第三回 QISS シンポジウム 宇宙線によるソフトエラー : 社会的インパクトと評価技術 2019 年 12 月 07 日 ( 株 ) ソシオネクスト松山英也 Copyright 2019
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- ゆりな さかいざわ
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1 第三回 QISS シンポジウム 宇宙線によるソフトエラー : 社会的インパクトと評価技術 2019 年 12 月 07 日 ( 株 ) ソシオネクスト松山英也
2 目次 1. はじめに デバイスの社会への役割の変化 2. ソフトエラーとは 3. 原因と特徴 4. 社会的インパクト ( ソフトエラーが引き起こした障害例 ) 5. ソフトエラー評価技術 6. 今後に向けて 1
![1. はじめに デバイスの社会への役割の変化 あらゆるものがネットにつながる IoT 社会の到来 2020 年にはネットにつながるデバイス数が約 400 億個 [1] 2020 年前後にあらゆるインフラがセンサーにつながる 1](/docs-images/113/208929071/images/3-0.jpg "兆個のセンサー ( トリリオンセンサー ) 時代の到来を予測する試算もある [2] [1] 令和元年版情報通信白書 [2] IoT がもたらす我が国製造業の変容と今後の対応に関する調査研究報告書 一般財団法人企業活力研究所平成 28 年")
3 1. はじめに デバイスの社会への役割の変化 あらゆるものがネットにつながる IoT 社会の到来 2020 年にはネットにつながるデバイス数が約 400 億個 [1] 2020 年前後にあらゆるインフラがセンサーにつながる 1 兆個のセンサー ( トリリオンセンサー ) 時代の到来を予測する試算もある [2] [1] 令和元年版情報通信白書 [2] IoT がもたらす我が国製造業の変容と今後の対応に関する調査研究報告書 一般財団法人企業活力研究所平成 28 年 3 月 2
4 1. はじめに デバイスの社会への役割の変化 高成長が見込まれる分野コネクテッドカーの普及によりIoT 化の進展が見込まれる 自動車 輸送機器 デジタルヘルスケアの市場が拡大している 医療 スマート工場やスマートシティが拡大する 産業用途 ( 工場 インフラ 物流 ) などで [1] 令和元年版情報通信白書これらはいずれも高信頼性用途である 3
5 1. はじめに デバイスの社会への役割の変化 Society5.0 IoT のよる IT と密接にかかわる便利な社会に変貌をしようとしている [1] [1] 内閣府 Society 5.0 で実現する社会 4
6 1. はじめに デバイスの社会への役割の変化 経産省 Webより[5] 自動運転も大変便利 数だけではなく 日本では2030年までに完全自動走行化の計画[4] [4]官民ITS構想 ロードマップ2019 高度情報通信ネットワーク社会推進戦略本部 官民データ活用推進戦略会議 2019年6月7日 [5] 経産省Webより 5
7 1. はじめに デバイスの社会への役割の変化 携帯電話や パソコンで誤動作やロックをして 再起動した経験はないですか? 事故! しかし社会に密接に関わり 便利な反面命をも電子デバイスにあずける社会エラーが出たからと言ってRESETが効かない世界! ソフトエラーが大切なデバイスの信頼性を脅かす 6
8 1. はじめに デバイスの社会への役割の変化 1. 半導体デバイスはその進化とともにその役割 出荷数が急拡大し我々の社会と密接なつながりを持つようになってきた 2. 社会に密接に関わり 便利な反面 命をも電子デバイスにあずける社会になっている 高信頼性用途のデバイス アプリケーションの増加 3. ソフトエラーが大切なデバイスの信頼性を脅かす 高信頼性用途のデバイスでは対策が非常に重要である 7
9 目次 1. はじめに デバイスの社会への役割の変化 2. ソフトエラーとは 3. 原因と特徴 4. 社会的インパクト ( ソフトエラーが引き起こした障害例 ) 5. ソフトエラー評価技術 6. 今後に向けて 8
10 2. ソフトエラーとは まずトランジスターについて ゲートに正電圧が印加された場合 Ｐ型の基盤と絶縁層の境界に 電子を引き寄せ反転層 n型 チャネルを作り上げる事でソース -ドレイン間に電子を流す PMOSの場合は正孔 電子 エレクトロン や正孔 ホール の働きで電圧 信号 データ を 伝えるスィッチの役割を果たす シリコン ＮＭＯＳＦＥＴ の模式図 ＮＭＯＳＦＥＴ 記号 9
11 2. ソフトエラーとは まずトランジスターについて ゲートに正電圧が印加された場合 Ｐ型の基盤と絶縁層の境界に 電子を引き寄せ反転層 n型 チャネルを作り上げる事でソース -ドレイン間に電子を流す PMOSの場合は正孔 電子 エレクトロン や正孔 ホール の働きで電圧 信号 データ を 伝えるスィッチの役割を果たす 容量を付加する もしくは回路 Flip Flop の形にしてデータ(1or0)を保持できる 10 容量を付加or回路にし てデータを保持できる
12 2. ソフトエラーとは メモリーや CPU などの電子デバイスのビット ( 情報 ) が何の前触れもなく反転してしまう現象 図は Taiki Uemura A Study on Soft Error Mitigation for Microprocessor in Bulk CMOS Technology Osaka,Japan Osaka University, 2015,Ph.D.thesisp6 Fig.1.3より引用 11
13 2. ソフトエラーとは 集積化の影響 ( 寄生バイポーラ効果 ラッチアップ ) 寄生バイポーラー効果 中性子線では寄生バイポーラー効果と呼ばれる故障メカニズムで複数ビットが発生しやすくなった また確率は小さいがラッチアップという大電流が流れてしまう障害も現れるようになった SEL( シングルイベント ラッチアップ ) 機構図は Taiki Uemura A Study on Soft Error Mitigation for Microprocessor in Bulk CMOS Technology Osaka,Japan Osaka University, 2015,Ph.D.thesisp6 Fig.1.3 より引用 12
14 目次 1. はじめに デバイスの社会への役割の変化 2. ソフトエラーとは 3. 原因と特徴 4. 社会的インパクト ( ソフトエラーが引き起こした障害例 ) 5. ソフトエラー評価技術 6. 今後に向けて 13
15 3. 原因と特徴 原因1: α線発生源(材料起因 パッケージ基盤 半導体チップ 半導体デバイスの断面 パッケージ材料のモールド樹脂中に含まれる微量のウラン トリウム はんだバンプに含まれるポロニウムからα線発生(材 料起因 中性子線のような高度 緯度などの地理依存は ない 14
16 3. 原因と特徴 原因 2: 中性子線 ( 二次宇宙線 ) 図は Taiki Uemura A Study on Soft Error Mitigation for Microprocessor in Bulk CMOS Technology Osaka,Japan Osaka University, 2015,Ph.D.thesisp6 Fig.1.3 より引用 地球に降り注ぐ宇宙線 ( 陽子やHe 原子核など ) が大気中に入射し窒素などの原子と衝突し核破砕反応を起こすことで生じる 高度が高いほど多くなる 15
17 2. ソフトエラーとは 特徴 1: 電源を入れなおせば正常動作するため再現性がなく故障個所に痕跡が残らない そのためソフトエラーと呼ばれる 故障 正常 正常 特徴 2:[ 空間的にランダム ] ソフトエラーの反転ビットは場所的に偏りなくランダムに発生 16
18 3. 原因と特徴 ソフトエラーは再現性がない 痕跡が残らない 問題が起きた場合原因を特定するのが困難 - ハードエラーの場合 痕跡が残り 再現性があるため 原因を絞り込むことができる 原因さえ明確になれば難題で あっても解決方針が立てられマン パワーをそこに集中し解決に結び つけられる 17 電子デバイスの配線の障害例 ボイドという空間が発生し オープン故障に
19 2. ソフトエラーとは - ソフトエラーの場合 痕跡が残らない上に現象的にはノイズの発生 ノイズの発生要因は電磁ノイズ 静電気 落雷など多くあり切り分けが難しい 再現実験で確認するなら 例 1000FIT の場合デバイス 1000 ケを駆動して 1000 時間 ( 約 1.5 ケ月 ) に 1 回 統計的に有意なデータを取るには半年はかかる 以上の理由より原因を特定するのが困難な現象である 18
20 3. 原因と特徴 特徴3 時間的にもランダムに発生 ハードエラーとの比較 電子デバイスのハードエラー発生の特徴 は通常下記のように時間変化する (形状からバスタブ 浴槽 カーブと言われる ) 故障率(*) バスタブカーブ 摩耗故障モード 初期故障モード (時間とともに発生率が増加 (時間とともに発生率が減少 配線の 切りキズ (*)故障の 発生しやすさ Agingや試験で 故障率を下げる 時間 ハードエラーの場合ほとんどが初期故障モード 時間ととともに発生率 が低減 出荷前の加速試験や試験で発生率を抑え込める 19
21 3. 原因と特徴 特徴2.時間的にもランダムに発生 ソフトエラーの場合偶発故障モード 原因が外から来 る ため時間的変化なし 故障率(*) バスタブカーブ 初期故障モード 摩耗故障モード (時間とともに発生率が増加 (時間とともに発生率が減少 偶発故障モード ソフトエラー 試験をしても故 障率変わらない 時間 偶発故障のソフトエラーには出荷前試験 デバイスの交換は 全く効果なし 事前に評価し十分な対策を行う必要がある 20 (*)故障の 発生しやすさ
22 3. 原因と特徴 1. 原因は放射線 (α 線 中性子線 ) である 中性子線の影響で複数 bit が反転する場合も増加してきている 2. 電源を切れば元に戻り 再現性が無く 故障発生箇所には何の痕跡も残らない 3. 空間的にランダムに発生 : 反転ビットは場所の偏りなくランダムに発生 現象的にはノイズの発生なので他の原因 ( 電磁ノイズ 静電気 落雷など ) と切り分けが難しく原因特定に時間がかかることが多い 4. 時間的にランダムに発生 : 試験や部品交換も効果なし 高信頼性用途では事前の評価と対策を取らねばならない 21
23 目次 1. はじめに デバイスの社会への役割の変化 2. ソフトエラーとは 3. 原因と特徴 4. 社会的インパクト ( ソフトエラーが引き起こした障害例 ) 5. ソフトエラー評価技術 6. 今後に向けて 22
24 4. 社会的インパクト ( ソフトエラーが引き起こした障害例 ) Sun 2000 年 - ソフトエラーによるシステムクラッシュ多発 - L2 キャッシュに ECC が無かった - AOL, Ebay, Verisign, Baby Bell(Atlanta) などの業務に影響 Computerworld December 03, 2001 McNealy Blames IBM for Sun's Server Memory Flaws Says faulty SRAM was 'biggest source' of system crashes We're no longer buying IBM SRAM [static RAM]. They were the biggest source of the problem for us. They knew about it before, and they didn't tell us... But IBM sure made a big point of telling all of our customers about it a year and a half ago. But we don't have that issue anymore. We designed IBM out and put [error checking and correcting logic] across the entire cache architecture. 原因究明対策までに約 1 年 ( そのために被害拡大 ) から引用コメントは松山が追加 23
25 4. 社会的インパクト ( ソフトエラーが引き起こした障害例 ) A 社 : ソフトエラー対策のため 30 億円の特別損失 2020 年 3 月期第一四半期 特別損失 FY19_1Q 実績 32 億円 ソフトエラー対策強化引当金繰入額 30 億円 A 社 2020 年 3 月期第 1 四半期決算説明会資料より ソフトエラー障害は原因究明に時間がかかり プロセス 回路変更以外対策効果がなく費用もかかる そのためソフトエラー障害は企業に大きな損害をもたらす 24
26 4.1 ソフトエラーが原因と疑われている例 カンタス航空72便急降下事故(2008年10月7日) 2008年10月7日 Qantas72便がシンガポールからパース 西オー ストラリア に向けて出発 高度37,000ft 11,278m を航行中 ADIRU 1 慣性基準 装置 1 が断続的に誤データ Angle of attack, 迎え角 を発信 この誤データにより FCPC フライト制御コンピュータ が下降を命令 2秒 72便は急降下した シートベルトをしていなかった乗客のほとんどが 天井に投 げつけられる事態となった オーストラリア運輸安全局ATSB TRANSPORT SAFETY REPORT Aviation Occurrence Investigation AO Final In-flight upset 154 km west of Learmonth, WA 7 October 2008 VH-QPA Airbus A p170 Figure 50を引用 25
27 4.1 ソフトエラーが原因と疑われている例 カンタス航空72便急降下事故(2008年10月7日) 事故調査レポート (Webで閲覧可能) 表紙 全313ページ オーストラリア運輸安全局ATSB TRANSPORT SAFETY REPORT Aviation Occurrence Investigation AO Final In-flight upset 154 km west of Learmonth, WA 7 October 2008 VH-QPA Airbus A レポート p.150の表 SEE以外は unlikely(ありえない) もしくはvery unlikely 非常にありえない ソフトエラー ありうる(not unusual) が証拠不十分 報告ではソフトエラーはありうる ただし証拠不十分とし て断定されていない また機器のソフトエラー対策の不 十分さが指摘されている ソフトエラーが人身事故につな Copyright がる可能性があるとして大きな警鐘になった
28 4.2 ソフトエラーが同様の障害を起こす可能性がある例 記憶に新しい新横浜シーサイドライン逆走事故 2019年6月1日(土)20時15分頃 新杉田駅発並木中央駅行き第2009B 列車 5 両編成 が新杉田駅を出発 したところ 本来の進行方向と反対の方向に進行し 線路終端部の車止めに衝 突し停止した この事故により乗客14 名が負傷した 運輸安全委員会Webより 出典 株式会社横浜シーサイドライン新杉田駅において発生した鉄道人身障害事故に関する情 報提供 令和元年6月14日 国土交通省 運輸安全委員会 Press Release 運輸安全委員会の調査によりF線(前進指令をモータに 伝える配線)の断線が報告されている (詳細はさらに調 査中)確率は低いがコンピュータが誤作動を起こせば同様 の事故を起こしかねない 将来の過密路線 電子デバイ スに頼り切った社会ではソフトエラーに注意が必要 Copyright
29 4. 社会的インパクト ( ソフトエラーが引き起こした障害例 ) 1. ソフトエラーはネットワークなど社会インフラにもかかわり障害を起こすと波及範囲が広く 企業にも甚大な損害をもたらす 2. 原因追及に時間がかかり かつ試験で除けないためプロセスや設計改版など時間と費用を要することが多いためである 3. 事前に評価し しっかり対策を立てることが必要である 特にインフラや人命にかかわる高信頼性用途品では必須 28
30 目次 1. はじめに デバイスの社会への役割の変化 2. ソフトエラーとは 3. 原因と特徴 4. 社会的インパクト ( ソフトエラーが引き起こした障害例 ) 5. ソフトエラー評価技術 6. 今後に向けて 29
31 5. ソフトエラー評価技術 ソフトエラー研究の歴史 1975 人口衛星の電子デバイスの異常の原因として宇宙空間の Fe や C などの重粒子が原因であると報告 intel から DRAM における α 線起因のソフトエラーが報告 地上でのソフトエラーが広く知られるようになった IBM 富士通などの報告で二次宇宙線である中性子線の影響でソフトエラーが発生が知られるようになってきた JEDEC 基準 (JESD89) JEITA 基準 (EDR-4705) ミューオンによるソフトエラーが示唆 歴史を見ると集積化が進み それとともにソフトエラーが問題になる環境 ( 宇宙空間から地上 ) 原因 (α 線に加え中性子線 ) が拡大していることがわかる 30
32 5. ソフトエラー評価技術 1980 年代 31
33 5. ソフトエラー評価技術 年代 α線ソフトエラー 発生源(材料起因 パッケージ基盤 半導体チップ 半導体デバイスの断面 70年代に最初に問題になったのはLSIデバイスのパッケージ材料 に微量に含まれる同位元素からのα線 32
34 5. ソフトエラー評価技術 年代 α線ソフトエラー評価技術 241Am JEDEC基準 JESD89Aより α線加速試験方法 放射性同位元素241Amによる加速試験 Packageの表面に配置して加速試験を実施 ランニング試験 デバイスを実動作させ故障率を測定する α線ソフトエラーの評価は2種類 1.加速試験 放射線方位元素をChip直上に配置して加速 2.ランニング試験 デバイスを実動作させ故障率を測定 デバイス1000ケ 半年程度のランニング試験で確認した この当時のソフトエラーの基準は FIT/device
35 5. ソフトエラー評価技術 1990~10 年 34
36 5. ソフトエラー評価技術 90年代以降 中性子線ソフトエラー 発生源(二次宇宙線 JEDEC基準 JESD89Aより 中性子の加速評価はリングサイクロトンなど加速器での評価が 必要になった 評価施設が限定される 35
37 5. ソフトエラー評価技術 90年代以降集積化の影響 (多ビットエラーの発生 現象が複雑になってきた) 図1.微細化に影響により多ビットエラーのエ ラーの発生も起きるようになってきた ソフトエラーシュミレータ核物理に基づきソフトエ ラーを計算 筐体の影響なども計算できる 集積化により単ビットから 複数ビット より修正が困難 が 発生しやすくなる(放射線の影響範囲は微細化されない) 筐体や建物の影響も受けるようになりシュミレーションによる 計算も必要になってきた 36
38 5. ソフトエラー評価技術 近年 37
39 5. ソフトエラー評価技術 ソフトエラーに求められる信頼度が向上 ISO26262(自動車向け機能安全規格) 目標値 累積故障確率の目標[FIT] シングルポイント フォールト(*1)の対策目標 レイタント フォールト(*2)の対策目標 (*1)シングルポイントフォールト 単独で安全を侵害する危険のある故障で安 全機構がないもの (*2)レイタントフォールト 診断などの安全機構で検知できない故障 ASIL(Automotive Safety Integrity Level) A B C D - <100 <100 <10-90% 97% 99% - 60% 80% 90% 経産省Webより html ISO26262(自動車分野の機能安全規格)の最高位の ASIL-Dではシステムへ10[FIT]の要求 ここでFITとは109 時間(=約11万年)あたりのデバイス１ケの平均故障率 Copyright
![5. ソフトエラー評価技術 ソフトエラーに求められる信頼度 10[FIT] とは デバイス1ケでみると 10 9 時間 (= 約 11 万年 )10 回故障 10 8 時間 (= 約 1.](/docs-images/113/208929071/images/40-0.jpg "1 万年 )1 回故障 デバイス10ケでみると 10 7 時間 (= 約 1100 年 )1 回故障 100 (= 約 110 年 ) 1 回故障 1000ケ (= 約 11 年 ) 1 回故障 10000ケ (= 約 1.1 年 ) 1 回故障 10 万ケ (= 約 0.1 年 ) 1 回故障 100 万ケ (= 約 0.")
40 5. ソフトエラー評価技術 ソフトエラーに求められる信頼度 10[FIT] とは デバイス1ケでみると 10 9 時間 (= 約 11 万年 )10 回故障 10 8 時間 (= 約 1.1 万年 )1 回故障 デバイス10ケでみると 10 7 時間 (= 約 1100 年 )1 回故障 100 (= 約 110 年 ) 1 回故障 1000ケ (= 約 11 年 ) 1 回故障 10000ケ (= 約 1.1 年 ) 1 回故障 10 万ケ (= 約 0.1 年 ) 1 回故障 100 万ケ (= 約 0.01 年 =4 日 ) 1 回故障 現実の世界 ( 国内自動車台数 2018 年度 526 万台 ) と比較すると決して厳しすぎる数字ではない 39
41 5. ソフトエラー評価技術 ソフトエラーに求められる信頼度 10[FIT] をランニング試験で保証しようとすると 100 万ケデバイスを 100 時間稼働 10 万 1000 時間 ~ 1000ケ デバイス 11 年稼働 年 年 ランニング試験では評価不可能! 加速試験による評価がより重要にシュミレーションの開発と併せて企業単独では困難大学 研究機関との共同研究が不可欠な時代になった 40
42 白色 中性子 RCNP 白色中性子照射場 30 陽子ビーム MeV エネルギー 減衰装置 タングステン ターゲット 半導体 デバイス 中性子 阪大RCNP様での加速試験 で数個 数１０時間で必要 なデータが取れる RCNPの白色中性子源の強度は 30秒で自然界の100年分相当 1年後に10倍に増強 41
43 5. ソフトエラー評価技術 RCNP での評価例 : デバイスおよびシステムレベルの加速試験 H. Ando, et al, Validation of hardware error recovery mechanisms for the SPARC64 V microprocessor, in IEEE International Conference on Dependable Systems and Networks With FTCS and DCC, 2008, pp 富士通のサーバ部門とデバイス部門 ( 現ソシオネクスト社 ) でスーパーコンピュータ開発にてソフトエラー対策に挑んだ 前世代のサーバーで加速試験を実施 コンピュータ動作における信頼性が求められる動作 回路網を割り出した 42
44 5. ソフトエラー評価技術耐放射線回路の開発 1) Particle hit 2) ー ー 放射線耐性回路 1) メモリーで発生しうる多ビットエラーをRCNPでの加速実験から算出し対応できる訂正回路 (ECC) を採用 2) 信頼性が求められる回路向けに耐放射線回路を開発富士通サーバー部門が装置レベルの評価 デバイス部門 ( 現ソシオネクト ) がデバイスを評価する協力体制だからこそできた開発 43
45 5. ソフトエラー評価技術 1. 70~80 年 α 線ソフトエラーが問題になった 放射性同位元素 ( 241 Am) による加速試験とデバイスを実動作させるランニング試験で評価した 年代に入り中性子によるソフトエラーも問題になりリングサイクロトロンなど加速器での加速試験で評価をおこなった 現象に複雑化にともないシュミレーションでの評価も必要になった 3. 近年はデバイスに対する高信頼性要求に伴い加速器での評価がより重要になった シュミレーションの開発も含め大学 研究機関との共同研究が不可欠な時代になった 4. 富士通サーバー部門とデバイス部門 ( 現ソシオネクスト )RCNP にて装置およびデバイスの評価を分担して行い情報を share して高信頼性サーバーの開発に成功した 44
46 目次 1. はじめに デバイスの社会への役割の変化 2. ソフトエラーとは 3. 原因と特徴 4. 社会的インパクト ( ソフトエラーが引き起こした障害例 ) 5. ソフトエラー評価技術 6. 今後に向けて 45
47 6. 今後に向けて QISS 産学連携 (1) 現状は加速試験はほとんどデバイスメーカーが行っている 富士通サーバー部門がサーバーで評価しソシオネクトがデバイスの評価を行い成果をあげたように ボード 装置レベルの評価を行い お互いノウハウを共有 評価の裾野を広げる必要がある 46
48 6. 今後に向けて QISS 産学連携 (2) 将来デバイスではミュオンの影響が懸念されている 加速には加速器が必要 現象も難しい 産学の英知を結集すべき課題 47
49 6.今後に向けて QISS 産学連携 3 211Atの製造が可能 白色中性子の照射が可能 ミューオンの利用が可能 JCANS(日本加速器中性子源協議会)web OPERA QiSS - 大阪大学 核物理研究センター 安心 安全 スマートな長寿社会実現のための高 度な量子アプリケーション技術の創出 日本は幸いにして多くの加速器が狭い国内にある しかも加 速器間の連絡が良好 この連結をさらに強化してソフトエラーの問題に取り組むべき 品質は日本のお家芸でありオールジャパン体制で取り組むべ きQISSの役割は重要 48
50 6. 今後に向けて 1. 現状は加速試験はほとんどデバイスメーカーが行っている 富士通サーバー部門とソシオネクトがおこなったように ボード 装置レベルの評価デバイスメーカーで行い お互いノウハウを共有 評価の裾野を広げる必要がある 2. 今後もミュオンなど新しい粒子によるソフトエラーが懸念されている 現象的にも難しく大学 研究機関の協力が不可欠 4. 品質は日本のお家芸である QISS でデバイスメーカー 装置メーカー 研究機関のオールジャパン体制でこの問題に取り組み このソリューションを見出すべき 49
51
Isotope News 2015年7月号 No.735
通信品質を小型加速器中性子源が支える 宇宙線による通信機器の誤動作を再現し 未然に防ぐためのソフトエラー試験技術 岩下 秀徳 Iwashita Hidenori NTT ネットワークサービスシステム研究所 1 を実施することにより 事前にソフトエラーの はじめに 影響を把握でき 改善を行った後に実運用ネッ 近年 宇宙線によって生じる中性子線に因る 通信機器のソフトエラーが増加しつつある ソ トワークへ通信機器を導入することにより
(Microsoft PowerPoint _RCNP\214\244\213\206\211\357_\214\366\212J\216\221\227\277.ppt)
中性子ソフトエラーの 加速試験評価 富士通セミコンダクター 上村大樹 Fujitsu Semiconductor LTD. E-mail: uemura.taiki@jp.fujitsu.com Copyright 2008 FUJITSU LIMITED Outline ソフトエラーの背景 ソフトエラーの評価方法 中性子ビームによる評価 ソフトエラー対策の評価 1 Copyright 2008 FUJITSU
Microsoft Word - TC4011BP_BF_BFT_J_P8_060601_.doc
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Microsoft Word - TC4538BP_BF_J_2002_040917_.doc
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2SK2313
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Microsoft Word - TC74HC107AP_AF_J_P9_060201_.doc
東芝 CMOS デジタル集積回路シリコンモノリシック TC74HC17AP,TC74HC17AF Dual J-K Flip-Flop with Clear TC74HC17A は シリコンゲート CMOS 技術を用いた高速 CMOS JK フリップフロップです CMOS の特長である低い消費電力で LSTTL に匹敵する高速動作を実現できます J および K 入力に与えられた論理レベルに従って クロックの立ち下がりで出力が変化します
uPC1093 DS
お客様各位 カタログ等資料中の旧社名の扱いについて 2010 年 4 月 1 日を以って NEC エレクトロニクス株式会社及び株式会社ルネサステクノロジが合併し 両社の全ての事業が当社に承継されております 従いまして 本資料中には旧社名での表記が残っておりますが 当社の資料として有効ですので ご理解の程宜しくお願い申し上げます ルネサスエレクトロニクスホームページ (http://www.renesas.com)
uPC258,4558 DS
お客様各位 カタログ等資料中の旧社名の扱いについて 2010 年 4 月 1 日を以って NEC エレクトロニクス株式会社及び株式会社ルネサステクノロジが合併し 両社の全ての事業が当社に承継されております 従いまして 本資料中には旧社名での表記が残っておりますが 当社の資料として有効ですので ご理解の程宜しくお願い申し上げます ルネサスエレクトロニクスホームページ (http://www.renesas.com)
富士通セミコンダクター株式会社発表資料
安心 安全を実現する安全を実現する FM3 マイコン 2012 年 6 月富士通セミコンダクター株式会社マイコンソリューション事業本部五十嵐稔行 Copyright 2010 FUJITSU LIMITED 目次 FM3 ロードマップ 安心 安全への取り組み安全への取り組み 1 Copyright 2010 FUJITSU LIMITED CPUロードマップとITRON系RTOS製品 T-Kernel/μT-Kernel
TC7WT126FU
東芝 CMOS デジタル集積回路シリコンモノリシック Dual Bus Buffer は シリコンゲート CMOS 技術を用いた高速 CMOS 2 回路入り 3- ステートバッファです CMOS の特長である低い消費電力で LSTTL に匹敵する高速動作を実現できます 入力は TTL レベルですので TTL レベルのバスに直結可能です 3- ステートコントロール入力 G を L とすることにより出力
TLP521-1,TLP521-2,TLP521-4 東芝フォトカプラ赤外 LED + フォトトランジスタ TLP521-1,TLP521-2,TLP521-4 電子計算機の I / O インタフェース システム機器や計測器のノイズカット 各種コントローラ 複写機 自動販売機 電位が異なる回路間の信
東芝フォトカプラ赤外 LED + フォトトランジスタ 電子計算機の I / O インタフェース システム機器や計測器のノイズカット 各種コントローラ 複写機 自動販売機 電位が異なる回路間の信号伝達 単位 : mm TLP521 シリーズは GaAs 赤外 LED とシリコンフォトトランジスタを組 み合わせた高密度実装タイプのフォトカプラです TLP521 1 DIP 4 ピン 1 回路 TLP521
EC-1 アプリケーションノート 高温動作に関する注意事項
要旨 アプリケーションノート EC-1 R01AN3398JJ0100 Rev.1.00 要旨 EC-1 の動作温度範囲は Tj = -40 ~ 125 としており これらは記載の動作温度範囲内での動作を保証す るものです 但し 半導体デバイスの品質 信頼性は 使用環境に大きく左右されます すなわち 同じ品質の製品でも使用環境が厳しくなると信頼性が低下し 使用環境が緩くなると信頼性が向上します たとえ最大定格内であっても
目次 1: 安全性とソフトウェア 2: 宇宙機ソフトウェアにおける 安全 とは 3:CBCS 安全要求とは 4: 宇宙機ソフトウェアの実装例 5: 安全設計から得た新たな知見 6: 今後 2
宇宙機ソフトウェアにおける 安全要求と設計事例 宇宙航空研究開発機構 (JAXA) 情報 計算工学センター (JEDI) 梅田浩貴 (Hiroki Umeda) 目次 1: 安全性とソフトウェア 2: 宇宙機ソフトウェアにおける 安全 とは 3:CBCS 安全要求とは 4: 宇宙機ソフトウェアの実装例 5: 安全設計から得た新たな知見 6: 今後 2 1.1 安全性とは 安全性と信頼性の違いの例開かない踏切りは
TC7SET08FU_J_
CMOS デジタル集積回路 シリコンモノリシック 1. 機能 2-Input AND Gate 2. 特長 (1) AEC-Q100 (Rev. ) ( 注 1) (2) 動作温度が広い : T opr = -40125 ( 注 2) (3) 高速動作 : t pd = 4.2 ns ( 標準 ) ( CC = 5.0, C = 15 ) (4) 低消費電流 : = ( ) (T a = 25 )
TC74HCT245AP/AF
東芝 CMOS デジタル集積回路シリコンモノリシック TC74HCT245AP,TC74HCT245AF Octal Bus Traceiver TC74HCT245A は シリコンゲート CMOS 技術を用いた高速 CMOS 8 回路入り双方向性バスバッファです CMOS の特長である低い消費電力で LSTTL に匹敵する高速動作を実現できます 入力は TTL レべルですので TTL レベルのバスに直結可能です
TC74HC245,640AP/AF
東芝 CMOS デジタル集積回路シリコンモノリシック TC74HC245AP,TC74HC245AF,TC74HC640AP,TC74HC640AF Octal Bus Traceiver TC74HC245AP/AF 3-State, Non-Inverting TC74HC640AP/AF 3-State, Inverting TC74HC245AP/640AP TC74HC245A/640A
TC7SET125FU_J_
CMOS デジタル集積回路 シリコンモノリシック 1. 機能 Bus Buffer 2. 特長 (1) AEC-Q100 (Rev. H) ( 注 1) (2) 動作温度が広い : T opr = -40125 ( 注 2) (3) 高速動作 : t pd = 3.7 ( 標準 ) ( CC = 5.0, C = pf) (4) 低消費電流 : = ( ) (T a = 25 ) (5) TT レベル入力
CSM_XS2_DS_J_11_2
XS2 1 XS2 2 0120-919-066 055-982-5015 XS2 3 XS2 0120-919-066 055-982-5015 4 5 XS2 XS2 6 0120-919-066 055-982-5015 XS2 7 XS2 0120-919-066 055-982-5015 8 XS2 9 XS2 0120-919-066 055-982-5015 10 XS2 11 XS2
CSM_G5Q_DS_J_1_14
0120-919-066 055-982-5015 1 2 www.fa.omron.co.jp/ 0120-919-066 055-982-5015 3 オムロン商品ご購入のお客様へ ご承諾事項 平素はオムロン株式会社 ( 以下 当社 ) の商品をご愛用いただき誠にありがとうございます 当社商品 のご購入については お客様のご購入先にかかわらず 本ご承諾事項記載の条件を適用いたします ご承諾のうえご注文ください
OM
OM1-6110-0100 ご注文 ご使用に際してのご承諾事項 平素は当社の製品をご愛用いただき誠にありがとうございます さて 本資料により当社製品 ( システム機器 フィールド機器 コントロールバルブ 制御機器 ) をご注文 ご使用いただく際 見積書 契約書 カタログ 仕様書 取扱説明書などに特記事項のない場合には 次のとおりとさせていただきます
TC74HC4017AP/AF
東芝 CMOS デジタル集積回路シリコンモノリシック TC74HC4017AP,TC74HC4017AF Decade Counter/Divider TC74HC4017A は シリコンゲート CMOS 技術を用いた高速 10 進ジョンソンカウンタです CMOS の特長である低い消費電力で 等価な LSTTL に匹敵する高速動作を実現できます CK あるいは CE 入力に印加されたカウントパルスの数により
CSM_G7L_DS_J_1_15
1 0120-919-066 055-982-5015 TÜV 2 www.fa.omron.co.jp/ 2 0120-919-066 055-982-5015 3 4 www.fa.omron.co.jp/ 0120-919-066 055-982-5015 5 6 www.fa.omron.co.jp/ 7 0120-919-066 055-982-5015 8 www.fa.omron.co.jp/
CSM_G6J-Y_DS_J_1_8
G6J-Y 0120-919-066 055-982-5015 1 G6J-Y 2 www.fa.omron.co.jp/ G6J-Y 0120-919-066 055-982-5015 3 G6J-Y 4 www.fa.omron.co.jp/ G6J-Y 0120-919-066 055-982-5015 5 6 www.fa.omron.co.jp/ G6J-Y G6J-Y 0120-919-066
QOBU1011_40.pdf
印字データ名 ＱＯＢＵ1 0 1 1 (1165) コメント 研究紹介 片山 作成日時 07.10.04 19:33 図 2 (a )センサー素子の外観 (b )センサー基板 色の濃い部分が Pt 形電極 幅 50μm, 間隔 50μm (c ),(d )単層ナノ チューブ薄膜の SEM 像 (c )Al O 基板上, (d )Pt 電極との境 界 熱 CVD 条件 触媒金属 Fe(0.5nm)/Al(5nm)
TC7SHU04FU_J_
CMOS デジタル集積回路 シリコンモノリシック 1. 機能 Inverter (Unbuffer) 2. 特長 (1) AEC-Q100 (Rev. H) ( 注 1) (2) 動作温度が広い : T opr = -40125 ( 注 2) (3) 高速動作 : t pd = 3.5 ns ( 標準 ) ( CC = 5.0, C L = ) (4) 低消費電流 : = ( ) (T a = 25
TC74HC109AP/AF
東芝 CMOS デジタル集積回路シリコンモノリシック TC74HC19AP,TC74HC19AF Dual J-K Flip-Flop with Preset and Clear TC74HC19A は シリコンゲート CMOS 技術を用いた高速 CMOS JK フリップフロップです CMOS の特長である低い消費電力で LSTTL に匹敵する高速動作を実現できます J および K 入力に与えられた論理レベルに従って
TC74HC112AP/AF
東芝 CMOS デジタル集積回路シリコンモノリシック TC74HC112AP,TC74HC112AF Dual J-K Flip Flop with Preset and Clear TC74HC112A は シリコンゲート CMOS 技術を用いた高速 CMOS JK フリップフロップです CMOS の特長である低い消費電流で LSTTL に匹敵する高速動作を実現できます J および K 入力に与えられた論理レベルに従って
統合的高信頼化設計のためのモデル化と検出 訂正 回復技術 研究代表者安浦寛人九州大学大学院システム情報科学研究院 DVLSI 領域会議 (2011/7/2) DVLSI 安浦チーム 1 研究の目標 さまざまな種類のエラー ( 製造故障 ソフトエラー タイミングエラー 設計誤り 不完全な仕様に基づく誤
統合的高信頼化設計のためのモデル化と検出 訂正 回復技術 研究代表者安浦寛人九州大学大学院システム情報科学研究院 研究の目標 さまざまな種類のエラー ( 製造故障 ソフトエラー タイミングエラー 設計誤り 不完全な仕様に基づく誤り 悪意のある攻撃など ) に対して 統一的な視点からディジタルLSIシステムのディペンダビリティを確保するための設計技術の確立を目指す ディペンダビリティの解析と対策回路の合成を行うEA
TC7SZU04AFS_J_
CMOS デジタル集積回路 シリコンモノリシック TC7SZU04AFS TC7SZU04AFS 1. 機能 Inverter (Unbuffer) 2. 特長 (1) AEC-Q100 (Rev. H) ( 注 1) (2) 動作温度が広い : T opr = -40125 ( 注 2) (3) 高出力電流 : ±32 ma ( ) ( CC = ) (4) 動作電圧範囲 : CC = (5) 入力端子に,
RS-422/485 ボード取扱説明書 RS-422/485 ボード取扱説明書 Revision 0.3 コアスタッフ株式会社技術部エンジニアリング課 Copyright 2009 Core Staff Co.,Ltd. All Rights Reserved - 1 of 17
Revision.3 コアスタッフ株式会社技術部エンジニアリング課 Copyright 29 Core Staff Co.,Ltd. All Rights Reserved - of 7 目次 はじめに 3. 概要 4 2. 主要緒言 5 3. 各種インターフェース機能説明 8 4. 外形寸法 4 Copyright 29 Core Staff Co.,Ltd. All Rights Reserved
A23 A24 A25 A26 A27 A28 A38 A39 燃料再処理 A40 A41 A42 A43 第 3 日 休 憩 総合講演 報告 3 日本型性能保証システム 燃料再処理 A29 A30 A31 A32 A33 A34 A35 燃料再処理 A36 A37 燃料再処理 A44 A45 A4
2010 Fall Meeting of the Atomic Energy Society of Japan 2010 年 9 月 15 日 17 日 第 1 日 発表 10 分, 討論 5 分 燃料再処理 A01 A02 A03 A04 A05 A06 A07 休 憩 総合講演 報告 1 計量保障措置分析品質保証 燃料再処理 A08 A09 A10 A11 A12 燃料再処理 A13 A14 A15
重イオンビームを用いたシングルイベント効果の評価技術
半導体に対する三つの放射線影響 とその照射試験 小野田忍 独立行政法人 日本原子力研究開発機構 量子ビーム応用研究部門 半導体耐放射線性研究グループ o n o d a. s h i n o b u @ j a e a. g o. j p 027-3 4 6-9324 発表内容 2 1. 放射線と半導体 1. 放射線環境 2. 半導体に対する3つの放射線影響 2. 原子力機構 高崎量子応用研究所放射線照射施設の紹介
ムーアの法則に関するレポート
情報理工学実験レポート 実験テーマ名 : ムーアの法則に関する調査 職員番号 4570 氏名蚊野浩 提出日 2019 年 4 月 9 日 要約 大規模集積回路のトランジスタ数が 18 ヶ月で2 倍になる というムーアの法則を検証した その結果 Intel 社のマイクロプロセッサに関して 1971 年から 2016 年の平均で 26.4 ヶ月に2 倍 というペースであった このことからムーアの法則のペースが遅くなっていることがわかった
<4D F736F F D2097CA8E718CF889CA F E F E2E646F63>
量子効果デバイス第 11 回 前澤宏一 トンネル効果とフラッシュメモリ デバイスサイズの縮小縮小とトンネルトンネル効果 Si-CMOS はサイズの縮小を続けることによってその性能を伸ばしてきた チャネル長や ゲート絶縁膜の厚さ ソース ドレイン領域の深さ 電源電圧をあるルール ( これをスケーリング則という ) に従って縮小することで 高速化 低消費電力化が可能となる 集積回路の誕生以来 スケーリング側にしたがって縮小されてきたデバイスサイズは
日程表 mcd
2011 Fall Meeting of the Atomic Energy Society of Japan 2011 年 9 月 19 日 22 日 特別シンポジウム 特別講演 第 1 日 第 2 日 理事会からの報告と会員との意見交換 第 2 日 放射性廃棄物処分と環境 A01 A02 A03 A04 原子力青年ネットワーク連絡会 第 12 回全体会議 男女共同参画委員会セッション 核化学,
The DatasheetArchive - Datasheet Search Engine
東芝 CMOS デジタル集積回路シリコンモノリシック TC4069UBP,TC4069UBF,TC4069UBFT TC4069UBP/TC4069UBF/TC4069UBFT Hex Inverter は 6 回路のインバータです 内部回路はシンプルな 1 段ゲート構成のため 本来のインバータの他に CR 発振回路 / 水晶発振回路 / リニアアンプ等の応用に適しています 1 段ゲート構成のため
Microsoft Word - 80c08d3be78df73e f4a4e8a8940ab000fdaa2e doc
東芝バイポーラ形リニア集積回路シリコンモノリシック DC モータ用シーケンシャルデュアルブリッジドライバ ( 正 逆 切り替えドライバ ) は 正 逆転切り替え用として最適なブリッジドライバで正転 逆転 ストップ ブレーキの 4 モードがコントロールできます 出力電流は 1.0A (AVE.) および 2.0A (PEAK) 取り出せます 特に VTR のフロントローディング テープローディング用として最適な回路構成であり出力側と制御側の二系統電源端子を有しており
Microsoft PowerPoint - SDF2007_nakanishi_2.ppt[読み取り専用]
![Microsoft PowerPoint - SDF2007_nakanishi_2.ppt[読み取り専用]](/thumbs/94/118227082.jpg "Microsoft PowerPoint - SDF2007_nakanishi_2.ppt[読み取り専用]")
ばらつきの計測と解析技術 7 年 月 日設計基盤開発部先端回路技術グループ中西甚吾 内容. はじめに. DMA(Device Matrix Array)-TEG. チップ間 チップ内ばらつきの比較. ばらつきの成分分離. 各ばらつき成分の解析. まとめ . はじめに 背景 スケーリングにともない さまざまなばらつきの現象が顕著化しており この先ますます設計困難化が予想される EDA ツール 回路方式
HD74HCT564, HD74HCT574
ご注意 安全設計に関するお願い 1. 弊社は品質 信頼性の向上に努めておりますが 半導体製品は故障が発生したり 誤動作する場合があります 弊社の半導体製品の故障又は誤動作によって結果として 人身事故 火災事故 社会的損害などを生じさせないような安全性を考慮した冗長設計 延焼対策設計 誤動作防止設計などの安全設計に十分ご留意ください 本資料ご利用に際しての留意事項 1. 本資料は お客様が用途に応じた適切なルネサステクノロジ製品をご購入いただくための参考資料であり
平成22年度「技報」原稿の執筆について
放射線場における LED 照明器具の寿命と対策 橋本明宏 近藤茂実 下山哲矢 今井重文 平墳義正 青木延幸 工学系技術支援室環境安全技術系 はじめに 照射施設や加速器施設等では 高線量の放射線場を有する そのような高線量の放射線場では 多くの電気機器は寿命が著しく短くなるなど不具合を起こすことが知られている 工学研究科の放射線施設の1つである コバルト 60 ガンマ線照射室の高線量の放射線場に設置された
4Kチューナー(録画)_TU-BUHD100
目次 ハードディスクの接続と登録... 2 USB ハードディスクについて... 2 本機に USB ハードディスクを接続する... 2 USB ハードディスクを登録する... 3 USB ハードディスクの情報を確認する... 5 メニュー画面について... 7 番組の録画 録画予約... 8 見ている番組を録画する... 8 録画予約について... 9 番組表から録画予約する... 10 日時を指定して録画予約する
Microsoft PowerPoint - 3.3タイミング制御.pptx
3.3 タイミング制御 ハザードの回避 同期式回路と非同期式回路 1. 同期式回路 : 回路全体で共通なクロックに合わせてデータの受け渡しをする 通信における例 :I 2 C(1 対 N 通信 ) 2. 非同期式回路 : 同一のクロックを使用せず データを受け渡す回路間の制御信号を用いてデータの受け渡しをす 通信における例 :UART(1 対 1 通信 ) 2 3.3.1 ハザード 3 1 出力回路のハザード
国土技術政策総合研究所 研究資料
第 7 章 検査基準 7-1 検査の目的 検査の目的は 対向車両情報表示サービス 前方停止車両 低速車両情報表示サービスおよび その組み合わせサービスに必要な機能の品質を確認することである 解説 設備の設置後 機能や性能の総合的な調整を経て 検査基準に従い各設備検査を実施する 各設備検査の合格後 各設備間を接続した完成検査で機能 性能等のサービス仕様を満たしていることを確認する検査を実施し 合否を判定する
Microsoft Word - f203f5da7f8dcb79bcf8f7b2efb0390d406bccf30303b doc
東芝バイポーラ形リニア集積回路シリコンモノリシック TA,,5,3,33,5F/S TAF, TAF, TA5F, TA3F, TA33F, TA5F, TAS, TAS, TA5S, TA3S, TA33S, TA5S.,,.5, 3, 3.3, 5 A 三端子正出力ロードロップアウトレギュレータ TA**F/S シリーズは 出力段に -PNP トランジスタを使用した出力電流 A ( 最大 ) の固定正出力ロードロップアウトレギュレータです
Microsoft Word - プレス原稿_0528【最終版】
報道関係各位 2014 年 5 月 28 日 二酸化チタン表面における陽電子消滅誘起イオン脱離の観測に成功 ~ 陽電子を用いた固体最表面の改質に道 ~ 東京理科大学研究戦略 産学連携センター立教大学リサーチ イニシアティブセンター 本研究成果のポイント 二酸化チタン表面での陽電子の対消滅に伴って脱離する酸素正イオンの観測に成功 陽電子を用いた固体最表面の改質に道を拓いた 本研究は 東京理科大学理学部第二部物理学科長嶋泰之教授
Microsoft PowerPoint - 9.Analog.ppt
9 章 CMOS アナログ基本回路 1 デジタル情報とアナログ情報 アナログ情報 大きさ デジタル信号アナログ信号 デジタル情報 時間 情報処理システムにおけるアナログ技術 通信 ネットワークの高度化 無線通信, 高速ネットワーク, 光通信 ヒューマンインタフェース高度化 人間の視覚, 聴覚, 感性にせまる 脳型コンピュータの実現 テ シ タルコンヒ ュータと相補的な情報処理 省エネルギーなシステム
首都大学東京 新技術説明会 日時 : 平成 27 年 9 月 25 日 ( 金 ) 場所 :JST 東京別館ホール ノイズ耐性フリップフロップの開発と 信頼性要求電子機器への応用可能性 首都大学東京システムデザイン研究科情報通信システム学域 教授 三浦幸也
首都大学東京 新技術説明会 日時 : 平成 27 年 9 月 25 日 ( 金 ) 場所 :JST 東京別館ホール ノイズ耐性フリップフロップの開発と 信頼性要求電子機器への応用可能性 首都大学東京システムデザイン研究科情報通信システム学域 教授 三浦幸也 本研究課題の背景 (1/2) ( 従来技術とその問題点 ) LSI の微細化 高速化 低電圧化 - ノイズマージンの低下化 - ノイズ ( ソフトエラー,
TC4093BP/BF
東芝 CMOS デジタル集積回路シリコンモノリシック TC4093BP, TC4093BF TC4093BP/TC4093BF Quad 2-Input NAND Schmitt Triggers は 全入力端子にシュミットトリガ機能をもった 4 回路の 2 入力 NAND ゲートです すなわち 入力波形の立ち上がり時と立ち下がり時に回路しきい値電圧が異なる ( P N ) のため 通常の NAND
Microsoft Windows Windows Server Internet Explorer は 米国 Microsoft Corporation の 米国およびその他の国における登録商標または商標です Oracle と Java は Oracle Corporation 及びその子会社 関
作成日 :2017/06/26 ******************************************************************************* ** FUJITSU Cloud Service K5 ** ** ソフトウェアカフェテリアサービス向けソフトウェア説明書 ** ** Windows 版 ** ** Interstage Application
"ソフトウェア カフェテリアサービス向けソフトウェア説明書
作成日 :2018/03/01 ******************************************************************************* ** ** ** FUJITSU Cloud Service K5 ** ** ** ** ソフトウェアカフェテリアサービス向けソフトウェア説明書 ** ** Windows 版 ** ** Interstage
Microsoft PowerPoint - 6.memory.ppt
6 章半導体メモリ 広島大学岩田穆 1 メモリの分類 リードライトメモリ : RWM リードとライトができる ( 同程度に高速 ) リードオンリメモリ : ROM 読み出し専用メモリ, ライトできない or ライトは非常に遅い ランダムアクセスメモリ : RAM 全番地を同時間でリードライトできる SRAM (Static Random Access Memory) 高速 DRAM (Dynamic
<30345F D834F E8F48816A2D8AAE90AC2E6D6364>
2015 Fall Meeting of the Atomic Energy Society of Japan 2015 年 9 月 9 日 11 日 発表 10 分, 質疑応答 5 分 第 1 日 炉設計と炉型戦略, 核変換技術 A01 A02 A03 炉設計と炉型戦略, 核変換技術 A04 A05 A06 A07 休憩 教育委員会セッション 炉設計と炉型戦略, 核変換技術 A08 A09 A10
ISO9001:2015規格要求事項解説テキスト(サンプル) 株式会社ハピネックス提供資料
テキストの構造 1. 適用範囲 2. 引用規格 3. 用語及び定義 4. 規格要求事項 要求事項 網掛け部分です 罫線を引いている部分は Shall 事項 (~ すること ) 部分です 解 ISO9001:2015FDIS 規格要求事項 Shall 事項は S001~S126 まで計 126 個あります 説 網掛け部分の規格要求事項を講師がわかりやすく解説したものです
Microsoft PowerPoint - semi_ppt07.ppt
半導体工学第 9 回目 / OKM 1 MOSFET の動作原理 しきい電圧 (V( TH) と制御 E 型と D 型 0 次近似によるドレイン電流解析 半導体工学第 9 回目 / OKM 2 電子のエネルギーバンド図での考察 金属 (M) 酸化膜 (O) シリコン (S) 熱平衡でフラットバンド 伝導帯 E c 電子エネルギ シリコンと金属の仕事関数が等しい 界面を含む酸化膜中に余分な電荷がない
基本的なノイズ発生メカニズムとその対策 電源 GND バウンス CMOS デジタル回路におけるスイッチング動作に伴い 駆動 MOS トランジスタのソース / ドレインに過渡的な充放電電流 及び貫通電流が生じます これが電源 GND に流れ込む際 配線の抵抗成分 及びインダクタンス成分によって電源電圧
デジアナ混載 IC ミックスド シグナル IC 設計の留意点 2005 年 5 月初版 2010 年 10 月改訂作成 : アナロジスト社森本浩之 まえがきデジタル アナログ混載 IC の回路本来の実力を引き出すためにはアナログ回路とデジタ ル回路の不要な干渉を抑える必要があり ノウハウを要します ですが十分な理解と注意の元で設 計を行えばさほど混載を恐れる必要もありません 用語 IP: Intellectual
第 2 日 放射性廃棄物処分と環境 A21 A22 A23 A24 A25 A26 放射性廃棄物処分と環境 A27 A28 A29 A30 バックエンド部会 第 38 回全体会議 休 憩 放射性廃棄物処分と環境 A31 A32 A33 A34 放射性廃棄物処分と環境 A35 A36 A37 A38
2013 Annual Meeting of the Atomic Energy Society of Japan 2013 年 3 月 26 日 28 日 第 1 日 原子力施設の廃止措置技術 A01 A02 A03 A04 原子力施設の廃止措置技術 A05 A06 A07 放射性廃棄物処分と環境 A08 A09 A10 A11 A12 A13 放射性廃棄物処分と環境 A14 A15 A16 A17
Microsoft PowerPoint - 集積回路工学(5)_ pptm
集積回路工学 東京工業大学大学院理工学研究科電子物理工学専攻 松澤昭 2009/0/4 集積回路工学 A.Matuzawa (5MOS 論理回路の電気特性とスケーリング則 資料は松澤研のホームページ htt://c.e.titech.ac.j にあります 2009/0/4 集積回路工学 A.Matuzawa 2 インバータ回路 このようなインバータ回路をシミュレーションした 2009/0/4 集積回路工学
24-28 FAS14 技術相談.indd
イオン電流による失火検出 平成 20 年式のダイハツ タント ( 車両型式 DBA L375S エンジン型式 KF VE 走行距離 50,000km) でエンジン不調の相談を受けた エンジン チェックランプが点灯しているという事なので ダイアグノーシスを確認すると P1400 1 気筒のイオン電流検知信号に異常が発生したとき を表示した この車両は 各シリンダ内の燃焼状態 ( 失火及び燃焼限界 )
Microsoft PowerPoint - TLP184,185_TLP290,291 比較表 ppt
TLP180/181 vs. TLP184/185 TLP280/281/284/285 vs. TLP290/291 比較表 フォトカプラ新 PKG SO6 内部構造 受光 IC( 出力 ) 2011 年 12 月東芝ディスクリートテクノロジー株式会社ディスクリート営業技術推進部 発光タ イオート ( 入力 ) Copyright 2011, Toshiba Corporation. 1 TLP180/181
16-40.indd
2009 Annual Meeting of the Atomic Energy Society of Japan 2009 年 3 月 23 日 25 日 炉材料 A05 A06 A07 A08 学生連絡会 第 17 回会員総会 第 1 日 第 41 回日本原子力学会学会賞 贈呈式 特別講演 炉材料 A01 A02 A03 A04 第 1 日 休憩 炉材料 A09 A10 A11 A12 A13
Microsoft Word - DS50-N A.doc
BIOS マニュアル BIOS セットアップユーティリティとは BIOS セットアップユーティリティとは BIOS の設定を確認 変更するためのツールです セットアップユーティリティは 本体に内蔵されているマザーボード上のフラッシュメモリーに格納されています このユーティリティで定義される設定情報は CMOS RAM と呼ばれる特殊な領域に格納されます この設定情報は マザーボードに搭載されているバックアップ電池により保存され
降圧コンバータIC のスナバ回路 : パワーマネジメント
スイッチングレギュレータシリーズ 降圧コンバータ IC では スイッチノードで多くの高周波ノイズが発生します これらの高調波ノイズを除去する手段の一つとしてスナバ回路があります このアプリケーションノートでは RC スナバ回路の設定方法について説明しています RC スナバ回路 スイッチングの 1 サイクルで合計 の損失が抵抗で発生し スイッチングの回数だけ損失が発生するので 発生する損失は となります
<93FA92F6955C2E6D6364>
E AN 2 JCO ATM 25320 0 m 100 m JR EV WC EV WC EV WC D101 1 D202 5 D201 WC WC 日 時 2010 年 3 月 26 日 ( 金 ) 場 所 会 費 定 員 会場への移動 日 時 2010 年 3 月 26 日 ( 金 ) 場 所 対 象 会 費 定 員 2010 年 3 月 29 日 ( 月 ) 2 月 8 日 ( 月 )
事例2_自動車用材料
省エネルギーその 1- 自動車用材料 ( 炭素繊維複合材料 ) 1. 調査の目的自動車用材料としての炭素繊維複合材料 (CFRP) は 様々な箇所に使用されている 炭素繊維複合材料を用いることにより 従来と同じ強度 安全性を保ちつつ自動車の軽量化が可能となる CFRP 自動車は 車体の 17% に炭素繊維複合材料を使用しても 従来自動車以上の強度を発揮することができる さらに炭素繊維複合材料を使用することによって機体の重量を低減することができ
TTD1415B_J_
バイポーラトランジスタ シリコン NPN 三重拡散形 1. 用途 大電力スイッチング用 ハンマードライブ用 2. 特長 (1) 直流電流増幅率が高い : h FE = 2000 ( 最小 ) (V CE = 3 V, I C = 3 A) (2) コレクタエミッタ間飽和電圧が低い : V CE(sat) = 1.5 V ( 最大 ) (I C = 3 A, I B = 6 ma) (3) TTB1020Bとコンプリメンタリ
Layout 1
Industrial communication センサーのデータにアクセスする ifm の IO-Link Digital connection technology for sensors とは? 今日のセンサーはシンプルな ON/OFF のセンサーから 大量のデータを処理するマイクロプロセッサーを搭載した高性能なデバイスまで進化してきました センサー内のデータにアクセスする IO-Link は以下の特徴があるインターフェースです
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集積デバイス工学 (7 問題 追加課題 下のトランジスタが O する電圧範囲を求めよただし T, T - とする >6 問題 P 型 MOS トランジスタについて 正孔の実効移動度 μ.7[m/ s], ゲート長.[μm], ゲート幅 [μm] しきい値電圧 -., 単位面積あたりの酸化膜容量
Microsoft PowerPoint - H30パワエレ-3回.pptx
パワーエレクトロニクス 第三回パワー半導体デバイス 平成 30 年 4 月 25 日 授業の予定 シラバスより パワーエレクトロニクス緒論 パワーエレクトロニクスにおける基礎理論 パワー半導体デバイス (2 回 ) 整流回路 (2 回 ) 整流回路の交流側特性と他励式インバータ 交流電力制御とサイクロコンバータ 直流チョッパ DC-DC コンバータと共振形コンバータ 自励式インバータ (2 回 )
富士通セミコンダクタープレスリリース 2009/05/19
[ デバイス ] 2009 年 5 月 19 日富士通マイクロエレクトロニクス株式会社 世界初!125 動作の SiP 向け低消費電力メモリを新発売 ~ メモリの耐熱性向上により 消費電力の大きな高性能デジタル家電に最適 ~ 富士通マイクロエレクトロニクス株式会社 ( 注 1) は DDR SDRAM インターフェースを持つメモリでは世界で初めて動作温度範囲を 125 まで拡張したコンシューマ FCRAM(
"ソフトウェア カフェテリアサービス向けソフトウェア説明書
作成日 :2018/03/01 ******************************************************************************* ** ** ** FUJITSU Cloud Service K5 ** ** ** ** ソフトウェアカフェテリアサービス向けソフトウェア説明書 ** ** Windows 版 ** ** Interstage
Microsoft Word - 翻訳ファイル for AN-1154J_JP校正版.doc
アプリケーション ノート :AN-1154 ディスクリート Power QFN(PQFN) の検査方法 目次ページはじめに 2 検査テクニック 2 目視検査 2 X 線検査 2 正しく実装されたデバイスの例 3 写真 3 X 線 3 不合格基準 4 不良の種類 4 位置ずれ 4 空間および平面の傾き 6 固定されていない部品 6 はんだ塗布 7 はんだボールとブリッジ 7 はんだボイド 7 接合部の形成不良
< D834F E8F48816A2D8AAE90AC2E6D6364>
2014 Fall Meeting of the Atomic Energy Society of Japan 2014 年 9 月 8 日 10 日 第 1 日 倫理委員会セッション 社会 環境部会 第 31 回全体会議 社会 環境部会セッション 特別講演 理事会セッション 第 2 日 原子力安全部会セッション 休 憩 保健物理 環境科学部会セッション 放射線工学部会セッション 教育委員会セッション
(Microsoft PowerPoint - \224z\225z\227p_\217\343\221\272.ppt)
ソフトエラー評価技術 対策技術の 研究開発戦略 富士通セミコンダクター 上村大樹 Fujitsu Semiconductor LTD. E-mail: uemura.taiki@jp.fujitsu.com Copyright 2008 FUJITSU LIMITED ソフトエラーの 測定技術と対策技術 ソフトエラーについて ソフトエラー評価技術 ソフトエラー対策技術 1 Copyright 2008
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身近な情報利活用による生活環境の事例をベースに ネットワークがなかった時代の生活環境と比較させながら IT により生活が豊かに変化したことについて解説します 1. 身近な情報利活用の事例 スライド上部の事例を紹介します 学生が利用している情報サービスについて問いかけます IT によって実現していることについて説明します 2. ネットワークがなかった時代 スライド上部の事例を活用し 過去の事例を紹介します
PowerPoint プレゼンテーション
SPI Japan 2012 車載ソフトウェア搭載製品の 機能安全監査と審査 2012 年 10 月 11 日 パナソニック株式会社デバイス社 菅沼由美子 パナソニックのデバイス製品 SPI Japan 2012 2 パナソニック デバイス社のソフト搭載製品 車載スピーカーアクティブ消音アクティブ創音歩行者用警告音 スマートエントリー グローバルに顧客対応 ソフトウェア搭載製品 車載 複合スイッチパネル
ACモーター入門編 サンプルテキスト
技術セミナーテキスト AC モーター入門編 目次 1 AC モーターの位置付けと特徴 2 1-1 AC モーターの位置付け 1-2 AC モーターの特徴 2 AC モーターの基礎 6 2-1 構造 2-2 動作原理 2-3 特性と仕様の見方 2-4 ギヤヘッドの役割 2-5 ギヤヘッドの仕様 2-6 ギヤヘッドの種類 2-7 代表的な AC モーター 3 温度上昇と寿命 32 3-1 温度上昇の考え方
S-89210/89220シリーズ コンパレータ
S-89210/89220 シリーズ www.ablic.com www.ablicinc.com ミニアナログシリーズ CMOS コンパレータ ABLIC Inc., 2002-2010 ミニアナログシリーズは汎用アナログ回路を小型パッケージに搭載した IC です S-89210/89220 シリーズは CMOS 型コンパレータで 低電圧駆動 低消費電流の特長を持つため 電池駆動の小型携帯機器への応用に最適です
TC74HC4511AP/AF
東芝 CMOS デジタル集積回路シリコンモノリシック TC74HC4511AP,TC74HC4511AF BCD-to-7 Segment Latch/Decoder/Driver TC74HC4511A は シリコンゲート CMOS 技術を用いた高速 CMOS ラッチ付き 7 セグメント デコーダ ドライバです 標準 CMOS の 4511B と同一ピン接続 同一ファンクションですが 高速ラッチ
記者発表開催について
2014 年 6 月 4 日 東京工業大学広報センター長大谷清 300mm ウエハーを厚さ 4µm に超薄化 -DRAM で検証 超小型大規模三次元メモリーに威力 - 概要 東京工業大学異種機能集積研究センターの大場隆之特任教授は ディスコ 富士通研究所 PEZY Computing( ペジーコンピューティング 東京都千代田区 ) WOW アライアンス ( 用語 1) と共同で 半導体メモリー (DRAM)
報道機関各位 平成 30 年 5 月 14 日 東北大学国際集積エレクトロニクス研究開発センター 株式会社アドバンテスト アドバンテスト社製メモリテスターを用いて 磁気ランダムアクセスメモリ (STT-MRAM) の歩留まり率の向上と高性能化を実証 300mm ウェハ全面における平均値で歩留まり率の
報道機関各位 平成 30 年 5 月 1 日 東北大学国際集積エレクトロニクス研究開発センター 株式会社アドバンテスト アドバンテスト社製メモリテスターを用いて 磁気ランダムアクセスメモリ (STT-MRAM) の歩留まり率の向上と高性能化を実証 300mm ウェハ全面における平均値で歩留まり率の向上 (91% から 97%) と 高速動作特性の向上を実証する実験に成功 標記について 別添のとおりプレスリリースいたしますので
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2014 Annual Meeting of the Atomic Energy Society of Japan 2014 年 3 月 26 日 28 日 休憩 標準委員会セッション2( システム安全専門部会 ) 総合講演 報告 2 水素安全対策高度化 第 3 日 原子力安全部会セッション 原子力発電部会 第 25 回全体会議 第 1 日 原子力発電部会セッション 標準委員会セッション 3( 原子力安全検討会,
RD2.0S～RD150S DS
お客様各位 カタログ等資料中の旧社名の扱いについて 2010 年 4 月 1 日を以って NEC エレクトロニクス株式会社及び株式会社ルネサステクノロジが合併し 両社の全ての事業が当社に承継されております 従いまして 本資料中には旧社名での表記が残っておりますが 当社の資料として有効ですので ご理解の程宜しくお願い申し上げます ルネサスエレクトロニクスホームページ (http://www.renesas.com)
Microsoft Windows Internet Explorer は 米国 Microsoft Corporation の 米国およびその他の国における登録商標または商標です Linux は Linus Torvalds 氏の日本およびその他の国における登録商標または商標です Red Hat
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2SC1213, 2SC1213A データシート
お客様各位 カタログ等資料中の旧社名の扱いについて 1 年 4 月 1 日を以って NEC エレクトロニクス株式会社及び株式会社ルネサステクノロジが合併し 両社の全ての事業が当社に承継されております 従いまして 本資料中には旧社名での表記が残っておりますが 当社の資料として有効ですので ご理解の程宜しくお願い申し上げます ルネサスエレクトロニクスホームページ (http://www.renesas.com)
（案）
P13005 次世代スマートデバイス開発プロジェクト 基本計画 IoT 推進部 1. 研究開発の目的 目標 内容 (1) 研究開発の目的 1 政策的な重要性次世代交通社会の実現には 自動車の燃焼システムの環境対応に加え 急発進 急停止 渋滞等による非効率な燃料消費の改善及び人の飛び出しや走行中の急な割り込み等による衝突事故の削減など 一層の省エネ化と安全走行の高度化が重要である その実現には 自動車の周辺情報を集め即座に状況を把握するシステムの構築が必要となり
CSM_E2K-F_DS_J_5_7
1 0120-919-066 055-982-5015 2 3 0120-919-066 055-982-5015 4 オムロン商品ご購入のお客様へ 1. 定義本ご承諾事項中の用語の定義は次のとおりです (1) 当社商品 : 当社 の FA システム機器 汎用制御機器 センシング機器 電子 機構部品 (2) カタログ等 : 当社商品 に関する ベスト制御機器オムロン 電子 機構部品総合カタログ その他のカタログ
CSM_K2ZC-N_DS_J_2_17
1 0120-919-066 2 3 0120-919-066 4 5 6 0120-919-066 7 8 0120-919-066 9 0120-919-066 10 11 12 0120-919-066 13 0120-919-066 14 15 0120-919-066 16 オムロン商品ご購入のお客様へ 1. 定義本ご承諾事項中の用語の定義は次のとおりです (1) 当社商品 : 当社 の
() Cl,H2S,NH3,NOx,Sox 1 1 7 .. W......................... + .............. + .............. + (VAL) (REF) (Et) (CAP) (SC) (CT) (SH) (SR1) (SR2) ... P35 3-6-3 ....... +..............
2019 年 3 月期決算説明会 2019 年 3 月期連結業績概要 2019 年 5 月 13 日 太陽誘電株式会社経営企画本部長増山津二 TAIYO YUDEN 2017
2019 年 3 月期決算説明会 2019 年 3 月期連結業績概要 2019 年 5 月 13 日 太陽誘電株式会社経営企画本部長増山津二 決算サマリー 2019 年 3 月期業績概要 売上高 2,743 億円 ( 前期比 12% 増 ) 営業利益 352 億円 ( 同 74% 増 ) で増収増益 コンデンサは前期比 19% 増収 すべての用途で売上が増加 特に自動車向けが牽引 売上高と当期純利益は
TPC8107
TPC87 東芝電界効果トランジスタシリコン P チャネル MOS 形 (U-MOSIII) TPC87 リチウムイオン 2 次電池用 ノートブック PC 用 携帯電子機器用 単位 : mm 小型 薄型で実装面積が小さい スイッチングスピードが速い オン抵抗が低い : R DS (ON) = 5.5 mω ( 標準 ) 順方向伝達アドミタンスが高い : Y fs = 3 S ( 標準 ) 漏れ電流が低い
Microsoft Windows Internet Explorer は 米国 Microsoft Corporation の 米国およびその他の国における登録商標または商標です Linux は Linus Torvalds 氏の日本およびその他の国における登録商標または商標です Red Hat
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