コート検証とは WELCOM DESIGN EAN Verification Report Copyright 2012, WELCOM DESIGN KK 検証結果はコートの問題点欠陥を表示しますアフリケーションや程度によりほとんど気付かない程度の小さな欠陥から全く読み取りさえできな

Size: px

Start display at page:

ほのかいさし
4 years ago
Views:

1 コート検証とは Copyright 2012, KK 検証結果はコートの問題点欠陥を表示しますアフリケーションや程度によりほとんど気付かない程度の小さな欠陥から全く読み取りさえできないほどの大きな欠陥までが存在しますその欠陥が与える影響はアフリケーションやコート体系によっても異なってきますリータはあくまで読み取りを目的とした読取機でありコートの品質を問わずできる限り効率良く読み取りを行うように設計されていますつまりリータでコートの品質管理を行おうとしてもそれは単にリータの読取能力を評価しているのに過ぎません例えば数種類のリータを利用している場合にリータによってテコート結果 ( 読取結果 ) が異なる場合がありますこれはリータの能力に関係しているのでは無く読み取り対象となったコート自体の品質に起因しているのです REA 製のハーコート検証機は全て ISO/IEC に準拠していますまたシンホル毎にそれぞれオフションハラメータも用意されています例えば EAN/UPC コートの場合は ISO/IEC に準じていますコート検証結果の相違同じコートを測定した場合でも検証機ごとまたは検証する度に結果が異なる場合がありますこれは検証フロセスが下記の要因に大きく影響を受けるためです周囲照度周囲背景色光源読取機と同様検証機も LED やレーサを利用し光の反射を元にコートの測定を行っていますよって光源波長の違い周囲照度や周囲背景色 ( 光沢のある机上など ) 対象物表面の波打ち光沢度などによって光の反射に影響があるため測定結果にも反映されますその他考慮すべき要因インク面の凹凸やインクトットの丸み光源 LED/ レーサ出力の揺れ, ハラツキ電源ノイスなどエレクリックテハイス特有のノイスアハチャサイス検証は指定のアハチャサイスで行われますつまりコート上の 1 点を起点に左右直線状に走査を行っています従ってコ-ト上の走査線位置が異なれば下記のように検証結果も異なることになりますコート検証を行う場合は複数の走査線位置を測定するマルチスキャン検証が推奨されていますアハチャ走査線実際の拡大イメーシスホット ( 黒いシミ ) ホイト ( 白い欠け ) コート検証を行う場合基準最小モシュール (X) の 80% が最適なアハチャサイスとされています pg. 1

2 検証を行ったハーコートシンホル名ですテコートしたハーコートテータです Copyright 2012, KK ISO/IEC 及びに基づいて検証が行われたことを示していますマルチスキャン検証 2 回中の 1 回目の検証結果を意味します検証結果がレホートされますこの例では不合格 / クレート 0.0/6mil アハチャ /670nm 光源がレホートされています合格の場合は青色で Pass とレホートされますエラーリストがレホートされます設定されている判定基準クレートです SRP(Scan Reflectance Profile) クレートがレホートされますオフションハラメータを含む全測定結果の最低クレート値が結果となりますオフションハラメータを評価に含めたくない場合は無効に設定してください読み取り問題があるかを合格 (4)/ 不合格 (0) で判定しますシンホルコントラスト (SC) を 4~0 の 4 段階でクレート判定しますエッシコントラスト (EC) を合格 (4)/ 不合格 (0) で判定しますモシュレーション (MOD) を 4~0 の 4 段階でクレート判定します Rmin/Rmax を合格 (4)/ 不合格 (0) で判定しますティフェクト ( 欠陥 ) を 4~0 の 4 段階でクレート判定しますテコータヒリティ ( 復号容易度 ) を 4~0 の 4 段階でクレート判定します測定により得られた一番低い値がテコータヒリティとなりますモシュール偏差の平均値です Mean / Z-Module x 100 = 33um / 363um x 100 = 9% Z モシュール 0.363mm x -9% = 各項目の詳細は補足を参照ください pg. 2

3 Copyright 2012, KK PCS(SC) を合格 (4)/ 不合格 (0) で判定します Bright Value(Rmax) を合格 (4)/ 不合格 (0) で判定します Dark Value(Rmin) を合格 (4)/ 不合格 (0) で判定します PCS(ECmin) を合格 (4)/ 不合格 (0) で判定します Bright Value(Rs) を合格 (4)/ 不合格 (0) で判定します Dark Value(Rb) を合格 (4)/ 不合格 (0) で判定しますハー偏差の極小値と極大値を合格 (4)/ 不合格 (0) で判定しますスヘース偏差の極小値と極大値を合格 (4)/ 不合格 (0) で判定します E-Value の極小値と極大値を合格 (4)/ 不合格 (0) で判定します P-Value の極小値と極大値を合格 (4)/ 不合格 (0) で判定しますハー偏差の平均値を合格 (4)/ 不合格 (0) で判定します Mean / Tb x 100 = 33um / 115um x 100 = 28.69% Z モシュールを合格 (4)/ 不合格 (0) で判定しますハーコートシンホルサイスを意味します SCx は DIN 規格です倍率を意味します 1 インチ当たりのキャラクタ数を意味します各項目の詳細は補足を参照ください Tb = +/-(0.470 x )mm = +/ x -29% = 先の Bar deviation( モシュール偏差の平均 ) からの算出 Z モシュール 0.363mm x -9% = モシュールハーコートのハー及びスヘースを構成する基本最小単位エレメント最小単位モシュールを組み合わせて形成したハー及びスヘース誤差 mm(0.8569μm) は内部での数値の丸めによるものです pg. 3

4 Copyright 2012, KK 赤枠で囲んだ代表的な測定値の見方を次頁に示しています測定値を相対値 (%) では無く絶対値 (μm) で行いたい場合は検証機の設定を変更する必要があります TransWin32 のメニューから Configure Evaluation を選択し Deviation(1D) タフの As relative values(%) のチェックを外すと絶対値 (μm) で検証結果がレホートされます全ての偏差値は実測による Z モシュール ( 実測細エレメント平均幅 ) を基準に算出されます pg. 4

Left Guard (Start) P B1S1B2 B1 E1 P B2 S1 E2 V Target EAN-8 Image Copyright 2012, KK QZ Next Character E2 E1 Char Set = A P S1 B1 S2B2 E3 E2 E1 Next Character Center Guard S1 B1S2B2S3 Front Character

5 Left Guard (Start) P B1S1B2 B1 E1 P B2 S1 E2 V Target EAN-8 Image Copyright 2012, KK QZ Next Character E2 E1 Char Set = A P S1 B1 S2B2 E3 E2 E1 Next Character Center Guard S1 B1S2B2S3 Front Character Next Character E1 E2 P E3 E4 Measurement detail says B1=-25% B2=-45% S1=23% E1=-5% E2=-47% P=-52% V(Decodability)=82% B1 S1 P B2 S2 E1 V E2 Measurement detail says B1=-41% B2=3% S1=41% S2=15% E1=-0% E2=-56% E3=-41% P=-20% V(Decodability)=79% Measurement detail says B1=-46% B2=-10% S1=7% S2=33% S3=13% E1=-83% E2=-28% E3=94% E4=51% P=-20% V1(Decodability)=72% V2(Decodability)=63% E3 B1 B2 S1 S2 S3 E1 E2 E3 E4 P V1 V2 Vは小さい方の値を適用する V=63% キャラクタ 1,2,7,8についても同様にV1,V2の小さい方の値をVとする JIS X0507(ISO/IEC 15420) 参照 Center Gard Front Character Char Set = C B1 E1 P S1 B2S2 Right Guard (Stop) P B1S1B2 E1 E2 E2 E3 QZ Next Character B1 E1 P B2 S1 E2 V Measurement detail says B1=-35% B2=-61% S1=40% S2=24% E1=-11% E2=-45% E3=-80% P=-34% V(Decodability)=88% B1 E1 P B2 S1 E2 V S2 E3 Measurement detail says B1=-31% B2=-45% S1=22% E1=-20% E2=-49% P=-60% V(Decodability)=95% JIS X0507(ISO.IEC 15420) では b2,b1,e2,e1 など右から左への定義が行われている場合がありますが REA 検証機では全ての測定結果を上記の説明のように左から右へレホートするよう統一しています pg. 5

6 JIS X0507(ISO/IEC 15420) EAN/UPC 許容値の計算 Copyright 2012, KK Tb はハー幅及びスヘース幅の許容値 ( 附属書 F 図 F.1 の b で示した三つの寸法 ) Te はシンホルキャラクタ内の隣り合ったハー及びスヘースの許容値附属書 F 図 F.1 の e で示した二つの寸法この寸法はハーの先頭エッシから次のハーの先頭エッシまで又はハーの末尾エッシから次のハーの末尾エッシまでを測った長さである Tp はシンホルキャラクタ全体の幅に対する許容値 ( 附属書 F 図 F.1 の p で示した寸法 ) 倍率 M の許容値 Tb,Te 及び Tp を次のように規定する Tb Te Tp M<=1 であれば Tb=+/-(X-0.229)mm M>1 であれば Tb=+/-(0.470X-0.055)mm Te=+/-0.147X Tp=+/-X 検証機の場合 X は実測から得られた Z モシュール ( 実測細エレメント平均幅 ) で置き換えられます従って上記の検証結果の場合は下記のようになります倍率 (MF) が 1.2 倍なので Tb = +/-(0.470 x )mm = +/ Te = +/ x = mm Tp= +/ x = mm 検証機内では丸められる前の実測値で計算されるため上記の計算結果とは差異があります (*) 上記文書は JIS X0507 附属書 F より一部を引用しています pg. 6

9 補足 Decode テコート ( 読み取り ) に影響を与える要因があるかの判定結果を表示します判定は 0/F( 不合格 ) と 4/A( 合格 ) の 2 段階で行われます不合格となる要因は下記の通りですチェックテシットに誤りがあるクワイエットソーンが狭すぎるコートの長さに問題がある ( コート規格に規定がある場合のみ ) コート内容に問題がある ( コート規格に規定がある場合のみ ) Element determination エラーがある ( 下記を参照 ) Edge determination エラーがある ( 下記を参照 ) Copyright 2012, KK Element determination エラー下図ののホイントが Element determination エラーでエレメント全体の反射率がクローハルスレッショルト ( 赤線 ) に達していない場合に発生するエラーです例えば下記の例ではスヘースエレメント全体の反射率がクローハルスレッショルトに達していません Element determination エラー下図の指を差しているホイントが Edge determination エラーでエレメント内に反射率がクローハルスレッショルトに達していない箇所が 1 つ以上ある場合に発生するエラーです例えば下記の例ではスヘースエレメントの反射率 1 箇所がクローハルスレッショルトに達していません pg. 9

10 Symbol Contrast シンホルコントラスト (SC) の値と判定結果を表示しますシンホルコントラストの計算方法及びクレートは下記を参照くださいシンホルコントラスト (SC) = Rmax Rmin クレートシンホルコントラスト (SC) 4 >=70% 3 >=55% 2 >=40% 1 >=20% 0 <20% Edge Contrast エッシコントラスト (ECmin) の値と判定結果を表示しますエッシコントラストの計算方法及びクレートは下記を参照ください正確には最小エッシコントラスト (ECmin) と呼ばれますエッシコントラスト (ECmin) = Rs Rb クレートエッシコントラスト (ECmin) 4 >=15% 0 <15% Modulation モシュレーション (MOD) の値と判定結果を表示しますモシュレーションの計算方法及びクレートは下記を参照くださいモシュレーション (MOD) = ECmin / SC クレートモシュレーション (MOD) 4 >=70% 3 >=60% 2 >=50% 1 >=40% 0 <40% Copyright 2012, KK pg. 10

11 Rmin/Rmax Rmin/Rmax の値と判定結果を表示します下記のようにクレート判定していますクレート Rmin/Rmax 4 Rmin/Rmax <=50% 0 Rmin/Rmax >50% Rmin はハーの一番反射率の低い値 Rmax はスヘースの一番反射率の高い値です Defects ティフェクト ( 欠陥 ) の値と判定結果を表示しますティフェクトの計算方法及びクレートは下記を参照くださいティフェクト (Defects) = ERNmax / SC クレートティフェクト (Defects) 4 <=15% 3 <=20% 2 <=25% 1 <=30% 0 >30% Decodability テコータヒリティの値と判定結果を表示しますテコ - タヒリティのクレートは下記を参照ください Bar 最小 / 最大ハー偏差値と判定結果を表示します Space 最小 / 最大スヘース偏差値と判定結果を表示します P-Value P-Value の値と判定結果を表示しますクレートテコータヒリティ 4 >=62% 3 >=50% 2 >=37% 1 >=25% 0 <25% Copyright 2012, KK pg. 11

12 Mean 算術平均ハー偏差絶対値を表示します PCS(SC) PCS(SC) の値と判定結果を表示します PCS(SC) は想定される一番良い PCS 値を意味します PCS(SC) の計算方法は下記をください PCS(SC) = (Rmax Rmin) / Rmax Brightness(Rmax) Rmax の値と判定結果を表示します Rmax はスヘースの一番高い反射率値を意味します ( 下図を参照 ) Darkness(Rmin) Rmin の値と判定結果を表示します Rmin はハーの一番低い反射率値を意味します ( 下図を参照 ) Copyright 2012, KK PCS(ECmin) PCS(ECmin) の値と判定結果を表示します PCS(ECmin) は想定される一番悪い PCS 値を意味します PCS(ECmin) の計算方法は下記をください PCS(ECmin) = (Rs Rb) / Rs Brightness(Rs) Rs の値と判定結果を表示します Rs は隣り合ったハーとスヘースの反射率差異が一番小さい箇所のスヘース反射率を意味します ( 下図を参照 ) Darkness(Rb) Rb の値と判定結果を表示します Rb は隣り合ったハーとスヘースの反射率差異が一番小さい箇所のハー反射率を意味します ( 下図を参照 ) pg. 12

13 Z-Module Z-Module の値と判定結果を表示します Z-Module は測定したナローエレメント幅の平均値です ( 実測細エレメント平均幅 ) Ratio レシオの値と判定結果を表示しますレシオはインターリーフト 2/5 やコータハーなど 2 値タイフコートのナローエレメントとワイトエレメントの比率を意味します CPI CPI の値と判定結果を表示します CPI は Character Per Inch の略で 1 インチ (24.5mm) 当たりのキャラクタ数を意味します Copyright 2012, KK pg. 13

14 参考 Decodability : テコータヒリティ Copyright 2012, KK JIS X 0520(ISO/IEC 15416) では復号容易度と訳されているハラメータでその名の示す通り読取機 ( リータ ) から見たテコートのしやすさ読み取りやすさを数値化して 5 段階にクレート分けします算出方法は各ハーコートシンホルの標準規格内で定義されていますまた JIS X 0520(ISO/IEC 15416) に基本となる算出方法が定義されており幾つかのハーコートシンホルではそれをそのまま適用することが可能です下記にクレート表を示しますクレートテコータヒリティ (%) 4 >= 62% 3 >= 50% 2 >= 37% 1 >= 25% 0 < 25% テコータヒリティは読取機 ( リータ ) の観点に立って評価する性質上かなり不正確な印字品質であっても良い評価結果が得られるケースがありますまた逆に小さな変化によって大きく評価を落とすケースもありますもしアフリケーションがテコータヒリティの結果を優先し印字工程での品質を気にしないのであれば問題の無いハーコートであると判断しても良いでしょう但し品質管理が目的であればテコータヒリティのみで判断改善を行うのは不十分ですオフションハラメータを使用し改善すべき点がどこにあるのかを知った上で印字品質改善を行わなければいけませんテコータヒリティのみに頼った品質管理は現場の混乱を招くことになるでしょう pg. 14

15 オフション測定ハラメータ Copyright 2012, KK オフション測定ハラメータはハー幅, スヘース幅及びハー幅とスヘース幅を組み合わせた実測幅と各ハーコートシンホルの規格で定義された基準幅から偏差値を導き出して評価が行なわれます偏差値は許容値とともに絶対偏差値 µm 又は相対偏差値 %( ハーセント ) の何れかでレホートされます評価は下記の図式に従って行われます A-Value : ハー幅 B-Value : 隣接するハーとスヘースを組み合わせた幅 (E-value) P-Value : 1 キャラクタを構成するシンホルキャラクタ幅右図のハーに描かれている赤色の点線はハーコートシンホルの標準規格に沿った基準幅を示しており実際に測定されたハー幅は黒色の長方形で描かれていますハー幅偏差値は常に測定した実際のハー幅と基準幅から導き出されます値がマイナスの場合実際のハー幅が基準幅に対して細り過ぎであることを示しフラスの場合は逆に太り過ぎであることを示しています青色の表に列挙されている値は実測によるハー幅偏差値でこの例では許容値が +/-115µm で極値が -110µm と +120µm となっています許容値は各ハーコートシンホルの標準規格によって定義されており一般的に大きなハーコート (X 寸法が大きい ) ほど許容値も大きくなります E-Value や P-Value など他の寸法測定でも同じ図式手法が使われます計算例許容誤差が 0.1mm(100µm) 基準ハー幅が 0.34mm(340µm のハーコートシンホルを検証したところハー幅が 0.33mm(330µm) と実測されたとしますこの場合ハー幅偏差値は 0.33mm mm = -0.01mm(-10µm) となり相対偏差値は許容誤差が 0.1mm(100µm) なので = -10% になります絶対表示 : ハー幅偏差値 -10µm, 許容値 +/-100µm 相対表示 : ハー幅偏差値 -10%, 許容値 +/-100% 尚相対偏差値の許容値は常に +/-100% となります pg. 15

Bar Width Deviation : ハー幅偏差 Copyright 2012, KK ハー幅偏差は検証結果レホートに Bar という項目で表示されます測定から得られた全ての偏差値から極値が判別され常に極大値と極小値の 2 つの値が表示されますハー幅偏差の理想値は基準ハー幅に対して全く誤差が無いことを意味する極大値 0 と極小値 0 になります表示単位は絶対表示の

16 Bar Width Deviation : ハー幅偏差 Copyright 2012, KK ハー幅偏差は検証結果レホートに Bar という項目で表示されます測定から得られた全ての偏差値から極値が判別され常に極大値と極小値の 2 つの値が表示されますハー幅偏差の理想値は基準ハー幅に対して全く誤差が無いことを意味する極大値 0 と極小値 0 になります表示単位は絶対表示の µm 又は相対表示の % となります前節オフション測定ハラメータを参照ください絶対表示例 (µm) 相対表示例 (%) Bar +24µm +5µm +/-80µm Bar -30% 6% +/-100% 下記は TransWin32 のクラフィック表示例ですこの例では極大値 3% 極小値 -29% 平均値 -14% となっていますクラッフィク表示により視覚的に評価結果を瞬時に把握することが可能になります Average Bar Width Deviation : 平均ハー幅偏差ハー幅偏差は検証結果レホートに Mean という項目で表示されます平均ハー幅偏差は先の測定から得られた全てのハー幅偏差から算出した平均値です実際の個々のハー偏差はフラス値であたりマイナス値であったりばらつきがあるため平均ハー幅偏差は大きな意味を持つ値ではなく計算から求められた参照値に過ぎません例えば極値がフラス値とマイナス値に大きく異なる場合でも平均値は 0 又はそれに近い値を示すからですよってこの値を基準にハーコートの補正を行うことは完全に間違ったアフローチとなります pg. 16

Space Width Deviation : スヘース幅偏差 Copyright 2012, KK スヘース幅偏差は検証結果レホートに Space という項目で表示されますハーでは無くスヘースに対しての偏差であることを除けばハー幅偏差と同様です Bar Width Deviation を参照ください E-Value : E ハリュー E-Value は検証結果レホ

17 Space Width Deviation : スヘース幅偏差 Copyright 2012, KK スヘース幅偏差は検証結果レホートに Space という項目で表示されますハーでは無くスヘースに対しての偏差であることを除けばハー幅偏差と同様です Bar Width Deviation を参照ください E-Value : E ハリュー E-Value は検証結果レホートに E-Value という項目で表示されます下図に示すように隣接するハーとスヘースを組み合わせた幅の偏差ですこれはコート 128 や UPC/EAN など一部のハーコートシンホルのテコーティンクに用いられていますハー幅偏差と同様測定から得られた全ての偏差値から極値が判別され常に極大値と極小値の 2 つの値が表示されます Bar Width Deviation を参照ください P-Value : P ハリュー P-Value は検証結果レホートに P-Value という項目で表示されます 1 キャラクタ ( 又はコートワート ) を構成するシンホルキャラクタ幅の偏差でハー幅偏差と同様測定から得られた全ての偏差値から極値が判別され常に極大値と極小値の 2 つの値が表示されます Bar Width Deviation を参照ください一部のケースを除き通常ハー幅偏差, スヘース幅偏差, E-Value が規格範囲内であれば P-Value も適切であると仮定されます pg. 17

正しいアハチャサイス Copyright 2012, KK ハーコート検証を行う場合基準最小モシュール (X) の 80% が最適なアハチャサイスとされています 80% ルールに基づいた推奨アハチャサイスと基準最小モシュール (X) の対応表を下記に示しますアハチャサイス基準最小モシュール (X) 6 mil >= 187 μm (0.

18 正しいアハチャサイス Copyright 2012, KK ハーコート検証を行う場合基準最小モシュール (X) の 80% が最適なアハチャサイスとされています 80% ルールに基づいた推奨アハチャサイスと基準最小モシュール (X) の対応表を下記に示しますアハチャサイス基準最小モシュール (X) 6 mil >= 187 μm (0.187mm) 8 mil >= 250 μm (0.250mm) 10 mil >= 312 μm (0.312mm) 20 mil >= 625 μm (0.625mm) GS1 General Specification では下記の表のようにハーコートシンホル毎にアハチャサイスが規定されています (*) GS1 General Specification ハーション 10 からの抜粋です最新情報は GS1 の WEB サイトを参照ください使用場所が限定されているアフリケーションの場合は使用するハーコートリータのアハチャサイスに合わせて検証を行えば良いでしょう大き過ぎるアハチャサイスを使用した場合検証対象コートのナローハー / ナロースヘースより幅広いアハチャとなり正しい検証が行えませんこの場合エッシコントラストの評価が悪くなり結果としてモシュレーションも悪くなってしまいます pg. 18

の結果に大きく影響を与えることになりますホイト (Void) は白い欠けを意味しますスホット (Spot) は

19 Copyright 2012, KK 推奨より小さいアハチャサイスを使用した場合でも検証対象が高品質ハーコートであれば特に影響はありません但しより細かいホイトやスホットを検出することになるためティフェクト ( 欠陥 ) の結果に大きく影響を与えることになりますホイト (Void) は白い欠けを意味しますスホット (Spot) は黒いしみを意味しますアハチャサイスが大き過ぎアハチャサイスとモシュールサイスが同じ ( 推奨できない ) 基準最小モシュール (X) の 80% 以下のアハチャサイス pg. 19

改訂記録改訂番号改訂日 Rev /05/01( 初版 ) Rev /12/19 SD-120 対応 Rev /0513 P.49 シンホルタイフ表のコマントハーコート修正 1. 本書の内容に関しては将来予告無しに変更することがあります

改訂記録改訂番号改訂日 Rev /05/01( 初版 ) Rev /12/19 SD-120 対応 Rev /0513 P.49 シンホルタイフ表のコマントハーコート修正 1. 本書の内容に関しては将来予告無しに変更することがあります対応機種 SD-100 SD-120 SD-300 SD-500 SD-700 改訂記録改訂番号改訂日 Rev.1.0 2012/05/01( 初版 ) Rev.1.1 2014/12/19 SD-120 対応 Rev.1.2 2015/0513 P.49 シンホルタイフ表のコマントハーコート修正 1. 本書の内容に関しては将来予告無しに変更することがあります 2. 本取扱説明書の全部又は一部を無断で複製することはできません

コート 検証とは WELCOM DESIGN EAN Verification Report Copyright 2012, WELCOM DESIGN KK 検証結果は コート の問題点 欠陥を表示します アフ リケーションや程度により ほとんど気付かない程度の小さな欠陥から全く読み取りさえできな

コート検証とは WELCOM DESIGN EAN Verification Report Copyright 2012, WELCOM DESIGN KK 検証結果はコートの問題点欠陥を表示しますアフリケーションや程度によりほとんど気付かない程度の小さな欠陥から全く読み取りさえできな