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1 Universal Serial Bus Implementers Forum Hub High-speed Electrical Test Procedure For Agilent Infiniium Revision 1.0 Feb 5,

2 改訂履歴 Rev 日付 ファイル名 0.9 (Beta) 2001 年 11 月 23 日 Hub HS Test for Agilent.DOC USB-IF ( バージョン 0.9) により作成されたテスト 手順に基づいて Agilent テスト機器を採用した High Speed テスト手順書の最初のバージョン 年 2 月 5 日 Hub HS Test for Agilent.DOC 最終リリースのために編集 techsup@usb.org まで電子メールでをお送りください USB-IF High-speed Electrical Test Procedure Copyright 2001, USB Implementers Forum, Inc. All rights reserved. 2

3 保証の排除 本仕様はそのままの状態で提供され 知的所有権に対する侵害のないこと 商品性 特定目的への適合性 権利 また提案 使用 サンプルから生じるもの その他 明示 暗黙を問わずいかなる保証も致しかねます これらの保証はすべて明確に排除します 上記の一般的な事項に限らず USB-IF および本仕様の著者は 本仕様の使用が他社の知的所有権を侵害しないことを保証または表明するものではありません 本仕様の使用者はこのような侵害の全てのリスクを負い また侵害訴訟の請求がなされた場合でも USB-IF または著者に対して訴訟上の請求をしないことに同意するものとします USB-IF は 本仕様の使用から生じるいかなる派生的な損害 特別損害あるいはその他の損害に対しても責任を負いかねます 内部使用限定のライセンス USB-IF は 本仕様を内部使用に限り複製して配布するライセンスを供与します 他のいかなるライセンスも 明示 暗黙を問わず 禁反言その他にかかわらず供与せず 知的所有権のライセンスも供与しません すべての製品名は それぞれの所有者の商標 登録商標またはサービスマークです 3

4 目次 1 概要 目的 必要な機器 機器設定 Infiniium 54846A ディジタル サンプリング オシロスコープ (DSO) Aディジタル シグナル ジェネレータ (DSG) オペレーティング システム ソフトウェア ドライバおよび設定ファイル オペレーティング システム ソフトウェア テスト機器設定ファイル テスト手順 テストの記録 ベンダおよび製品の情報 レガシー USB コンプライアンス テスト High Speed ハブ信号品質 : アップストリーム側ポート (EL_2 EL_46 EL_6 EL_7) High Speed ハブ信号品質 : ダウンストリーム側ポート (EL_2 EL_3 EL_6 EL_7) ハブ ジッタ : ダウンストリーム側ポート (EL_47) ハブディスコネクト検出 (EL_36 EL_37) ハブ パケット パラメータ : アップストリーム側ポート (EL_21 EL_22 EL_25) ハブ レシーバ感度 : アップストリーム側ポート (EL_16 EL_17 EL_18) ハブ リピータ テスト : ダウンストリーム側ポート (EL_42 EL_43 EL_44 EL_45 EL_48) ハブ リピータ テスト : アップストリーム側ポート (EL_42 EL_43 EL_44 EL_45) ハブ CHIRP タイミング : アップストリーム側ポート (EL_28 EL_29 EL_31) ハブサスペンド / リジューム / リセット タイミング : アップストリーム側ポート (EL_27 EL_28 EL_38 EL_39 EL_40) ハブ テスト J/K SE0_NAK: アップストリーム側ポート (EL_8 EL_9) ハブ テスト J/K SE0_NAK: ダウンストリーム側ポート (EL_8 EL_9) A.4 High Speed モード対応ハブの電気テスト データ A.4.2 ベンダおよび製品の情報 A.4.3 レガシー USB コンプライアンス テスト A.4.4 High Speed ハブ信号品質 : アップストリーム側ポート (EL_2 EL_46 EL_6 EL_7) A.4.5 High Speed ハブ信号品質 : ダウンストリーム側ポート (EL_2 EL_3 EL_6 EL_7) A.4.6 ハブ ジッタ : ダウンストリーム側ポート (EL_47) A.4.7 ハブディスコネクト検出 (EL_36 EL37) A.4.8 ハブ パケット パラメータ : アップストリーム側ポート (EL_21 EL_22 EL_25) A.4.9 ハブ レシーバ感度 : アップストリーム側ポート (EL_16 EL_17 EL_18) A.4.10 ハブ リピータ テスト : ダウンストリーム側ポート (EL_42 EL_43 EL_44 EL_45 EL_48) A.4.11 ハブ リピータ テスト : アップストリーム側ポート (EL_42 EL_43 EL_44 EL_45) A.4.12 ハブ CHIRP タイミング : アップストリーム側ポート (EL_28 EL_29 EL_31) A.4.13 ハブサスペンド / リジューム / リセット タイミング : アップストリーム側ポート (EL_27 EL_28 EL_38 EL_39 EL_40) A.4.14 ハブ テスト J/K SE0_NAK: アップストリーム側ポート (EL_8 EL_9) A.4.15 ハブ テスト J/K SE0_NAK: ダウンストリーム側ポート (EL_8 EL_9)

5 B A DSG 用の設定ファイルの作成手順 B.1.1 IN_ADD1.ST0 設定ファイル B.1.2 MIN_ADD1.ST0 設定ファイル

6 1 概要 USB-IF High Speed モードの電気テスト手順は USB-IF, Inc の管理下にある USB 2.0 コンプライアンス コミッティにより作成されています High Speed モード対応ホストの電気テスト手順は EHCI ホスト コントローラが対象です High Speed モード対応ハブの電気テスト手順は High Speed モード対応ハブが対象です High Speed モード対応デバイスの電気テスト手順は High Speed モード対応デバイスが対象です High Speed モードの電気コンプライアンス テスト手順は USB 2.0 仕様に準拠して設計されたデバイスの High Speed モードでの動作を検証するものです High Speed モード対応製品を USB-IF インテグレータ リストに記載し ( ベンダが USB-IF 商標ライセンス契約に署名している場合 ) 当該製品に関係して USB-IF ロゴを使用するためには その製品が High Speed モード テストに合格することに加えて これらの文書で指定された該当するレガシーテストを満たし 合格することも必要です これらのレガシー コンプライアンス テストは 本書の レガシー USB コンプライアンス テスト に記載してあります 2 目的 この USB-IF High Speed モードの電気テスト手順には High Speed で動作する USB 周辺機器および USB システムの評価に用いる様々なテストが記載されています これらのテストは 出荷前の製品 リファレンス デザイン コンセプトの検証段階 および周辺機器 アドイン カード マザー ボードまたはシステムのプロトタイプに組み込まれた USB チップの High Speed 動作の評価にも用います このテスト手順では USB-IF USB2.0 電気テスト仕様バージョン 1.00 に記載されているテストが参照されています この High Speed モード対応ハブの電気テスト手順は 3 つある USB-IF High Speed モードの電気コンプライアンス テスト手順の 1 つです 他の 2 つは High Speed モード対応ホストの電気テスト手順と High Speed モード対応デバイスの電気テスト手順です デバイス クラスに基づいて個々の手順を採用できるため 使いやすくなっています 3 必要な機器 ここに記載した市販テスト機器は UBS-IF のメンバーが USB High Speed モードの電気テストを実行して良好であったものに基づいています このテスト手順には 手順を作成するために使用した特定のモデルも記載してあります 時間がたてば 使用に適した他の同等あるいはより良いテスト機器が登場します そのような場合には 手順にいくつか修正を加える可能性があります ディジタル ストレージ オシロスコープ Agilent Technologies 製の Infiniium 54846A ディジタル ストレージ オシロスコープ o Tektronix P6247 あるいは P6248 または同等の差動プローブ 数量 =2 6

7 o Tektronix 1103 Tekprobe 電源 (Tektronix P6247またはP6248と合わせて使用 ) 数量 =1 o Agilent 1161A ミニチュア パッシブ プローブ 数量 =2 o 短いBNCケーブル (50cm 未満 /50Ω) 数量 =2 3½ディジタル マルチメータ : Agilent 972A または同等品 o ミニクリップDMMリード- 黒と赤 1つずつディジタル シグナル ジェネレータ 81130Aパルス / パターン ジェネレータ o o o DSG は Agilent 81132A (660MHz) の 2 チャネル出力を備えた Agilent 81130A パルス / パターン ジェネレータにより構成されています メモリーカードオプション (81130A オプション UFJ) 6dB アッテネータ (Agilent 8493C オプション 006): レシーバ感度テスト用の DSG 出力電圧の調整用 数量 =2 o 50Ω 同軸ケーブル 両端が SMA コネクタ ( オス ) 数量 =2 High Speed USB 電気テスト フィクスチャ o High Speed ホスト信号品質テスト フィクスチャ 数量 =1 o High Speed デバイス信号品質テスト フィクスチャ 数量 =1 o 切断テスト フィクスチャ 数量 =1 o 5V テスト フィクスチャ用電源 数量 =1 Agilent HS テスト フィクスチャを使用する場合のテスト ポイントの名称は Intel のテスト フィクスチ ャとは異なります このテスト手順は Intel のテスト フィクスチャを対象に書かれています Agilent の テスト フィクスチャを使用する場合は 以下の対応表を使用してください Intel のフィクスチャ テスト ポイントの記述 Agilent のフィクスチャ J7 テスト ポイント TP2 J8 電源ポート J5 J10 グランド TP5 J11 グランド TP5 SMA1 D-ライン SMA2 SMA2 D+ ライン SMA1 その他のケーブル o 1m USB ケーブル 数量 =1 o 1.5m USB ケーブル 数量 =1 o 10cmUSB ケーブル 数量 =1 o モジュラ AC 電源コード 数量 =2 High Speed モード USB テスト ベッド コンピュータ これは High Speed モード対応ハブまたはデバイスの電気テスト用 USB 2.0 適合ホスト コントローラのホストとなるコンピュータ あるいは被試験 USB2.0 ホスト コントローラのテスト ベッド ホストの役割を果たすコンピュータです このコンピュータに搭載されている OS は Windows 2000 Professional です このコンピュータを構成するステップについては High Speed モードの電気テスト設定手順 を参照してください 7

8 3.1 機器設定 Infiniium 54846A ディジタル サンプリングサンプリング オシロスコープ (DSO) オシロスコープの電源をオンにする前に P6247 または P6248 差動プローブを 1103 TekProbe 電源の CH1 および CH2 に接続し 1 本の短い BNC ケーブルを 1103 の CH1 から Infiniium 54846A のチャネル 1 に接続し 別の短い BNC ケーブルを 1103 の CH2 から Infiniium 54846A のチャネル 3 に接続します 差動プローブの先端にセーバが取り付けられているか確認してください 1161A ミニチュア パッシブ プローブを 2 本使う場合は BNC ケーブルをチャネル 1 およびチャネル 3 から取り外し 一方のパッシブ プローブをチャネル 1 へ もう一方のパッシブ プローブをチャネル 3 に接続します オシロスコープの電源をオンにして 使用する前に 10 分間ウォームアップさせます 周囲温度が 5 を超えて変化した場合は Infiniium 54846A に内蔵されているユーザ校正 ([Utilities] プル ダウン メニューの [Calibration ] セクションにあります ) を実行します この校正は プローブをオシロスコープから取り外した状態で実行してください 利得誤差とオフセット誤差を最小限にするために 2 つの 1161A ミニチュア プローブを校正する必要があります 差動プローブのオフセット誤差は 後でテスト手順プロセスの一部としてキャンセルされます 差動プローブのオフセットは テスト手順に記載されているステップによって調整します P6247/P6248 差動プローブの場合は テスト手順全体を通して次の設定を使用します DC Reject <OFF> (P6247 のみ ) BW <Full> (P6247 のみ ) Attenuation < 1> 注記 : 特定のテスト状況では DSO と被試験デバイス (DUT) の間にグランド接続がない場合があります このために 差動プローブにおいて観測される信号が中間周波数スイッチング電源により上または下に変調される場合があります DSO グランドと DUT のグランドを接続するには 共通グランドを設定する必要があります A ディジタル シグナルシグナル ジェネレータ (DSG) DSG は このテスト手順の終わりの方のレシーバ感度テストの実行に必要です エネルギーを節約するということを考えれば 測定を実行する約 15 分前に DSG の電源をオンにしてもかまいません 3.2 オペレーティング システム ソフトウェア ドライバおよび設システム ソフトウェア ドライバおよび設定ファイル オペレーティング システム High Speed モードの電気テスト ベッド コンピュータには Microsoft Windows 2000 Professional が必要です このコンピュータを構成するステップについては High Speed モードの電気テスト設定手順 を参照してください 3.3 ソフトウェア 以下のソフトウェアが必要です このコンピュータを構成するステップについては High Speed モードの電気テスト設定手順 を参照してください High-speed Electrical Test Tool ソフトウェア : High Speed モードの電気テスト ベッド コンピュータで使用 8

9 Intel 独自の EHCI ドライバ スタック : High-speed Electrical Test Tool ソフトウェアでは 独自の EHCI ドライバ スタックを使用する必要があります この独自の EHCI ドライバ スタックを使用することによって USB EHCI ホスト コントローラのコマンド レジスタの直接制御が容易になります 最終的には 非常に堅牢なテスト ベッド環境となります 独自の EHCI ドライバ スタックはデバッグとテストの検証を目的に設計されているため Microsoft ( またはデバイスのベンダ ) 製の EHCI ドライバが持つ通常の機能はサポートしていません High-speed Electrical Test Tool には自動ドライバ スタック スイッチング機能が実装されているため 独自の EHCI ドライバ スタックと Microsoft 製のドライバ スタック間の切り替えが容易です HS Electrical Test Tool ソフトウェアを呼び出すと ドライバ スタックは自動的に Intel 独自の EHCI ドライバ スタックに切り替わります HS Electrical Test Tool ソフトウェアを終了すると ドライバ スタックは自動的に Microsoft EHCI ドライバ スタックに切り替わります Infiniium USB テスト オプション ( オプション B30 または E2645A): USB デバイスの電気テスト実行用 テスト機器機器設定ファイル これはテスト機器の設定ファイルを収納した 3½ インチ フロッピー ディスクです この設定ディスクを構成するステップについては High Speed モードの電気テスト設定手順 を参照してください Infiniium USB テスト オプション ( オプション B30 または E2645A) をインストールしている場合は Infiniium 54846A 用の設定ディスクは不要です 4 テスト手順 4.1 テストの記録 付録 A には テスト結果を記入するためのフォームが記載してあります 付録 A をコピーし コンプライアンス テスト申請用のテスト記録文書としてご使用ください すべての欄に記入する必要があります 被試験デバイスに当てはまらない欄には 理由を説明する適切な注記とともに N/A と記入してください 記入が終わったテスト結果は コンプライアンス テスト申請のために保管してください テスト記録のハードコピーの他に 信号品質と電源供給 ( 突入 ドロップおよびドループ ) の結果の電子ファイルを コンプライアンス テスト申請のために保管してください 4.2 ベンダおよび製品の情報 以下の情報を収集して 付録 A のテスト記録のコピーに記入した後 テストを実行します 1. テスト日付 2. ベンダ名 9

10 3. ベンダの住所 電話 担当者名 4. テスト申請 ID 番号 5. 製品名 6. 製品のモデルおよびリビジョン 7. USBチップ ベンダ名 8. USBチップ モデル 9. USBチップ パーツ マーキング 10. USBチップ ステッピング 11. テスト実施者 4.3 レガシー USB コンプライアンス テスト 被試験ハブは 本書に定める High Speed モードの電気テストに加えて その高速ハブに適用されるレガシー コンプライアンス テストにも合格しなくてはなりません Low Speed 信号品質 : ダウンストリーム側ポートのみ Full Speed 信号品質 : アップストリームおよびダウンストリーム側ポート 突入電流 : アップストリーム側ポートのみ ドロップ / ドループ : ダウンストリーム側ポート 相互運用性 ( インターオペラビリティー ) これらのテストをすべて実行し 測定値と 付録 A にまとめてある合否ステータスを記録します 4.4 High Speed ハブ信号品質 : アップストリーム側ポート (EL_2 EL_46 EL_6 EL_7) このテストは ハブのアップストリーム側ポートのみが対象です 1. オシロスコープの電源をオンにしていない場合は オンにします 約 10 分間ウォームアップさせます 1103 TekProbe 電源に P6247 または P6248 差動プローブを接続します 1103 とチャネル 1 を短い BNC ケーブルで接続します 2. [File] プル ダウン メニューから [Load] >> [Setup ] を選択して HS_SQ_1.SET オシロスコープ設定ファイルを呼び出します 差動プローブには何も接続しないでください ゼロに近い差動測定値を捕捉するため オシロスコープの [sweep] ボタンを押してトリガを Auto に設定します 1103 電源上のオフセット アジャスタ (OFFSET) を使って DC レベルをゼロに調整します 調整が終わったら [sweep] ボタンを押してトリガを Trig d に戻します 3. 5V 電源を High Speed デバイス信号品質テスト フィクスチャの J8 に接続します 4. 緑の POWER LED (D1) が点灯し TEST LED (D2) は点灯していないことを確認します 10

11 5. High Speed デバイス信号品質テスト フィクスチャの [TEST PORT] を被試験ハブのアップストリーム側ポートに接続します テスト フィクスチャの [INIT PORT] をテスト ベッド コンピュータのポートに接続します ハブの電源を入れます 6. 差動プローブをテスト フィクスチャの J7 に接続します プローブ上の + 極性とフィクスチャ上の D+ を合わせてください 7. High Speed 電気テスト ベッド コンピュータ上で High-speed Electrical Test Tool ソフトウェアを呼び出します メイン メニューが表示され USB2.0 ホスト コントローラが表示されます High-speed Electrical Test Tool メイン メニュー 8. [Hub] を選択し [TEST] ボタンをクリックして [HS Electrical Test Tool Hub Test] メニューを起動します 被試験ハブの VID と USB アドレスが表示されます [High-speed Electrical Test Tool Hub Test] メニュー 9. [Hub Command] ドロップ ダウン メニューから [TEST_PACKET] を選択して [EXECUTE] をクリックします これにより被試験ハブがテスト パケットを連続して送信します 11

12 ハブ アップストリーム TEST_PACKET 10. テスト スイッチ (S1) を TEST の位置に合わせ 黄色の TEST LED が点灯しているか確認します 11. オシロスコープを使用して テスト パケットが被試験ポートから送信されていることを確認します 必要に応じてトリガ レベルを調整します トリガ レベルを調整してもトリガが安定しない場合は trigger holdoff を少し変更してみてください holdoff は [Setup] プル ダウン メニュー >> [Trigger ] >> [Conditioning ] ボタンを選択することで調整できます 12. [STOP] ボタンを使ってオシロスコープのデータ取得を一時停止します 13. オシロスコープで 2 つの縦カーソルを 1 つのテスト パケットに合わせます 一方は sync フィールドのすぐ ( 約 1 ビット時間 ) 前に もう一方は EOP (END OF PACKET) のすぐ後 ( 約 1 ビット時間 ) に合わせます 次の図を参照してください Position Cursors as shown. 4 bit times before the sync & 4 bit times after the eop. sync. eop. テスト パケット : アップストリーム側ポート 12

13 14. Infiniium 54846A の [Analyze] プル ダウン メニューから [USB Test] を選択して USB テストを呼び出します 15. USB テスト オプション グラフィカル ユーザ インタフェースで [USB Test] セクションの [Signal Integrity] を選択します High-speed Near End ([Tier] 設定は 6 のままにします ) [USB Test] オプション 16. [Save Results] の [Data File] の空欄に分かりやすいファイル名 ( 例えば TIDxxxxxxx USNE.tsv) を入力します 17. ディレクトリ パス ファイル名および選択したテストが正しいか確認します [USB test] オプションの一番下にある [Start Test] をクリックします 18. 結果は Internet Explorer に表示されます 信号アイ EOP 幅およびシグナリング レートのすべてが合格か確認します Internet Explorer に表示される結果は [Data Path] ( 例えば c:\scope\data) で指定されたディレクトリにある HTML レポートにも記録されます 13

14 High Speed SQ HTML レポート 19. テストの間に作成されたすべてのファイルを保存します 結果をフロッピー ディスクに保存するには フロッピーを Infiniium のフロッピー ドライブに差し込み Internet Explorer を終了した後に [Copy Results] をクリックします [Exit] ボタンをクリックして Infiniium の [USB test] オプションを終了します テスト結果を EL_2 EL_46 EL_6 および EL_7 に記録します 14

15 20. テスト フィクスチャのテスト スイッチ (S1) を Normal の位置に戻し TEST LED が点灯していないことを確認します 以後のテストの準備のためにハブの電源を入れ直します 4.5 High Speed ハブ信号品質 : ダウンストリーム側ポート (EL_2 EL_3 EL_6 EL_7) このセクションは 被試験ハブのダウンストリーム側ポートのみを対象としています 1. 5V 電源を High Speed ホスト信号品質テスト フィクスチャの J8 に接続します 2. テスト スイッチを TEST の位置に設定します 緑の POWER LED (D1) と黄色の TEST LED (D2) の両方が点灯しているか確認します 3. 差動プローブをテスト フィクスチャの J7 に接続します プローブ上の + 極性とフィクスチャ上の D+ を合わせてください 4. [File] プル ダウン メニューから [Load] >> [Setup ] を選択して HS_SQ_1.SET オシロスコープ設定を呼び出します 5. ハブのアップストリーム ポートを テスト ベッド コンピュータの High Speed ルート ポートに接続します 6. High Speed ホスト信号品質テスト フィクスチャの [TEST PORT] を被試験ハブのダウンストリーム側ポートに接続します ハブの電源を入れます 7. [Enumerate Bus] ボタンを 1 回クリックします 被試験ハブの VID と USB アドレスが表示されます 8. [Port Control] ドロップ ダウン メニューから [TEST_PACKET] を選択します テストしているハブ ポートのポート番号を入力して [EXECUTE] をクリックします これにより 被試験ハブがテスト パケットを連続して送信します ハブ ダウンストリーム TEST_PACKET 9. オシロスコープを使って テスト パケットが被試験ポートから送信されていることを確認します 必要に応じてトリガ レベルを調整します トリガ レベルを調整してもトリガが安定しない場合は trigger holdoff を少し変更してみてください holdoff は [Setup] プル ダウン メニュー >> [Trigger ] >> [Conditioning ] ボタンを選択することで調整できます 15

16 10. [STOP] ボタンを使ってオシロスコープのデータ取得を一時停止します 11. オシロスコープ上で 2 つの縦カーソルで 1 つのテスト パケットを囲みます 一方は sync フィールドの直前 もう一方は EOP の直後です 次の図を参照してください Position Cursors as shown. 4 bit times before the sync & 4 bit times after the eop. sync. eop. テスト パケット - ダウンストリーム側ポート 12. Infiniium 54846A の [Analyze] プル ダウン メニューから [USB Test] を選択して USB テストを呼び出します 13. USB テスト オプション グラフィカル ユーザ インタフェースで [USB Test] セクションの [Signal Integrity] を選択します High-speed Near End ([Tier] 設定は 6 のままにします ) 14. [Save Results] の [Data File] の空欄に分かりやすいファイル名 ( 例えば TIDxxxxxxx USNE.tsv) を入力します 15. ディレクトリ パス ファイル名および選択したテストが正しいか確認します [USB test] オプションの一番下にある [Start Test] をクリックします 16. 結果は Internet Explorer に表示されます 信号アイ EOP 幅およびシグナリング レートのすべてが合格か確認します Internet Explorer に表示される結果は [Data Path] ( 例えば c:\scope\data) で指定されたディレクトリにある HTML レポートにも記録されます テスト結果を EL_2 EL_3 EL_6 および EL_7 に記録します 16

17 17. テストの間に作成されたすべてのファイルを保存します 結果をフロッピー ディスクに保存するには フロッピーを Infiniium のフロッピー ドライブに差し込み Internet Explorer を終了した後に [Copy Results] をクリックします [Exit] ボタンをクリックして Infiniium の [USB test] オプションを終了します 18. テスト フィクスチャを テストしたダウンストリーム側ポートから取り外します テスト フィクスチャを テストする次のダウンストリーム側ポートに再度接続します 19. ステップ 6 からステップ 18 までを残りのすべてのポートで繰り返します 20. 以後のテストの準備のために被試験ハブの電源を入れ直します 注記 : 特定のポートは TEST_PACKET コマンドがハブに対して数回発行されると TEST_PACKET モードに入れなくなります 電源を入れ直して [Enumerate Bus] をクリックすると この問題はなくなります 4.6 ハブ ジッタ : ダウンストリーム側ポート (EL_47) このセクションは 被試験ハブのダウンストリーム側ポートのみを対象としています 注記 : このテストは USB-IF が提供している現在の USB 電気テスト解析スクリプト (USB Electrical Test Analysis Scripts) では実行できません USB 電気テスト解析スクリプトの新バージョンが間もなく入手可能になります 1. 5V 電源を High Speed ホスト信号品質テスト フィクスチャの J8 に接続します テスト フィクスチャのテスト スイッチを TEST の位置に設定します 緑の POWER LED (D1) と黄色の TEST LED (D2) の両方が点灯しているか確認します 2. 差動プローブをテスト フィクスチャの J7 に接続します プローブ上の + 極性とフィクスチャ上の D+ を合わせてください [File] プル ダウン メニューから [Load] >> [Setup ] を選択して HS_SQ_1.SET オシロスコープ設定を呼び出します 3. 10cm USB ケーブルを使用して アップストリーム側ポートをテスト ベッド コンピュータの既知の良好な高速ルート ポートに接続します [Enumerate Bus] ボタンを 1 回クリックします 被試験ハブの VID と USB アドレスが表示されます 4. High Speed ホスト信号品質テスト フィクスチャの [TEST PORT] を被試験ハブのダウンストリーム側ポートに接続します 注記 : 既知の良好な高速ポートは 信号品質アイが優れていて クロック ジッタが最小限でなければなりません アイ品質またはクロック ジッタの良くないホスト コントローラは 被試験ハブの結果に悪影響を及ぼします 5. [Port Control] ドロップ ダウン メニューから TEST_FORCE_ENABLE を選択します テストしているハブ ポートのポート番号を入力し [EXECUTE] を 1 回クリックして強制的に被試験ハブ ポートを有効にします 17

18 ハブ ダウンストリームポートを強制的に有効にする 6. [Hub Command] ドロップ ダウン メニューから [PARENT PORT TEST_PACKET] を選択して [EXECUTE] をクリックします これにより ハブが接続されている親ポートが連続してテスト パケットを出力します 被試験ハブ ポートによりこれらのテスト パケットが繰り返され 信号品質とジッタ テストの準備が完了します 親ポートを TEST_PACKET モードに設定する 7. オシロスコープを使用して テスト パケットが被試験ポートから送信されていることを確認します 必要に応じてトリガ レベルを調整します 8. [STOP] ボタンを使ってオシロスコープのデータ取得を一時停止します 9. オシロスコープ上で 2 つの縦カーソルで 1 つのテスト パケットを囲みます 一方は sync フィールドの直前 もう一方は EOP の直後です 次の図を参考として参照してください 18

19 Position Cursors as shown. 4 bit times before the sync & 4 bit times after the eop. sync. eop. テスト パケット - ダウンストリーム側リピータ ジッタ 10. Infiniium 54846A の [Analyze] プル ダウン メニューから [USB Test] を選択して USB テストを呼び出します 11. USB テスト オプション グラフィカル ユーザ インタフェースで [USB Test] セクションの [Signal Integrity] を選択します High-speed Near End ([Tier] 設定は 6 のままにします ) 12. [Save Results] の [Data File] の空欄に分かりやすいファイル名 ( 例えば TIDxxxxxxx USNE.tsv) を入力します 13. ディレクトリ パス ファイル名および選択したテストが正しいか確認します [USB test] オプションの一番下にある [Start Test] をクリックします 14. 結果は Internet Explorer に表示されます 信号アイ EOP 幅およびシグナリング レートのすべてが合格か確認します Internet Explorer に表示される結果は [Data Path] ( 例えば c:\scope\data) で指定されたディレクトリにある HTML レポートにも記録されます テスト結果を EL_47 に記録します 15. ステップ 4 からステップ 14 までを残りのすべてのポートで繰り返します 16. テストの間に作成されたすべてのファイルを保存します 結果をフロッピー ディスクに保存するには フロッピーを Infiniium のフロッピードライブに差し込み Internet Explorer を終了した後に [Copy Results] をクリックします [Exit] ボタンをクリックして Infiniium の [USB test] オプションを終了します 以後のテストの準備のために被試験ハブの電源を入れ直します 19

20 4.7 ハブディスコネクト検出 (EL_36 EL_37) このセクションのディスコネクト検出テストは ハブのダウンストリーム側ポートのみが対象です このセクションでは ディスコネクトテスト フィクスチャを使用し 切断状態をシミュレートすることで被試験ポートの切断しきい値を確認します テスト フィクスチャ上のテスト スイッチが Test の位置にある場合 被試験ポートには <525mV のしきい値が加わります この場合 ポートが切断を検出してはなりません テスト スイッチが Normal の位置にある場合 被試験ポートには >625mV のしきい値が加わります この場合 ポートが切断を検出しなければなりません 1. 5V 電源をディスコネクトテスト フィクスチャ (J8) に接続します 2. 差動プローブをテスト フィクスチャの J7 に接続します プローブの + チップとフィクスチャ上の D+ を合わせてください [File] プル ダウン メニューから [Load] >> [Setup ] を選択して DISCDETE.SET オシロスコープ設定ファイルを呼び出します 3. テスト スイッチを TEST の位置に設定します 緑の POWER LED (D1) が点灯し 黄色の TEST LED (D2) も点灯していることを確認します これにより 切断されてはならないしきい値をエミュレートするようにテスト フィクスチャが設定されます 4. 被試験ハブの電源を入れ直します [Enumerate Bus] を 1 回クリックして ハブが正常にエミュレートを行っているかどうかを確認します テスト フィクスチャの [TEST PORT] を被試験ポートに接続します [HS Electrical Test Tool Hub Test] メニューで [Port Control] ウィンドウから [TEST_FORCE_ENABLE] を選択します ポート番号を入力し [EXECUTE] を 1 回クリックして Status Window で動作が正常か確認します ハブ ダウンストリームポートを強制的に有効にする 5. [Disconnect Notify] チェック ボックスをクリックして Status Window で切断ステータスをモニタします 20

21 Disconnect Notify を有効にする 6. オシロスコープを使用して SOF パケットが被試験ポートから送信されていることを確認します 差動振幅が ±525mV 未満でなければなりません Status Window に Disconnect Event Detected と表示されていないことを確認します 合否結果を EL_37 に記録します 7. ディスコネクトテスト フィクスチャのテスト スイッチを Normal の位置に設定し 黄色の TEST LED (D2) が点灯していないことを確認します 8. オシロスコープのモニタを使用して SOP の差動振幅をモニタします 差動振幅が ±625mV を超えていなければなりません Status Window に今度は Disconnect Event Detected と表示されているか確認します 合否結果を EL_36 に記録します 21

22 切断イベントの検出 9. フィクスチャのテスト スイッチを TEST の位置に戻し 黄色の TEST LED (D2) が点灯していることを確認します 10. ステップ 4 からステップ 9 までを残りのすべてのポートで繰り返します 11. ディスコネクトテスト フィクスチャを被試験ポートから取り外した後 次に進みます 4.8 ハブ パケットパケット パラメータパラメータ : アップストリーム側ポート (EL_21 EL_22 EL_25) 1. デバイス信号品質テスト フィクスチャの [INIT PORT] をテスト ベッド コンピュータの High Speed 対応ポートに接続します 2. デバイス信号品質テスト フィクスチャ [TEST PORT] を被試験ハブのアップストリーム側ポートの B レセプタクルに接続します ハブの電源を入れます 22

23 注記 : High Speedデバイス信号品質テスト フィクスチャを使用することで デバイスにより生成されたパケットでトリガすることが可能になります これは 差動プローブがデバイス トランスミッタの近くに配置され その結果デバイス パケットの振幅がより大きくなるからです 3. チャネル 1 の差動プローブを デバイス コネクタの近くにあるフィクスチャの J7 に取り付けます プローブ上の + 極性とフィクスチャ上の D+ を合わせてください 4. [File] プル ダウン メニューから [Load] >> [Setup ] を選択して PACKPARA.SET オシロスコープ設定ファイルを呼び出します 5. [Return to Main button] をクリックして [HS Electrical Test Tool Hub Test] メニューを終了します 6. [HS Electrical Test Tool] メイン メニューから [Device] を選択し [TEST] をクリックして [Device Test] メニューを起動します [HS Electrical Test Tool] メイン メニュー 7. 図のように [HS Electrical Test Tool Device Test] メニューが表示されます [HS Electrical Test Tool Device Test ] メニュー 8. オシロスコープを使用して SOF (Start Of Frame) パケットが被試験ポート上で送信されていることを確認します トリガ レベルを 400mV のいくらか下へ下げる必要がある場合があります 9. ここで オシロスコープのトリガ レベルを SOF ( またはホスト トラヒック ) でトリガしなくなるところまでゆっくりと上げます 通常これは ハブとフィクスチャで使用されているケーブルの長さによりますが 400mV 前後です オシロスコープが実行 ( RUN ) されており Trig d モードであることを確認します オシロスコープが他のモードにある場合には フロント パネルの [Sweep] ボタンを使ってモードを調整します 23

24 10. [HS Electrical Test Tool Device Test] で 被試験ハブが選択 ( 強調表示 ) されていることを確認します [Device Command] ウィンドウから [SINGLE STEP SET FEATURE] を選択します ハブのデバイス ダウンストリームでのシングル ステップ設定機能 11. [EXECUTE] を 1 回クリックします オシロスコープ キャプチャは次のようになります オシロスコープの [STOP] を押してそれ以上トリガしないように一時停止します オシロスコープがデバイス トラヒックでトリガしない場合は トリガ レベルの設定が高すぎます トリガ レベルを少し下げ ( ただし ホスト SOF でトリガするほど低くなく ) ステップ 8 からを繰り返します ホスト パケットおよびハブ パケット 12. オシロスコープの [Horizontal] ノブまたはズーム ボックス機能を使用して オシロスコープ上の ( デバイスから ) 3 番目のパケットの sync フィールドの長さ ( ビット数 ) を測定し それが EL_21 の記述のように 32 ビットであることを確認します ( ズーム ボックス機能を使用するには オシロスコープのマウスの左ボタンを押して対象のパケットの周りでドラッグして ズーム ボックス を描き このボックス内でクリックしてズーム インします ) 基準波形については下の図を参照してください Sync フィールドは High Speed アイドル遷移から ( 最初のゼロによる ) 立ち下がりエッジにかけて始まることに注意してください 最初に 1 が 2 つ連続するまで立ち上がりエッジと立ち下がりエッジの両方を数えます これには最初の 1 を含めます 数値を EL_21 に記録します 24

25 Sync フィールド幅 ( アップストリーム パケット ) 13. オシロスコープ上の 3 番目のパケットの EOP 長 ( ビット数 ) を測定し これが EL_25 の記述のように 8 ビットであることを確認します カーソルを使用して EOP パルス幅を測定して 2.08ns/ ビット (480Mbps) を基にしてビット数を求めることを推奨します 結果を EL_25 に記録します 注記 : 差動測定では EOP は立ち下がりパルスの場合と立ち上がりパルスの場合があります 下の図は立ち下がりパルスの場合です EOP 幅 ( アップストリーム パケット ) 14. オシロスコープ上に表示された ( ホストから ) 2 番目のパケットと ( ホストに応答するハブから ) 3 番目のパケット間のギャップを オシロスコープのマーカ機能を使用して測定します マーカには [Measure] プル ダウン メニューから またはディスプレイのすぐ下にある [Marker] キーを押すことでアクセスできます 2 番目はホストパケットで 3 番目 ( 振幅がより高い ) はハブの応答です 測定した時間を 2.08ns で割ってビット数を計算します 必要条件は 計算した値が 8 ビットから 192 ビットの間でなければならないということです (EL_22) 計算したビット数を EL_22 に記録します 次の数ステップで パケット間ギャップのサンプルをもう 1 つ測定します 25

26 パケット間ギャップ ( 受信後の送信 ) 15. オシロスコープがアーミングされているか確認します [HS Electrical Test Tool - Device Test] メニューで [Step] ボタンを 1 回クリックします これは 2 つのステップがある Single Step Set Feature コマンドの 2 番目のステップです SINGLE STEP SET FEATURE の [Step] ボタン 16. キャプチャされたオシロスコープの取得内容は次のようになります オシロスコープの [STOP] を押してそれ以上トリガしないように一時停止します 26

27 ホスト パケットに続くハブ パケット 17. オシロスコープ上に表示された ( ホストから ) 1 番目のパケットと ( ホストに応答するハブから ) 2 番目のパケット間のギャップがオシロスコープ上に表示されます 1 番目 ( 振幅がより低い ) はホストからのもので 2 番目 ( 振幅がより高い ) はハブの応答です 測定した時間を 2.08ns で割ってビット数を計算します 必要条件は 計算した値が 8 ビットから 192 ビットの間でなければならないということです (EL_22) 計算したビット数を EL_22 に記録します 18. [Return to Main button] ボタンをクリックして [HS Electrical Test Tool Device Test] メニューを終了します 19. [HS Electrical Test Tool] メインメニューから [Hub] を選択し [TEST] をクリックして [Hub Test] メニューを起動します 4.9 ハブ レシーバ感度 : アップストリーム側ポート (EL_16 EL_17 EL_18) このセクションでは 被試験ハブのアップストリーム側ポートでレシーバの感度をテストします Agilent 81130A パルス / パターン ジェネレータは ハブ ポートからデバイス アドレス 1 への IN コマンドをエミュレートします 1. 5V 電源をデバイス レシーバ テスト フィクスチャ (J8) に接続し 緑の POWER LED (D1) が点灯しているか確認します テスト スイッチは Normal の位置のままにします 黄色の LED (D2) のが点灯していないはずです 2. テスト フィクスチャの [INIT PORT] をテスト ベッド コンピュータのポートに接続します フィクスチャの [TEST PORT] を被試験ハブのアップストリーム側ポートに接続します ハブの電源を入れます [Enumerate Bus] をクリックして ハブが適切に表示されるか確認します 3. それぞれに 6dB アッテネータが挿入された SMA ケーブルが 2 セット必要です 6dB アッテネータを Agilent 81130A パルス / パターン ジェネレータの OUTPUT1 および OUTPUT2 に接続します OUTPUT 1 をデバイス レシーバ感度テストフィクスチャの SMA2 へ OUTPUT 2 を SMA1 に SMA ケーブルを使用して接続します 27

28 4. 差動プローブをテスト フィクスチャの J7 に接続します [File] プル ダウン メニューから [Load] >> [Setup ] を選択して RCVRSENS.SET オシロスコープ設定ファイルを呼び出します A 上で [MEMCARD] ソフトキーを選択します メニューに [MEMCARD] がない場合は [MEMCARD] が表示されるまで [MORE] キーを押します メモリの内容が画面上に表示されます ( 設定ファイルの作成については 付録 B を参照してください ) カーソルと回転ノブを使用して MIN_ADD1.ST0 設定ファイルを選択します カーソルを [Perform Operation] まで移動し ノブを回して [Recall] を選択します 次に [ENTER] キーを押してロードします これにより 12 ビット SYNC フィールドの ( 適合した振幅の ) IN パケットが生成されます 6. [HS Electrical Test Tool Hub Test] メニューで [Hub Command] ドロップ ダウン メニューから [TEST_SE0_NAK] を選択します [EXECUTE] を 1 回クリックしてハブを TEST_SE0_NAK テスト モードにします TEST_SE0_NAK ( ハブ アップストリーム ポート ) 7. テスト フィクスチャのテスト スイッチ (S1) を TEST の位置にします これにより ホスト コントローラに代わってデータ ジェネレータに切り替わります データ ジェネレータがホスト コントローラからの IN パケットをエミュレートします 8. データ ジェネレータからのすべてのパケットに対して被試験ポートから NAK が返されるか確認します 合否を EL_18 に記録します 9. データ ジェネレータ上で [MEMCARD] ソフトキーを選択します メニューに [MEMCARD] がない場合は [MEMCARD] が表示されるまで [MORE] キーを押します メモリの内容が画面上に表示されます ( 設定ファイルの作成については 付録 B を参照してください ) カーソルと回転ノブを使用して IN_ADD1.ST0 設定ファイルを選択します カーソルを [Perform Operation] まで移動し ノブを回して [Recall] を選択します 次に [ENTER] キーを押してこれをロードします 10. すべてのパケットに対して NAK が返されると同時に データ ジェネレータからのシグナリングがおおよそ 400 mv の公称しきい値であるか確認します オシロスコープは次の図のようになります 28

29 Data generator Device packet response データ ジェネレータからの IN に対する NAK によるレシーバの応答 11. 各チャネルの出力レベルを次のように調整します 12. [LEVELS] ソフトキーを選択します メニューに [LEVELS] がない場合は [LEVELS] が表示されるまで [MORE] キーを押します 次にカーソルを [High] 電圧値の数値まで移動します 回転ノブまたは数字キーを使って オシロスコープ上で実際のレベルをモニタしながら出力レベルを調整します カーソル矢印ボタンを使って変更するチャネルを選択します 13. データ ジェネレータ パケットの振幅を ( アッテネータの前のジェネレータで ) デバイスからの NAK 応答をオシロスコープでモニタしながら 20mV ステップで減少させます データ ジェネレータの表示値が示す OUTPUT1 と OUTPUT2 が一致するように 両チャネルを調整する必要があります NAK パケットが断続的になり始めるまで振幅を減少させます 次に NAK パケットが断続的にならないように振幅を増加させます これが スケルチ前の最小レシーバ感度レベルのすぐ上となります 14. 次の方法を用いてデータからパケットのゼロ - 正ピークとゼロ - 負ピークを測定します 最初に オシロスコープのマウスを使い 左 ボタンを押してマウスをドラッグすることでズーム ボックスをデータ ジェネレータ パケットの周囲に描きます ズーム ボックス 内でクリックして波形にズーム インします ( 下の ズーム ボックス の図を参照 ) パケットが測定のために適切なサイズになるまでこのステップを繰り返します ( 下の パケット振幅の測定 の図を参照 ) 15. オシロスコープのディスプレイの下にある [Marker A] を押してマーカをオンにします オシロスコープのディスプレイの一番下にある マーカ セクションで 右 マウス ボタンをクリックして Markers Manual Placement を選択します [By] を正のピークにドラッグし [Ay] を負のピークにドラッグします オーバシュートにより表示値が大きくなることを避けるために より幅広いパルスの平坦部分でピークを読み取る必要があります [Ay] 値と [By] 値を読み取り 測定値を EL_17 に記録します ( 下のパケット振幅の測定の図を参照 ) ±150mV を超えるデータ ジェネレータ パケットに対してレシーバが NAK を返し続ける限り テストに合格したと見なされます 合否を EL_17 に記録します 29

30 ズーム ボックス パケット振幅の測定 16. 波形が表示されていないメイン オシロスコープ画面で 右 マウス ボタンをクリックします メニューから ステップ 9 の画面ショットが表示されるまで Undo Zoom を選択します ここで データ ジェネレータからのパケットの振幅を小さいステップでさらに減少させます レシーバがちょうど NAK で応答しなくなるまで OUTPUT1 と OUTPUT2 の間のバランスを維持します これがレシーバのスケルチ レベルです 30

31 17. ステップ 15 とステップ 16 を用いて データ ジェネレータからのパケットのゼロ - 正ピークとゼロ - 負ピークを測定します 合否を EL_16 に記録します レシーバが ±100mV 未満のデータ ジェネレータ パケットに NAK 応答しない限り テストに合格したと見なされます 合否を EL_16 に記録します パケット振幅の測定 18. 以後のテストの準備のためにハブの電源を入れ直します 注記 : 特定のデバイスでは 過剰な反射成分のためデータ ジェネレータからの In パケットの正確なゼロ- ピーク測定を行うことが難しい場合があります また ケーブルが固定されているデバイスでは テスト フィクスチャで測定した In パケットのゼロ-ピーク振幅が デバイスレシーバにおける振幅よりもかなり高くなる場合があります このような状態では PCB 上のデバイス レシーバ ピンに近いところで測定することを推奨します 4.10 ハブ リピータリピータ テスト : ダウンストリーム側ポート (EL_42 EL_43 EL_44 EL_45 EL_48) このセクションでは 差動プローブが 2 セット必要で 一方はアップストリーム側ポートでのパケットのモニタ用で もう一方はダウンストリーム側ポートでのパケットのモニタ用です 1 つ目の差動プローブはオシロスコープのチャネル 1 で必要です 2 つ目の差動プローブはチャネル 3 で必要です ホスト信号品質フィクスチャとデバイス信号品質フィクスチャが必要です 注記 : ほとんどのハブに複数のダウンストリーム ポートがありますが テスト時間を省略するために 1 つのポートをテストすることだけでかまいません 1. ハブのアップストリーム側ポートのホスト コントローラ ポートの間にデバイス信号品質フィクスチャを接続します チャネル 1 の差動プローブをフィクスチャの J7 に接続します プローブ上の + 極性とフィクスチャ上の D+ を合わせてください 2. ハブの被試験ダウンストリーム ポートと既知の良好な High Speed デバイスの間にホスト信号品質テスト フィクスチャに接続します チャネル 3 の差動プローブをフィクスチャの J7 に接続します プローブ上の + 極性とフィクスチャ上の D+ を合わせてください 既知の良好な High Speed デバイスをこのテスト フィクスチャの [INIT PORT] に接続します ハブと既知の良好なデバイスの電源を入れます 31

32 3. [Enumerate Bus] ボタンを 1 回クリックします 被試験ハブの VID と USB アドレスが表示されます 同様に 既知の良好なデバイスの VID とそのデバイスが接続されているハブ ポートも表示されます 表示されたハブおよび DS デバイス 4. [File] プル ダウン メニューから [Load] >> [Setup ] を選択して REPEATER.SET オシロスコープ設定ファイルを呼び出します 5. オシロスコープを使って SOF (Start Of Frame) パケットがダウンストリーム側ポート上 (Channel 3) で送信されていることを確認します SOF パケットを 1 つ捕捉し [STOP] ボタンを使用して取得を一時停止します キャプチャされたオシロスコープの取得内容は次のようになります 32

33 パケット遅延 ( ダウンストリーム側リピータ ) 6. 図のカーソルの位置で示されたハブのアップストリーム側ポート ( チャネル 1) のパケットの始まりとハブの被試験ダウンストリーム ポート ( チャネル 3) のパケットの始まりの間の遅延を測定します これがハブを経由する SOF パケットの遅延です これが 79ns (36 ビット +4ns) 以下か確認します 結果を EL_48 に記録します 7. チャネル 3 の sync フィールドのビット数を数えます 個々の立ち下がりまたは立ち上がりエッジを 1 ビット (NRZI フォーマットの連続したゼロ ) として数え 最初に同じ間隔で遷移が発生しないところ (NRZI フォーマットの連続したゼロに続く最初の 1) までを数えます ( 最初の 1 を含む ) 例として次の図の下のトレース (Ch 3) を参照してください この場合は ダウンストリーム SOF (Ch 3) の sync フィールドのみが 28 ビットで これはアップストリーム SOF (Ch 1) の全体の 32 ビットから 4 ビットが切り捨てられるためです ハブによって切り捨てられた sync ビット数を確認します 結果を EL_42 に記録します Sync ビット ( ダウンストリーム側リピータ ) 33

34 8. チャネル 1 と比較して ( ステップ 7 で確認した ) 連続したゼロが切り捨てられている以外に チャネル 3 の sync フィールドが破損していないか確認します 結果を EL_43 に記録します 9. チャネル 1 のパケットの EOP 幅の時間を測定します チャネル 3 のパケットの EOP 幅の時間を測定します 測定値を 2.08ns で割って 個々のビット数を求めます チャネル 3 のビット数が チャネル 1 のビット数 (40 ビットのはずです ) と比べて 4 ビット (EOP ドリブル ) 長くなっていないことを確認します 結果を EL_44 に記録します 10. チャネル 3 の EOP が破損していないことも確認します 結果を EL_45 に記録します 4.11 ハブ リピータリピータ テスト : アップストリーム側トリーム側ポート (EL_42 EL_43 EL_44 EL_45) このセクションでも 差動プローブが 2 セット必要です 一方はアップストリーム側ポートでのパケットのモニタ用で もう一方はダウンストリーム側ポートでのパケットのモニタ用です ここでは デバイスからのパケットでトリガできるようにするためには チャネル 3 の差動プローブをハブポートよりデバイスの近くに置く必要があります そのためには デバイスの近くでプロービングができるフィクスチャを使用します このセクションの 2 つのテスト フィクスチャは セクション 4.10 での接続に対して逆になるため注意してください 1. ハブのアップストリーム側ポートのデバイス コントローラ ポートの間にデバイス信号品質フィクスチャを接続します チャネル 1 の差動プローブをフィクスチャの J7 に接続します プローブ上の + 極性とフィクスチャ上の D+ を合わせてください 2. ハブの被試験ダウンストリーム ポートと既知の良好な高速デバイスの間にデバイス信号品質テスト フィクスチャを接続します チャネル 3 の差動プローブをフィクスチャの J7 に接続します プローブ上の + 極性とフィクスチャ上の D+ を合わせてください 既知の良好な高速デバイスをこのテスト フィクスチャの [TEST PORT] に接続します ハブと既知の良好なデバイスの電源を入れます 3. [Enumerate Bus] ボタンを 1 回クリックします 被試験ハブの VID と USB アドレスが表示されます 同様に 既知の良好なデバイスの VID とそのデバイスが接続されているハブ ポートも表示されます 4. [File] プル ダウン メニューから [Load] >> [Setup ] を選択して HUBUP.SET オシロスコープ設定ファイルを呼び出します 5. オシロスコープを使って SOF (Start Of Frame) パケットがダウンストリーム側ポート上 ( チャネル 3) で送信されていることを確認します トリガ レベルを 400mV のいくらか下へ下げる必要のある場合があります 6. ここで オシロスコープのトリガ レベルを ちょうど SOF ( またはホスト トラヒック ) でトリガしなくなるところまでゆっくりと上げます 通常これは ハブとフィクスチャで使用されているケーブルの長さによりますが 400mV 前後です オシロスコープが実行 ( RUN ) されており Trig d モードであることを確認します オシロスコープが他のモードにある場合には フロント パネルの [Sweep] ボタンを使ってモードを調整します 34

35 7. [HS Electrical Test Tool Hub Test] メニューで [Downstream Device Control] ドロップ ダウン メニューから [SINGLE STEP SET FEATURE] を選択して [EXECUTE] を 1 回クリックします SINGLE STEP SET FEATURE ( ダウンストリーム デバイス ) 8. 捕捉されたオシロスコープのサンプルは下の図のようになります オシロスコープがハブ トラヒックでトリガしない場合は トリガ レベルの設定が高すぎます トリガ レベルを少し下げ ( ただし ホスト SOF でトリガするほど低くなく ) ステップ 5 からを繰り返します オシロスコープ トリガ上の [STOP] を押します アップストリームへの繰り返しパケット ( 上のトレース ) 9. チャネル 1 の 3 番目のパケット上の sync フィールドのビット数を数えます 個々の立ち下がりまたは立ち上がりエッジを 1 ビット (NRZI フォーマットの連続した 0) として数え 最初に同じ間隔で遷移が発生しないところ (NRZI フォーマットの連続したゼロに続く最初の 1) までを数えます ( 最初の 1 を含む ) 例として sync フィールドのビット数が 28 の 次の図の上のトレース (Ch 1) を参照してください sync フィールドの切り捨てが 4 ビット以下であることを確認します ( チャネル 1 の sync ビット数は チャネル 3 の sync ビット数以下でなければなりません ) 結果を EL_42 に記録します 35

36 Sync ビット切り捨て (4 ビット以下 ) 10. チャネル 3 と比較して ( ステップ 9 で確認した ) 連続したゼロが切り捨てられている以外に チャネル 1 の sync フィールドが破損していないか確認します 結果を EL_43 に記録します 11. チャネル 1 のパケットの EOP 幅の時間を測定します チャネル 3 のパケットの EOP 幅の時間を測定します 次の図を参考として参照してください 測定値を 2.08ns で割って 個々のビット数を求めます チャネル 1 のビット数がチャネル 3 (8 ビットのはずです ) のビット数と比べて 4 ビット少なくなっていないことを確認します 結果を EL_44 に記録します 36

37 EOP 幅 ( 追加されたビット数は 4 以下 ) 12. チャネル 3 の EOP が破損していないことも確認します 結果を EL_45 に記録します 13. 両方の差動プローブを取り外します ハブのダウンストリーム側ポートの接続も外します 4.12 ハブ CHIRP タイミング : アップストリーム側ポート (EL_28 EL_29 EL_31) このテストは 被試験ハブのアップストリーム側ポートのみを対象としています 1. High Speed デバイス信号品質テスト フィクスチャの [INIT PORT] を HS ホスト コントローラの USB2.0 対応ポートに接続します 2. BNC ケーブルをチャネル 1 とチャネル 3 に配置します 1161A ミニチュア パッシブ プローブをチャネル 1 別のプローブをチャネル 3 とします これらのプローブをテスト フィクスチャの J7 に接続します Ch1 を D- に Ch3 を D+ に接続します これらのプローブのグランドを J10 と J11 に接続します 3. [File] プル ダウン メニューから [Load] >> [Setup ] を選択して CHRP1&3.SET オシロスコープ設定を呼び出します 4. フィクスチャの [TEST PORT] をハブのアップストリーム側ポートに接続します ハブの電源を入れます [Enumerate Bus] をクリックして 下の図のように CHIRP ハンドシェークを捕捉します 37

38 Device Chirp Latency Device Chirp K Device Turn on HS Termination ハブ チャープ ( 速度検出 ) 5. アップストリーム ホスト ポートからのリセットに応答するハブの CHIRP-K レイテンシ (T WTRSTFS ) を測定します このタイミングが 2.5μs T WTRSTFS 3.0ms かどうか確認します 結果を EL_28 に記録します ハブ チャープ -K レイテンシ 6. ハブの CHIRP-K 時間を測定します このアサーション時間が 1.0ms (T UCH ) CHIRP-K の時間 7.0ms (T UCHEND ) かどうかを確認します 結果を EL_29 に記録します 7. Chirp-K と Chirp-J の交互シーケンスのホスト アサーションの後 ハブがその高速ターミネーションをオンにすることで応答しなくてはなりません これは Chirp-K と Chirp-J が公称 800mV から公称 400mV への交互シーケンスの振幅の降下から明らかです Chirp K-J-K-J-K-J (Chirp-K-J の 3 つのペア ) の最後の J の始めから ハブが高速ターミネーションをオンするまでの時間を測定します これが 500μs 以下か確認します 結果を EL_31 に記録します 38

39 8. ハブはその高速ターミネーションをオンにすることの他に Chirp-K と Chirp-J の交互シーケンスのホストのアサーションに応答して D+ プルアップ抵抗も切り離さなければなりません これを示すのは ホストからの Chirp-K の間の D+ レベルのわずかな降下です Chirp K-J-K-J-K-J (Chirp-K-J の 3 つのペア ) の最後の J の始めから D+ プルアップ抵抗が切り離されるまでの時間を測定します これが 500μs 以下か確認します 結果を EL_31 に記録します 4.13 ハブサスペンド / リジューム / リセット タイミング : アップストリーム側ポート (EL_27 EL_28 EL_38 EL_39 EL_40) 1. High Speed デバイス信号品質テスト フィクスチャの [INIT PORT] をテスト ベッド コンピュータの High Speed モード対応ポートに接続します 2. チャネル 1 およびチャネル 3 の 1161A ミニチュア パッシブ プローブをテスト フィクスチャの J7 に接続します Ch1 を D- に Ch3 を D+ に接続します これらのプローブのグランドを J10 と J11 に接続します 3. フィクスチャの [TEST PORT] をハブのアップストリーム側ポートに接続します ハブの電源を入れます [Enumerate Bus] ボタンを 1 回クリックします 被試験ハブの VID と USB アドレスが表示されます 4. [File] プル ダウン メニューから [Load] >> [Setup ] を選択して SUSP1&3.SET オシロスコープ設定を呼び出します 5. [HS Electrical Test Tool Hub Test] メニューで [Hub Command] ドロップ ダウン メニューから [SUSPEND] を選択します [EXECUTE] を 1 回クリックしてハブを中断します キャプチャされたサスペンドの遷移は 下の図のようになります 39

40 ホストからのサスペンドに対する応答 ( アップストリーム側ポート ) 6. ハブが発行した最後の SOF パケットの終わりから ハブがそのフル スピード プルアップ抵抗を D+ に接続した時点までの時間間隔を測定します これは 最後の SOF パケットの終わりと フルスピード J 状態への立ち上がりエッジ遷移の間の時間です この時間が 3.000ms から 3.125ms (T TWTHS ) の間にあるか確認します 結果を EL_38 に記録します 7. オシロスコープがアーミングされているか確認します オシロスコープの [sweep] ボタンを押してデバイスがまだサスペンド状態にあることを確認することで トリガを Auto に設定します D+ は公称値で 3.3V でなければなりません D- は 0.7V 未満でなければなりません 合否を EL_39 に記録します 被試験ハブのリジューム応答を確認するステップは次のとおりです 8. [File] プル ダウン メニューから [Load] >> [Setup ] を選択して RESUM1&3.SET オシロスコープ設定を呼び出します オシロスコープがアーミングされているか確認します 9. [HS Electrical Test Tool Hub Test] メニューで [Hub Command] ドロップ ダウン メニューから [RESUME] を選択します [EXECUTE] を 1 回クリックしてハブをサスペンドからリジュームします 捕捉されたリジュームの遷移は 下の図のようになります 40

41 ハブの High Speed へのリジューム 10. ハブが High Speed モードへリジュームします これはホスト コントローラによりドライブされる K 状態に続いて High Speed SOF パケット ( 公称振幅は 400mV) があることから分かります 公称振幅が 400mV の SOF があることが ハブが High Speed 動作を再開したことを示します 合否を EL_40 に記録します ハブが High Speed での動作からリセットされた後に High Speed 動作を再開したことを確認するステップは次のとおりです 11. [File] プル ダウン メニューから [Load] >> [Setup ] を選択して RSTFHS1&3.SET オシロスコープ設定を呼び出します 12. [HS Electrical Test Tool Hub Test] メニューで [Hub Command] ドロップ ダウン メニューから [RESET] を選択します [EXECUTE] を 1 回クリックして High Speed で動作しているハブをリセットします 捕捉されたリジュームの遷移は 下の図のようになります 41

42 Device Chirp K High Speed からのリセットに応答するハブの Chirp-K 13. リセットに続いてデバイスがチャープ ハンドシェークを送信します リセット前の最後の SOF の始めと デバイス Chirp-K の始めの間の時間を測定します これが 3.1ms と 6ms の間か確認します 合否を EL_27 に記録します サスペンドからリセットされた後のハブのチャープ応答を確認するステップは次のとおりです 14. [File] プル ダウン メニューから [Load] >> [Setup ] を選択して RSTRSUSP1&3.SET オシロスコープ設定を呼び出します 15. [HS Electrical Test Tool Hub Test] メニューで [Hub Command] ドロップ ダウン メニューから [SUSPEND] を選択します [EXECUTE] を 1 回クリックしてデバイスをサスペンドにします 42

43 ハブサスペンド 16. オシロスコープがアーミングされているか確認します オシロスコープの [sweep] ボタンを押してデバイスがまだサスペンド状態にあることを確認することで トリガを Auto に設定します D+ は公称値で 3.3V でなければなりません D- は 0.7V 未満でなければなりません 終わったら [sweep] ボタンを押してトリガを Trig d に戻します 17. オシロスコープがアーミングされているか確認します [HS Electrical Test Tool Hub Test] メニューで [Hub Command] ドロップ ダウン メニューから [RESET] を選択します [EXECUTE] を 1 回クリックしてデバイスをサスペンドからリセットします キャプチャされたサスペンドからリセットへの遷移は 下の図のようになります ハブのサスペンドからのリセット 43

44 デバイスのサスペンドからのリセット 18. ハブは Chirp-K によりリセットに応答します D+ の立ち下がりエッジとデバイス Chirp-K の始めの間の時間を測定します これが 2.5μs と 3ms の間か確認します 合否を EL_28 に記録します 4.14 ハブ テスト J/K SE0_NAK: アップストリーム側ポート (EL_8 EL_9) 1. 5V 電源を High Speed デバイス信号品質テスト フィクスチャの J8 に接続します 2. 緑の POWER LED (D1) が点灯し 黄色のテスト LED (D2) はオフであることを確認します 3. High Speed デバイス信号品質テスト フィクスチャの [TEST PORT] を被試験ハブのアップストリーム側ポートに接続します テスト フィクスチャの [INIT PORT] をテスト ベッド コンピュータのポートに接続します ハブの電源を入れます [Enumerate Bus] ボタンを 1 回クリックします ハブが [HS Electrical Test Tool Hub Test] メニューに表示されているか確認します 4. [HS Electrical Test Tool Hub Test] メニューで [Hub Command] ドロップ ダウン メニューから [TEST_J] を選択します [EXECUTE] を 1 回クリックしてハブを TEST_J テスト モードにします 44

45 5. テスト フィクスチャを TEST の位置に切り替えます DVM を使用して グランド ( ピン J10 および J11 がグランド ピンです ) を基準とした D+ ラインの DC 電圧を J7 で測定します セクション EL_8 に記録します 6. DVM を使用して グランドを基準とした D- ラインの J7 の DC 電圧を測定します セクション EL_8 に記録します テスト スイッチを NORMAL の位置に戻します 7. ハブの電源を入れ直します これにより ハブが通常動作に戻ります 8. [HS Electrical Test Tool Hub Test] メニューで [Hub Command] ドロップ ダウン メニューから [TEST_K] を選択します [EXECUTE] を 1 回クリックしてハブを TEST_K テスト モードにします 9. テスト フィクスチャを TEST の位置に切り替えます DVM を使用して グランド ( ピン J10 および J11 がグランド ピンです ) を基準とした D+ ラインの DC 電圧を測定します セクション EL_8 に記録します 10. DVM を使用して グランドを基準とした D- ラインの J7 の DC 電圧を測定します セクション EL_8 に記録します テスト スイッチを NORMAL の位置に戻します 11. ハブの電源を入れ直します これにより ハブが通常動作に戻ります 12. [HS Electrical Test Tool Hub Test] メニューで [Enumerate Bus] を 1 回クリックします [Hub Command] ドロップ ダウン メニューから TEST_SE0_NAK を選択します [EXECUTE] を 1 回クリックしてハブを TEST_SE0_NAK テスト モードにします 13. テスト フィクスチャを TEST の位置に切り替えます DVM を使用して グランド ( ピン J10 および J11 がグランド ピンです ) を基準とした D+ ラインの DC 電圧を測定します セクション EL_9 に記録します 14. DVM を使用して グランド ( ピン J10 および J11 がグランド ピンです ) を基準とした D- ラインの DC 電圧を J7 で測定します セクション EL_9 に記録します テスト スイッチを NORMAL の位置に戻します 15. 以後のテスト用にハブを準備するためにハブの電源を入れ直します 45

46 4.15 ハブ テスト J/K SE0_NAK: ダウンストリーム側ポート (EL_8 EL_9) 1. 5V 電源をホスト信号品質テスト フィクスチャ (J8) に接続し 緑の POWER LED (D1) が点灯しているか確認します テスト スイッチ (S1) を TEST の位置にします 黄色の TEST LED が点灯しているか確認します 2. テスト フィクスチャを被試験ダウンストリーム側ポートに取り付けます ハブの電源を入れます 3. [HS Electrical Test Tool Hub Test] メニューで [Enumerate Bus] を 1 回クリックします [Port Command] ドロップ ダウン メニューから TEST_J を選択します ポート番号を入力し [EXECUTE] を 1 回クリックして被試験ポートを TEST_J テスト モードにします 4. DVM を使用して グランド ( ピン J10 および J11 がグランド ピンです ) を基準とした D+ ラインの DC 電圧を J7 で測定します セクション EL_8 に記録します 5. DVM を使用して グランドを基準とした D- ラインの J7 の DC 電圧を測定します セクション EL_8 に記録します 6. [HS Electrical Test Tool Hub Test] メニューで [Enumerate Bus] を 1 回クリックします [Port Command] ドロップ ダウン メニューから TEST_K を選択します ポート番号を入力し [EXECUTE] を 1 回クリックして被試験ポートを TEST_K テスト モードにします 7. DVM を使用して グランド ( ピン J10 および J11 がグランド ピンです ) を基準とした D+ ラインの DC 電圧を J7 で測定します セクション EL_8 に記録します 8. DVM を使用して グランドを基準とした D- ラインの J7 の DC 電圧を測定します セクション EL_8 に記録します 9. [HS Electrical Test Tool Hub Test] メニューで [Enumerate Bus] を 1 回クリックします [Port Command] ドロップ ダウン メニューから TEST_SE0_NAK を選択します ポート番号を入力し [EXECUTE] を 1 回クリックして被試験ポートを TEST_SE0_NAK テスト モードにします 10. DVM を使用して グランド ( ピン J10 および J11 がグランド ピンです ) を基準とした D+ ラインの DC 電圧を J7 で測定します セクション EL_9 に記録します 11. DVM を使用して グランド ( ピン J10 および J11 がグランド ピンです ) を基準とした D- ラインの DC 電圧を J7 で測定します セクション EL_9 に記録します 46

47 12. ステップ2からステップ11までを残りのポートで繰り返します 注記 : 特定のポートは テスト モード コマンドがハブに対して数回発行されると特定のテスト モードに入れなくなります ハブの電源を入れ直すとこの問題はなくなります 47

48 付録 A A.4 High Speed モード対応ハブの電気テスト データ このセクションは 実際のテスト結果を記録するためのものです テストする各デバイスごとにコピーを使用してください A.4.2 ベンダおよび製品の情報 すべての欄に記入してください チップ情報が分からない場合はチップ メーカに連絡してください テスト日付ベンダ名ベンダの住所ベンダの電話番号ベンダの担当者 役職テスト ID 番号製品名製品のモデルおよびリビジョン USB チップ ベンダ名 USB チップ モデル USB チップ パーツ マーキング USB チップ ステッピングテスト者 48

49 A.4.3 レガシー USB コンプライアンス テスト レガシー USB コンプライアンス テスト レガシーテスト LS SQ ( ダウンストリーム ) FS SQ ( アップストリームおよびダウンストリーム ) 突入 ( アップストリーム ) ドロップ / ドループ ( ダウンストリーム ) 相互運用性 合否 P = 合格 F = 不合格 N/A = 適用されず A.4.4 EL_2 High Speed ハブ信号品質 : アップストリーム側ポート (EL_2 EL_46 EL_6 EL_7) USB 2.0 High Speed トランスミッタ データ レートは 480 Mb/s 0.05% でなければなりません 参照文書 : USB 2.0 仕様 セクション EL_46 ハブ アップストリーム リピータは TP3 で測定されたテンプレート 1 に変換された波形要件を満たす必要があります 49

50 参照文書 : USB 2.0 仕様 セクション EL_6 USB 2.0 HS ドライバの 10% から 90% への差動立ち上がり時間および立ち下がり時間は 500ps より長くなければなりません 参照文書 : USB 2.0 仕様 セクション EL_7 USB 2.0 HS ドライバのデータ遷移は 適切なアイ パターン テンプレートで指定されている縦の開口部に渡って単調でなければなりません 参照文書 : USB 2.0 仕様 セクション A.4.5 EL_2 High Speed ハブ信号品質 : ダウンストリーム側ポート (EL_2 EL_3 EL_6 EL_7) USB 2.0 High Speed トランスミッタ データ レートは 480 Mb/s 0.05% でなければなりません 参照文書 : USB 2.0 仕様 セクション ポート P1 P2 P3 P4 P5 合格不合格 NA 全体の結果 : 50

51 EL_3 USB 2.0 ダウンストリーム側ポートは TP2 ( 各ハブ ダウンストリーム ポート ) で測定されたテ ンプレート 1 に変換された波形要件を満たす必要があります 参照文書 : USB 2.0 仕様 セクション ポート P1 P2 P3 P4 P5 合格不合格 NA 全体の結果 : EL_6 USB 2.0 HS ドライバの 10% から 90% への差動立ち上がり時間および立ち下がり時間は 500ps より 長くなければなりません 参照文書 : USB 2.0 仕様 セクション ポート P1 P2 P3 P4 P5 合格不合格 NA EL_7 USB 2.0 HS ドライバのデータ遷移は 適切なアイ パターン テンプレートで指定されている縦 の開口部に渡って単調でなければなりません 参照文書 : USB 2.0 仕様 セクション ポート P1 P2 P3 P4 P5 合格不合格 NA 51

52 A.4.6 ハブ ジッタ : ダウンストリーム側ポート (EL_47) EL_47 USB 2.0 ダウンストリーム側リピータは TP2 ( 各ハブ ダウンストリーム ポート ) で測定された テンプレート 1 に変換された波形要件を満たす必要があります 参照文書 : USB 2.0 仕様 セクション ポート P1 P2 P3 P4 P5 合格不合格 NA 全体 : A.4.7 ハブディスコネクト検出 (EL_36 EL37) EL_37 USB 2.0 ダウンストリーム側ポートは ダウンストリーム側ドライバのコネクタにおける差動信号 が 525 mv の場合には High Speed 切断状態を検出してはなりません 参照文書 : USB 2.0 仕様 セクション ポート P1 P2 P3 P4 P5 合格不合格 NA 全体 : 52

53 EL_36 USB 2.0 ダウンストリーム側ポートは ダウンストリーム側ドライバのコネクタにおける差動信号 が 625 mv の場合に High Speed 切断状態を検出しなくてはなりません 参照文書 : USB 2.0 仕様 セクション ポート P1 P2 P3 P4 P5 合格不合格 NA 全体 : A.4.8 ハブ パケットパケット パラメータパラメータ : アップストリーム側ポート (EL_21 EL_22 EL_25) EL_21 送信されるすべてのパケットの SYNC フィールド ( 繰り返しパケットではない ) が 32 ビット SYNC フィールドで始まっていなければなりません 参照文書 : USB 2.0 仕様 セクション8.2. データ パケット SYNC フィールド EL_25 送信されたすべてのパケットの EOP(SOF を除く ) がビット スタッフィングなしの 8 ビット NRZ バイトの でなければなりません ( より長い EOP は除外できることに注意してください ) 参照文書 : USB 2.0 仕様 セクション

54 EL_22 パケットを受信した後に送信する場合 ホストとデバイスは パケット間のギャップが最低限 8 ビット時間 かつ 192 ビット時間未満でなければなりません 参照文書 : USB 2.0 仕様 セクション A.4.9 ハブ レシーバ感度 : アップストリーム側ポート (EL_16 EL_17 EL_18) EL_18 High Speed モード対応デバイスの送信エンベロープ ディテクタは HS レシーバによるデータ送信の検出 DLL のロック 12 ビット時間以内での SYNC フィールドの終わりの検出が可能となる程度に十分に速くなければなりません 参照文書 : USB 2.0 仕様 セクション7.1. EL_17 High Speed モード対応デバイスは レシーバが 150mV の差動振幅を超えた場合にスケルチを示さない ( すなわち確実にパケットを受信する ) 送信エンベロープ ディテクタを実装していなくてはなりません 注記 : 150mV 差動振幅の ±50mV においてスケルチをレシーバが示さなくてもテストの許容範囲と見なされます これは レシーバ ピンから遠くにあるオシロスコープ プローブ ポイントを補償するためです 参照文書 : USB 2.0 仕様 セクション

55 EL_16 High Speed モード対応デバイスは レシーバの入力が 100mV の差動振幅未満になった場合にスケルチを示す ( すなわち決してパケットを受信しない ) 送信エンベロープ ディテクタを実装していなくてはなりません 注記 : 100mV 差動振幅の ±50mV においてスケルチをレシーバが示せばテストの許容範囲と見なされます これは レシーバ ピンから遠くにあるオシロスコープ プローブ ポイントを補償するためです 参照文書 : USB 2.0 仕様 セクション7.1. A.4.10 ハブ リピータリピータ テスト : ダウンストリーム側ポート (EL_42 EL_43 EL_44 EL_45 EL_48) EL_48 ハブ リピータによるパケットの遅延は 36 ビット時間 +4ns を超えてはなりません 参照文書 : USB 2.0 仕様 セクション EL_42 ハブ リピータによる繰り返し SYNC パターンからの切り捨てが 4 ビットを超えてはなりません 参照文書 : USB 2.0 仕様 セクション EL_43 ハブが SYNC フィールドの繰り返しビットを破損させてはなりません 参照文書 : USB 2.0 仕様 セクション

56 EL_44 ハブは パケットを繰り返す際に EOP フィールドの終わりに最大で 4 つのランダム ビットを加えることができます 参照文書 : USB 2.0 仕様 セクション EL_45 ハブは パケットを繰り返す際に有効な EOP ビットを破損させてはなりません 参照文書 : USB 2.0 仕様 セクション A.4.11 ハブ リピータ テスト : アップストリーム側ポート (EL_42 EL_43 EL_44 EL_45) EL_42 ハブ リピータによる繰り返し SYNC パターンからの切り捨てが 4 ビットを超えてはなりません 参照文書 : USB 2.0 仕様 セクション EL_43 ハブが SYNC フィールドの繰り返しビットを破損させてはなりません 参照文書 : USB 2.0 仕様 セクション

57 EL_44 ハブは パケットを繰り返す際に EOP フィールドの終わりに最大で 4 つのランダム ビットを加えることができます 参照文書 : USB 2.0 仕様 セクション EL_45 ハブは パケットを繰り返す際に有効な EOP ビットを破損させてはなりません 参照文書 : USB 2.0 仕様 セクション A.4.12 ハブ CHIRP タイミング : アップストリーム側ポート (EL_28 EL_29 EL_31) EL_28 デバイスは 中断または Full Speed 状態からリセットされてから 2.5μs を超え かつ 3ms 未満でチャープ ハンドシェークを送信しなければなりません 参照文書 : USB 2.0 仕様 セクション EL_29 デバイスにより生成されるチャープ ハンドシェークは 持続時間で最低限 1ms かつ 7ms 以下でなければなりません参照文書 : USB 2.0 仕様 セクション

58 EL_31 デバイス スピード検出中では デバイスが有効な Chirp K-J-K-J-K-J シーケンスを検出した場合 このデバイスは 500μs 以内にその 1.5kΩプルアップ抵抗を切り離して高速ターミネーションを有効にしなくてはなりません 参照文書 : USB 2.0 仕様 セクション A.4.13 ハブサスペンド / リジューム / リセット タイミング : アップストリーム側ポート (EL_27 EL_28 EL_38 EL_39 EL_40) EL_38 デバイスは バス上で 3ms のアイドル時間があれば その後 125μs 以内に Full Speed ターミネーションに戻らなければなりません 参照文書 : USB 2.0 仕様 セクション EL_39 デバイスはサスペンド状態をサポートしていなければなりません 参照文書 : USB 2.0 仕様 セクション

59 EL_40 デバイスがサスペンド状態にあり サスペンドする前に High Speed モードで動作していた場合 このデバイスはリジュームシグナリングの終わりから 2 ビット時間以内に High Speed 動作に戻らなければなりません 注記 : ハブがリジュームシグナリングの終わりから 2 ビット時間以内に High Speed 動作に戻るのを測定することは不可能です このテストでは 再開シグナリングに続いて公称 400mV の振幅の SOF があることで十分です 参照文書 : USB 2.0 仕様 セクション EL_27 デバイスは サスペンドされていない High Speed モードからリセットされてから 3.1ms を超え かつ 6ms 未満でチャープ ハンドシェークを送信しなければなりません このタイミングは リセットが始まる前に送信された最後の SOF の始めから測定します 参照文書 : USB 2.0 仕様 セクション EL_28 デバイスは サスペンドまたは Full Speed 状態からリセットされてから 2.5μs を超え かつ 3ms 未満でチャープ ハンドシェークを送信しなければなりません 参照文書 : USB 2.0 仕様 セクション : A.4.14 ハブ テスト J/K SE0_NAK: アップストリーム側ポート (EL_8 EL_9) EL_8 D+ または D-のいずれかがハイになった場合 45Ω 抵抗でグランドに終端されているときの出力電圧は 400mV 10% でなければなりません 59

60 参照文書 : USB 2.0 仕様 セクション テスト J K D+ 電圧 (mv) D- 電圧 (mv) EL_9 D+ または D-のいずれかがドライブされていない場合 45Ω 抵抗でグランドに終端されているときの出力電圧は 0V 10mV でなければなりません 参照文書 : USB 2.0 仕様 セクション 電圧 (mv) D+ D- A.4.15 ハブ テスト J/K SE0_NAK: ダウンストリーム側ポート (EL_8 EL_9) EL_8 D+ または D-のいずれかがハイになった場合 45Ω 抵抗でグランドに終端されているときの出力電 圧は 400mV 10% でなければなりません 参照文書 : USB 2.0 仕様 セクション ポート テスト D+ D- D+ D- D+ D- D+ D- D+ D- TEST_J TEST_K 60

61 EL_9 D+ または D-のいずれかがドライブされていない場合 45Ω 抵抗でグランドに終端されているとき の出力電圧は 0V 10mV でなければなりません 参照文書 : USB 2.0 仕様 セクション ポート 信号 D+ D- D+ D- D+ D- D+ D- D+ D- WRT グランドの測定 (mv) 61

62 付録 B B A DSG 用の設定ファイルの作成手順このセクションでは 81130A DSG 用の設定ファイル IN_ADD1.ST0 および MIN_ADD1.ST0 を説明します 設定ファイルの保存にはオプションの 1MB SRAM メモリカードが必要です ( オプション UFJ) B.1.1 IN_ADD1.ST0 設定ファイル IN_ADD1.ST0 設定ファイルは 32 ビット sync フィールド パケット パターンを持つ IN TOKEN 用です 1. [SHIFT] キー + [STORE (RECALL)] キーを押して 0 を選択すると 81130A がデフォルト設定にリセットされます 2. [MODE/TRG] ソフトキーを選択し カーソルとノブを使用して次のように設定します CONTINUOUS PATTERN of Pulses Out 1: NRZ Out2: NRZ PRBS Polynom : 2^7 1 Trigger Output at Segm1 Start 3. [TIMING] ソフトキーを選択します カーソルを Per に移動し 回転ノブを使用して Freq に変更します 周波数を 480MHz に設定します 4. [LEVELS] ソフトキーを選択し カーソルとノブを使用して次のように設定します Ch 1 Ch 2 Separate Outputs High +800mV High +800mV Low +0mV Low +0mV 5. [PATTERN] ソフトキーを選択して 次のように設定します Segment Length Loopcnt Update

63 6. 各セグメントを次のように定義します Segment 1: CH CH CH CH CH CH Segment 2: CH CH CH CH CH CH Segment 3: すべてを 0 に設定 7. [SHIFT] キーの後に [0] キーで OUTPUT1 に [SHIFT] キーの後に [+/-] キーで OUTPUT2 にデータ ジェネレータは出力を開始します 8. メモリカードを 81130A に差し込みます [MEMCARD] ソフトキーを選択します メニューに [MEMCARD] がない場合は [MEMCARD] が表示されるまで [MORE] キーを押します メモリの内容が画面上に表示されます カーソルを [Perform Operation] まで移動し ノブを回して [Store] を選択します 次に [ENTER] キーを押します ノブを回してファイル名を IN_ADD1 として入力し 次に [ENTER] を押してメモリ カードに保存します 63

64 B.1.2 MIN_ADD1.ST0 設定ファイル MIN_ADD1.ST0 設定ファイルは 12 ビット sync フィールド パケット パターンを持つ IN TOKEN 用です 1. メモリカードを 81130A に差し込みます [MEMCARD] ソフトキーを選択します メニューに [MEMCARD] がない場合は [MEMCARD] が表示されるまで [MORE] キーを押します メモリの内容が画面上に表示されます カーソルと回転ノブを使用して IN_ADD1.ST0 設定ファイルを選択します カーソルを [Perform Operation] まで移動し ノブを回して [Recall] を選択します 次に [ENTER] キーを押してロードします 2. [PATTERN] ソフトキーを選択し 1 つ目のセグメントを次のように変更します Segment 1: CH CH CH CH CH CH [MEMCARD] ソフトキーを選択します メニューに [MEMCARD] がない場合は [MEMCARD] が表示されるまで [MORE] キーを押します メモリの内容が画面上に表示されます カーソルを [Perform Operation] まで移動し ノブを回して [Store] を選択します 次に [ENTER] キーを押します ノブを回してファイル名を MIN_ADD1 として入力し 次に [ENTER] を押してメモリ カードに保存します 64