日本電子 newsVol.47 No.1 (2015)

Size: px
Start display at page:

Download "日本電子 newsVol.47 No.1 (2015)"

Transcription

1 ISSN August 2015 Vol.47 No.1

2 Contents August 2015 Vol.47 No nm 1 news Vol.47 No.1 (2015)

3 news Vol.47 No.1 (2015) 2

4 3 news Vol.47 No.1 (2015)

5 news Vol.47 No.1 (2015) 4

6 5 news Vol.47 No.1 (2015)

7 news Vol.47 No.1 (2015) 6

8 7 news Vol.47 No.1 (2015)

9 news Vol.47 No.1 (2015) v t = L/v... 1 ezv 0 = muv v = 2ezV 0/ mu... t = L u m 2eV 0 z... 8

10 m/z = M monomer n + M end +M... cation Fig.1 TES3 Y direction orbit plane TES1 DET1 Ion gate TES4 TES2 From ion source 9 news Vol.47 No.1 (2015)

11 news Vol.47 No.1 (2015) Fig. 2 10

12 Fig news Vol.47 No.1 (2015)

13 news Vol.47 No.1 (2015) M k = M IUPAC... Fig. 4 12

14 Fig news Vol.47 No.1 (2015)

15 日本電子 news Vol.47 No.1 (2015) Fig. 6 Fig. 7 (2 32 5HV & SHDN RI ( ϭϯϭϳ ϳ ϭϯϭϳ ϴ ϭϯϭϳ ϵ ϭϯϭθ Ϭ ϭϯϭθ ϭ ϭϯϭθ Ϯ P ] 32 (2 32 (2 (2.0' (2 32 (2 32 (2 32 ϭϯϭϯ ϭϯϭϰ ϭϯϭϱ ϭϯϭϲ ϭϯϭϳ ϭϯϭθ ϭϯϭϵ ϭϯϭϭ ϭϯϭϭ ϭϯϭϯ ϭϯϭϯ P ] (2 (2 1.0 ϲϭϭ ϭϭϭϭ ϭϲϭϭ ϮϭϬϬ P ] ϮϲϬϬ ϯϭϭϭ ϯϲϭϭ P EO-b -PO 試料のマススペクトル 下図はマススペクトルの全体図であり 中段 はm/z の拡大図 上段はm/z の拡大図 参考 文献 5 からの引用 オープンアクセス P EO-b -PO のKMDプロット 点線は 同じ組成をもつEOおよびPOの分布の 計算値 各ドットの大きさは ピーク強度を反映している 参考文献 5 からの引用 オープンアクセス きるため 高分解能質量分析を用いて膨大な数のピークが観測され 学術的な分野から工業材料開発の現場へと幅広く展開 発展してい る共重合体などの複雑な試料の構造解析に有効であると考えられる くことが期待される 参考文献 おわりに 1 Satoh T. Tsuno H. Iwanaga M. Kammei Y.: The MALDI-TOFMSは ポリマーのキャラクタリゼーションの有力な design and characteristic features of a new time-of-flight ツールとしての地位を築きつつあるように思われる しかし 複雑な mass spectrometer with a spiral ion trajectory. J. Am. 組成をもつ工業材料の分析においては 分解能が不足することによ Soc. Mass Spectrom り 解析が不十分である場合が多かった スパイラルイオン軌道を もつ新しいTOFMS装置 SpiralTOF は その高分解能を活用 して工業材料のキャラクタリゼーションにブレイクスルーをもたらすもの として期待される 2 Satoh T. Sato T. Tamura J.: Development of a highperformance MALDI-TOF mass spectrometer utilizing a spiral ion trajectory. J. Am. Soc. Mass Spectrom 本稿で述べた1番目の応用事例は 共重合体の詳細な構造解析 3 Sato H. Ishii Y. Momose H. Sato T. Teramoto K.: に関するものであった ここでは 高分解能測定により同重体イオン Structural characterization of free radical polymerized をピーク分離し 末端基及び共重合組成の組み合わせが異なる成 methacrylate ester copolymers using high-resolution 分のピークをほぼ完全に帰属して 詳細な化学構造を決定すること MALDI-TOFMS with a spiral ion trajectory. Mass ができた しかし 解析現場ではこのような詳細なデータ解析は煩 Spectrometry 2 A 雑であり 実用分析としては必ずしも適していない そこで 2番目 4 Kendrick E.: A mass scale based on CH2= の応用事例では 膨大な数のピークから必要な情報を抽出するデー for high resolution mass spectrometry of organic タ処理法としてKMDプロット解析を紹介した この方法を用いれば compounds. Anal. Chem 全くピークの帰属を行わずに ポリマー混合物や共重合体などの組 5 Sato H. Nakamura S. Teramoto K. Sato T.: 成分布を二次元展開して視覚的に表現することが可能となる この Structural characterization of polymers by MALDI プロットのパターンから ポリマー材料の品質管理や異同識別 ある spiral-tof mass spectrometry combined with Kendrick いは劣化プロセスなどを評価することができる このように 高分解 mass defect analysis. J. Am. Soc. Mass Spectrom. 25 能MALDI spiral-tofmsによるポリマーのキャラクタリゼーションは Open access. 14

16 15 news Vol.47 No.1 (2015)

17 news Vol.47 No.1 (2015) Fig. 1 Fig. 2 16

18 < H > < C > = n R,... < H > + < C > = n R.... Fig news Vol.47 No.1 (2015)

19 news Vol.47 No.1 (2015) Fig. 4 18

20 Fig news Vol.47 No.1 (2015)

21 news Vol.47 No.1 (2015) Fig. 6 20

22 21 news Vol.47 No.1 (2015)

23 news Vol.47 No.1 (2015) 22

24 23 news Vol.47 No.1 (2015)

25 24 news Vol.47 No.1 (2015)

26 25 news Vol.47 No.1 (2015)

27 news Vol.47 No.1 (2015) 26

28 27 news Vol.47 No.1 (2015)

29 news Vol.47 No.1 (2015) 28

30 29 news Vol.47 No.1 (2015)

31 news Vol.47 No.1 (2015) 30

32 31 news Vol.47 No.1 (2015)

33 news Vol.47 No.1 (2015) 32

34 33 news Vol.47 No.1 (2015)

35 news Vol.47 No.1 (2015) 34

36 35 news Vol.47 No.1 (2015)

37 news Vol.47 No.1 (2015) 36

38 Electrostatic lenses Source magnet Sample ions Helium ions Plug & socket type chamber (EI, CI) Low-acceleration ion transfer system oa-tofms system 37 news Vol.47 No.1 (2015)

39 news Vol.47 No.1 (2015) OFN 1pg Extracted Ion Chromatogram (EIC): m/z /- 50ppm OFN 1pg EI mass spectrum RP: 10,043 Mass error: -0.8 mda (C 10 F 8 + : m/z ) Injection No.1 Injection No.2 Injection No.3 Injection No.4 Injection No.5 Injection No.6 Injection No.7 Injection No.8 Injection No. Peak Area Relative Standard Deviation (%) 5.2 IDL (fg) 16 38

40 C 6 F 11 + C 7 H 21 O 4 Si 4 + RP: 10,476 m: 27mDa JMS-T200GC AccuTOF GCx (4 th model) C 6 F 11 + C 7 H 21 O 4 Si 4 + RP: 5,105 m: 55mDa JMS-T100GC AccuTOF GC (1 st model) 1 EI+ Mode Ion Obs. m/z Error (mda) Formula EI C 3 H 9 Si C 5 H 11 Si C 6 H 15 Si M + FI+ FI+ M C 9 H 20 Si m/z 99 m/z 73 (+H) m/z news Vol.47 No.1 (2015)

41 news Vol.47 No.1 (2015) [H-(C 8 H 8 ) 57 -C 4 H 9 + Li] + 40

42 msaxel Main view msaxel Data Processing view 41 news Vol.47 No.1 (2015)

43 news Vol.47 No.1 (2015) 42

44 43 news Vol.47 No.1 (2015)

45 news Vol.47 No.1 (2015) Pole piece(upper) (1)Position (high) (2)Position (Low) SDD1 SDD2 Pole piece(lower) 44

46 Probe current : 1nA Specimen : NiO 2 thin film Acquisition time : 60sec 45 news Vol.47 No.1 (2015)

47 news Vol.47 No.1 (2015) 46

48 HAADF Au Pd 17 nm Intensity profiles 0.6nm Au+Pd (a) Before mapping (b) After mapping (18 min later) 47 news Vol.47 No.1 (2015)

49 news Vol.47 No.1 (2015) 48

50 49 news Vol.47 No.1 (2015)

51 50 news Vol.47 No.1 (2015)

52 51 news Vol.47 No.1 (2015)

53 52 news Vol.47 No.1 (2015)

54 53 news Vol.47 No.1 (2015)

55 news Vol.47 No.1 (2015) 54

56 55 news Vol.47 No.1 (2015)

57 news Vol.47 No.1 (2015) 56

58 57 news Vol.47 No.1 (2015)

59 news Vol.47 No.1 (2015) 58

60 59 news Vol.47 No.1 (2015)

61 news Vol.47 No.1 (2015) 60

62 (d) 61 news Vol.47 No.1 (2015)

63 news Vol.47 No.1 (2015) JES-X3 Series 62

64 No. (Kp)

Japanese Journal of Pesticide Science 42(1): (2017)

Japanese Journal of Pesticide Science 42(1): (2017) 42(1), 203 203 215 (2017) DOI: 10.1584/jpestics.W17-54 1, * 2, ** 3, *** 4, **** 4 1 2 3 4 2017 1 6 Recent data analysis technique in mass spectrometry Takaya Satoh, 1 Kentaro Takahara, 2 Tomoaki Kondo,

More information

Microsoft Word - 5MS.doc

Microsoft Word - 5MS.doc 5 5.1 mass spectrometer electron impact, EI 5.1 :;"< 789 =>? *!"#$%& '%&(),,,-./ 0.12%3456 :;"@AB CDEFG:;"HIJK@LMN :;"@HIOPQ0RST6 5.1. 70 ev molecular ion #"$%& M M e!"!"'() #" m/z ; m = z = 1 mass spectrum,

More information

untitled

untitled 27.2.9 TOF-SIMS SIMS TOF-SIMS SIMS Mass Spectrometer ABCDE + ABC+ DE + Primary Ions: 1 12 ions/cm 2 Molecular Fragmentation Region ABCDE ABCDE 1 15 atoms/cm 2 Molecular Desorption Region Why TOF-SIMS?

More information

平成26年度 化学物質分析法開発報告書

平成26年度 化学物質分析法開発報告書 N,N- N,N-Dimethylacetamide Acethyldimethylamine CAS 127-19-5 C 4 H 9 NO 87.12 ~ 87.14 87.68413 163-165 C 1) - 18.59 C 2) 1 mg/l 25 C 3) 3.3 hpa 2 C 4) log P ow -.77 2).9429 2/4 C 1) 3.1 4) 1.31E - 8 atm-m

More information

Microsoft PowerPoint - S-17.ppt

Microsoft PowerPoint - S-17.ppt In situ XRD および XAFS を用いた燃料電池アノード触媒電極の劣化解析 日本電気 ( 株 ) 松本匡史 [email protected] 直接型メタノール燃料電池の PtRu アノードにおいて Ru は触媒被毒の原因である CO の酸化を促進する役割を持ち 電池出力の向上に不可欠な要素である しかし 長時間運転時には Ru が溶出し 性能が劣化する Ru 溶出は 運転時の

More information

針葉樹の材種の鑑別

針葉樹の材種の鑑別 34 1995 * * ** ** Identification of wood species in conifer wood Toshikazu HIRAKI*, Masahito KOTA*, Toshimune KAWAGUCH* Yukari IKEHARA**, Masaaki ARIME**, Souei SATOU** *Osaka Customs Laboratory 4 10 3,

More information

X線分析の進歩36 別刷

X線分析の進歩36 別刷 X X X-Ray Fluorescence Analysis on Environmental Standard Reference Materials with a Dry Battery X-Ray Generator Hideshi ISHII, Hiroya MIYAUCHI, Tadashi HIOKI and Jun KAWAI Copyright The Discussion Group

More information

86 MS MS GC LC GC LC Fig. 1.MS 3. 質 量 分 析 計 の 構 成 1 試 料 導 入 部 2イオン 化 部 3イオン 分 離 部 4イオン 検 出 部 5データ 処 理 部 10 4 10 6 Pa Fig. 2.

86 MS MS GC LC GC LC Fig. 1.MS 3. 質 量 分 析 計 の 構 成 1 試 料 導 入 部 2イオン 化 部 3イオン 分 離 部 4イオン 検 出 部 5データ 処 理 部 10 4 10 6 Pa Fig. 2. Bulletin of Osaka University of Pharmaceutical Sciences 6 (2012) 85 有 機 化 学 実 験 のための 易 しいマススペクトロメトリー Concise Mass Spectrometry for Experiments of Organic Chemistry Note Mihoyo Fujitake Osaka University

More information

1-x x µ (+) +z µ ( ) Co 2p 3d µ = µ (+) µ ( ) W. Grange et al., PRB 58, 6298 (1998). 1.0 0.5 0.0 2 1 XMCD 0-1 -2-3x10-3 7.1 7.2 7.7 7.8 8.3 8.4 up E down ρ + (E) ρ (E) H, M µ f + f E F f + f f + f X L

More information

01.indd

01.indd 2 Vol. 27 1 1 2 2 4 Vol. 27 Contents 3 Vol. 27 2 01 02 03 04 14 24 28 37 38 4 Vol. 27.01 5 Vol. 27.01 6 Vol. 27 7 Vol. 27.01 8 Vol. 27.02 9 Vol. 27.02 10 Vol. 27 11 Vol. 27.02 12 Vol. 27 13 Vol. 27.02

More information

CONTENTS 2012 2 Vol.65 No.2 ~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~ ~~~~~~~~~ ~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~ ~~~~~~~~~

CONTENTS 2012 2 Vol.65 No.2 ~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~ ~~~~~~~~~ ~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~ ~~~~~~~~~ 2 2012 CONTENTS 2012 2 Vol.65 No.2 ~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~ ~~~~~~~~~ ~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~ ~~~~~~~~~ 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30

More information

<4D F736F F D F90858C6E5F C B B B838B>

<4D F736F F D F90858C6E5F C B B B838B> Isobutyl alcohol IUPAC 2-methylpropan-1-ol 2--1-2-Methyl-1-Propanol, Isobutanol CH 3 H 3 C OH CAS 78-83-1 C 4 H 10 O log P ow ( C) ( C) (kpa) (g/l) 74.12 74.14 1) -108 2) 108 2) 1.2 2) 87 2) 0.8 2) (74.1214)

More information

ochem2_30

ochem2_30 第 30 回 有機化合物の構造決定 (2) NMR NMR NMR 質量分析法 赤外分光法 NMR 1. 質量分析法の原理 1913 Thomson (Proc. R. Soc. Lond. A 1913, 89, 1 26) Thomson Thomson 20 Ne 22 Ne Thomson mv/qb m q v B m/q Thomson 1 EI 法 ( electron ionization,

More information

日立金属技報 Vol.34

日立金属技報 Vol.34 Influence of Misorientation Angle between Adjacent Grains on Magnetization Reversal in Nd-Fe-B Sintered Magnet Tomohito Maki Rintaro Ishii Mitsutoshi Natsumeda Takeshi Nishiuchi Ryo Uchikoshi Masaaki Takezawa

More information

717A 33 2 53 52B 429 430G 34 2005 5 5 2005 13 28 17 17 36 35 17 29 423G 424A 51A 7 41 7 54 5 59 51A4556 17 3 14 11 22 6 24 54 35 17 55 22 18 32 56F 57

717A 33 2 53 52B 429 430G 34 2005 5 5 2005 13 28 17 17 36 35 17 29 423G 424A 51A 7 41 7 54 5 59 51A4556 17 3 14 11 22 6 24 54 35 17 55 22 18 32 56F 57 Vol.13 CONTENTS P2.3s P4.5s P6.6s P7.7s P8.8s s 1 717A 33 2 53 52B 429 430G 34 2005 5 5 2005 13 28 17 17 36 35 17 29 423G 424A 51A 7 41 7 54 5 59 51A4556 17 3 14 11 22 6 24 54 35 17 55 22 18 32 56F 57G

More information

第122号.indd

第122号.indd -1- -2- -3- 0852-36-5150 0852-36-5163-4- -5- -6- -7- 1st 1-1 1-2 1-3 1-4 1-5 -8- 2nd M2 E2 D2 J2 C2-9- 3rd M3 E3 D3 J3 C3-10- 4th M4 E4 D4 J4 C4-11- -12- M5 E5 J5 D5 C5 5th -13- -14- NEWS NEWS -15- NEWS

More information

Fig. ph Si-O-Na H O Si- Na OH Si-O-Si OH Si-O Si-OH Si-O-Si Si-O Si-O Si-OH Si-OH Si-O-Si H O 6

Fig. ph Si-O-Na H O Si- Na OH Si-O-Si OH Si-O Si-OH Si-O-Si Si-O Si-O Si-OH Si-OH Si-O-Si H O 6 NMR ESR NMR 5 Fig. ph Si-O-Na H O Si- Na OH Si-O-Si OH Si-O Si-OH Si-O-Si Si-O Si-O Si-OH Si-OH Si-O-Si H O 6 Fig. (a) Na O-B -Si Na O-B Si Fig. (b) Na O-CaO-SiO Na O-CaO-B -Si. Na O-. CaO-. Si -. Al O

More information

258 5) GPS 1 GPS 6) GPS DP 7) 8) 10) GPS GPS 2 3 4 5 2. 2.1 3 1) GPS Global Positioning System

258 5) GPS 1 GPS 6) GPS DP 7) 8) 10) GPS GPS 2 3 4 5 2. 2.1 3 1) GPS Global Positioning System Vol. 52 No. 1 257 268 (Jan. 2011) 1 2, 1 1 measurement. In this paper, a dynamic road map making system is proposed. The proposition system uses probe-cars which has an in-vehicle camera and a GPS receiver.

More information

JFE(和文)No.4-12_下版Gのコピー

JFE(和文)No.4-12_下版Gのコピー JFE No. 4 245 p. 6358 Electrical Steels for Advanced Automobiles Core Materials for Motors, Generators, and High-frequency Reactors SENDA Kunihiro JFE NAMIKAWA JFEMisao HAYAKAWA JFEYasuyuki JNE JNEH JGE

More information

75 unit: mm Fig. Structure of model three-phase stacked transformer cores (a) Alternate-lap joint (b) Step-lap joint 3 4)

75 unit: mm Fig. Structure of model three-phase stacked transformer cores (a) Alternate-lap joint (b) Step-lap joint 3 4) 3 * 35 (3), 7 Analysis of Local Magnetic Properties and Acoustic Noise in Three-Phase Stacked Transformer Core Model Masayoshi Ishida Kenichi Sadahiro Seiji Okabe 3.7 T 5 Hz..4 3 Synopsis: Methods of local

More information

P.37 P.816 P.17 P.1819 contents 1 2

P.37 P.816 P.17 P.1819 contents 1 2 201211 NEW! P.37 P.816 P.17 P.1819 contents 1 2 3 4 5 6 7 8 http://www.tokiomarine-nichido.co.jp/ 1 2 16 3 11 4 1 18 9 10 5 6 11 12 18 9 10 6 7 8 13 1411 12 5 13 14 15 1615 16 21 17 18 0120-071-281 19

More information

J. Mass Spectrom. Soc. Jpn.: 58(5), (2010)

J. Mass Spectrom. Soc. Jpn.: 58(5), (2010) J. Mass Spectrom. Soc. Jpn. Vol. 58, No. 5, 2010 REVIEW 9 Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) SIMS SIMS Fundamentals of Mass Spectrometry Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS), Cluster SIMS, and Electrospray

More information

a b Chroma Graphein Chromatography

a b Chroma Graphein Chromatography a b Chroma Graphein Chromatography (Stationary Phase) (Mobile Phase) CHROMATOGRAPHY GAS SFC LIQUID GSC GLC Column Planar NP RP IEC SEC TLC Paper Normal Phase Reverse Phase GPC GFC Thin Layer Chromato.

More information

1 Kinect for Windows M = [X Y Z] T M = [X Y Z ] T f (u,v) w 3.2 [11] [7] u = f X +u Z 0 δ u (X,Y,Z ) (5) v = f Y Z +v 0 δ v (X,Y,Z ) (6) w = Z +

1 Kinect for Windows M = [X Y Z] T M = [X Y Z ] T f (u,v) w 3.2 [11] [7] u = f X +u Z 0 δ u (X,Y,Z ) (5) v = f Y Z +v 0 δ v (X,Y,Z ) (6) w = Z + 3 3D 1,a) 1 1 Kinect (X, Y) 3D 3D 1. 2010 Microsoft Kinect for Windows SDK( (Kinect) SDK ) 3D [1], [2] [3] [4] [5] [10] 30fps [10] 3 Kinect 3 Kinect Kinect for Windows SDK 3 Microsoft 3 Kinect for Windows

More information

untitled

untitled 1 2 3 4 5 130mm 32mm UV-irradiation UV-cationic cure UV-cationic cure UV-cationic cure Thermal cationic Reaction heat cure Thermal cationic Cation Reaction heat cure Cation (a) UV-curing of

More information

HPLC カラム 総合カタログ 2015

HPLC カラム 総合カタログ 2015 HPLC カラム 総合カタログ 201 HPLC ZIC -HILIC ZIC -chilic ZIC -philic Chromolith HighResolution RP-8e RP-8 RP-selectB Si Chromolith NH 2 CN DIL NEW Phenyl PAH PAH PEEK PEEK PEEK PEEK PEEK (µm) 3., 3 - - (Å 100,

More information

positron 1930 Dirac 1933 Anderson m 22Na(hl=2.6years), 58Co(hl=71days), 64Cu(hl=12hour) 68Ge(hl=288days) MeV : thermalization m psec 100

positron 1930 Dirac 1933 Anderson m 22Na(hl=2.6years), 58Co(hl=71days), 64Cu(hl=12hour) 68Ge(hl=288days) MeV : thermalization m psec 100 positron 1930 Dirac 1933 Anderson m 22Na(hl=2.6years), 58Co(hl=71days), 64Cu(hl=12hour) 68Ge(hl=288days) 0.5 1.5MeV : thermalization 10 100 m psec 100psec nsec E total = 2mc 2 + E e + + E e Ee+ Ee-c mc

More information

PowerPoint プレゼンテーション

PowerPoint プレゼンテーション Mass Spectroscopy(MS) EI electron impact, electron impact ionization, electron bombardment ionization ( ) IUPAC electron ionization ( ) ( 31 (1997)) MS m/z( / ) 1 C 12.011 C 98.9% 13 C 1.1% m/z m z m/z

More information

The Evaluation of LBB Behavior and Crack Opening Displacement on Statically Indeterminate Piping System Subjected to Monotonic Load The plastic collap

The Evaluation of LBB Behavior and Crack Opening Displacement on Statically Indeterminate Piping System Subjected to Monotonic Load The plastic collap The Evaluation of LBB Behavior and Crack Opening Displacement on Statically Indeterminate Piping System Subjected to Monotonic Load The plastic collapse and LBB behavior of statically indeterminate piping

More information

2007 Vol.56 No.6 総説 丸山浩樹

2007 Vol.56 No.6 総説 丸山浩樹 Reprinted from RADIOISOTOPES, Vol.56,.6 June 2007 Japan Radioisotope Association http : //www.jrias.or.jp/ α β α β ε m z α µ µ α m z m z µ µ Curr. Opin. Biotechnol J. Proteome Res Rapid Commun. Mass

More information

Agilent RapidFire 365 ハイスループット質量分析システム 創薬プロセスを加速する HTS システムテクノロジー

Agilent RapidFire 365 ハイスループット質量分析システム 創薬プロセスを加速する HTS システムテクノロジー Agilent RapidFire 365 ハイスループット質量分析システム 創薬プロセスを加速する HTS システムテクノロジー Agilent RapidFire 365 HTS RapidFire 365 MS ADME RapidFire 365 1 2 RapidFire 1 8 RapidFire 365 12 63 Agilent BenchBot 20,000 60 RapidFire

More information

3 3.2 4.9 0.5 1 0.25 1.7 0.75 1.8 2.9 2.5 SW2 SW1 SW2 SW1 1.4 1.4 For reflow soldering 1.5 3.4 1.5 0.7 1.1 1.1 0.35 0.55 3.5 0.55 (0.35) 3.2 2.4 3.7 2.1 3.3 For reflow soldering 1.0 1.1 (D) 0.7 2.7 0.7

More information

Table 1: Basic parameter set. Aperture values indicate the radius. δ is relative momentum deviation. Parameter Value Unit Initial emittance 10 mm.mrad

Table 1: Basic parameter set. Aperture values indicate the radius. δ is relative momentum deviation. Parameter Value Unit Initial emittance 10 mm.mrad SuperKEKB EMITTANCE GROWTH BY MISALIGNMENTS AND JITTERS IN SUPERKEKB INJECTOR LINAC Y. Seimiya, M. Satoh, T. Suwada, T. Higo, Y. Enomoto, F. Miyahara, K. Furukawa High Energy Accelerator Research Organization

More information

1 2 8 24 32 44 48 49 50 SEC journal Vol.11 No.2 Sep. 2015 1 2 SEC journal Vol.11 No.2 Sep. 2015 SEC journal Vol.11 No.2 Sep. 2015 3 4 SEC journal Vol.11 No.2 Sep. 2015 SEC journal Vol.11 No.2 Sep. 2015

More information

Fig, 1. Waveform of the short-circuit current peculiar to a metal. Fig. 2. Waveform of arc short-circuit current. 398 T. IEE Japan, Vol. 113-B, No. 4,

Fig, 1. Waveform of the short-circuit current peculiar to a metal. Fig. 2. Waveform of arc short-circuit current. 398 T. IEE Japan, Vol. 113-B, No. 4, Development of a Quick-Acting Type Fuses for Protection of Low Voltage Distribution Lines Terukazu Sekiguchi, Member, Masayuki Okazaki, Member, Tsuginori Inaba, Member (CRIEPI), Naoki Ikeda, Member, Toshiyuki

More information

X X 1. 1 X 2 X 195 3, 4 Ungár modified Williamson-Hall/Warren-Averbach 5-7 modified modified Rietveld Convolutional Multiple Whole Profile CMWP 8 CMWP

X X 1. 1 X 2 X 195 3, 4 Ungár modified Williamson-Hall/Warren-Averbach 5-7 modified modified Rietveld Convolutional Multiple Whole Profile CMWP 8 CMWP X X a a b b c Characterization of dislocation evolution during work hardening of stainless steels by using XRD line-profile analysis Tomoaki KATO a, Shigeo SATO a, Yoichi SAITO b, Hidekazu TODOROKI b and

More information

T-MAX400フィルム データシート(納品用最終版)

T-MAX400フィルム データシート(納品用最終版) INFORMATION FROM KODAK T-MAX 400 T 400 T-MAX 400 100 T-MAX 400 TSC0585TSC0585-Y T 400 400 400 NEW 400TMY-2 24 24 2 3 T-MAX 400 400TMY EI400 EI800 EI1600 Eastman Kodak Company, 2007 T-MAX 400 EI400 ISO

More information

110 B U N S E K I K A G A K U Vol Fig. 1 system Schematic diagram of the plasma measurement Fig. 2 Photograph of a time-resolved obserbation

110 B U N S E K I K A G A K U Vol Fig. 1 system Schematic diagram of the plasma measurement Fig. 2 Photograph of a time-resolved obserbation BUNSEKI KAGAKU Vol. 63, No. 2, pp. 109-117 2014 2014 The Japan Society for Analytical Chemistry 109 ICP 1 1 1 1 0.1 1 nl ICP ICP ICP He-ICP 3.4 khz Ar-ICP 17.3 khz He-ICP 24 ms Ar-ICP 130 ms He-ICP 3000

More information

untitled

untitled Tokyo Institute of Technology high-k/ In.53 Ga.47 As MOS - Defect Analysis of high-k/in.53 G a.47 As MOS Capacitor using capacitance voltage method,,, Darius Zade,,, Parhat Ahmet,,,,,, ~InGaAs high-k ~

More information

fj111_109

fj111_109 15 1 111 Super Low-Loss / Super High-Density Multi-fiber Optical Connector * * * *2 Katsuki Suematsu Masao Shinoda Takashi Shigenaga Jun Yamakawa *2 *3 *3 Masayoshi Tsukamoto Yoshimi Ono Takayuki Ando

More information

hν 688 358 979 309 308.123 Hz α α α α α α No.37 に示す Ti Sa レーザーで実現 術移転も成功し 図 9 に示すよ うに 2 時間は連続測定が可能な システムを実現した Advanced S o l i d S t a t e L a s e r s 2016, JTu2A.26 1-3. 今後は光周波 数比計測装置としてさらに改良 を加えていくとともに

More information

(Microsoft PowerPoint - \201\232\203|\203X\203^\201[)

(Microsoft PowerPoint - \201\232\203|\203X\203^\201[) [ 2Pf012 ] 溶液ラジカル重合における末端変性アクリル系ポリマーの合成 Synthesis of terminal-modified acrylic polymers by the solution polymerization with radical initiators. ( 株 )DNP ファインケミカル 西馬千恵 清水圭世 竹岡知美 有富充利 顔料分散体 インクジェットインクやカラーフィルタ用レジストなどの顔料分散体が優れた性能を発揮するためには

More information