SAMURAI TPCの読み出しシステム

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. ) ) ) 4) ON DC 6 µm DC [4]. 8 NaPiOn 4

Transcription:

中性子物質をさぐる 時間射影型 3D 飛跡検出器の開発 理研仁科加速器研究センター 磯部忠昭

研究動機 : 中性子過剰な核物質の状態方程式の解明 高密度核物質の物理を探る ρ~2ρ 0 @RIBF 状態方程式 (Equation of State, EOS): 系のエネルギーと 温度 密度 原子核非対称度 ( 陽子 - 中性子比 ) の関係 非対称原子核衝突を用いて 中性子過剰高密度物質の性質を探る 中性子星や超新星爆発といった宇宙物理学に対して重要なインプット

RIBF でアプローチする非対称高密度核物質 : 重 RI 衝突実験 π p RIBF で実現可能な非対称核原子核衝突により ρ~2ρ 0 程度の非対称原子核 EOS を調べる 高密度領域に実験室でアプローチする唯一の方法 衝突から発生する粒子を測定する事で高密度 EOS に制限をかける 荷電パイオン 陽子 中性子 軽イオン 収量 フロー 数十個の粒子を大立体角で同時に測定する必要がある 3 次元分離能をもつ多種多重粒子検出デバイス PRC71 (2005) 0146083 n Li

RIBF-SPiRIT計画 SAMURAI超伝導電磁石 重RI衝突 2009年ごろより 日米が中心となる重RI衝 突実験計画が始動 RIBF-SAMURAI基幹装置に多種多重粒子測定 用の時間射影型3D飛跡検出器を設置 DoEと新領域科研費の予算を使用 2016年春に試運転+物理実験 4

RIKEN RI Beam Factory (RIBF) Old facility RIPS GARIS 60~100 MeV/nucleon ~5 MeV/nucleon SHE Z=113 RILAC Experiment facility Accelerator To be funded SCRIT AVF ZeroDegree frc RRC SRC SLOWRI SAMURAI IRC RI-ring CRIB (CNS) <10 MeV/nucleon New facility BigRIPS SHARAQ (CNS) 350-400 MeV/nucleon Intense (80 kw max.) H.I. beams (up to U) of 345AMeV at SRC Fast RI beams by projectile fragmentation and U-fission at BigRIPS Operation since 2007 5

SRC World s First and Strongest K2600MeV Superconducting Ring Cyclotron 400 MeV/u Light-ion beam 345 MeV/u Uranium beam BigRIPS World s Largest Acceptance 9 Tm Superconducting RI beam Separator ~250-300 MeV/nucleon RI beam K980-MeV Intermediate stage Ring Cyclotron (IRC) 6

F0-F11: 125.983m ZeroDegree BigRIPS Max. rigidity = 9Tm Control Z and N of beam High-resolution beam line SAMURAI Field integral =7Tm SHARAQ by U. of Tokyo Max. rigidity 7 =6.8Tm max.

SAMURAI Spectrometer Superconducting Analyzer for Multi particles from Radio Isotope Beams BigRIPS Max. rigidity = 9Tm F0-F11: 125.983m ZeroDegree High-resolution beam line SAMURAI Field integral =7Tm B<3T R: 1m Gap: 80cm SHARAQ by U. of Tokyo Max. rigidity 8 =6.8Tm max.

RIBF での実験の特徴 ( 人的要素 ) 大局的には原子核の理解という名目だが それぞれ異なる物理を見ている 人の実験を手伝う事で 自分の実験を手伝ってもらう RIBF 全体としては 500 名規模 RIBF コラボレーションと考えるとわかりやすい 一論文の著者数は数十人 ハードウェア ソフトウェアともに基盤を支えないと 実験の質がもたない これまでの小規模実験では 0 スタートでもうまく行くが RIBF では無理 実際 RI ビーム作りのところは専門のチームが存在する

RIBF での実験の特徴 ( 技術要素 ) 電荷 =1 粒子だけではない 実験によっては Z が小さいものと大きいものを同一の検出器で取りたい 陽子とネオン (Z=10) を同一検出器で取る :100 倍の信号差 RI ビーム by RI ビームでの RI ビーム同定を行う de TOF Bρ 測定 100kHz 程度が今の限界 トリガーレートで ~1kHz x100 くらいいけないか? 実験限界が検出器限界で決まってしまう

RIBF での実験の特徴 ( 開発要素 ) キーワードは 高レート ワイドダイナミックレンジ

RIBF での実験の特徴 ( 開発要素 ) 電荷 =1 粒子だけではない 実験によっては Z が小さいものと大きいものを同一の検出器で取りたい 陽子とネオン (Z=10) を同一検出器で取る :100 倍の信号差 RI ビーム by RI ビームでの RI ビーム同定を行う de TOF Bρ 測定 100kHz 程度が今の限界 トリガーレートで ~1kHz x100 くらいいけないか? 実験限界が検出器限界で決まってしまう

SPiRIT 計画の基幹デバイス : 時間射影型 3D 飛跡検出器 Time Projection Chamber (TPC) B field 80cm x E field 120cm y 200cm 重 RI 衝突にて発生した多数の荷電粒子を全て 3D イメージングする 放射線通過時に内部ガスがイオン化し 発生した電子の到達場所 到達時間を測定 どんな粒子がどの程度のエネルギーで通過したか測定 これまで RIBF にないタイプの大型検出器 x10 ~ x100 の数のセンサー数 13

SPiRIT TPC 概要 Z: beam Bevalac EOS TPC がベース. P10 gas (1atm) を使ったワイヤ増幅のハ ット 読み出し. 12000 個のハ ット TPC 直前にターゲット. 2 飛跡分離 : 2.5cm 想定荷電粒子数 : 10~100 B,E 12mm 8mm Y: drift 112pads (1344mm) X: wire 108pads (864mm) beam 53cm drift 14

TPC における信号の読み出し TPC 中におけるエネルギーロスが 電子 - イオン対を生成 ドリフトさせた電子をワイヤで増幅し 信号を読み出す Reconstruction of charged particle tracks 15

実験条件 TPC 中を重イオンビームが通過する RIBF で生成される 2 次ビームは収量をかせぐために ビームラインアクセプタンスが大きく 必ずしもきれいなペンシルビームが通るとは限らない Angular acceptance: 80mrad(H) x 100mrad(V) gating grid による anode 領域の保護は必須 TPC 自体が受けられるビーム rate として 20kHz を仮定 実際にはそれ以上も可能かとも思われるが ビーム自体による電場の歪みの評価が必要 Target の厚さにも依存するが そのうち 1% が reaction (i.e. 重イオン衝突 ) Trigger rate:up to 数百 Hz 重イオンが通過する中で Z=1 粒子検出が必要

SPiRIT-TPC の読み出しシステム :GET 性能要求 : 高い DAQ rate (~1kHz) 広い ADC レンジ (>10bit). 重イオンが飛ぶ中で Z=1 粒子をきちんと測定できる. 低消費電力 GET system を採用. General Electronics for TPC. 2009/10~2014/9 次世代エレキとして主に米国 フランスにより開発された統合システム. RIBF だけではなく J-PARC や他原子核実験にて採用 readout 12bit ADC 512 samples from 12000 pads under 1kHz DAQ rate が可能に. 消費電力は 0.1W/ch コミコミで ~5000JPY/ch GET general meeting at France CAEN

Generic Structure (H&S) 2 12 Final Dyn Rnge 10Gbit B.width 4 Level Digital Trigger V. Front End Pre-amp & Filter Protection Concentrator Embedded SystemS:.T. Stamp. 0 -suppress.formatting.reduction.calibration Slow Control FARM Trigger4 Event- Building Data Control S. Control Web Service Security SPiRIT TPC: 48 AsAd boards 12 CoBo boards 2 µ-tca crates 2 MuTANT boards ZAP AsAd AGET ADC FPGA PULSER CoBo CoBo FPGA FPGA + + Memo Memo Mutant Front-End 2 FPGA Coding V, I, EM & Temp Control/Satb µ - T C A 3-Level.Trigger.Clock.Calculated Selected Read-out 18

Generic Structure (H&S) 2 12 Final Dyn Rnge 10Gbit B.width 4 Level Digital Trigger V. Front End Pre-amp & Filter Protection Concentrator Embedded SystemS:.T. Stamp. 0 -suppress.formatting.reduction.calibration Slow Control FARM Trigger4 Event- Building Data Control S. Control Web Service Security SPiRIT TPC: 48 AsAd boards 12 CoBo boards 2 µ-tca crates 2 MuTANT boards ZAP AsAd AGET ADC FPGA PULSER CoBo CoBo FPGA FPGA + + Memo Memo Mutant Front-End 2 FPGA Coding V, I, EM & Temp Control/Satb µ - T C A 3-Level.Trigger.Clock.Calculated Selected Read-out 19

Generic Structure (H&S) 2 12 Final Dyn Rnge 10Gbit B.width 4 Level Digital Trigger V. Front End Pre-amp & Filter Protection Concentrator Embedded SystemS:.T. Stamp. 0 -suppress.formatting.reduction.calibration Slow Control FARM Trigger4 Event- Building Data Control S. Control Web Service Security SPiRIT TPC: 48 AsAd boards 12 CoBo boards 2 µ-tca crates 2 MuTANT boards ZAP AsAd AGET ADC FPGA PULSER CoBo CoBo FPGA FPGA + + Memo Memo Mutant Front-End 2 FPGA Coding V, I, EM & Temp Control/Satb µ - T C A 3-Level.Trigger.Clock.Calculated Selected Read-out 20

Generic Structure (H&S) 2 12 Final Dyn Rnge 10Gbit B.width 4 Level Digital Trigger V. Front End Pre-amp & Filter Protection Concentrator Embedded SystemS:.T. Stamp. 0 -suppress.formatting.reduction.calibration Slow Control FARM Trigger4 Event- Building Data Control S. Control Web Service Security SPiRIT TPC: 48 AsAd boards 12 CoBo boards 2 µ-tca crates 2 MuTANT boards ZAP AsAd AGET ADC FPGA PULSER CoBo CoBo FPGA FPGA + + Memo Memo Mutant Front-End 2 FPGA Coding V, I, EM & Temp Control/Satb µ - T C A 3-Level.Trigger.Clock.Calculated Selected Read-out 21

Generic Structure (H&S) 2 12 Final Dyn Rnge 10Gbit B.width 4 Level Digital Trigger V. Front End Pre-amp & Filter Protection Concentrator Embedded SystemS:.T. Stamp. 0 -suppress.formatting.reduction.calibration Slow Control FARM Trigger4 Event- Building Data Control S. Control Web Service Security SPiRIT TPC: 48 AsAd boards 12 CoBo boards 2 µ-tca crates 2 MuTANT boards ZAP AsAd AGET ADC FPGA PULSER CoBo CoBo FPGA FPGA + + Memo Memo Mutant Front-End 2 FPGA Coding V, I, EM & Temp Control/Satb µ - T C A 3-Level.Trigger.Clock.Calculated Selected Read-out 22

GET システムについて ASIC を含むフロントエンドハードウェアをフランスが開発 (CEA, CENBG) コントロールハードウェアをアメリカが開発 (MSU/NSCL) 日本は Debug モジュールの開発 (RIKEN) ソフトウェアはフランス (CEA, GANIL) 主に原子核実験で使う TPC を対象としたシステムだが 汎用性が高い Wire にも GEM にも使える Pad by pad で設定できるゲイン シェーピングアンプ 汎用性が高い あれもこれもできなければならない 実際 SAMURAI-TPC を用いた実験は重イオン衝突実験のみならず 他の原子核実験にも応用が利く ただでさえ 欧米間のギャップがあるところでの開発で時間がかかるのに 安定したシステムとして確立し始めたのはプロジェクトが終わる頃だった ( 正直まだ R&D が終わっているとは言えない )

Novel ASIC Chip by GET project: AGET Architecture 64 analog channels : CSA, Filter, SCA, Discriminator Auto triggering : discriminator + threshold (DAC) Multiplicity signal : analog OR of 64 discriminators Address of the hit channel(s); 3 SCA readout modes : all, hit or specific channels 64 channels AGET 1 channel DAC Charge range Discri inhibit Trigger pulse Hit register SCAwrite FILTER SCA CSA tpeak 512 cells x68 ADC BUFFER TEST In Test SLOW CONTROL Power on Reset SCA Control W / R CK Serial Interface Mode CK Readout Mode AMS CMOS 0,35 µm 4 charge ranges/channel : 120 fc, 240 fc, 1 pc & 10 pc 16 peaking time values : 50 ns to 1 µs Fsampling : 1 MHz to 100 MHz Possibility to bypass the CSA and to enter directly into the filter or SCA inputs Input current polarity : positive or negative PAGE 24

2 種類の zero-suppression デジタル - ゼロサプレス Conversion されたデータに対し 閾値をかける data reduction アナログ - ゼロサプレス : Discriminator でアナログ信号が閾値を超えたチャンネルだけ ADC deat time を短くする 25MHz 1ch FADC for 68 channels STAR-FEE の場合 ADC を ch 数分準備 10µsec conv. Time ADC for 1 SCA-cell: 512cell ADC に >5msec 電力消費が大きい Pad Discri. Hit Regist. SCA

選択的 digitization : DAQ rate の改善 ヒットがあったチャンネルのみ Digitize する Pedestal だけのチャンネルは digitiza しない DAC にかかる時間の短縮 例えば 1ASIC(64ch) 中 8ch ヒットがあった場合は 4500Hz での読み出しが可能に Courtesy of D. Calvet 26

SPiRIT-TPC では使わないが TPC によるセルフトリガー GET システムでは Pad Hit 数に応じたセルフトリガー発行が可能 Trigger を受け付ける間は Hit 情報を 25MHz で trigger モジュールへ送り 40ns 毎にトリガー判定 Hit pattern を使って high level trigger も発行できる 64 channels AGET 1 channel DAC Charge range FILTER Discri inhibit Trigger pulse Hit register SCA SCAwrite Trigger モジュール CSA tpeak 512 cells x68 BUFFER ADC DAQ TEST SLOW CONTROL Power on Reset SCA Control W / R CK Readout Mode In Test Serial Interface Mode CK

GET の導入 : インターフェイスの開発 Analog 部分から DAQ 部分まで一貫したシステムとして開発されているが 以下を各計画ごとに開発する必要がある TPC への接続部 (protection + adapting connector) ボード自体の形状 ( 限られた空間に入らなければいけない ) Noise/Gain に影響する DAQ システムの統合 既に存在する検出器と組み合わせて運用するには何かしらの方法で データを統合する必要がある イベント ID (common trigger) or Time stamp Slow コントロールや 一部のモニタリングなど 共通部分は共同研究的に情報をやりとりできたが 独自の部分は開発する必要があった 一つの大きなシステムとして GET を採用したのは初例であり 人柱的なユーザーだった システムの深部を教えてもらえた 欲しい機能を導入してもらえた 28

限られたスペースに回路を収納するためにフレキシブル基盤を作ったが : 逆にノイズ源に 120fC, 233nsec Courtesy of W. Powell 29

読み出し回路の取り付け作業 (Dec. 2014 ~ Feb. 2015) Checking the connection one board by one board. 半分取り付けたところでシリアス な問題が見つかり 取り外してフ ランスへ送り返すことに Gluing spacer one by one. Connecting 384 boards. Half of electronics were mounted! 30

2015年8月に読み出し回路設置完了

SPiRIT 用 DAQ システム 通常の RIBF 実験におけるデータサイズ : 数 Tbyte/1 実験 : 1HDD/1 実験 1 実験はだいたい 1 週間くらい Trigger はできるだけ Bias が Minimum に 我々の場合は そのデータサイズが大きい 10MByte/eve w/o zero-suppress Trigger rate 1kHzだとすると 10GByte/secだがネットワーク上の制限により 最大 1.2GByte/sec w/o zero-suppressの場合はdaq rate 最大 100Hz 0.1kByte/eve w/ zero-suppress まだ不完全 この場合は数 khzまでいける いずれにせよデスクトップマシンではもう無理 理研計算機センターにて解析

理研計算機センターの一部へ ~ 戸建てからマンションの一室へ ~ 実験データ生成レート : 300MB/sec (1.2TB Max) 個人レベルでは Computing インフラの増強にも限界がある これまでは work していた 理研計算機センターへ計算処理を集める 必要な時にバースト的計算処理 ( クラウド的インフラ ) HOKUSAI: 京の 10 分の 1 程度の処理能力を持つ次期システム RIBF データ収集 結果確認 10Gbps line, short RTT コピー 理研 HOKUSAI バースト的ジョブ 生物化学 ジョブ 数日以内に 1 st production 生成

ゲーティンググリッド機構の開発 RI beam of 300MeV/u 132Sn Total beam rate: 10kHz, Purity: 50% Trigger rate 10~100Hz 9900Hz beam is useless and causes trouble on detector. Gain attenuation, field distortion. Employment of Gating grid: Ion does not go to amplification region. Ion feed back does not come back to drift region. OPEN Gating grid -115 V Anode wire -115 V -115 V CLOSE -150 V -80 V -150 V

ゲーティンググリッドスイッチングにより Selective readout ができない チャンネルごとのディスクリにより どのチャンネルを digitize するか選択する ゲーティンググリッド OPEN/CLOSE は大きなスパイクノイズを作る 常にディスクリから出力が出てしまう 全てのチャンネルが fire され 結局すべてのチャンネルが digitize されてしまう SCA stop Physics signals Switching signal

run 946 9 mm Al target Kyoto array out 実際の RI ビームを使った試運転一応きちんと動いている様だった 9 mm Al target Kyoto array M>=2 run 928

その他 : 重イオンによる巨大なチャー ジが入ると複数の pad に信号が spread Saturation effect と呼ばれるもの

その他 : 巨大なチャージが入ると該当 pad がしばらく dead に 電荷アンプからの出力が saturate するため

近い将来の改良点 Hit pattern register を故意に操作する Get hit information track MuTANT Set hit register MuTANT Trigger モジュールにより 故意に selective digitize するチャンネルを広げる ディスクリの閾値設定がルーズで良くなる ヒット位置を計算する上では大きい信号が見えるハ ット とその周辺のハ ット の波高を見る必要がある 周辺のハ ット に見える信号は小さく ディスクリの閾値設定がシビア 故意に hit register を操作するのを 2msec 以内に完了しなければならない それ以降は SCA 中のアナログ情報をロスする 39

まとめ 理研 RIBF にて 重イオン衝突実験用時間射影型 3 次元を構築した GET 汎用読み出しシステムを導入 2016 年春期に磁場中での試運転後 物理ラン 強固な実験インフラが求められる一方で そのリソースの供給源は限られる 理研スパコンの利用 高レート ワイドダイナミックレンジでの読み出しに向けて study 中