02.参考資料標準試料データ

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1 参考資料 標準試料データ目次 クリソタイル標準試料 JAWE アモサイト標準試料 JAWE クロシドライト標準試料 JAWE クリソタイル標準試料 JAWE アモサイト標準試料 JAWE クロシドライト標準試料 JAWE アンソフィライト標準試料 JAWE トレモライト標準試料 JAWE クリソタイル標準試料 UICC A 163 クリソタイル標準試料 UICC B 171 アモサイト標準試料 UICC 179 クロシドライト標準試料 UICC 187 アンソフィライト標準試料 UICC

2 クリソタイル標準試料 JAWE111 1 走査型電子顕微鏡形態 測定条件等 :S-3400N( 日立ハイテクノロジーズ )/BRUKER-AXS Xflash 4010) 倍率 2000 倍 加速電圧 5kv 108

3 クリソタイル標準試料 JAWE111 2 走査型電子顕微鏡元素組成 cps/ev C O Fe Mg Si Fe kev 加速電圧 15kv cps/ev O Mg Fe Si Fe kev 加速電圧 30kv 測定条件等 :S-3400N( 日立ハイテクノロジーズ )/BRUKER-AXS Xflash 4010) EDX 分析加速電圧 15kv 30kv 109

4 クリソタイル標準試料 JAWE111 3 走査型電子顕微鏡元素マッピング 4 走査型電子顕微鏡元素マッピング ( 元素別 ) 110

5 クリソタイル標準試料 JAWE111 5 偏光顕微鏡による光学特性 形態 色 曲線状 白色 多色性 なし 複屈折 低い 伸長性 正 消光角 ( 最大 ) 0 度 111

6 クリソタイル標準試料 JAWE111 6 FT-IR による赤外吸収スペクトル %T cm-1 FT-IR 分析 :spectrum100(perkinelmer 社製 ) 検出器 :MIR TGS/ATR( ダイヤモンド /ZnSe) 積算回数 :4 回分解能 4cm-1 112

7 アモサイト標準試料 JAWE211 1 走査型電子顕微鏡形態 測定条件等 :S-3400N( 日立ハイテクノロジーズ )/BRUKER-AXS Xflash 4010) 倍率 2000 倍 加速電圧 5kv 113

8 アモサイト標準試料 JAWE211 2 走査型電子顕微鏡元素組成 cps/ev O Mn C Fe Mg Si Mn Fe kev 加速電圧 15kv 4.5 cps/ev Mn O Mg Fe Si Mn Fe kev 加速電圧 30kv 測定条件等 :S-3400N( 日立ハイテクノロジーズ )/BRUKER-AXS Xflash 4010) EDX 分析加速電圧 15kv 30kv 114

9 アモサイト標準試料 JAWE211 3 走査型電子顕微鏡元素マッピング 4 走査型電子顕微鏡元素マッピング ( 元素別 ) 115

10 アモサイト標準試料 JAWE211 5 偏光顕微鏡による光学特性 形態 色 角柱針状 灰色 ~ 茶色 多色性 非常に弱い 複屈折 中度 伸長性 正 消光角 ( 最大 ) 0 度 116

11 アモサイト標準試料 JAWE211 6 FT-IR による赤外吸収スペクトル FT-IR 分析 :spectrum100(perkinelmer 社製 ) 検出器 :MIR TGS/ATR( ダイヤモンド /ZnSe) 積算回数 :4 回分解能 4cm-1 117

12 クロシドライト標準試料 JAWE311 1 走査型電子顕微鏡形態 測定条件等 :S-3400N( 日立ハイテクノロジーズ )/BRUKER-AXS Xflash 4010) 倍率 2000 倍 加速電圧 5kv 118

13 クロシドライト標準試料 JAWE311 2 走査型電子顕微鏡元素組成 22 cps/ev O Na C Fe Mg Si Fe kev 加速電圧 15kv cps/ev Na O Mg Fe Si Fe kev 加速電圧 30kv 測定条件等 :S-3400N( 日立ハイテクノロジーズ )/BRUKER-AXS Xflash 4010) EDX 分析加速電圧 15kv 30kv 119

14 クロシドライト標準試料 JAWE311 3 走査型電子顕微鏡元素マッピング 4 走査型電子顕微鏡元素マッピング ( 元素別 ) 120

15 クロシドライト標準試料 JAWE311 5 偏光顕微鏡による光学特性 形態 色 角柱針状 青色 多色性 α 青色 γ 灰色 複屈折 低い 伸長性 負 消光角 ( 最大 ) 0 度 121

16 クロシドライト標準試料 JAWE311 6 FT-IR による赤外吸収スペクトル FT-IR 分析 :spectrum100(perkinelmer 社製 ) 検出器 :MIR TGS/ATR( ダイヤモンド /ZnSe) 積算回数 :4 回分解能 4cm-1 122

17 クリソタイル標準試料 JAWE121 1 走査型電子顕微鏡形態 測定条件等 :S-3400N( 日立ハイテクノロジーズ )/BRUKER-AXS Xflash 4010) 倍率 2000 倍 加速電圧 5kv 123

18 クリソタイル標準試料 JAWE121 2 走査型電子顕微鏡元素組成 cps/ev C Fe O Mg Si Fe kev 加速電圧 15kv cps/ev O Mg Fe Si Fe kev 加速電圧 30kv 測定条件等 :S-3400N( 日立ハイテクノロジーズ )/BRUKER-AXS Xflash 4010) EDX 分析加速電圧 15kv 30kv 124

19 クリソタイル標準試料 JAWE121 3 走査型電子顕微鏡元素マッピング 4 走査型電子顕微鏡元素マッピング ( 元素別 ) 125

20 クリソタイル標準試料 JAWE121 5 偏光顕微鏡による光学特性 形態 色 曲線状 白色 多色性 なし 複屈折 低い 伸長性 正 消光角 ( 最大 ) 0 度 屈折率 γ 1.550~1.565 屈折率 α 1.542~

21 6 クリソタイル標準試料 JAWE121 FT-IR による赤外吸収スペクトル FT-IR 分析 :spectrum100(perkinelmer 社製 ) 検出器 :MIR TGS/ATR( ダイヤモンド /ZnSe) 積算回数 :4 回分解能 4cm-1 127

22 クリソタイル標準試料 JAWE121 7 粉末 X 線回折分析 測定条件等 : X PertPRO(PANalytical 社製 ) CuKα 線 45kv40mA: 発散スリット 1/2 : step scan; step width (2θ):scan speed (2θ/s) 8 化学組成 鉄が全て二価の場合 鉄が全て三価の場合 wt% wt% SiO SiO Al 2 O Al 2 O FeO 4.41 Fe 2 O MnO 0.03 MnO 0.03 MgO MgO CaO 0.44 CaO 0.42 Na 2 O 2.11 Na 2 O 2.00 K 2 O 1.02 K 2 O 0.97 P 2 O P 2 O その他成分 0.77 その他成分 0.73 測定条件等 :ICP 発光分光分析 Vista MPX( セイコーインスツルメンツ社製 ) ( 鉄は二価と三価を合算した定量値になる為 全て二価または三価と仮定した場合の数値を記載 ) 128

23 クリソタイル標準試料 JAWE121 9 結晶子サイズ 指数 hkl 角度 2θ( ) 結晶子サイズ (nm) 測定条件等 :X PertPRO(PANalytical 社製 ) CuKα 線 45kv40mA: 発散スリット 1/2 : step scan; step width (2θ):scan speed (2θ/s) 129

24 クリソタイル標準試料 JAWE 透過型電子顕微鏡形態 測定条件等 : 透過型電子顕微鏡 JEM2010( 日本電子社製 ) 倍率左 2500 倍右 倍 加速電圧 100kv 11 透過型電子顕微鏡電子線回折 測定条件等 : 透過型電子顕微鏡 JEM2010( 日本電子社製 ) 加速電圧 100kv 130

25 アモサイト標準試料 JAWE221 1 走査型電子顕微鏡形態 測定条件等 :S-3400N( 日立ハイテクノロジーズ )/BRUKER-AXS Xflash 4010) 倍率 2000 倍 加速電圧 5kv 131

26 アモサイト標準試料 JAWE221 2 走査型電子顕微鏡元素組成 cps/ev O Mn C Fe Mg Si Mn Fe kev 加速電圧 15kv cps/ev O Mn Mg Fe Si Mn Fe kev 加速電圧 30kv 測定条件等 :S-3400N( 日立ハイテクノロジーズ )/BRUKER-AXS Xflash 4010) EDX 分析加速電圧 15kv 30kv 132

27 アモサイト標準試料 JAWE221 3 走査型電子顕微鏡元素マッピング 4 走査型電子顕微鏡元素マッピング ( 元素別 ) 133

28 アモサイト標準試料 JAWE221 5 偏光顕微鏡による光学特性 形態 色 角柱針状 灰色 ~ 茶色 多色性 非常に弱い 複屈折 中度 伸長性 正 消光角 ( 最大 ) 0 度 屈折率 γ 1.691~1.703 屈折率 α 1.668~

29 6 アモサイト標準試料 JAWE221 FT-IR による赤外吸収スペクトル FT-IR 分析 :spectrum100(perkinelmer 社製 ) 検出器 :MIR TGS/ATR( ダイヤモンド /ZnSe) 積算回数 :4 回分解能 4cm-1 135

30 アモサイト標準試料 JAWE221 7 粉末 X 線回折分析 測定条件等 : X PertPRO(PANalytical 社製 ) CuKα 線 45kv40mA: 発散スリット 1/2 : step scan; step width (2θ):scan speed (2θ/s) 8 化学組成 鉄が全て二価の場合 鉄が全て三価の場合 wt% wt% SiO SiO Al 2 O Al 2 O FeO Fe 2 O MnO 2.11 MnO 1.31 MgO 5.58 MgO 3.47 CaO 1.23 CaO 0.76 Na 2 O 2.63 Na 2 O 1.63 K 2 O 1.54 K 2 O 0.96 P 2 O P 2 O その他成分 0.31 その他成分 0.19 測定条件等 :ICP 発光分光分析 Vista MPX( セイコーインスツルメンツ社製 ) ( 鉄は二価と三価を合算した定量値になる為 全て二価または三価と仮定した場合の数値を記載 ) 136

31 アモサイト標準試料 JAWE221 9 結晶子サイズ 指数 hkl 角度 2θ( ) 結晶子サイズ (nm) 測定条件等 :X PertPRO(PANalytical 社製 ) CuKα 線 45kv40mA: 発散スリット 1/2 : step scan; step width (2θ):scan speed (2θ/s) 137

32 アモサイト標準試料 JAWE 透過型電子顕微鏡形態 測定条件等 : 透過型電子顕微鏡 JEM2010( 日本電子社製 ) 倍率 2500 倍 加速電圧 100kv 11 透過型電子顕微鏡電子線回折 測定条件等 : 透過型電子顕微鏡 JEM2010( 日本電子社製 ) 加速電圧 100kv 138

33 クロシドライト標準試料 JAWE321 1 走査型電子顕微鏡形態 測定条件等 :S-3400N( 日立ハイテクノロジーズ )/BRUKER-AXS Xflash 4010) 倍率 2000 倍 加速電圧 5kv 139

34 クロシドライト標準試料 JAWE321 2 走査型電子顕微鏡元素組成 cps/ev Fe Mg O Na Si Fe kev 加速電圧 15kv cps/ev Na O Mg Fe Si Fe kev 加速電圧 30kv 測定条件等 :S-3400N( 日立ハイテクノロジーズ )/BRUKER-AXS Xflash 4010) EDX 分析加速電圧 15kv 30kv 140

35 クロシドライト標準試料 JAWE321 3 走査型電子顕微鏡元素マッピング 4 走査型電子顕微鏡元素マッピング ( 元素別 ) 141

36 クロシドライト標準試料 JAWE321 5 偏光顕微鏡による光学特性 形態 色 角柱針状 青色 多色性 α 青色 γ 灰色 複屈折 低い 伸長性 負 消光角 ( 最大 ) 0 度 屈折率 γ 1.683~1.703 屈折率 α 1.682~

37 クロシドライト標準試料 JAWE321 6 FT-IR による赤外吸収スペクトル FT-IR 分析 :spectrum100(perkinelmer 社製 ) 検出器 :MIR TGS/ATR( ダイヤモンド /ZnSe) 積算回数 :4 回分解能 4cm-1 143

38 クロシドライト標準試料 JAWE321 7 粉末 X 線回折分析 測定条件等 : X PertPRO(PANalytical 社製 ) CuKα 線 45kv40mA: 発散スリット 1/2 : step scan; step width (2θ):scan speed (2θ/s) 8 化学組成 鉄が全て二価の場合 鉄が全て三価の場合 wt% wt% SiO SiO Al 2 O Al 2 O FeO Fe 2 O MnO 0.08 MnO 0.05 MgO 3.32 MgO 1.88 CaO 1.42 CaO 0.80 Na 2 O 5.45 Na 2 O 3.09 K 2 O 1.69 K 2 O 0.96 P 2 O 以下 P 2 O 以下 その他成分 0.24 その他成分 0.14 測定条件等 :ICP 発光分光分析 Vista MPX( セイコーインスツルメンツ社製 ) ( 鉄は二価と三価を合算した定量値になる為 全て二価または三価と仮定した場合の数値を記載 ) 144

39 クロシドライト標準試料 JAWE321 9 結晶子サイズ 指数 hkl 角度 2θ( ) 結晶子サイズ (nm) 測定条件等 :X PertPRO(PANalytical 社製 ) CuKα 線 45kv40mA: 発散スリット 1/2 : step scan; step width (2θ):scan speed (2θ/s) 145

40 クロシドライト標準試料 JAWE 透過型電子顕微鏡形態 測定条件等 : 透過型電子顕微鏡 JEM2010( 日本電子社製 ) 倍率 2500 倍 加速電圧 100kv 11 透過型電子顕微鏡電子線回折 測定条件等 : 透過型電子顕微鏡 JEM2010( 日本電子社製 ) 加速電圧 100kv 146

41 アンソフィライト標準試料 JAWE411 1 走査型電子顕微鏡形態 測定条件等 :S-3400N( 日立ハイテクノロジーズ )/BRUKER-AXS Xflash 4010) 倍率 2000 倍 加速電圧 5kv 147

42 アンソフィライト標準試料 JAWE411 2 走査型電子顕微鏡元素組成 cps/ev Fe O Mg Si Fe kev 加速電圧 15kv cps/ev O Mg Fe Si Fe kev 加速電圧 30kv 測定条件等 :S-3400N( 日立ハイテクノロジーズ )/BRUKER-AXS Xflash 4010) EDX 分析加速電圧 15kv 30kv 148

43 アンソフィライト標準試料 JAWE411 3 走査型電子顕微鏡元素マッピング 4 走査型電子顕微鏡元素マッピング ( 元素別 ) 149

44 アンソフィライト標準試料 JAWE411 5 偏光顕微鏡による光学特性 形態 色 角柱針状 白色 多色性 なし 複屈折 中度 伸長性 正 消光角 ( 最大 ) 0 度 屈折率 γ 1.626~1.639 屈折率 α 1.601~

45 アンソフィライト標準試料 JAWE411 6 FT-IR による赤外吸収スペクトル FT-IR 分析 :spectrum100(perkinelmer 社製 ) 検出器 :MIR TGS/ATR( ダイヤモンド /ZnSe) 積算回数 :4 回分解能 4cm-1 151

46 アンソフィライト標準試料 JAWE411 7 粉末 X 線回折分析 測定条件等 : X PertPRO(PANalytical 社製 ) CuKα 線 45kv40mA: 発散スリット 1/2 : step scan; step width (2θ):scan speed (2θ/s) 8 化学組成 鉄が全て二価の場合 鉄が全て三価の場合 wt% wt% SiO SiO Al 2 O Al 2 O FeO 7.09 Fe 2 O MnO 0.24 MnO 0.22 MgO MgO CaO 0.51 CaO 0.47 Na 2 O 1.49 Na 2 O 1.37 K 2 O 1.59 K 2 O 1.46 P 2 O 以下 P 2 O 以下 その他成分 1.78 その他成分 1.64 測定条件等 :ICP 発光分光分析 Vista MPX( セイコーインスツルメンツ社製 ) ( 鉄は二価と三価を合算した定量値になる為 全て二価または三価と仮定した場合の数値を記載 ) 152

47 アンソフィライト標準試料 JAWE411 9 結晶子サイズ 指数 hkl 角度 2θ( ) 結晶子サイズ (nm) 測定条件等 :X PertPRO(PANalytical 社製 ) CuKα 線 45kv40mA: 発散スリット 1/2 : step scan; step width (2θ):scan speed (2θ/s) 153

48 アンソフィライト標準試料 JAWE 透過型電子顕微鏡形態 測定条件等 : 透過型電子顕微鏡 JEM2010( 日本電子社製 ) 倍率 2500 倍 加速電圧 100kv 11 透過型電子顕微鏡電子線回折 測定条件等 : 透過型電子顕微鏡 JEM2010( 日本電子社製 ) 加速電圧 100kv 154

49 トレモライト標準試料 JAWE511 1 走査型電子顕微鏡形態 測定条件等 :S-3400N( 日立ハイテクノロジーズ )/BRUKER-AXS Xflash 4010) 倍率 2000 倍 加速電圧 5kv 155

50 トレモライト標準試料 JAWE511 2 走査型電子顕微鏡元素組成 cps/ev O 10 Fe Ca Mg Si Ca Fe kev 加速電圧 15kv cps/ev O Mg Fe Si 2.0 Ca Ca Fe kev 加速電圧 30kv 測定条件等 :S-3400N( 日立ハイテクノロジーズ )/BRUKER-AXS Xflash 4010) EDX 分析加速電圧 15kv 30kv 156

51 トレモライト標準試料 JAWE511 3 走査型電子顕微鏡元素マッピング 4 走査型電子顕微鏡元素マッピング ( 元素別 ) 157

52 トレモライト標準試料 JAWE511 5 偏光顕微鏡による光学特性 形態 色 角柱針状 白色 多色性 なし 複屈折 中度 伸長性 正 消光角 ( 最大 ) 15 度 屈折率 γ 1.618~1.633 屈折率 α 1.603~

53 トレモライト標準試料 JAWE511 6 FT-IR による赤外吸収スペクトル FT-IR 分析 :spectrum100(perkinelmer 社製 ) 検出器 :MIR TGS/ATR( ダイヤモンド /ZnSe) 積算回数 :4 回分解能 4cm-1 159

54 トレモライト標準試料 JAWE511 7 粉末 X 線回折分析 測定条件等 : X PertPRO(PANalytical 社製 ) CuKα 線 45kv40mA: 発散スリット 1/2 : step scan; step width (2θ):scan speed (2θ/s) 8 化学組成 鉄が全て二価の場合 鉄が全て三価の場合 wt% wt% SiO SiO Al 2 O Al 2 O FeO 4.69 Fe 2 O MnO 0.32 MnO 0.30 MgO MgO CaO CaO Na 2 O 0.12 Na 2 O 0.12 K 2 O 0.07 K 2 O 0.07 P 2 O 以下 P 2 O 以下 その他成分 0.27 その他成分 0.25 測定条件等 :ICP 発光分光分析 Vista MPX( セイコーインスツルメンツ社製 ) ( 鉄は二価と三価を合算した定量値になる為 全て二価または三価と仮定した場合の数値を記載 ) 160

55 トレモライト標準試料 JAWE511 9 結晶子サイズ 指数 hkl 角度 2θ( ) 結晶子サイズ (nm) 測定条件等 :X PertPRO(PANalytical 社製 ) CuKα 線 45kv40mA: 発散スリット 1/2 : step scan; step width (2θ):scan speed (2θ/s) 161

56 トレモライト標準試料 JAWE 透過型電子顕微鏡形態 測定条件等 : 透過型電子顕微鏡 JEM2010( 日本電子社製 ) 倍率 2500 倍 加速電圧 100kv 11 透過型電子顕微鏡電子線回折 測定条件等 : 透過型電子顕微鏡 JEM2010( 日本電子社製 ) 加速電圧 100kv 162

57 クリソタイル標準試料 UICC A 1 走査型電子顕微鏡形態 測定条件等 :S-3400N( 日立ハイテクノロジーズ )/BRUKER-AXS Xflash 4010) 倍率 2000 倍 加速電圧 5kv 163

58 クリソタイル標準試料 UICC A 2 走査型電子顕微鏡元素組成 cps/ev C O Fe Mg Si Fe kev 加速電圧 15kv cps/ev O Mg Fe Si Fe kev 加速電圧 30kv 測定条件等 :S-3400N( 日立ハイテクノロジーズ )/BRUKER-AXS Xflash 4010) EDX 分析加速電圧 15kv 30kv 164

59 クリソタイル標準試料 UICC A 3 走査型電子顕微鏡元素マッピング 4 走査型電子顕微鏡元素マッピング ( 元素別 ) 165

60 クリソタイル標準試料 UICC A 5 偏光顕微鏡による光学特性 形態 色 曲線状 白色 多色性 なし 複屈折 低い 伸長性 正 消光角 ( 最大 ) 0 度 屈折率 γ 1.544~1.562 屈折率 α 1.542~

61 6 クリソタイル標準試料 UICC A FT-IR による赤外吸収スペクトル FT-IR 分析 :spectrum100(perkinelmer 社製 ) 検出器 :MIR TGS/ATR( ダイヤモンド /ZnSe) 積算回数 :4 回分解能 4cm-1 167

62 クリソタイル標準試料 UICC A 7 粉末 X 線回折分析 測定条件等 : X PertPRO(PANalytical 社製 ) CuKα 線 45kv40mA: 発散スリット 1/2 : step scan; step width (2θ):scan speed (2θ/s) 8 化学組成 鉄が全て二価の場合 鉄が全て三価の場合 wt% wt% SiO SiO Al 2 O Al 2 O FeO 3.51 Fe 2 O MnO 0.07 MnO 0.06 MgO MgO CaO 1.07 CaO 1.02 Na 2 O 1.44 Na 2 O 1.38 K 2 O 0.69 K 2 O 0.66 P 2 O P 2 O その他成分 1.03 その他成分 0.99 測定条件等 :ICP 発光分光分析 Vista MPX( セイコーインスツルメンツ社製 ) ( 鉄は二価と三価を合算した定量値になる為 全て二価または三価と仮定した場合の数値を記載 ) 168

63 クリソタイル標準試料 UICC A 9 結晶子サイズ 指数 hkl 角度 2θ( ) 結晶子サイズ (nm) 測定条件等 :X PertPRO(PANalytical 社製 ) CuKα 線 45kv40mA: 発散スリット 1/2 : step scan; step width (2θ):scan speed (2θ/s) 169

64 クリソタイル標準試料 UICC A 10 透過型電子顕微鏡形態 測定条件等 : 透過型電子顕微鏡 JEM2010( 日本電子社製 ) 倍率左 2500 倍右 倍 加速電圧 100kv 11 透過型電子顕微鏡電子線回折 測定条件等 : 透過型電子顕微鏡 JEM2010( 日本電子社製 ) 加速電圧 100kv 170

65 クリソタイル標準試料 UICC B 1 走査型電子顕微鏡形態 測定条件等 :S-3400N( 日立ハイテクノロジーズ )/BRUKER-AXS Xflash 4010) 倍率 2000 倍 加速電圧 5kv 171

66 クリソタイル標準試料 UICC B 2 走査型電子顕微鏡元素組成 cps/ev C O Fe Mg Si Fe kev 加速電圧 15kv cps/ev O Mg Fe Si Fe kev 加速電圧 30kv 測定条件等 :S-3400N( 日立ハイテクノロジーズ )/BRUKER-AXS Xflash 4010) EDX 分析加速電圧 15kv 30kv 172

67 クリソタイル標準試料 UICC B 3 走査型電子顕微鏡元素マッピング 4 走査型電子顕微鏡元素マッピング ( 元素別 ) 173

68 クリソタイル標準試料 UICC B 5 偏光顕微鏡による光学特性 形態 色 曲線状 白色 多色性 なし 複屈折 低い 伸長性 正 消光角 ( 最大 ) 0 度 屈折率 γ 1.550~1.567 屈折率 α 1.542~

69 6 クリソタイル標準試料 UICC B FT-IR による赤外吸収スペクトル FT-IR 分析 :spectrum100(perkinelmer 社製 ) 検出器 :MIR TGS/ATR( ダイヤモンド /ZnSe) 積算回数 :4 回分解能 4cm-1 175

70 クリソタイル標準試料 UICC B 7 粉末 X 線回折分析 測定条件等 : X PertPRO(PANalytical 社製 ) CuKα 線 45kv40mA: 発散スリット 1/2 : step scan; step width (2θ):scan speed (2θ/s) 8 化学組成 鉄が全て二価の場合 鉄が全て三価の場合 wt% wt% SiO SiO Al 2 O Al 2 O FeO 3.87 Fe 2 O MnO 0.07 MnO 0.07 MgO MgO CaO 0.70 CaO 0.67 Na 2 O 1.58 Na 2 O 1.51 K 2 O 1.18 K 2 O 1.13 P 2 O 以下 P 2 O 以下 その他成分 0.55 その他成分 0.52 測定条件等 :ICP 発光分光分析 Vista MPX( セイコーインスツルメンツ社製 ) ( 鉄は二価と三価を合算した定量値になる為 全て二価または三価と仮定した場合の数値を記載 ) 176

71 クリソタイル標準試料 UICC B 9 結晶子サイズ 指数 hkl 角度 2θ( ) 結晶子サイズ (nm) 測定条件等 :X PertPRO(PANalytical 社製 ) CuKα 線 45kv40mA: 発散スリット 1/2 : step scan; step width (2θ):scan speed (2θ/s) 177

72 クリソタイル標準試料 UICC B 10 透過型電子顕微鏡形態 測定条件等 : 透過型電子顕微鏡 JEM2010( 日本電子社製 ) 倍率左 2500 倍右 倍 加速電圧 100kv 11 透過型電子顕微鏡電子線回折 測定条件等 : 透過型電子顕微鏡 JEM2010( 日本電子社製 ) 加速電圧 100kv 178

73 アモサイト標準試料 UICC 1 走査型電子顕微鏡形態 測定条件等 :S-3400N( 日立ハイテクノロジーズ )/BRUKER-AXS Xflash 4010) 倍率 2000 倍 加速電圧 5kv 179

74 アモサイト標準試料 UICC 2 走査型電子顕微鏡元素組成 cps/ev O Mn C Fe Mg Si Mn Fe kev 加速電圧 15kv cps/ev Mn O Mg Fe Si Mn Fe kev 加速電圧 30kv 測定条件等 :S-3400N( 日立ハイテクノロジーズ )/BRUKER-AXS Xflash 4010) EDX 分析加速電圧 15kv 30kv 180

75 アモサイト標準試料 UICC 3 走査型電子顕微鏡元素マッピング 4 走査型電子顕微鏡元素マッピング ( 元素別 ) 181

76 アモサイト標準試料 UICC 5 偏光顕微鏡による光学特性 形態 色 角柱針状 灰色 ~ 茶色 多色性 非常に弱い 複屈折 中度 伸長性 正 消光角 ( 最大 ) 0 度 屈折率 γ 1.689~1.701 屈折率 α 1.664~

77 6 アモサイト標準試料 UICC FT-IR による赤外吸収スペクトル FT-IR 分析 :spectrum100(perkinelmer 社製 ) 検出器 :MIR TGS/ATR( ダイヤモンド /ZnSe) 積算回数 :4 回分解能 4cm-1 183

78 アモサイト標準試料 UICC 7 粉末 X 線回折分析 測定条件等 : X PertPRO(PANalytical 社製 ) CuKα 線 45kv40mA: 発散スリット 1/2 : step scan; step width (2θ):scan speed (2θ/s) 8 化学組成 鉄が全て二価の場合 鉄が全て三価の場合 wt% wt% SiO SiO Al 2 O Al 2 O FeO Fe 2 O MnO 1.76 MnO 1.08 MgO 6.21 MgO 3.80 CaO 0.82 CaO 0.50 Na 2 O 1.16 Na 2 O 0.71 K 2 O 1.26 K 2 O 0.77 P 2 O 以下 P 2 O 以下 その他成分 0.10 その他成分 0.06 測定条件等 :ICP 発光分光分析 Vista MPX( セイコーインスツルメンツ社製 ) ( 鉄は二価と三価を合算した定量値になる為 全て二価または三価と仮定した場合の数値を記載 ) 184

79 アモサイト標準試料 UICC 9 結晶子サイズ 指数 hkl 角度 2θ( ) 結晶子サイズ (nm) 測定条件等 :X PertPRO(PANalytical 社製 ) CuKα 線 45kv40mA: 発散スリット 1/2 : step scan; step width (2θ):scan speed (2θ/s) 185

80 アモサイト標準試料 UICC 10 透過型電子顕微鏡形態 測定条件等 : 透過型電子顕微鏡 JEM2010( 日本電子社製 ) 倍率 2500 倍 加速電圧 100kv 11 透過型電子顕微鏡電子線回折 測定条件等 : 透過型電子顕微鏡 JEM2010( 日本電子社製 ) 加速電圧 100kv 186

81 クロシドライト標準試料 UICC 1 走査型電子顕微鏡形態 測定条件等 :S-3400N( 日立ハイテクノロジーズ )/BRUKER-AXS Xflash 4010) 倍率 2000 倍 加速電圧 5kv 187

82 クロシドライト標準試料 UICC 2 走査型電子顕微鏡元素組成 cps/ev O Mg C Fe Na Si Fe kev 加速電圧 15kv cps/ev Na O Mg Fe Si Fe kev 加速電圧 30kv 測定条件等 :S-3400N( 日立ハイテクノロジーズ )/BRUKER-AXS Xflash 4010) EDX 分析加速電圧 15kv 30kv 188

83 クロシドライト標準試料 UICC 3 走査型電子顕微鏡元素マッピング 4 走査型電子顕微鏡元素マッピング ( 元素別 ) 189

84 クロシドライト標準試料 UICC 5 偏光顕微鏡による光学特性 形態 色 角柱針状 青色 多色性 α 青色 γ 灰色 複屈折 低い 伸長性 負 消光角 ( 最大 ) 0 度 屈折率 γ 1.697~1.703 屈折率 α 1.694~

85 6 クロシドライト標準試料 UICC FT-IR による赤外吸収スペクトル FT-IR 分析 :spectrum100(perkinelmer 社製 ) 検出器 :MIR TGS/ATR( ダイヤモンド /ZnSe) 積算回数 :4 回分解能 4cm-1 191

86 クロシドライト標準試料 UICC 7 粉末 X 線回折分析 測定条件等 : X PertPRO(PANalytical 社製 ) CuKα 線 45kv40mA: 発散スリット 1/2 : step scan; step width (2θ):scan speed (2θ/s) 8 化学組成 鉄が全て二価の場合 鉄が全て三価の場合 wt% wt% SiO SiO Al 2 O Al 2 O FeO Fe 2 O MnO 0.12 MnO 0.07 MgO 2.38 MgO 1.40 CaO 1.44 CaO 0.85 Na 2 O 5.03 Na 2 O 2.97 K 2 O 1.33 K 2 O 0.79 P 2 O P 2 O その他成分 0.15 その他成分 0.09 測定条件等 :ICP 発光分光分析 Vista MPX( セイコーインスツルメンツ社製 ) ( 鉄は二価と三価を合算した定量値になる為 全て二価または三価と仮定した場合の数値を記載 ) 192

87 クロシドライト標準試料 UICC 9 結晶子サイズ 指数 hkl 角度 2θ( ) 結晶子サイズ (nm) 測定条件等 :X PertPRO(PANalytical 社製 ) CuKα 線 45kv40mA: 発散スリット 1/2 : step scan; step width (2θ):scan speed (2θ/s) 193

88 クロシドライト標準試料 UICC 10 透過型電子顕微鏡形態 測定条件等 : 透過型電子顕微鏡 JEM2010( 日本電子社製 ) 倍率 2500 倍 加速電圧 100kv 11 透過型電子顕微鏡電子線回折 測定条件等 : 透過型電子顕微鏡 JEM2010( 日本電子社製 ) 加速電圧 100kv 194

89 アンソフィライト標準試料 UICC 1 走査型電子顕微鏡形態 測定条件等 :S-3400N( 日立ハイテクノロジーズ )/BRUKER-AXS Xflash 4010) 倍率 2000 倍 加速電圧 5kv 195

90 アンソフィライト標準試料 UICC 2 走査型電子顕微鏡元素組成 cps/ev Fe O Mg Si Fe kev 加速電圧 15kv 4.0 cps/ev O Mg Fe Si Fe kev 加速電圧 30kv 測定条件等 :S-3400N( 日立ハイテクノロジーズ )/BRUKER-AXS Xflash 4010) EDX 分析加速電圧 15kv 30kv 196

91 アンソフィライト標準試料 UICC 3 走査型電子顕微鏡元素マッピング 4 走査型電子顕微鏡元素マッピング ( 元素別 ) 197

92 アンソフィライト標準試料 UICC 5 偏光顕微鏡による光学特性 形態 色 角柱針状 うすい灰色 多色性 なし 複屈折 中度 伸長性 正 消光角 ( 最大 ) 0 度 屈折率 γ 1.610~1.633 屈折率 α 1.607~

93 アンソフィライト標準試料 UICC 6 FT-IR による赤外吸収スペクトル FT-IR 分析 :spectrum100(perkinelmer 社製 ) 検出器 :MIR TGS/ATR( ダイヤモンド /ZnSe) 積算回数 :4 回分解能 4cm-1 199

94 7 アンソフィライト標準試料 UICC 粉末 X 線回折分析 測定条件等 : X PertPRO(PANalytical 社製 ) CuKα 線 45kv40mA: 発散スリット 1/2 : step scan; step width (2θ):scan speed (2θ/s) 8 化学組成 鉄が全て二価の場合 鉄が全て三価の場合 wt% wt% SiO SiO Al 2 O Al 2 O FeO 6.48 Fe 2 O MnO 0.13 MnO 0.13 MgO MgO CaO 0.83 CaO 0.83 Na 2 O 1.60 Na 2 O 1.60 K 2 O 1.46 K 2 O 1.46 P 2 O P 2 O その他成分 0.46 その他成分 0.46 測定条件等 :ICP 発光分光分析 Vista MPX( セイコーインスツルメンツ社製 ) ( 鉄は二価と三価を合算した定量値になる為 全て二価または三価と仮定した場合の数値を記載 ) 200

95 9 アンソフィライト標準試料 UICC 結晶子サイズ 当該アンソフィライト標準試料にはタルクが多く含まれており アンソフィライトのみのエックス線回折ピークを選定することができず 有意なデータが得られなかった 201

96 アンソフィライト標準試料 UICC 10 透過型電子顕微鏡形態 測定条件等 : 透過型電子顕微鏡 JEM2010( 日本電子社製 ) 倍率 2500 倍 加速電圧 100kv 11 透過型電子顕微鏡電子線回折 測定条件等 : 透過型電子顕微鏡 JEM2010( 日本電子社製 ) 加速電圧 100kv 202

97 備考 :JIS A の解説に記載された海外の標準試料の輸入 使用に当たっては 労働安全衛生法第 55 条ただし書きに基づき都道府県労働局長の許可が必要となること また 輸入後の譲渡は認められないため 当該試料を使用する予定の分析機関が直接輸入する必要があることに留意すること ただし 輸入に係る輸出元の事業者との調整等諸事務を輸入業者に代行させることについては 輸入業者が輸入行為それ自体を行うものではないため 認められること 203

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