真鍮鉛金銅無電解)コPVC ィウンムグCVD ーテロジ亜鉛錫アルミニウム銀ウムアルミ合金セラミックガラスプラスチック金砲金コバール鋼銅真鍮ニッケル銀鉄鋼ステンレス ( 非磁性 ) チタニウムチタン合金亜鉛亜鉛合金測定原理電磁誘導式交流電磁石を鉄 ( 磁性金属 ) に接近させると接近距離によってコイルを貫く磁束数が変化しそのためコイル両端にかかる電圧が変化しますこの電圧変化を電流値から読み取り膜厚に換算したのが電磁式膜厚計で磁性金属上の非磁性被膜の測定用です渦電流式一定の高周波電流を流した誘導コイルを金属に近づけると金属表面上に渦電流が生じますこの渦電流は誘導コイルと金属面との距離に応じて変化しそのため誘導コイル両端にかかる電圧も変化しますこの変化を電流値から読み取り膜厚に換算したのが渦電流式膜厚計で非磁性金属上の絶縁被膜の測定用です測定器の総合商社株式会社佐藤商事東京本社東京都大田区南馬込 TEL(03) FAX(03) 川崎市中原区小杉町大阪支店大阪市東淀川区東中島武蔵小杉タワープレイス階 TEL(06) FAX(06) (044) 札幌営業所札幌市西区八軒一条西 TEL(011) FAX(011) FAX: 仙台営業所仙台市青葉区二日町 2-15 二日町鹿島ビル TEL(022) FAX(022) ホームページ : 名古屋営業所名古屋市中村区名駅伊原ビル SATO 測定器.COM: TEL(052) FAX(052) 九州営業所佐賀県鳥栖市布津原町 14-1 布津原ビル TEL(0942) FAX(0942) ご用命は安全上のご注意正しく安全にお使いいただくためご使用の前には必ず取扱説明書をよくお読みください水湿気湯気ほこり油煙等の多い場所に設置しないでください故障の原因となることがあります 1511 K A K このパンフレットは環境への配慮から植物性大豆油インキと再生紙を使用していますこの商品へのお問い合わせは上記またはインターネットのメールボックスへお願いいたします URL sales@kett.co.jp 製品改良のため仕様や外観の一部を予告なく変更することがありますまた製品の色調は印刷のため実物とは異なる場合もありますのであらかじめご了承ください

膜厚計安全上のご注意膜厚計は安全のための注意事項を守らないと物的損害などの事故が発生することがあります製品の安全性については十分に配慮していますがこの説明書の注意をよく読んで正しくお使いください安全のための注意事項をお守りください取扱説明書に記載の注意事項をよくお読みください故障し

膜厚計安全上のご注意膜厚計は安全のための注意事項を守らないと物的損害などの事故が発生することがあります製品の安全性については十分に配慮していますがこの説明書の注意をよく読んで正しくお使いください安全のための注意事項をお守りください取扱説明書に記載の注意事項をよくお読みください故障しデュアルタイプ膜厚計 L Z-373 取扱説明書膜厚計安全上のご注意膜厚計は安全のための注意事項を守らないと物的損害などの事故が発生することがあります製品の安全性については十分に配慮していますがこの説明書の注意をよく読んで正しくお使いください安全のための注意事項をお守りください取扱説明書に記載の注意事項をよくお読みください故障した場合は使用しないでください故障および不具合が生じた場合は