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まなおえづか
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HDMI コネクタ認定試験報告書 Qualificatio Test Report 501-5 28FEB2008 Rev.B 1. はじめに 1.1 目的本試験は HDMI Type-Cコネクタの設計目標書 108-78487 Rev.C に規定された性能必要に合致しているか確認するために行われた 1.

1 HDMI コネクタ認定試験報告書 Qualificatio Test Report FEB2008 Rev.B 1. はじめに 1.1 目的本試験は HDMI Type-Cコネクタの設計目標書 Rev.C に規定された性能必要に合致しているか確認するために行われた 1.2 適用範囲本報告書は HDMI Type-Cコネクタの電気的機械的及び環境的性能必要について行なった試験内容を記述している本製品確認試験は 2007 年 12 月 18 日から2008 年 2 月 8 日までに行われた 1.3 結論 HDMI Type-Cコネクタは該当の設計目標書 Rev.Cの性能必要に合致していた 1. Itroductio 1.1 Testig was performed o the HDMI Type-C CONNECTOR to determie if it meets the requiremets of Desig Objectives, , Rev.C. 1.2 Scope This report covers the electrical, mechaical ad evirometal performace requiremets of the HDMI Type-C CONNECTOR. The qualificatio testig was performed betwee 18-DEC-2007 ad 8-FEB Coclusio HDMI Type-C CONNECTOR meets the electrical, mechaical ad evirometal performace requiremets of Desig Objective, , Rev. C. タイコエレクトロニクスアンフ株式会社神奈川県川崎市高津区久本 3 5 8Tel Fax この書類は当社により変更管理されており必要に応じ変更されます最新の改定については当社本支店にお問い合わせください Copyright 2000 by Tyco Electroics AMP K.K. All Right Reserved. 1 of 18 * 商標です Released Per P EC FJ00-**** ****-00

2 1.4 試料試料は現行の生産システムから無作為抽出法により取り出された以下の試料が試験に使用された 1.4 Test Samples Samples were take radomly from curret productio. The followig samples were used : 型番 Part Number 品名 Descriptio HDMI Type-C 19 POS RECEPTACLE ASSY HDMI タイプC 19 極リセプタクルアッセンブリ Fig. 1 Rev.B 2 of 18

3 2. 試験内容 2. Test Cotets 項番試験項目必要. Test Items Requiremets Judgemet 2.1 製品の確認目視によりコネクタの機能上支障をきたす損傷なきこと Visual Ispectio physical damage 電気的性能 Electrical Requiremets 2.2 総合抵抗 ( ローレベル ) (Low Level) 初期 :10 mω 以下試験後 : 30 mω 以下初期 :10 mω 以下試験後 :50 mω 以下 Iitial::10 mω Max. Fial: 30 mω Max. Iitial::10 mω Max. Fial: 50 mω Max. 2.3 耐電圧 Dielectric withstadig Voltage 初期試験後共未嵌合コネクタ :500V AC 嵌合コネクタ :300V AC 1 分間リーク電流 :0.5 ma 以下 Iitial/Fial ; Umated coectors:500v AC Mated coectors:300v AC 1 miute, abormality allowed. Curret leakage : 0.5 ma Max. Fig. 2 ( 続く ) (to be cotiued) Rev.B 3 of 18

4 2.4 絶縁抵抗 Isulatio 初期試験後共 100 MΩ 以上 ( 未嵌合 ) 10 MΩ 以上 ( 嵌合 ) 未嵌合コネクタ :500V DC 印加嵌合コネクタ :150V DC 印加 Iitial / Fial, 100 MΩ miimum (Umated) 10 MΩ miimum (Mated) Umated coectors:apply 500V DC Mated coectors:apply 150V DC 2.5 温度上昇 Temperature Risig 通電による温度上昇を測定する定格電流 (0.5A) を通電して温度上昇は 30 以下 Measure temperature risig by eergized curret. 30 Max. uder loaded specified curret (0.5A) 2.6 電気放電 Electrical Discharge 未嵌合の両コネクタに 8mmの球プローブを使用し 1KVから8KVまで1KV 毎に試験するに放電の形跡の無いこと Test umated each coector from 1KV to 8KV i 1KV steps usig 8mm ball prove. evidece of Discharge to cotact at 8KV. 機械的性能 Mechaical Requiremets 2.7 挿入力 Isertio Force 44.1 N (4.5 Kgf) 以下操作速度 25 mm/ 分 44.1 N (4.5 Kgf) Max. Operatio Speed:25 mm/mi. 2.8 引抜力 Withdrawal Force 7 N (0.7Kgf) 以上 25N (2.6 Kgf) 以下操作速度 25 mm/ 分 7 N (0.7 Kgf) miimum 25 N (2.6 Kgf) maximum Operatio Speed:25 mm/mi. Fig. 2 ( 続く ) (to be cotiued) Rev.B 4 of 18

5 2.9 耐久性 ( 繰返し挿抜 ) Durability (Repeated Mate/ Umatig) 挿抜回数 5000 回挿抜速度 100±50サイクル / 時 :30mΩ 以下 ( 終期 ) :50mΩ 以下 ( 終期 ). of Cycles: 5000 cycles Operatio Speed:100±50 cycle/hour :30mΩ maximum (Fial) :50mΩ maximum (Fial) 2.10 振動 Vibratio 掃引時間 :50~2000~50 Hz/20 分間振幅 :1.52mm(P-P) or 147m/s 2 (15G) 期間 :XYZ 各方向に各 12 回 ( 計 36 回 ) 100mAを通電不連続導通は 1μsec をこえないこと :30mΩ 以下 ( 終期 ) :50mΩ 以下 ( 終期 ) Sweep time:50~2000~50 Hz/20 miutes, Amplitude :1.52mm(P-P) or 147m/s 2 (15G) Duratio:12 times i each (total of 36 times) X,Y,Z axes. 100mA applied. electrical discotiuity greater tha 1μ sec shall occur. :30mΩ maximum (Fial) :50mΩ maximum (Fial) 2.11 衝撃 Shock 作用時間 :11msec 波形 : 半波正弦波 490 m/s 2 (50 G), X,Y,Z 軸正逆方向に各 3 回不連続導通は 1μsec をこえないこと :30mΩ 以下 ( 終期 ) :50mΩ 以下 ( 終期 ) Duratio:11msec Waveform:Half sie, 490 m/s 2 (50 G), 3 strokes i each X, Y, Z axes. electrical discotiuity greater tha 1μsec allowed. :30mΩ maximum (Fial) :50mΩ maximum (Fial) Fig. 2 ( 続く ) (to be cotiued) Rev.B 5 of 18

6 環境的性能 Evirometal Requiremets 2.12 熱衝撃 Thermal Shock -55 / 30 分 +85 / 30 分これを1サイクルとして 10 サイクル行う :30mΩ 以下 ( 終期 ) :50mΩ 以下 ( 終期 ) -55 / 30mi. +85 / 30mi. Makig this a cycle, repeat 10 cycles. :30mΩ maximum (Fial) :50mΩ maximum (Fial) 2.13 湿度 Humidity 温度 :+25~+85 湿度 :80~95% R.H. 期間 :4 サイクル (96 時間 ) ANSI / EIA Method Ⅲ :30mΩ 以下 ( 終期 ) :50mΩ 以下 ( 終期 ) 耐電圧 : 項目 2.3 による絶縁抵抗 : 項目 2.4 による Temperature:+25~+85 Relative Humidity:80~95% R.H. Duratio:4 cycles (96 hours) ANSI / EIA Method Ⅲ :30mΩ maximum (Fial) :50mΩ maximum (Fial) Dielectric Withststadig Voltage:Coform to item of 2.3 Isulatio :Coform to item of 温度寿命 Thermal Agig 105±2 250 時間 :30mΩ 以下 ( 終期 ) :50mΩ 以下 ( 終期 ) 105±2 250 hours :30mΩ maximum (Fial) :50mΩ maximum (Fial) Fig. 2 ( 続く ) (to be cotiued) Rev.B 6 of 18

7 2.15 はんだ付け性はんだ温度 :250±5 はんだ浸漬時間 :3±0.5 秒使用フラックス : アルファー % 以上ぬれていること Solderability Solder Temperature:250±5 Immersio Duratio:3±0.5 secods Flux:Alpha 100 Wet solder coverage:95% Mi はんだ耐熱性 to Solderig Heat 手半田の場合温度 :380±5 時間 :3±1 秒物理的損傷を生じないこと Case of Maual Solderig Temerature:380±5 Time:3±1 sec physical damage shall occur リフローはんだ耐熱性 to Reflow Solderig Heat プリント基板に取り付けて試験する予熱 120~160 :60±10 秒加熱 170±10 以上 :90±30 秒ピーク温度 :250 以下 :10 秒以内物理的損傷を生じないこと Test coector o P.C. Board Pre-Heat 120~160 :60±10 sec. Heat 170±10 :90±30sec. Heat Peak :250 maximum:10 sec. maximum. physical damage shall occur. Fig. 2 ( 終わり ) (Ed) Rev.B 7 of 18

8 3. 製品認定試験の試験順序 3. Product Qualificatio Test Sequece 試験項目及び抵抗耐電圧 Test ad 試験グループ /Test Group ,4, 1,6, 7,10 9,12 2,5, 8,11 2,4, 7,10,13 1,4,7 2,5,8 1,4,8 Dielectric withstadig Voltage 2,5 絶縁抵抗 Isulatio 6,9 温度上昇 Temperature Risig 2 電気放電 Electrical Discharge 2 試験順序 /Test Sequece (a) 挿入力 Isertio Force 2 引抜力 Withdrawal Force 2 耐久性 (100 回 ) Durability (100 cycles) 3 1,3 1,3 1,3 1,3 1,4 1,3 1,3 1,3 耐久性 (5000 回 ) Durability (5000 cycles) 3 振動 Vibratio 3(b) 衝撃 Shock 6(b) 熱衝撃 Thermal Shock ,5 湿度 Humidity 9(c) 11 (c) 温度寿命 Thermal Agig 6 8 7(d) はんだ付け性 Solderability 2 はんだ耐熱性リフローはんだ耐熱性 to Solderig Heat 2 to Reflow Solderig Heat 2 (a) 欄内の数字は試験の順序を示す / Numbers idicate sequece i which the tests are performed. (b) 試験中瞬断の確認を行う / Measure discotiuitiy durig the test. (c) 両コネクタを未嵌合にし試験を行う ( 試験 B)/ Umated each coectors ad test.(test coditio B) (d) コネクタを嵌合し試験を行う ( 試験 A)/ Mated coectors together ad test.(test coditio A) 4. 測定 TEST RESULT Rev.B 8 of 18

9 Coditios Uit Requiremet Judgemet 初期 Iitial 熱衝撃後 After Thermal Shock 温度寿命後 After Thermal Agig 3 試験グループ 1 Test Group1 abormalities 57 mω mω Max 3 mω mω Max 3 abormalities 57 mω mω mω Max 3 mω mω mΩ Max 3 abormalities 57 mω mω mω Max 3 mω mω mω Max Rev.B 9 of 18

10 Coditios Uit Requiremet Judgemet 湿度後 After Humidity 耐電圧 Dielectric Stregth 絶縁抵抗 Isulatio 3 試験グループ 1 Test Group1 abormalities 57 mω mω mω Max 3 mω mω mω Max 5 5 Poi -t abormalities Ω MΩ Mi. 100 MΩMi. Rev.B 10 of 18

11 Coditios Uit Requiremet Judgemet 初期 Iitial 耐久性 (100 回 ) 後 After Durability (100 cycles) 熱衝撃後 After Thermal Shock 3 試験グループ 2 Test Group 2 abormalities 57 mω mω Max 3 mω mω Max 3 abormalities 57 mω mω mω Max 3 mω mω mω Max 3 abormalities 57 mω mω mω Max 3 mω mω mω Max Rev.B 11 of 18

12 Coditios Uit Requiremet Judgemet 温度寿命後 After Thermal Agig 湿度後 After Humidity 耐電圧 Dielectric Stregth 絶縁抵抗 Isulatio 3 試験グループ 2 Test Group 2 abormalities 57 mω mω mω Max 3 mω mω mω Max 3 abormalities 57 mω mω mω Max 3 mω mω mω Max 5 5 Poi -t abormalities Ω MΩ Mi. 100 MΩMi. Rev.B 12 of 18

13 Coditios Uit Requiremet Judgemet 初期 Iitial of Product 2 試験グループ 3 Test Group 3 abormalities 38 mω mω Max 2 mω mω Max 振動試験中 Vibratio Durig test 瞬断 discotiuity 38 μs 瞬断なし discotiuity 1μS Max. 振動後 After Vibratio of Product 2 abormalities 38 mω mω mω Max 2 mω mω mω Max Rev.B 13 of 18

14 Coditios Uit Requiremet Judgemet 試験グループ 3 Test Group 3 衝撃試験中 Shock Durig test 衝撃後 After Shock 瞬断 discotiuity 38 ΜS 瞬断なし discotiuity 2 abormalities 1μS Max. 38 mω mω mω Max 2 mω mω mω Max Rev.B 14 of 18

15 Coditios Uit Requiremet Judgemet 初期 Iitial 熱衝撃後 After Thermal Shock 湿度後 After Humidity of Product 耐電圧 Dielectric Stregth of Product 耐電圧 Dielectric Stregth 絶縁抵抗 Isulatio of Product 絶縁抵抗 Isulatio Poi -t 5 5 Poi -t 試験グループ 4 Test Group 4 abormalities abormalities abormalities abormalities Ω MΩ Mi. 10 MΩMi. abormalities Ω MΩ Mi. 10 MΩMi. Rev.B 15 of 18

16 Coditios Uit Requiremet Judgemet 試験グループ 5 Test Group 5 DC 0.3 A 温度上昇 Temperature Risig DC 0.5 A Max DC 1.0 A DC 1.2 A DC 1.5 A 電気放電 Electrical Discharge 初期 Iitial 5 試験グループ 6 Test Group 6 abormalities に放電の形跡の無いこと evidece of Discharge to cotact at 8kV 挿入力 Isertio Force 初期 Iitial 試験グループ 7 Test Group 7 2 N N Max 試験グループ 8 Test Group 8 引抜力 Withdrawal Force 初期 Iitial 2 N N Mi. 25 N Max Rev.B 16 of 18

17 Coditios Uit Requiremet Judgemet 初期 Iitial 耐久性 (5,000 回 ) 後 After Durability (5,000 cycles) 2 試験グループ 9 Test Group 9 abormalities 38 mω mω Max 2 mω mω Max 2 abormalities 38 mω mω mω Max 2 mω mω mω Max 半田付け性 Solderability 外観 Appearace 5 set 試験グループ 10 Test Group 10 95% 以上半田付けされていた More tha 95% of tested area was covered with fresh, wet solder. 95 % Mi. はんだ耐熱性後 After to Solderig Heat 外観 Appearace 5 set 試験グループ 11 Test Group 11 試験後物理的損傷は生じていなかった After Testig, o physical damage was evidet. abormalities Rev.B 17 of 18

18 Coditios Uit Requiremet Judgemet 試験グループ 12 Test Group 12 リフローはんだ耐熱性後 After to Reflow Solderig Heat 外観 Appearace 5 set 試験後物理的損傷は生じていなかった After Testig, o physical damage was evidet. abormalities Rev.B 18 of 18

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Microsoft Word - 501-5907.doc 認定試験報告書 04MAR2009 Rev.C Mii CT Hybrid Drawer Coector, SLIM TYPE ミニCT ハイブリッドドロワーコネクタ, スリムタイプ 1. はじめに 1.1 目的本試験はコネクタの製品 108-78540 Rev.Aに規定された性能必要に合致しているか確認するために行われた 1.2 適