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インパルス巻線試験機 超 低インダクタンスには Impulse Winding Tester IWT-1000L IWT-1000L は 超低インダクタンス コイル測定用に特別に設計されたインパルス巻線試験機 ( インパルスウィンディングテスタ ) で プログラマブル DC 測定電圧 10V~1000V を提供します 測定されるインダクタンス レンジは 0.1μH~50mH で 高出力インダクタンス, トランスフォーマー, ワイヤレス チャージャー コイルなど様々なコイルのほとんどすべてをカバーします 超! 低インダクタンス測定レンジ 0.1μH 10V~1000V プログラマブル DC 電圧 高サンプリングレート 4 波形比較方式でシンプル & 迅速検査 超! 低電圧測定ステップでベスト波形解析 付属品ハイボルテージテストラインケーブル, 電源コード, ユーザマニュアル, USB インターフェイスケーブル, RS232C ケーブル, CD-ROM 用途 超低インダクタンスコイル測定 チップ測定 パワーインダクタンス測定 チョークコイル測定 巻線数の少ないコイル測定など 仕様 IWT-1000L 印加電圧 10V~1,000V 出力エネルギー 15mJ (Max) 試験インダクタンス範囲 0.1μH ~ 50mH サンプリングスピード 200MHz / 5ns サンプリングメモリー長 5000 Byte 入力レジスタンス 10MΩ ディスプレイ解像度 5.6インチカラー LCD (320 x 234) 判定モード Area Size, Area Difference, Corona Amount, Corona Number 波形保存 360 Sets of waveforms 判定出力 Pass/Fail, beeping インターフェース USB, RS232C, I/O 入力電源 90VAC ~ 260VAC 周波数範囲 50/60Hz 寸法 31cm x 15cm x 18cm 重量 4.5Kg 動作環境 0 ~40 * 仕様 価格は変更される場合がございます 最新の情報につきましては下記までお問い合わせください

インパルス巻線試験機 高電圧コイル測定には Impulse Winding Tester IWT-10KV 高電圧コイルインパルステスター IWT-10KV は 10,000VDC インパルス電圧, 100MHz の高速サンプリングレートを提供します 高出力インダクター, トランスフォーマー, 固定子コイルといった 特にインダクタンス範囲 50μH~50H のコイル品質を保証する設計となっています IWT-10KV は マスターサンプルと DUT の波形を比較することで 巻線材料や巻線過程, フレーム, 磁気材料による絶縁不良や回転不足などの問題を 簡単に検出することが可能です 広域インダクタンス測定レンジ 50μH-50H 500V~10,000V プログラマブル低エネルギーインパルス電圧 100MHz 高サンプリングレート 4 波形比較方式でシンプル & 迅速検査 超! 低電圧測定ステップでベスト波形解析 付属品ハイボルテージテストラインケーブル, 電源コード, ユーザマニュアル, USB インターフェイスケーブル, RS232C ケーブル, CD-ROM 用途 自動車構成部品 ハイパワーインダクター ジェネレータ トランスフォーマー 固定子など コイル部品品質保証 仕様 IWT-10KV 印加電圧 500V~10,000V 出力エネルギー 0.5J (Max) 試験インダクタンス範囲 50μH ~ 50H サンプリングスピード 100MHz / 10ns サンプリングメモリー長 5000 Byte 入力レジスタンス 10MΩ ディスプレイ解像度 5.6インチカラー LCD (320 x 234) 判定モード Area Size, Area Difference, Corona Amount, Corona Number 波形保存 360 Sets of waveforms 判定出力 Pass/Fail インターフェース USB, RS232C, I/O 入力電源 90VAC ~ 260VAC 周波数範囲 50/60Hz 寸法 31cm x 15cm x 30cm 重量 8.0Kg 動作環境 0 ~40 * 仕様 価格は変更される場合がございます 最新の情報につきましては下記までお問い合わせください

コイルの特性評価には インパルス巻線試験機 Impulse Winding Tester IWT-5000A 測定用に自動スケーリング機能を装備 コロナ放電などの絶縁不良を検査するための 4 種類の自動判定機能付き パス フェイル自動試験機能付き PC リンク解析用ソフト付き 量産用ハンドラー IF 機能有り (I/O) 標準価格 :70 万円 付属品ハイボルテージテストラインケーブル, 電源コード, ユーザマニュアル, USB インターフェイスケーブル, RS232C ケーブル, CD インパルス巻線試験機 ( インパルスウィンディングテスタ )IWT-5000A は 5000V までのパルス電圧をインバータ モータなどのコイルに与え コイルの断線やショート 絶縁不良及びインダクタンスの変化などを試験可能 高電圧で幅の狭い ( エネルギー量の小さい ) インパルス電圧を 200~5000V の範囲でプログラマブルにコイルに与えることで 被試験コイルに与えるダメージを縮小化し 信頼性の高い 効果的な試験環境を提供します 仕様 IWT-5000A ( 700,000) 印加電圧 出力エネルギー 試験インダクタンス範囲 サンプリングスピード サンプリングメモリー長 入力レジスタンス 200V~5,000V (100V Steps) 0.25J (Max) 0.2μH 以上 8 bit /10ns (100MHz) 5000 Byte 10MΩ ディスプレイ解像度 5.6インチカラー LCD (320 x 234) 判定モード AreaSize Comparison, DiffZone Comparison, Corona Amount, Comparison Corona Number Comparison 波形保存 判定出力 インターフェース 入力電源 周波数範囲 寸法 重量 動作環境 360 Sets of waveforms Pass/Fail, beeping USB, RS232C, I/O 110V/220V AC 50/60Hz 31cm x 15cm x 18cm 5.3Kg 0 ~40 * 仕様 価格は変更される場合がございます 最新の情報につきましては下記までお問い合わせください

Impulse Winding Tester ITW シリーズ仕様比較 超 低インダクタンスには IWT-1000L 高電圧コイル測定には IWT-10KV コイルの特性評価には IWT-5000A 仕様 IWT-1000L IWT-10KV IWT-5000A 用途 超低インダクタンス 高電圧コイル 一般コイル部品全般 印加電圧 10V~1,000V 500V~10,000V 200V~5,000V (100V Steps) 出力エネルギー 15mJ (Max) 0.5J (Max) 0.25J (Max) 試験インダクタンス範囲 0.1μH ~ 50mH 50μH ~ 50H 0.2μH 以上 サンプリングスピード 200MHz / 5ns 100MHz / 10ns 8 bit /10ns (100MHz) サンプリングメモリー長 5000 Byte 入力レジスタンス 10MΩ ディスプレイ解像度 5.6インチカラー LCD (320 x 234) 判定モード 面積 (Area Size), 波形差面積 (Area Difference), コロナ量 (Corona Amount), コロナ数 (Corona Number) 波形保存 360 波形 判定出力 Pass/Fail, beeping Pass/Fail Pass/Fail, beeping インターフェース USB, RS232C, I/O 入力電源 90VAC ~ 260VAC 90VAC ~ 260VAC 110V/220V AC 周波数範囲 50/60Hz 寸法 31cm x 15cm x 18cm 31cm x 15cm x 30cm 31cm x 15cm x 18cm 重量 4.5Kg 8.0Kg 5.3Kg 動作環境 0 ~40 * 仕様 価格は変更される場合がございます 最新の情報につきましては下記までお問い合わせください

1. パルス巻線試験器の原理パルス巻線試験器は 供試体に損傷を加えないで電気特性を計測するために使用されます 原理 : サンプル巻線と試験巻線に同じバルス電圧を印加します その瞬間の二つの波形を比較し供試体のパフォーマンスを判定します その瞬間の波形は巻線内で発生する減衰発振波形を参照し インダクタンス値 特性係数 Q を巻線数差 一巻き短絡回路 導体芯材質差と同様に特定します 高電圧パルスが印加されると コロナ放電もまた絶縁不良を特定することができます 図 1 巻線パルス試験原理図 図 2 典型的な巻線の自己減衰発振波形

2. 比較方法の紹介 [1] 面積 ランダムに選択した間隔で 波形面積は標準巻線と試験巻線で比較します 図 3 のように A-B 間隔の総面積が計算され 二つの面積の差を特定します 判定標準はパーセント (%) で設定します 良品質は計算結果が満足いく場合です 内部の間隔面積は巻線内の消費エネルギーに比例し エネルギー消費の判定に使われます 図 3: 面積比法 [2] 面積差ランダムに選択した間隔で 標準巻線と試験巻線間の面積差を計算します 図 4 に示すように A-B の間隔の面積差が計算され 図 3 のように標準波形と比較するために計算することができます また 偏差の度合いを特定できます 判定標準は パーセント (%) で設定されています 良品質は計算結果が満足いく場合です 波形偏差面積は インダクタンス値の総和とエネルギー消費度合いに反映します 例えば 判定法はインダクタンス値 L の差を試験することができます 図 4: 面積差比

[3] コロナ放電量とコロナ放電数高電圧パルス試験処理中に 試験巻線は 材料損傷のため放電することがあります 従って 放電曲線にコロナ放電現象が現れます コロナ発生の周波数毎の統計をコロナ放電数と呼びます 波形の差は基本的には無視します 図 5 のように コロナ放電量のような高周波数部だけ試験されます また ランダムに選択した間隔の波形のコロナを試験することも要求されます そして 偏差度合いによって判定します 判定は 積分値によって設定されます 良品質は計算結果が満足いく場合です 試験法はプログラムにより数値計算することが許されます シミュレーションモードでは 高周波数フィルタを掛けた試験量として見なすことができます 試験波形 コロナ放電 図 5: コロナ放電比 コロナ放電数 (Corona N) とコロナ放電量 (Corona S)

Fig.1 1 コロナ放電数 (Corona N) とは全ての放電回数の合計 測定波形の違いに関係なく この方法は図 1 で示すようにコロナ放電による高周波エネルギーの発生箇所を検証する試験内容となります 測定としては 発生箇所を整数で表示します 但し 発生箇所をカウントする際 ある一定の判別基準でハイパスーフィルターをかけて計算されています 例えば : N1 で 5 回放電発生した N2 で 4 回 N3 で 4 回放電したとする Fig.2 コロナ放電数は : Corona N = N1 + N2 + N3 = 5 + 4 + 4 = 13 ;(*1 2 コロナ放電量 (Corona S) とは放電変化の量の合計 一般的にラプラシアンフィルタは 微分フィルタですが これは 2 次の微分フィルタになっています このフィルタは イメージの強度を見つけるために使われるデジタルフィルタ処理における方法です 例えば : N1 で 5 回放電発生した この 5 回コロナ放電の変化量は N1a,N1b,N1c,N1d,N1e とする 同じように N2 の場合 N2a,N2b,N2c,N2d とする N3 の場合 N3a,N3b,N3d,N3d とする コロナ放電量 : Corona S = N1a + N1b + N1c + N1d + N1e + N2a + N2b + N2c + N2d +N3a + N3b + N3c + N3d ; 毎回放電変化量の計算方法 : 毎回放電変化量 = 毎回放電変化量数 - 放電量の参照標準値 (*2) Fig.3 例えば :CoronaN1a の場合 Corona N1a = 5-2 =3; 同じように Corona N1b = 4-2=2; CoronaN2a = 3; CoronaN3a = 2; Corona N1c = 5-2=3; CoronaN2b = 2; CoronaN3b = 3; Corona N1d = 6-2=4; CoronaN2c = 3; CoronaN3c =2 ; Corona N1e = 4-2=2; CoronaN2d = 4; CoronaN3d = 4; よって Corona S = 3 + 2 +3 +4 +2 + 3 + 2 + 3 +4 + 2 +3 +2 +4 = 37

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