e-designsolution 設計システム e-designsolution は回路 プリント基板設計に関する 1 磁界電流測定システムは IEC規格 IEC61967-6 やVCCIキットモジュール妨害波測定技術基準に適合した 磁界プ DEMITASNX をはじめとした設計サービス ローブ法による非接触電流測定システムです キットモジュール妨害波測定は本システムで対応ができ 今まで測定方法に の総称です 設計システム 設計支援 課題が多かった半導体や 高密度実装プリント基板 部品 モジュールなどの正確なノイズ測定ができます 試作 評価 の3つのサービス 1. IEC 国際電気標準会議(International Electrotechnical Commission 設計システム ＥＭＣ対策技術の共同研究 開発 対策技術のＣＡＤツール化 お客様設計部門へのＥＭＣ対策技術の 普及 展開支援 から構成されており 製品設計におけるさまざまな EMI設計支援システム DEMITASNX お客様のご要望に 多角的かつ最適なアプローチ方法で EMC設計 をご提供致します 法は 非接触型でありターゲットへの影響が少なく 実機配線上で使用することができます NEC 高空間分解能を実現 ピンポイントな測定ができます さらに超小型 / 高周波の採用により CP-1S CP-2S 諸特性 設計 評価 諸特性 約 0.14mm 約 0.25mm 検出部サイズ 1.2mm 0.7mm 検出部サイズ 2mm 1mm LSIパッケージ各ピン 高密度実装プリント基板 SiP, SoC LSI内部など モジュールレベル 対象 L/S=0.1mm/0.1mm 一般のB回路など 試作 量産サービス 設計 評価 EMC計測/認証取得支援 / 設計支援 LSI評価 IEC標準MP法 EMI対策 回路/プリント基板設計支援 EMC設計コンサルティング PI / SI 2 / EMI解析サービス 2. PI Power Integrity SI Signal Integrity 対象 L/S=0.1mm/0.3mm VCCIキットモジュール妨害波測定 MP-10L 設計支援 エンジニアリング 諸特性 測定周波数 150kHz 1GHz 動作環境 約 1.0mm 検出部サイズ カバー含む 12mm 3mm LSI配線 VCCIキットモジュール妨害波測定対応 配線など 対象 L/S=1.0mm/2.0mm SW-EF 64MB以上 GPIB MCIA/USB / I 3 その他 カードスロット TypeII USBスロット USB1.1以上 4MB以上 アジレント テクノロジー社製 ESAシリーズ 4 スキャナシステム 4EM500 4EM200 動作環境 は を使用し 高周波 磁界 電流を手軽に計測できます 計測ソフトウェアは 磁界 電流校正ライブラリ および 測定結果 解析 規格判定機能を標準装備し 変換 解析操作はマウス操作のみでスムーズに行えます 販売製品 SW-EF 対応ドライバ DV-SW CP-1S/CP-2S/MP-10L 2重シールドケーブル 2m 固定治具及び定盤 512MB以上 ディスプレイ 解像度 1024 768 ドット以上 表示色 256色以上 約 30 MB + データ保存用に 約 20GB アジレント テクノロジー社製 ESAシリーズ 4 Iスロットの空きが2スロット モータコントロールボード および GPIBボード用 高精度スキャナ 2重シールドケーブル 仕様 Iローカルバス Rev.2.1以上 32bit,33MHz 5V/3.3V信号環境 スロットサイズ ショートサイズ 174.63mm D 106.68mm H 以上 モータコントロールカード用 カードスロットの空きが2スロット TypeⅡ 3 小型スキャナ USBスロット USB1.1以上 GPIB-USB用 MCIA/USB/I 3. 日本ナショナルインスツルメンツ株式会社製推奨 その他の機種は要相談 用 固定治具 4. アジレント テクノロジー株式会社製推奨 その他の機種は要相談 ＥＭＩのあらゆる問題解決には ノイズ源を特定し ノイズ量を把握することが重要です お問い合わせは 下記へ NECエンジニアリング 営業本部 物 140-0002 東京都品川区東品川4-10-27 住友不動産品川ビル7F TEL 03 6713 1200 FAX 03 6713 1965 URL http://www.nec-eng.co.jp 定盤 磁界 電流測定 システム Microsoft Windows およびWindowsのロゴは 米国Microsoft Corporationの米国およびその他の 国における商標または登録商標です インテル Intel Core CeleronおよびPentiumはアメリカ合衆国およびその他の国におけるインテルコー ポレーションまたはその子会社の商標または登録商標です DEMITASNXは 株式会社NEC情報システムズの登録商標です ナショナルインスツルメンツは ナショナルインスツルメンツ社の商標です アジレント テクノロジーは アジ レント テクノロジー社の商標です また製品名は予告なしに変更されることがありますので あらかじめご了承ください 本カタログに記載された仕様 外観などは予告なしに変更することがあります 日本国外に輸出する場合 には 日本国政府等の許可が必要です 測定システムの構築に関しては お気軽にご相談ください 3 140-0002 東京都品川区東品川4-10-27 住友不動産品川ビル 2010年3月現在 JCatF13304103 http://www.nec-eng.co.jp/
国際規格準拠のでEMI対策設計効率を向上 電磁妨害 EMI 抑制設計 信号品質 SI/PI 評価を支援します スキャナシステム 測定 解析例 スキャナシステムは 上をにて自動走査させ 磁界強度分布 ノイズ の可視化を行います 本システムは にてスキャナとスペクトラ 測定は計測用ソフトウェアを使用し マニュアル測定モードにおいて 位置の設定を行い オート測定モードにより磁界強度分布を測定します ムアナライザを制御します ノイズの対策ポイントや対策効果などを簡単に確認することができ オフィス環境でノイズを把握することができます の詳細設定を行い 各測定ポイント毎にスペクトルデータを取り込みます 測定データでは 目的の周波数ポイントや周波数範囲 におけるマップ表示 合成 差分などの詳細解析ができます その他ノイズ源の位置特定などが可能です は ノイズ対策測定の効率化を実現しました 4EM500 高精度スキャナシステム VCCIキットモジュール妨害波測定対応システム LSI高周波モデル用データ収集 / 検証 プリント配線基板の配線ルール検証 基板 測定 磁界強度分布測定 シミュレーションとの 検証ツール 基板単体対策 フィルタ部品の効果検証 作 利用 分野例 ノイズ計測と モデル検証 半導体内部のノイズ源探索 価 装置 4軸ステージによりを走査 モジュール 評 オプションやカスタマイズ対応もできます 半導体 試 さまざまな対象物の磁界強度分布 ノイズ を計測 表示ができます 各種 ノイズ源を精密に位置特定 / 検証 品 高精度スキャナシステムは 装置 プリント基板 ＬＳＩ 部品 モジュール等の 対策測定の効率化 ノイズ進入ルートの検証 高速I/F ケーブル対策 高周波電流値及び磁界値を精密に測定 部 各種カスタマイズ対応 装置 単体ノイズ品質把握 モジュール内部のノイズ源探索 X,Y,Z = 0.01 mm θ = 1 deg CP-1S CP-2S MP-10L その他各種対応可能 860mm W 862mm D 840mm H 測定データ解析機能 システム構成図 約 110kg 産 ノイズ対策時間 コスト削減 EMI設計ルール構築 同軸ケーブル 高精度スキャナ 周波数表示 磁界強度分布 マップ 表示 周波数ポイント 周波数範囲 高調波成分 ピークサーチ 検出 指定 削除 AC100V 400VA 50/60Hz 制御用インタフェース モータコントロールボード I 量 モータコントロール / I Ｘ方向 Ｙ方向データの合成表示 ２つの測定データの差分表示 各種解析機能を複合することで ノイズ源を正確 X方向データ かつ詳細に解析し特定することができます 4EM200 小型スキャナシステム A3サイズ EMIのあらゆる問題解決にはノイズ源を特定し ノイズ量を把握することが重要です オート測定画面 マニュアル測定画面 θ = ±90 deg X,Y,Z = 500 500 210 mm Y方向データ XY合成データ オプション 小型スキャナシステムは 高精度スキャナシステムをA 3 サイズまで小型化 し 省スペース化を実現したスキャナシステムです プローブ高さ追従機能 計測機能はそのままにさまざまな場面で磁界強度分布 ノイズ を計測 表示 できます DEMITASNX リンク でプローブを追従させながら ノイズ分布を測定します レーザ位置調整 特定機能 4軸ステージによりを走査 測定した結果は 三次元グラフで表示できます 各種プローブアタッチメント 各種カスタマイズについてはご相談下さい X,Y,Z = 200 200 100 mm θ = 0 2位置 90 deg X,Y,Z = 0.1 mm CP-2S MP-10L 297mm W 420mm D 500mm H 約 15kg AC100V 190VA 50/60Hz その他オプション機能 あらかじめの高さを測定し の高さに非接触 プリント基板配線データ表示画面 合成 システム構成図 制御用インタフェース モータコントロールカード カード 2 GPIB-USB GPIB-USB 同軸ケーブル 小型スキャナ 三次元グラフ表示画面 モータコントロール / カード 2 2 詳細解析画面 4 磁界分布測定データ表示画面 DEMITASNX リンク合成画面 DEMITASNX リンク やレーザ位置調整 特定 機能により簡単にノイズ 源の特定ができます 5
e-designsolution 設計システム e-designsolution は回路 プリント基板設計に関する 1 磁界電流測定システムは IEC規格 IEC61967-6 やVCCIキットモジュール妨害波測定技術基準に適合した 磁界プ DEMITASNX をはじめとした設計サービス ローブ法による非接触電流測定システムです キットモジュール妨害波測定は本システムで対応ができ 今まで測定方法に の総称です 設計システム 設計支援 課題が多かった半導体や 高密度実装プリント基板 部品 モジュールなどの正確なノイズ測定ができます 試作 評価 の3つのサービス 1. IEC 国際電気標準会議(International Electrotechnical Commission 設計システム ＥＭＣ対策技術の共同研究 開発 対策技術のＣＡＤツール化 お客様設計部門へのＥＭＣ対策技術の 普及 展開支援 から構成されており 製品設計におけるさまざまな EMI設計支援システム DEMITASNX お客様のご要望に 多角的かつ最適なアプローチ方法で EMC設計 をご提供致します 法は 非接触型でありターゲットへの影響が少なく 実機配線上で使用することができます NEC 高空間分解能を実現 ピンポイントな測定ができます さらに超小型 / 高周波の採用により CP-1S CP-2S 諸特性 設計 評価 諸特性 約 0.14mm 約 0.25mm 検出部サイズ 1.2mm 0.7mm 検出部サイズ 2mm 1mm LSIパッケージ各ピン 高密度実装プリント基板 SiP, SoC LSI内部など モジュールレベル 対象 L/S=0.1mm/0.1mm 一般のB回路など 試作 量産サービス 設計 評価 EMC計測/認証取得支援 / 設計支援 LSI評価 IEC標準MP法 EMI対策 回路/プリント基板設計支援 EMC設計コンサルティング PI / SI 2 / EMI解析サービス 2. PI Power Integrity SI Signal Integrity 対象 L/S=0.1mm/0.3mm VCCIキットモジュール妨害波測定 MP-10L 設計支援 エンジニアリング 諸特性 測定周波数 150kHz 1GHz 動作環境 約 1.0mm 検出部サイズ カバー含む 12mm 3mm LSI配線 VCCIキットモジュール妨害波測定対応 配線など 対象 L/S=1.0mm/2.0mm SW-EF 64MB以上 GPIB MCIA/USB / I 3 その他 カードスロット TypeII USBスロット USB1.1以上 4MB以上 アジレント テクノロジー社製 ESAシリーズ 4 スキャナシステム 4EM500 4EM200 動作環境 は を使用し 高周波 磁界 電流を手軽に計測できます 計測ソフトウェアは 磁界 電流校正ライブラリ および 測定結果 解析 規格判定機能を標準装備し 変換 解析操作はマウス操作のみでスムーズに行えます 販売製品 SW-EF 対応ドライバ DV-SW CP-1S/CP-2S/MP-10L 2重シールドケーブル 2m 固定治具及び定盤 512MB以上 ディスプレイ 解像度 1024 768 ドット以上 表示色 256色以上 約 30 MB + データ保存用に 約 20GB アジレント テクノロジー社製 ESAシリーズ 4 Iスロットの空きが2スロット モータコントロールボード および GPIBボード用 高精度スキャナ 2重シールドケーブル 仕様 Iローカルバス Rev.2.1以上 32bit,33MHz 5V/3.3V信号環境 スロットサイズ ショートサイズ 174.63mm D 106.68mm H 以上 モータコントロールカード用 カードスロットの空きが2スロット TypeⅡ 3 小型スキャナ USBスロット USB1.1以上 GPIB-USB用 MCIA/USB/I 3. 日本ナショナルインスツルメンツ株式会社製推奨 その他の機種は要相談 用 固定治具 4. アジレント テクノロジー株式会社製推奨 その他の機種は要相談 ＥＭＩのあらゆる問題解決には ノイズ源を特定し ノイズ量を把握することが重要です お問い合わせは 下記へ NECエンジニアリング 営業本部 物 140-0002 東京都品川区東品川4-10-27 住友不動産品川ビル7F TEL 03 6713 1200 FAX 03 6713 1965 URL http://www.nec-eng.co.jp 定盤 磁界 電流測定 システム Microsoft Windows およびWindowsのロゴは 米国Microsoft Corporationの米国およびその他の 国における商標または登録商標です インテル Intel Core CeleronおよびPentiumはアメリカ合衆国およびその他の国におけるインテルコー ポレーションまたはその子会社の商標または登録商標です DEMITASNXは 株式会社NEC情報システムズの登録商標です ナショナルインスツルメンツは ナショナルインスツルメンツ社の商標です アジレント テクノロジーは アジ レント テクノロジー社の商標です また製品名は予告なしに変更されることがありますので あらかじめご了承ください 本カタログに記載された仕様 外観などは予告なしに変更することがあります 日本国外に輸出する場合 には 日本国政府等の許可が必要です 測定システムの構築に関しては お気軽にご相談ください 3 140-0002 東京都品川区東品川4-10-27 住友不動産品川ビル 2010年3月現在 JCatF13304103 http://www.nec-eng.co.jp/
国際規格準拠のでEMI対策設計効率を向上 電磁妨害 EMI 抑制設計 信号品質 SI/PI 評価を支援します スキャナシステム 測定 解析例 スキャナシステムは 上をにて自動走査させ 磁界強度分布 ノイズ の可視化を行います 本システムは にてスキャナとスペクトラ 測定は計測用ソフトウェアを使用し マニュアル測定モードにおいて 位置の設定を行い オート測定モードにより磁界強度分布を測定します ムアナライザを制御します ノイズの対策ポイントや対策効果などを簡単に確認することができ オフィス環境でノイズを把握することができます の詳細設定を行い 各測定ポイント毎にスペクトルデータを取り込みます 測定データでは 目的の周波数ポイントや周波数範囲 におけるマップ表示 合成 差分などの詳細解析ができます その他ノイズ源の位置特定などが可能です は ノイズ対策測定の効率化を実現しました 4EM500 高精度スキャナシステム VCCIキットモジュール妨害波測定対応システム LSI高周波モデル用データ収集 / 検証 プリント配線基板の配線ルール検証 基板 測定 磁界強度分布測定 シミュレーションとの 検証ツール 基板単体対策 フィルタ部品の効果検証 作 利用 分野例 ノイズ計測と モデル検証 半導体内部のノイズ源探索 価 装置 4軸ステージによりを走査 モジュール 評 オプションやカスタマイズ対応もできます 半導体 試 さまざまな対象物の磁界強度分布 ノイズ を計測 表示ができます 各種 ノイズ源を精密に位置特定 / 検証 品 高精度スキャナシステムは 装置 プリント基板 ＬＳＩ 部品 モジュール等の 対策測定の効率化 ノイズ進入ルートの検証 高速I/F ケーブル対策 高周波電流値及び磁界値を精密に測定 部 各種カスタマイズ対応 装置 単体ノイズ品質把握 モジュール内部のノイズ源探索 X,Y,Z = 0.01 mm θ = 1 deg CP-1S CP-2S MP-10L その他各種対応可能 860mm W 862mm D 840mm H 測定データ解析機能 システム構成図 約 110kg 産 ノイズ対策時間 コスト削減 EMI設計ルール構築 同軸ケーブル 高精度スキャナ 周波数表示 磁界強度分布 マップ 表示 周波数ポイント 周波数範囲 高調波成分 ピークサーチ 検出 指定 削除 AC100V 400VA 50/60Hz 制御用インタフェース モータコントロールボード I 量 モータコントロール / I Ｘ方向 Ｙ方向データの合成表示 ２つの測定データの差分表示 各種解析機能を複合することで ノイズ源を正確 X方向データ かつ詳細に解析し特定することができます 4EM200 小型スキャナシステム A3サイズ EMIのあらゆる問題解決にはノイズ源を特定し ノイズ量を把握することが重要です オート測定画面 マニュアル測定画面 θ = ±90 deg X,Y,Z = 500 500 210 mm Y方向データ XY合成データ オプション 小型スキャナシステムは 高精度スキャナシステムをA 3 サイズまで小型化 し 省スペース化を実現したスキャナシステムです プローブ高さ追従機能 計測機能はそのままにさまざまな場面で磁界強度分布 ノイズ を計測 表示 できます DEMITASNX リンク でプローブを追従させながら ノイズ分布を測定します レーザ位置調整 特定機能 4軸ステージによりを走査 測定した結果は 三次元グラフで表示できます 各種プローブアタッチメント 各種カスタマイズについてはご相談下さい X,Y,Z = 200 200 100 mm θ = 0 2位置 90 deg X,Y,Z = 0.1 mm CP-2S MP-10L 297mm W 420mm D 500mm H 約 15kg AC100V 190VA 50/60Hz その他オプション機能 あらかじめの高さを測定し の高さに非接触 プリント基板配線データ表示画面 合成 システム構成図 制御用インタフェース モータコントロールカード カード 2 GPIB-USB GPIB-USB 同軸ケーブル 小型スキャナ 三次元グラフ表示画面 モータコントロール / カード 2 2 詳細解析画面 4 磁界分布測定データ表示画面 DEMITASNX リンク合成画面 DEMITASNX リンク やレーザ位置調整 特定 機能により簡単にノイズ 源の特定ができます 5
国際規格準拠のでEMI対策設計効率を向上 電磁妨害 EMI 抑制設計 信号品質 SI/PI 評価を支援します スキャナシステム 測定 解析例 スキャナシステムは 上をにて自動走査させ 磁界強度分布 ノイズ の可視化を行います 本システムは にてスキャナとスペクトラ 測定は計測用ソフトウェアを使用し マニュアル測定モードにおいて 位置の設定を行い オート測定モードにより磁界強度分布を測定します ムアナライザを制御します ノイズの対策ポイントや対策効果などを簡単に確認することができ オフィス環境でノイズを把握することができます の詳細設定を行い 各測定ポイント毎にスペクトルデータを取り込みます 測定データでは 目的の周波数ポイントや周波数範囲 におけるマップ表示 合成 差分などの詳細解析ができます その他ノイズ源の位置特定などが可能です は ノイズ対策測定の効率化を実現しました 4EM500 高精度スキャナシステム VCCIキットモジュール妨害波測定対応システム LSI高周波モデル用データ収集 / 検証 プリント配線基板の配線ルール検証 基板 測定 磁界強度分布測定 シミュレーションとの 検証ツール 基板単体対策 フィルタ部品の効果検証 作 利用 分野例 ノイズ計測と モデル検証 半導体内部のノイズ源探索 価 装置 4軸ステージによりを走査 モジュール 評 オプションやカスタマイズ対応もできます 半導体 試 さまざまな対象物の磁界強度分布 ノイズ を計測 表示ができます 各種 ノイズ源を精密に位置特定 / 検証 品 高精度スキャナシステムは 装置 プリント基板 ＬＳＩ 部品 モジュール等の 対策測定の効率化 ノイズ進入ルートの検証 高速I/F ケーブル対策 高周波電流値及び磁界値を精密に測定 部 各種カスタマイズ対応 装置 単体ノイズ品質把握 モジュール内部のノイズ源探索 X,Y,Z = 0.01 mm θ = 1 deg CP-1S CP-2S MP-10L その他各種対応可能 860mm W 862mm D 840mm H 測定データ解析機能 システム構成図 約 110kg 産 ノイズ対策時間 コスト削減 EMI設計ルール構築 同軸ケーブル 高精度スキャナ 周波数表示 磁界強度分布 マップ 表示 周波数ポイント 周波数範囲 高調波成分 ピークサーチ 検出 指定 削除 AC100V 400VA 50/60Hz 制御用インタフェース モータコントロールボード I 量 モータコントロール / I Ｘ方向 Ｙ方向データの合成表示 ２つの測定データの差分表示 各種解析機能を複合することで ノイズ源を正確 X方向データ かつ詳細に解析し特定することができます 4EM200 小型スキャナシステム A3サイズ EMIのあらゆる問題解決にはノイズ源を特定し ノイズ量を把握することが重要です オート測定画面 マニュアル測定画面 θ = ±90 deg X,Y,Z = 500 500 210 mm Y方向データ XY合成データ オプション 小型スキャナシステムは 高精度スキャナシステムをA 3 サイズまで小型化 し 省スペース化を実現したスキャナシステムです プローブ高さ追従機能 計測機能はそのままにさまざまな場面で磁界強度分布 ノイズ を計測 表示 できます DEMITASNX リンク でプローブを追従させながら ノイズ分布を測定します レーザ位置調整 特定機能 4軸ステージによりを走査 測定した結果は 三次元グラフで表示できます 各種プローブアタッチメント 各種カスタマイズについてはご相談下さい X,Y,Z = 200 200 100 mm θ = 0 2位置 90 deg X,Y,Z = 0.1 mm CP-2S MP-10L 297mm W 420mm D 500mm H 約 15kg AC100V 190VA 50/60Hz その他オプション機能 あらかじめの高さを測定し の高さに非接触 プリント基板配線データ表示画面 合成 システム構成図 制御用インタフェース モータコントロールカード カード 2 GPIB-USB GPIB-USB 同軸ケーブル 小型スキャナ 三次元グラフ表示画面 モータコントロール / カード 2 2 詳細解析画面 4 磁界分布測定データ表示画面 DEMITASNX リンク合成画面 DEMITASNX リンク やレーザ位置調整 特定 機能により簡単にノイズ 源の特定ができます 5
e-designsolution 設計システム e-designsolution は回路 プリント基板設計に関する 1 磁界電流測定システムは IEC規格 IEC61967-6 やVCCIキットモジュール妨害波測定技術基準に適合した 磁界プ DEMITASNX をはじめとした設計サービス ローブ法による非接触電流測定システムです キットモジュール妨害波測定は本システムで対応ができ 今まで測定方法に の総称です 設計システム 設計支援 課題が多かった半導体や 高密度実装プリント基板 部品 モジュールなどの正確なノイズ測定ができます 試作 評価 の3つのサービス 1. IEC 国際電気標準会議(International Electrotechnical Commission 設計システム ＥＭＣ対策技術の共同研究 開発 対策技術のＣＡＤツール化 お客様設計部門へのＥＭＣ対策技術の 普及 展開支援 から構成されており 製品設計におけるさまざまな EMI設計支援システム DEMITASNX お客様のご要望に 多角的かつ最適なアプローチ方法で EMC設計 をご提供致します 法は 非接触型でありターゲットへの影響が少なく 実機配線上で使用することができます NEC 高空間分解能を実現 ピンポイントな測定ができます さらに超小型 / 高周波の採用により CP-1S CP-2S 諸特性 設計 評価 諸特性 約 0.14mm 約 0.25mm 検出部サイズ 1.2mm 0.7mm 検出部サイズ 2mm 1mm LSIパッケージ各ピン 高密度実装プリント基板 SiP, SoC LSI内部など モジュールレベル 対象 L/S=0.1mm/0.1mm 一般のB回路など 試作 量産サービス 設計 評価 EMC計測/認証取得支援 / 設計支援 LSI評価 IEC標準MP法 EMI対策 回路/プリント基板設計支援 EMC設計コンサルティング PI / SI 2 / EMI解析サービス 2. PI Power Integrity SI Signal Integrity 対象 L/S=0.1mm/0.3mm VCCIキットモジュール妨害波測定 MP-10L 設計支援 エンジニアリング 諸特性 測定周波数 150kHz 1GHz 動作環境 約 1.0mm 検出部サイズ カバー含む 12mm 3mm LSI配線 VCCIキットモジュール妨害波測定対応 配線など 対象 L/S=1.0mm/2.0mm SW-EF 64MB以上 GPIB MCIA/USB / I 3 その他 カードスロット TypeII USBスロット USB1.1以上 4MB以上 アジレント テクノロジー社製 ESAシリーズ 4 スキャナシステム 4EM500 4EM200 動作環境 は を使用し 高周波 磁界 電流を手軽に計測できます 計測ソフトウェアは 磁界 電流校正ライブラリ および 測定結果 解析 規格判定機能を標準装備し 変換 解析操作はマウス操作のみでスムーズに行えます 販売製品 SW-EF 対応ドライバ DV-SW CP-1S/CP-2S/MP-10L 2重シールドケーブル 2m 固定治具及び定盤 512MB以上 ディスプレイ 解像度 1024 768 ドット以上 表示色 256色以上 約 30 MB + データ保存用に 約 20GB アジレント テクノロジー社製 ESAシリーズ 4 Iスロットの空きが2スロット モータコントロールボード および GPIBボード用 高精度スキャナ 2重シールドケーブル 仕様 Iローカルバス Rev.2.1以上 32bit,33MHz 5V/3.3V信号環境 スロットサイズ ショートサイズ 174.63mm D 106.68mm H 以上 モータコントロールカード用 カードスロットの空きが2スロット TypeⅡ 3 小型スキャナ USBスロット USB1.1以上 GPIB-USB用 MCIA/USB/I 3. 日本ナショナルインスツルメンツ株式会社製推奨 その他の機種は要相談 用 固定治具 4. アジレント テクノロジー株式会社製推奨 その他の機種は要相談 ＥＭＩのあらゆる問題解決には ノイズ源を特定し ノイズ量を把握することが重要です お問い合わせは 下記へ NECエンジニアリング 営業本部 物 140-0002 東京都品川区東品川4-10-27 住友不動産品川ビル7F TEL 03 6713 1200 FAX 03 6713 1965 URL http://www.nec-eng.co.jp 定盤 磁界 電流測定 システム Microsoft Windows およびWindowsのロゴは 米国Microsoft Corporationの米国およびその他の 国における商標または登録商標です インテル Intel Core CeleronおよびPentiumはアメリカ合衆国およびその他の国におけるインテルコー ポレーションまたはその子会社の商標または登録商標です DEMITASNXは 株式会社NEC情報システムズの登録商標です ナショナルインスツルメンツは ナショナルインスツルメンツ社の商標です アジレント テクノロジーは アジ レント テクノロジー社の商標です また製品名は予告なしに変更されることがありますので あらかじめご了承ください 本カタログに記載された仕様 外観などは予告なしに変更することがあります 日本国外に輸出する場合 には 日本国政府等の許可が必要です 測定システムの構築に関しては お気軽にご相談ください 3 140-0002 東京都品川区東品川4-10-27 住友不動産品川ビル 2010年3月現在 JCatF13304103 http://www.nec-eng.co.jp/