Universal Serial Bus Implementers Forum Device High-speed Electrical Test Procedure For Agilent Infiniium Revision 1.0 Feb 5, 2002 1
改訂履歴 Rev 日付 ファイル名 0.9 ( ベータ版 ) 2001 年 11 月 23 日 Device HS Test for Agilent.DOC USB-IF ( バージョン 0.9) により作成されたテ スト手順に基づいて Agilent テスト機器に採 用された高速テスト手順の最初のバージョン 1.0 2002 年 2 月 5 日 Device HS Test for Agilent.DOC 最終リリースのために編集 techsupp@usb.org まで電子メールでをお送りください USB-IF High-speed Electrical Test Procedure Copyright 2001, USB Implementers Forum, Inc. All rights reserved. 2
保証の排除 本仕様はそのままの状態で提供され 知的所有権に対する侵害のないこと 商品性 特定目的への適合性 権利 また提案 使用 サンプルから生じるもの その他 明示 暗黙を問わずいかなる保証も致しかねます これらの保証はすべて明確に排除します 上記の一般的な事項に限らず USB-IF および本仕様の著者は 本仕様の使用が他社の知的所有権を侵害しないことを保証または表明するものではありません 本仕様の使用者はこのような侵害の全てのリスクを負い また侵害訴訟の請求がなされた場合でも USB-IF または著者に対して訴訟上の請求をしないことに同意するものとします USB-IF は 本仕様の使用から生じるいかなる派生的な損害 特別損害あるいはその他の損害に対しても責任を負いかねます 内部使用限定のライセンス USB-IF は 本仕様を内部使用に限り複製して配布するライセンスを供与します 他のいかなるライセンスも 明示 暗黙を問わず 禁反言その他にかかわらず供与せず 知的所有権のライセンスも供与しません すべての製品名は それぞれの所有者の商標 登録商標またはサービスマークです 3
目次 1 概要... 5 2 目的... 5 3 必要な機器...5 3.1 機器設定... 6 3.1.1 Infiniium 54846A ディジタル サンプリング オシロスコープ (DSO)... 6 3.1.2 81130A パルス / パターン ジェネレータ... 7 3.2 オペレーティング システム ソフトウェア ドライバおよび設定ファイル... 7 3.2.1 オペレーティング システム... 7 3.3 ソフトウェア... 7 3.4 テスト機器設定ファイル... 8 4 テスト手順...8 4.1 テストの記録... 8 4.2 ベンダおよび製品の情報... 8 4.3 レガシー USB コンプライアンス テスト... 9 4.4 High Speed デバイス モード信号品質 (EL_2 EL_4 EL_5 EL_6 EL_7)... 9 4.5 デバイス パケット パラメータ (EL_21 EL_22 EL_25)... 14 4.6 デバイス CHIRP タイミング (EL_28 EL_29 EL_31)... 18 4.7 デバイスサスペンド / リジューム / リセット タイミング : アップストリーム側ポート (EL_27 EL_28 EL_38 EL_39 EL_40)... 20 4.8 デバイス テスト J/K SE0_NAK (EL_8 EL_9)... 25 4.9 デバイス レシーバ感度 (EL_16 EL_17 EL_18)... 27 A.4 High Speed モード対応デバイスの電気テスト データ... 31 A.4.2 ベンダおよび製品の情報... 31 A.4.3 レガシー USB コンプライアンス テスト... 32 A.4.4 High Speed デバイス信号品質 (EL_2 EL_4 EL_5 EL_6 EL_7)... 32 A.4.5 デバイス パケット パラメータ (EL_21 EL_22 EL_25)... 33 A.4.6 デバイス CHIRP タイミング (EL_28 EL_29 EL_31)... 34 A.4.7 デバイスサスペンド / リジューム / リセット タイミング (EL_27 EL_28 EL_38 EL_39 EL_40)... 35 A.4.8 デバイス テスト J/K SE0_NAK (EL_8 EL_9)... 36 A.4.9 デバイス レシーバ感度 (EL_16 EL_17 EL_18)... 37 B.1 81130A DSG 用の設定ファイルの作成手順... 39 B.1.1 IN_ADD1.ST0 設定ファイル... 39 B.1.2 MIN_ADD1.ST0 設定ファイル... 40 4
1 概要 USB-IF High Speed モードの電気テスト手順は USB-IF, Inc の管理下にある USB 2.0 コンプライアンス コミッティにより作成されています High Speed モード対応ホストの電気テスト手順は EHCI ホスト コントローラが対象です High Speed モード対応ハブの電気テスト手順は High Speed モード対応ハブが対象です High Speed モード対応デバイスの電気テスト手順は High Speed モード対応デバイスが対象です High Speed モードの電気コンプライアンス テスト手順は USB 2.0 仕様に準拠して設計されたデバイスの USB 2.0 High Speed 動作を検証するものです High Speed モード対応製品を USB-IF インテグレータ リストに記載し ( ベンダが USB-IF 商標ライセンス契約に署名している場合 ) 当該製品に関係して USB-IF ロゴを使用するためには その製品が High Speed モード テストに合格することに加えて これらの文書で指定された該当するレガシーテストを満たし 合格することも必要です これらのレガシー コンプライアンス テストは 本書の レガシー USB コンプライアンス テスト に記載してあります 2 目的 この USB-IF High Speed モードの電気テスト手順には 高速で動作する USB 周辺機器および USB システムの評価に用いる様々なテストが記載されています これらのテストは 出荷前の製品 リファレンス デザイン コンセプトの検証段階 および周辺機器 アドイン カード マザー ボードまたはシステムのプロトタイプに組み込まれた USB チップの High Speed 動作の評価にも用います このテスト手順では USB-IF USB2.0 電気テスト仕様バージョン 1.00 に記載されているテストが参照されています この High Speed モード対応デバイスの電気テスト手順は 3 つある USB-IF High Speed モードの電気コンプライアンス テスト手順の 1 つです 他の 2 つは High Speed モード対応ホストの電気テスト手順と High Speed モード対応ハブの電気テスト手順です デバイス クラスに基づいて個々の手順を採用できるため 使いやすくなっています 3 必要な機器 ここに記載した市販テスト機器は UBS-IF のメンバーが USB High Speed モードの電気テストを実行して良好であったものに基づいています このテスト手順には 手順を作成するために使用した特定のモデルも記載してあります 時間がたてば 使用に適した他の同等あるいはより良いテスト機器が登場します そのような場合には 手順にいくつか修正を加える必要があります ディジタル ストレージ オシロスコープ Agilent Technologies 製のInfiniium 54846Aディジタル ストレージ オシロスコープ o Tektronix P6247あるいはP6248 または同等の差動プローブ 数量 =1 o Tektronix 1103 Tekprobe 電源 (Tektronix P6247またはP6248と合わせて使用 ) 数量 =1 o Agilent 1161A ミニチュア パッシブ プローブ 数量 =2 o 短いBNCケーブル (50cm 未満 /50Ω) 数量 =1 5
3½ ディジタル マルチメータ : Agilent 972A または同等品 o ミニクリップ DMM リード : 黒と赤 1 つずつ ディジタル シグナル ジェネレータ (DSG) 81130Aパルス / パターン ジェネレータ o DSGは Agilent 81132A (660MHz)2モジュールとAgilent 81130Aパルス / パターン ジェネレータにより構成されています o メモリーカードオプション (P1130AオプションUFJ) o 6dBアッテネータ (Agilent 8493Cオプション006) : レシーバ感度テスト用のDSG 出力電圧の調整用 数量 =2 o 50Ω 同軸ケーブル 両端がSMAコネクタ ( メス ) 数量 =2 High Speed USB 電気テスト フィクスチャ o High Speedデバイス信号品質テスト フィクスチャ 数量 =1 o デバイス レシーバ テスト フィクスチャ 数量 =1 o 5Vテスト フィクスチャ電源 数量 =1 Agilent HS テスト フィクスチャを使用する場合のテスト ポイントの名称は Intel のテスト フィクスチャとは異なります このテスト手順は Intel のテスト フィクスチャを対象に書かれています Agilent のテスト フィクスチャを使用する場合は 以下の対応表を使用してください Intelのフィクスチャ テスト ポイントの記述 Agilentのフィクスチャ J7 テスト ポイント TP2 J8 電源ポート J5 J10 グランド TP5 J11 グランド TP5 SMA1 D-ライン SMA2 SMA2 D+ ライン SMA1 その他のケーブル o 1m USBケーブル 数量 =1 o 1.5m USBケーブル 数量 =1 o モジュラAC 電源コード 数量 =2 USB 2.0 High Speedテスト ベッド コンピュータこれは High Speedハブまたはデバイスの電気テスト用 USB 2.0 適合ホスト コントローラを搭載するコンピュータ あるいはテストされるUSB2.0ホスト コントローラを搭載するコンピュータです このコンピュータに搭載されているOSには Windows 2000 Professional ( 英語版 ) が必要です このコンピュータを構成するステップについては High Speedモードの電気テスト設定手順 を参照してください 3.1 機器設定 3.1.1 Infiniium 54846A ディジタル サンプリングサンプリング オシロスコープ (DSO) オシロスコープの電源をオンにする前に P6247 または P6248 差動プローブを 1103 TekProbe 電源に接続し 1103 とチャネル 1 を短い BNC ケーブルで接続します セーバが差動プローブの先端に取り付けられていることを確認してください 1161A ミニチュア パッシブ プローブを 2 本使う場合は BNC ケーブルをチャネル 1 から取り外し 一方のパッシブ プローブをチャネル 1 へ もう一方のパッシブ プローブをチャネル 3 に接続します こうしたパッシブ プローブの配列は テスト手順全体を通して使用します オシロスコープの電源をオンにして 使用する前に 10 分間ウォームアップさせます 周囲温度の変化が 5 を超えた場合は Infiniium 54846A に内蔵されているユーザ校正 ([Utilities] プル ダウン メニューの [Calibration ] セクションにあります ) を実行してください この校正 ( キャリブレーション ) は プローブをオシロスコープから取り外した状態で実行してください 6
利得誤差とオフセット誤差を最小限にするために 2 つのミニチュア パッシブ プローブを校正する必要があります 差動プローブのオフセット誤差は 後でテスト手順プロセスの一部としてキャンセルされます 差動プローブのオフセットは テスト手順に記載されているステップによって調整します P6247/P6248 差動プローブの場合は テスト手順全体を通して次の設定を使用します DC Reject <OFF> (P6247 のみ ) BW <Full> (P6247 のみ ) Attenuation < 1> 注記 : ノート型パソコンをホストにする時まで 特定のテスト状況では DSO と被試験デバイス (DUT) の間にグランド接続がない場合があります このために 差動プローブにおいて観測される信号が中間周波数スイッチング電源により上または下に変調される場合があります DSO グランドと DUT のグランドを接続するには 共通グランドを設定する必要があります 3.1.2 81130A パルス / パターン ジェネレータ 81130A は このテスト手順の終わりの方のレシーバ感度テストの実行に必要です 節電を考えれば 測定を実行する約 15 分前に 81130A の電源をオンにしてもかまいません 3.2 オペレーティング システム ソフトウェア ドライバおよび設定ファイル 3.2.1 オペレーティング システム High Speed モードの電気テスト ベッド コンピュータには Microsoft Windows 2000 Professional が必要です このコンピュータを構成するステップについては High Speed モードの電気テスト設定手順 を参照してください 3.3 ソフトウェア 以下のソフトウェアが必要です このコンピュータを構成するステップについては High Speed モードの電気テスト設定手順 を参照してください High-speed Electrical Test Tool ソフトウェア : High Speed モードの電気テスト ベッド コンピュータで使用 Intel 独自の EHCI ドライバ スタック : High-speed Electrical Test Tool ソフトウェアでは 独自の EHCI ドライバ スタックを使用する必要があります この独自の EHCI ドライバ スタックを使用することによって USB EHCI ホスト コントローラのコマンド レジスタの直接制御が容易になります 最終的には 非常に堅牢なテスト ベッド環境となります 独自の EHCI ドライバ スタックはデバッグとテストの検証を目的に設計されているため Microsoft ( またはデバイスのベンダ ) 製の EHCI ドライバが持つ通常の機能はサポートしていません High-speed Electrical Test Tool には自動ドライバ スタック スイッチング機能が実装されているため 独自の EHCI ドライバ スタックと Microsoft 製のドライバ スタック間の切り替えが容易です HS Electrical Test Tool ソフトウェアを呼び出すと ドライバ スタックは自動的に Intel 独自の EHCI ドライバ スタックに切り替わります HS Electrical Test Tool ソフトウェアを終了すると ドライバ スタックは自動的に Microsoft EHCI ドライバ スタックに切り替わります Infiniium USB テスト オプション ( オプション B30 または E2645A): USB デバイスの電気テスト実行用 7
3.4 テスト機器設定設定ファイル これはテスト機器の設定ファイルを収納した 3½ インチ フロッピー ディスクです この設定ディスクを構成するステップについては High Speed モードの電気テスト設定手順 を参照してください Infiniium USB テスト オプション ( オプション B30 または E2645A) をインストールしている場合は Infiniium 54846A 用の設定ディスクは不要です DSO 設定ディスク : Agilent Infiniium 54846A の設定ファイルを収納 (Infiniium 54846A に Infiniium USB テスト オプションまたは E2645A を搭載している場合は このディスクは不要です ) ( ディジタル ストレージ オシロスコープ ) DPG 設定 : 付録 B ( ディジタル パターン ジェネレータ ) を参照してください 4 テスト手順 4.1 テストの記録 付録 A には テスト結果を記入するためのフォームが記載してあります 付録 A をコピーし コンプライアンス テスト申請用のテスト記録文書としてご使用ください 被試験デバイスに当てはまらない欄には 理由を説明する適切な注記とともに N/A と記入してください 記入が終わったテスト結果は コンプライアンス テスト申請のために保管してください テスト記録のハードコピーの他に 信号品質と電源供給 ( 突入 降下およびドループ ) の結果の電子ファイルを コンプライアンス テスト申請のために保管してください 4.2 ベンダおよび製品の情報 以下の情報を収集して 付録 Aのテスト記録のコピーに記入した後 テストを実行します 1. テスト日付 2. ベンダ名 3. ベンダの住所 電話 担当者名 4. テスト申請 ID 番号 5. 製品名 6. 製品のモデルおよびリビジョン 7. USBチップ ベンダ名 8. USBチップ モデル 9. USBチップ パーツ マーキング 10. USBチップ ステッピング 11. テスト実施者 8
4.3 レガシー USB コンプライアンス テスト 被試験デバイスは 本書に定める High Speed モードの電気的テストに加えて その High Speed 対応デバイスに適用される次のコンプライアンス テストにも合格しなくてはなりません o o o Full Speed 信号品質 突入電流 相互運用性 これらのテストをすべて実行し 測定値と 付録 A にまとめてある合否ステータスを記録します 4.4 High Speed デバイス モード信号品質 (EL_2 EL_4 EL_5 EL_6 EL_7) 注記 : 被試験デバイスに 固定ケーブルが付属されているか 通常の B タイプまたはミニ B タイプが装備されているか確認してください 前者の場合には 信号品質の測定を FarEnd で行なわなければなりません 後者の場合には 信号品質の測定を NearEnd で行なわなければなりません 1. オシロスコープの電源をオンにしていない場合は オンにします 約 10 分間ウォームアップさせます 1103 TekProbe 電源に P6247 または P6248 差動プローブを接続します 1103 とチャネル 1 を短い BNC ケーブルで接続します 2. [File] プル ダウン メニューから [Load] >> [Setup ] を選択して HS_SQ_1.SET オシロスコープ設定を呼び出します 差動プローブには何も接続しないでください ゼロに近い差動測定値を捕捉するため オシロスコープの [sweep] ボタンを押してトリガを Auto に設定します 1103 電源上のオフセット アジャスタ (OFFSET) を使って DC レベルをゼロに調整します 調整が終わったら [sweep] ボタンを押してトリガを Trig d に戻します 3. 5V 電源を High Speed デバイス信号品質テスト フィクスチャの J8 に接続します 4. 緑の POWER LED (D1) が点灯し 黄色の TEST LED (D2) が点灯していないことを確認します 5. High Speed デバイス信号品質テスト フィクスチャの [TEST PORT] を被試験デバイスのアップストリーム側ポートに接続します テスト フィクスチャの [INIT PORT] をテスト ベッド コンピュータの High Speed モード対応ポートに接続します デバイスに電源をオンにします 6. 差動プローブをテスト フィクスチャの J7 に接続します プローブ上の + 極性とフィクスチャ上の D+ を合わせてください 7. 電気テスト ベッド コンピュータ上で High-speed Electrical Test Tool ソフトウェアを呼び出します メイン メニューが表示され USB2.0 ホスト コントローラが表示されます 9
High-speed Electrical Test Tool メイン メニュー 8. [Device] を選択し [TEST] ボタンをクリックして [HS Electrical Test Tool Device Test] メニューを起動します 被試験デバイスが表示され デバイス VID と接続されているルート ポートが示されます [High-speed Electrical Test Tool Device Test] メニュー 9. [Device Command] ドロップ ダウン メニューから [TEST_PACKET] を選択して [EXECUTE] をクリックします これにより被試験デバイスがテスト パケットを連続して送信します デバイス アップストリームの TEST_PACKET 10
10. テスト スイッチ (S1) を TEST の位置にします 黄色の TEST LED が点灯しているか確認します 11. オシロスコープを使って テスト パケットが被試験ポートから送信されていることを確認します 必要に応じてトリガ レベルを調整します トリガ レベルを調整してもトリガが安定しない場合は trigger holdoff を少し変更してみてください holdoff は [Setup] プル ダウン メニュー >> [Trigger ] >> [Conditioning ] ボタンを選択することで調整できます 12. [STOP] ボタンを使ってオシロスコープのデータ取得を停止します 13. オシロスコープで 2 つの縦カーソルを 1 つのテスト パケットに合わせます 一方は sync フィールドのすぐ ( 約 1 ビット時間 ) 前に もう一方は EOP (END OF PACKET) のすぐ ( 約 1 ビット時間 ) 後に合わせます 次の図を参照してください Position Cursors as shown. 4 bit times before the sync & 4 bit times after the eop. sync. eop. デバイスからのテスト パケット 14. Infiniium 54846A の [Analyze] プル ダウン メニューから [USB Test] を選択して USB テストを呼び出します 15. USB テスト オプション グラフィカル ユーザ インタフェースで [USB Test] セクションの [Signal Integrity] を選択します 16. デバイスに固定付属ケーブルがない場合は USB テスト オプション グラフィカル ユーザ インタフェースの [Signal Integrity - Test Type] で 以下を選択します High-speed Near End ([Tier] 設定は 6 のままにします ) そうでなければ ( デバイスにケーブルが固定されている場合は ) 以下を選択します : High-speed Far End ([Tier] 設定は 6 のままにします ) 11
[USB Test] オプション 17. [Save Results] の [Data File] の空欄に分かりやすいファイル名 ( 例えば TIDxxxxxxx USNE.tsv) を入力します 18. [USB test] オプションの一番下にある [Start Test] をクリックします 19. 結果は Internet Explorer に表示されます 信号アイ EOP 幅およびシグナリング レートのすべてが合格か確認します Internet Explorer に表示される結果は [Data Path] ( 例えば c:\scope\data) で指定されたディレクトリにある HTML レポートにも記録されます 12
High Speed 近端 SQ アイ ダイアグラム 20. テスト結果 EL_2 EL_4 または EL_5 および EL_6 と EL_7 を記録します テストの間に作成されたすべてのファイルを保存します 結果をフロッピー ディスクに保存するには フロッピーを Infiniium のフロッピー ドライブに差し込み Internet Explorer を終了した後に [Copy Results] をクリックします 13
注記 : EL_4 と EL_5 の要件は互いに排他的です EL_4 をテストする場合には EL_5 は適用しません その逆の場合も同じです 21. テスト フィクスチャのテスト スイッチ (S1) を Normal の位置に戻し TEST LED が点灯していないことを確認します 以後のテストの準備のためにデバイスの電源を入れ直します [Exit] ボタンをクリックして Infiniium の [USB test] オプションを終了します 4.5 デバイス パケットパケット パラメータパラメータ (EL_21 EL_22 EL_25) 1. デバイス信号品質テスト フィクスチャの [INIT PORT] をテスト ベッド コンピュータの High Speed 対応ポートに接続します 2. デバイス信号品質テスト フィクスチャ [TEST PORT] を被試験デバイスのアップストリーム側ポートの B レセプタクルに接続します デバイスが適切に表示されるか確認します 注記 :High Speed デバイス信号品質テスト フィクスチャを使用することで デバイスにより生成されたパケットでトリガすることが可能になります これは 差動プローブがデバイス トランスミッタの近くに配置され その結果デバイス パケットの振幅がより大きくなるからです 3. 差動プローブを デバイス コネクタの近くにあるフィクスチャの J7 に取り付けます プローブ上の + 極性とフィクスチャ上の D+ を合わせてください 4. [File] プル ダウン メニューから [Load] >> [Setup ] を選択して PACKPARA.SET オシロスコープ設定を呼び出します 5. オシロスコープを使用して SOF (Start Of Frame) パケットが被試験ポート上で送信されていることを確認します トリガ レベルを 400mV のいくらか下へ下げる必要のある場合があります 6. ここで オシロスコープのトリガ レベルを SOF ( またはホスト トラフィック ) でトリガしなくなるところまでゆっくりと上げます 通常これは デバイスとフィクスチャで使用されているケーブルの長さによりますが 400mV 前後です オシロスコープが実行 ( RUN ) されており Trig d モードであることを確認します オシロスコープが他のモードにある場合には フロント パネルの [Sweep] ボタンを使ってモードを調整します 7. High-speed Electrical Test Tool ソフトウェアの [HS Electrical Test Tool - Device Test] メニューで 被試験デバイスを選択 ( 強調表示 ) します [Device Command] ウィンドウから [SINGLE STEP SET FEATURE] を選択し [EXECUTE] を 1 回クリックします 14
デバイスの Single Step Set Feature 8. オシロスコープ下記のような波形を捕捉します オシロスコープの [STOP] を押してそれ以上トリガしないように一時停止します オシロスコープがデバイス トラヒックでトリガしない場合は トリガ レベルの設定が高すぎます トリガ レベルを少し下げ ( ただし ホスト SOF でトリガするほど低くなく ) ステップ 7 からを繰り返します ホスト パケットおよびデバイス パケット 9. オシロスコープの [Horizontal] ノブまたはズーム ボックス機能を使用して オシロスコープ上の ( デバイスから ) 3 番目のパケット sync フィールドの長さ ( ビット数 ) を測定し それが EL_21 に既定されている 32 ビットであることを確認します ( ズーム ボックス機能を使用するには オシロスコープのマウスの左ボタンを押しながら対象のパケットの周りをドラッグして ズーム ボックス を描き このボックス内を左クリックしてズーム インします ) 波形例については下の図を参照してください Sync フィールドは High Speed アイドル遷移から ( 最初のゼロによる ) 立ち下がりエッジにかけて始まることに注意してください 最初に 1 が 2 つ連続するまで立ち上がりエッジと立ち下がりエッジの両方を数えます これには最初の 1 を含めます 数値を EL_21 に記録します 15
Sync フィールド デバイス パケット 10. オシロスコープ上の 3 番目のパケットの EOP (End of Packet) 幅 ( ビット数 ) を測定し それが EL_25 で既定されている 8 ビットであることを確認します マーカを使って EOP パルス幅を測定し 2.08ns/ ビット (480Mbps) に基づいてビット数を算出することをお勧めします 結果を EL_25 に記録します 注記 : 差動測定では EOP は立ち下がりパルスの場合と立ち上がりパルスの場合があります 下図は 立ち下がり EOP の表示画面です デバイス パケットの EOP 11. オシロスコープ上に表示された ( ホストから ) 2 番目のパケットと ( ホストに応答するデバイスから ) 3 番目のパケット間のギャップを オシロスコープのマーカ機能を使用して測定します マーカには [Measure] プル ダウン メニューからと ディスプレイのすぐ下にある [Marker] キーを押すことでアクセスできます 2 番目 ( 振幅がより低い ) はホストからのもので 3 番目は ( 振幅がより高い ) はデバイスの応答です 測定した時間を 2.08ns で割ってビット数を計算します 合格条件は 計算した値が 8 ビットから 192 ビットの間でなければならないということです (EL_22) 計算したビット数を EL_22 に記録します 16
デバイスのパケット間のギャップ 12. オシロスコープが Trig d モードになっていることを確認します [HS Electrical Test Tool - Device Test] メニューで [Step] ボタンを 1 回クリックします これは 2 つのステップがある Single Step Set Feature コマンドの 2 番目のステップです 13. オシロスコープの画面表示は次のようになります オシロスコープの [STOP] を押してそれ以上トリガしないように停止します Single Step Set Feature 2 番目のステップ 14. オシロスコープ上に表示された ( ホストから ) 1 番目のパケットと ( ホストに応答するデバイスから ) 2 番目のパケット間のギャップを測定します 1 番目 ( 振幅がより低い ) はホストからのもので 2 番目は ( 振幅がより高い ) はデバイスの応答です 測定した時間を 2.08ns で割ってビット数を計算します 合格条件は 計算した値が 8 ビットから 192 ビットの間でなければならないということです (EL_22) 計算したビット数を EL_22 に記録します 15. High Speed デバイス信号品質テスト フィクスチャから差動プローブを取り外します オシロスコープのチャネル 1 から BNC ケーブルを外します 17
4.6 デバイス CHIRP タイミング (EL_28 EL_29 EL_31) 1. High Speed デバイス信号品質テスト フィクスチャの [INIT PORT] を HS ホスト コントローラの High Speed モード対応ポートに接続します 2. 1161A ミニチュア パッシブ プローブをチャネル 1 へ もう一方の 1161A ミニチュア パッシブ プローブをチャネル 3 に接続します 1161A プローブをテスト フィクスチャの J7 に接続します チャネル 1 を D- に チャネル 3 を D+ に接続します これらのプローブのグランドを J10 と J11 に接続します 3. [File] プル ダウン メニューから [Load] >> [Setup ] を選択して CHRP1&3.SET オシロスコープ設定を呼び出します 4. 被試験デバイスのアップストリーム側ポートをテスト フィクスチャの [TEST PORT] に接続します 5. [Enumerate Bus] をクリックして 下の図のように CHIRP ハンドシェークを捕捉します Device Chirp Latency Device Chirp K Device Turn on HS Termination デバイス チャープ ( 速度検出 ) 6. オシロスコープの [Horizontal] ノブまたはズーム ボックス機能を使って ホスト ポートからのリセットに応答するデバイスの CHIRP-K レイテンシを測定します このタイミングが 2.5μs から 3.0ms の間であることを確認します 結果を EL_28 に記録します 18
デバイス チャープ -K レイテンシ 7. デバイスの CHIRP-K 時間を測定します このアサーション時間が 1.0ms から 7.0ms の間であることを確認します 結果を EL_29 に記録します 8. Chirp K-J-K-J-K-J のホスト アサーションの後 デバイスがその High Speed ターミネーションをオンにすることで応答しなくてはなりません これは Chirp-K と Chirp-J の交互シーケンスの振幅が 800mV から 400mV へ落ちるのを確認することで分かります Chirp K-J-K-J-K-J (Chirp-K-J の 3 つのペア ) の最後の J の始めから デバイスが High Speed ターミネーションをオンするまでの時間を測定します これが 500μs 以下か確認します 結果を EL_31 に記録します Chirp K-J-K-J-K-J の最後の J の始めから デバイスが HS ターミネーションをオンするまでの時間 19
9. High Speed ターミネーションをオンすることに加えて デバイスは Chirp K-J-K-J-K-J のホスト アサーションと同時に D+ プルアップ抵抗を切り離さなければなりません ホストからの Chirp-K 中に D+ レベルがわずかに降下していることで判断します Chirp K-J-K-J-K-J (Chirp-K-J の 3 つのペア ) の最後の J の始めから D+ プルアップ抵抗が切り離されるまでの時間を測定します これが 500μs 以下か確認します 結果を EL_31 に記録します 4.7 デバイスサスペンド / リジューム / リセット タイミング : アップストリーム側ポート (EL_27 EL_28 EL_38 EL_39 EL_40) 1. High Speed デバイス信号品質テスト フィクスチャの [INIT PORT] をテスト ベッド コンピュータの High Speed 対応ポートに接続します 2. 被試験デバイスをテスト フィクスチャの [TEST PORT] に接続します [Enumerate Bus] ボタンを 1 回クリックして 新たに接続したデバイスを表示します 被試験デバイスが表示され デバイス VID と接続されているルート ポートが示されます 3. チャネル 1 およびチャネル 3 の 1161A ミニチュア パッシブ プローブをテスト フィクスチャの J7 に接続します Ch1 を D- に Ch3 を D+ に接続します これらのプローブのグランドを J10 と J11 に接続します 4. [File] プル ダウン メニューから [Load] >> [Setup ] を選択して SUSP1&3.SET オシロスコープ設定を呼び出します 5. [HS Electrical Test Tool Device Test] メニューで [Device Command] ドロップ ダウン メニューから [SUSPEND] を選択します [EXECUTE] を 1 回クリックしてデバイスを中断にします キャプチャされた中断の遷移は 下の図のようになります 20
デバイスのサスペンド High Speed 動作のサスペンドに対するデバイスの応答 6. ホストが発行した最後の SOF パケットの終わりから デバイスがそのフル スピード プルアップ抵抗を D+ に接続した時点までの時間を測定します これは 最後の SOF パケットの終わりと フルスピード J 状態への立ち上がりエッジ遷移の間の時間です この時間が 3.000ms から 3.125ms の間にあることを確認します 結果を EL_38 に記録します 7. オシロスコープがアーミングされているか確認します デバイスがまだサスペンド状態にあることを確認するために [sweep] ボタンを押してトリガを Auto に設定します D+ は 3.3V ぐらいであるはずです D- は 0.7V 未満でなければなりません 合否を EL_39 に記録します 被試験デバイスのリジュームを確認するステップは次のとおりです 8. [File] プル ダウン メニューから [Load] >> [Setup ] を選択して RESUM1&3.SET オシロスコープ設定を呼び出します 9. [HS Electrical Test Tool Device Test] メニューで [Device Command] ドロップダウンメニューから [RESUME] を選択します [EXECUTE] を 1 回クリックしてデバイスをサスペンドからリジュームします 捕捉されたリジュームの遷移は 下の図のようになります 21
デバイスの再開 10. デバイスが High Speed 動作を再開します これはホスト コントローラによりドライブされる K 状態に続いて High Speed SOF パケット ( 振幅は 400mV) があることから分かります 下図を参照してください 合否を EL_40 に記録します デバイスの High Speed 動作の再開 デバイスが High Speed での動作からリセットされた後に High Speed 動作を再開したことを確認するステップは次のとおりです 11. [File] プル ダウン メニューから [Load] >> [Setup ] を選択して RSTFHS1&3.SET オシロスコープ設定を呼び出します 12. オシロスコープがアーミングされているか確認します 13. [HS Electrical Test Tool Device Test] メニューで [Device Command] ドロップ ダウン メニューから [RESET] を選択します [EXECUTE] を 1 回クリックして High Speed で動作しているデバイスをリセットします 捕捉されたリセット応答は 下の図のようになります 22
デバイスのリセット Device Chirp K High Speed 動作からのリセットに応答するデバイスの Chirp-K 14. リセットに続いてデバイスがチャープ ハンドシェークを送信します リセット前の最後の SOF の始めと デバイス Chirp-K の始めの間の時間を測定します この時間が 3.1ms から 6ms の間であることを確認します 合否を EL_27 に記録します サスペンドからリセットされた後のデバイスのチャープ応答を確認するステップは次のとおりです 15. [File] プル ダウン メニューから [Load] >> [Setup ] を選択して RSTRSUSP1&3.SET オシロスコープ設定を呼び出します 16. [HS Electrical Test Tool Device Test] メニューで [Device Command] ドロップ ダウン メニューから [SUSPEND] を選択します [EXECUTE] を 1 回クリックしてデバイスを中断にします 23
デバイスの中断 17. オシロスコープがアーミングされているか確認します デバイスがまだサスペンド状態にあることを確認するため [sweep] ボタンを押してトリガを Auto に設定します D+ は 3.3V D- は 0.7V 未満でなければなりません 18. [sweep] ボタンを押してトリガを Trig d に戻します [RUN] ボタンを押して オシロスコープをアーミングします [HS Electrical Test Tool Device Test] メニューで [Device Command] ドロップ ダウン メニューから [RESET] を選択します [EXECUTE] を 1 回クリックしてサスペンド中のデバイスをリセットします 捕捉されたサスペンドからリセットへの遷移は 下の図のようになります 24
デバイスのリセット サスペンド中のデバイスのリセット 19. デバイスは Chirp-K のリセットに応答します D+ の立ち下がりエッジと デバイスの Chirp-K の始めの間の時間を測定します この時間が 2.5μs から 3ms の間であることを確認します 合否を EL_28 に記録します 20. オシロスコープのチャネル 1 から 1161A ミニチュア パッシブ プローブを外します 4.8 デバイス テスト J/K SE0_NAK (EL_8 EL_9) 1. 5V 電源を High Speed デバイス信号品質テスト フィクスチャの J8 に接続します 2. 緑の POWER LED (D1) が点灯し 黄色の TEST LED (D2) はオフであることを確認します 3. High Speed デバイス信号品質テスト フィクスチャの [TEST PORT] を被試験デバイスのアップストリーム側ポートに接続します テスト フィクスチャの [INIT PORT] をテスト ベッド コンピュータの High Speed モード対応ポートに接続します [Enumerate Bus] ボタンを 1 回クリックして 新たに接続したデバイスを表示します 被試験デバイスの VID と接続されているルート ポートが表示されます 25
4. [HS Electrical Test Tool Device Test] メニューで [Device Command] ドロップ ダウン メニューから [TEST_J] を選択します [EXECUTE] を 1 回クリックしてデバイスを TEST_J テスト モードにします デバイスの TEST_J 5. テスト フィクスチャを TEST の位置に切り替えます DVM を使用して グランド ( ピン J10 および J11 がグランド ピンです ) を基準とした D+ ラインの DC 電圧を J7 で測定します セクション EL_8 に記録します 6. DVM を使用して グランドを基準とした D- ラインの J7 の DC 電圧を測定します セクション EL_8 に記録します 7. テスト スイッチを NORMAL の位置に戻します デバイスの電源を入れ直します [Enumerate Bus] を 1 回クリックしてデバイスを表示します これにより デバイスが通常動作に戻ります 8. [HS Electrical Test Tool Device Test] メニューで [Device Command] ドロップ ダウン メニューから [TEST_K] を選択します [EXECUTE] を 1 回クリックしてデバイスを TEST_K テストモードにします 9. テスト フィクスチャを TEST の位置に切り替えます DVM を使用して グランド ( ピン J10 および J11 がグランド ピンです ) を基準とした D+ ラインの DC 電圧を J7 で測定します セクション EL_8 に記録します 10. DVM を使用して グランドを基準とした D- ラインの J7 の DC 電圧を測定します セクション EL_8 に記録します 11. テスト スイッチを NORMAL の位置に戻します デバイスの電源を入れ直します [Enumerate Bus] を 1 回クリックしてデバイスを表示します これにより デバイスが通常動作に戻ります 12. [HS Electrical Test Tool Device Test] メニューで [Device Command] ドロップ ダウン メニューから [TEST_SE0_NAK] を選択します [EXECUTE] を 1 回クリックしてデバイスを TEST_SE0_NAK テスト モードにします 13. テスト フィクスチャを TEST の位置に切り替えます DVM を使用して グランド ( ピン J10 および J11 がグランド ピンです ) を基準とした D+ ラインの DC 電圧を J7 で測定します セクション EL_9 に記録します 14. DVM を使用して グランド ( ピン J10 および J11 がグランド ピンです ) を基準とした D- ラインの DC 電圧を J7 で測定します セクション EL_9 に記録します テスト スイッチを NORMAL の位置に戻します 15. High Speed デバイス信号品質テスト フィクスチャを取り外します 以後のテストの準備のためにデバイスの電源を入れ直します 26
4.9 デバイス レシーバ感度 (EL_16 EL_17 EL_18) このセクションは 被試験デバイスのレシーバの感度をテストします Agilent 81130A パルス / パターン ジェネレータは ハブ ポートからデバイス アドレス 1 への IN コマンドをエミュレートします 1. 5V 電源をデバイス レシーバ テスト フィクスチャ (J8) に接続し 緑の POWER LED (D1) が点灯していることを確認します TEST スイッチは Normal の位置 (S1 位置 ) のままにします ( 黄色の LED (D2) はオフです ) 2. テスト フィクスチャの [INIT PORT] をテスト ベッド コンピュータのポートに接続します フィクスチャの [TEST PORT] を被試験デバイスに接続します [Enumerate Bus] ボタンを 1 回押して 新たに接続したデバイスを表示します 被試験デバイスの VID と接続されているルート ポートが表示されます 3. 6dB アッテネータ (8493C オプション 006) が挿入された SMA ケーブルを 2 セット用意します 6dB アッテネータ (8493C オプション 006) を Agilent 81130A パルス / パターン ジェネレータの OUTPUT1 および OUTPUT2 に接続します OUTPUT 1 をデバイス レシーバ感度テストフィクスチャの SMA2 に OUTPUT 2 を SMA1 に SMA ケーブルを使用して接続します 4. オシロスコープのチャネル 1 と 1103 Tekprobe 電源を短い BNC ケーブルを使用して接続します 差動プローブをテスト フィクスチャの J7 に接続します [File] プル ダウン メニューから [Load] >> [Setup ] を選択して RCVRSENS.SET オシロスコープ設定を呼び出します 5. 81130A 上で [MEMCARD] ソフトキーを選択します メニューに [MEMCARD] がない場合は [MEMCARD] が表示されるまで [MORE] キーを押します メモリの内容がディスプレイに表示されます ( 設定ファイルの作成については 付録 B を参照してください ) カーソルと回転ノブを使用して MIN_ADD1.ST0 設定ファイルを選択します カーソルを [Perform Operation] まで移動し ノブを回して [Recall] を選択します 次に [ENTER] キーを押してロードします これにより 12 ビット SYNC フィールドを使用して ( 適合した振幅の ) IN パケットが生成されます 6. [HS Electrical Test Tool Device Test] メニューで [Device Command] ドロップ ダウン メニューから [TEST_SE0_NAK] を選択します [EXECUTE] を 1 回クリックしてデバイスを TEST_SE0_NAK テスト モードにします デバイスの TEST_SE0_NAK 7. テスト フィクスチャのテスト スイッチ (S1) を TEST の位置にします これにより データ ジェネレータがホスト コントローラ代わりになります データ ジェネレータがホスト コントローラからの IN パケットをエミュレートします 27
8. 下図に示されているように データ ジェネレータからのすべてのパケットに対して被試験ポートから NAK が返されるか確認します 合否を EL_18 に記録します Data generator packet Device response generator packet データ ジェネレータからの IN に対する NAK によるレシーバの応答 9. データ ジェネレータ上で [MEMCARD] ソフトキーを選択します メニューに [MEMCARD] がない場合は [MEMCARD] が表示されるまで [MORE] キーを押します メモリの内容が画面上に表示されます ( 設定ファイルの作成については 付録 B を参照してください ) カーソルと回転ノブを使用して IN_ADD1.ST0 設定ファイルを選択します カーソルを [Perform Operation] まで移動し ノブを回して [Recall] を選択します 次に [ENTER] キーを押してロードします 10. 信号がこの振幅にある間に すべてのパケットに対して NAK が返されることを確認します 11. 各チャネルの出力レベルを次のように調整します 12. [LEVELS] ソフトキーを選択します メニューに [LEVELS] がない場合は [LEVELS] が表示されるまで [MORE] キーを押します 次にカーソルを [High] 電圧値の数値まで移動します 回転ノブまたは数字キーを使って オシロスコープ上で実際のレベルをモニタしながら出力レベルを調整します カーソル矢印ボタンを使って変更するチャネルを選択します 13. データ ジェネレータ パケットの振幅を ( アッテネータの前のジェネレータで ) デバイスからの NAK 応答をオシロスコープでモニタしながら 20mV ステップで減少させます データ ジェネレータの表示値が示す OUTPUT1 と OUTPUT2 が一致するように 両チャネルを調整する必要があります NAK パケットが断続的になり始めるまで振幅を減少させます その後 NAK パケットが断続的にならないように振幅を増加させます これが スケルチ前の最小レシーバ感度レベルのすぐ上となります 14. 次の方法を用いてデータからパケットのゼロ - 正ピークとゼロ - 負ピークを測定します 最初に オシロスコープのマウスを使い 左ボタンを押しながらマウスをドラッグすることでズーム ボックスをデータ ジェネレータ パケットの周囲に描きます ズーム ボックス 内を左クリックして波形にズーム インします ( 下の ズーム ボックス の図を参照 ) パケットが測定のために適切なサイズになるまでこのステップを繰り返します ( 下の パケット振幅の測定 の図を参照 ) 28
15. オシロスコープのディスプレイの下にある [Marker A] を押してマーカをオンにします オシロスコープのディスプレイの一番下にある マーカ セクションで 右 マウス ボタンをクリックして Markers Manual Placement を選択します [By] を正のピークにドラッグし [Ay] を負のピークにドラッグします オーバシュートにより表示値が大きくなることを避けるために より幅広いパルスの平らな部分でピークを読み取ることが大切です [Ay] 値と [By] 値を読み取り 測定値を EL_17 に記録します ( 下のパケット振幅の測定の図を参照 ) ±150mV を超えるデータ ジェネレータ パケットに対してレシーバが NAK を返し続ける限り 合格と見なされます 合否を EL_17 に記録します ズーム ボックス パケット振幅の測定 16. 波形が表示されていないメイン オシロスコープ画面で 右 マウス ボタンをクリックします メニューから ステップ 8 のスクリーン ショットが表示されるまで Undo Zoom を選択します ここで データ ジェネレータからのパケットの振幅を小さいステップでさらに減少させます レシーバがちょうど NAK で応答しなくなるまで OUTPUT1 と OUTPUT2 の間のバランスを維持します これがレシーバのスケルチ レベルです 29
17. ステップ 14 および 15 に記述し方法で データ ジェネレータからのパケットのゼロから正のピークとゼロから負のピークを測定します 測定を EL_16 に記録します レシーバが ±100mV のデータ ジェネレータのパケットに NAK しない限り 合格と見なされます EL_16 に合否を記録します パケット振幅の測定 注記 : 特定のデバイスでは 過剰な反射成分のためデータ ジェネレータからの In パケットの正確なゼロ-ピーク測定を行うことが難しい場合があります また ケーブルが固定されているデバイスでは テスト フィクスチャで測定した In パケットのゼロ-ピーク振幅が デバイスレシーバにおける振幅よりもかなり高くなる場合があります このような状態では PCB 上のデバイス レシーバ ピンに近いところで測定することを推奨します 30
付録 A A.4 High Speed モード対応デバイスの電気テスト データ このセクションは 実際のテスト結果を記録するためのものです テストする各デバイスごとにコピーを使用してください (USB-IF 提出用には英語のものを使用してください ) A.4.2 ベンダおよび製品の情報テスト日付ベンダ名ベンダの住所ベンダの電話番号ベンダの担当者 役職テストID 番号製品名製品のモデルおよびリビジョン USBシリコン ベンダ名 USBシリコン モデル USBシリコン パーツ マーキング USBシリコン ステッピングテスト者 すべての欄に記入してください シリコン情報が分からない場合はシリコン メーカに連絡してください 31
A.4.3 レガシー USB コンプライアンス テスト レガシー USB コンプライアンス テスト レガシーテスト フル スピード信号品質 突入電流 インターオベラビリティ 合否 P = 合格 F = 不合格 N/A = 該当なし A.4.4 High Speed デバイス信号品質 (EL_2 EL_4 EL_5 EL_6 EL_7) EL_2 USB 2.0 High Speed トランスミッタ データ レートは 480 Mb/s 0.05% でなければなりません 参照文書 :USB 2.0 仕様 セクション7.1.11. EL_4 固定ケーブルが付属されていないデバイスの USB 2.0 アップストリーム側ポートは TP3 で測定されたテンプレート 1 のアイ パターンを満たす必要があります 参照文書 :USB 2.0 仕様 セクション7.1.2.2. EL_5 固定ケーブル付属のデバイスの USB 2.0 アップストリーム側ポートは TP2 で測定されたテンプレート 2 のアイ パターンを満たす必要があります 32
参照文書 :USB 2.0 仕様 セクション7.1.2.2. EL_6 USB 2.0 HS ドライバの 10% から 90% への差動立ち上がり時間および立ち下がり時間は 500ps より長くなければなりません 参照文書 :USB 2.0 仕様 セクション7.1.2.2. EL_7 USB 2.0 HS ドライバのデータ遷移は 適切なアイ パターン テンプレートで指定されている縦の開口部に渡って一定でなければなりません 参照文書 :USB 2.0 仕様 セクション7.1.2.2. A.4.5 デバイス パケットパケット パラメータパラメータ (EL_21 EL_22 EL_25) EL_21 送信されるすべてのパケットの SYNC フィールド ( 繰り返しパケットではない ) が 32 ビット SYNC フィールドで始まっていなければなりません 参照文書 :USB 2.0 仕様 セクション8.2. データ パケット SYNC フィールド 33
EL_22 パケット受信後に送信する時 ホストパケットとデバイスパケットのギャップが 8 ビット時間以上 192 ビット時間未満でなければなりません 参照文書 :USB 2.0 仕様 セクション7.1.18.2. EL_25 送信されたすべてのパケットの EOP (SOF を除く ) がビット スタッフィングなしの 8 ビット NRZ バイトの 01111111 でなければなりません 参照文書 :USB 2.0 仕様 セクション7.1.13.2 A.4.6 デバイス CHIRP タイミング (EL_28 EL_29 EL_31) EL_28 デバイスは サスペンドまたは Full Speed 状態からリセットされてから 2.5μs 以上 3ms 未満でチャープ ハンドシェークを送信しなければなりません 参照文書 :USB 2.0 仕様 セクション7.1.7.5. EL_29 デバイスにより生成されるチャープ ハンドシェークは 持続時間で 1ms 以上 7ms 以下でなければなりません参照文書 :USB 2.0 仕様 セクション7.1.7.5. 34
EL_31 デバイス スピード検出中 デバイスが有効な Chirp K-J-K-J-K-J シーケンスを検出した場合 デバイスは 500μs 以内にその 1.5K プルアップ抵抗を切り離して High Speed ターミネーションを有効にしなくてはなりません 参照文書 :USB 2.0 仕様 セクション7.1.7.5. A.4.7 デバイスサスペンド / リジューム / リセット タイミング (EL_27 EL_28 EL_38 EL_39 EL_40) EL_38 デバイスは バス上で 3ms のアイドル時間があれば その後 125μs 以内に Full Speed ターミネーションに戻らなければなりません 参照文書 :USB 2.0 仕様 セクション7.1.7.6. EL_39 デバイスはサスペンド状態をサポートしていなければなりません 参照文書 :USB 2.0 仕様 セクション7.1.7.6. EL_40 デバイスがサスペンド状態にあり 中断する前に High Speed で動作していた場合 このデバイスはリジューム信号の終わりから 2 ビット時間以内に High Speed 動作に戻らなければなりません 35
注記 : デバイスがリジューム信号の終わりから 2 ビット時間以内に High Speed 動作に戻るのを測定することは不可能です このテストでは リジューム信号に続いて 400mV の振幅の SOF があることで十分です 参照文書 :USB 2.0 仕様 セクション7.1.7.7. EL_27 デバイスは サスペンドされていない High Speed モードからリセットされた場合 3.1ms 以上 6ms 未満でチャープ ハンドシェークを送信しなければなりません このタイミングは リセットが始まる前に送信された最後の SOF の始めから測定されます 参照文書 :USB 2.0 仕様 セクション7.1.7.5. EL_28 デバイスは サスペンドまたは Full Speed 状態からリセットされた場合 2.5μs 以上 3ms 未満でチャープ ハンドシェークを送信しなければなりません 参照文書 :USB 2.0 仕様 セクション7.1.7.5. : A.4.8 デバイス テスト J/K SE0_NAK (EL_8 EL_9) EL_8 D+ または D-のいずれかがハイになった場合 45Ω 抵抗でグランドに終端されているときの出力電圧は 400mV 10% でなければなりません 参照文書 :USB 2.0 仕様 セクション7.1.1.3. テスト J K D+ 電圧 (mv) D- 電圧 (mv) 36
EL_9 D+ または D-のいずれかがドライブされていない場合 45Ω 抵抗でグランドに終端されているときの出力電圧は 0V 10mV でなければなりません 参照文書 :USB 2.0 仕様 セクション7.10.10.3. 電圧 (mv) D+ D- A.4.9 デバイス レシーバ感度 (EL_16 EL_17 EL_18) EL_18 High Speed 対応デバイスの送信エンベロープ ディテクタは HS レシーバによるデータ送信の検出 DLL のロック 12 ビット時間以内での SYNC フィールドの終わりの検出が可能となる程度に十分に速くなければなりません 参照文書 :USB 2.0 仕様 セクション7.1. EL_17 High Speed 対応デバイスは レシーバが 150mV 以上の差動振幅の場合にスケルチを示さない ( すなわち確実にパケットを受信する ) 送信エンベロープ ディテクタを実装していなくてはなりません 注記 :150mV 差動振幅の ±50mV においてスケルチをレシーバが示さなければ許容範囲とみなされます これは レシーバ ピンから遠くにあるオシロスコープ プローブ ポイントを補償するためです 参照文書 :USB 2.0 仕様 セクション7.1. 37
EL_16 High Speed モード対応デバイスは レシーバの入力が 100mV 未満の差動振幅の場合にスケルチを示す ( すなわち決してパケットを受信しない ) 送信エンベロープ ディテクタを実装していなくてはなりません 注記 :100mV 差動振幅の ±50mV においてスケルチをレシーバが示せば許容範囲とみなされます これは レシーバ ピンから遠くにあるオシロスコープ プローブ ポイントを補償するためです 参照文書 :USB 2.0 仕様 セクション7.1. 38
付録 B B.1 81130A DSG 用の設定ファイルの作成手順 このセクションでは 81130A DSG 用の設定ファイル IN_ADD1.ST0 および MIN_ADD1.ST0 の作り方を説明します B.1.1 IN_ADD1.ST0 設定ファイル IN_ADD1.ST0 設定ファイルは 32 ビット sync フィールド パケット パターンを持つ IN TOKEN 用です 1. [SHIFT] キー + [STORE (RECALL)] キーを押して 0 を選択すると 81130A がデフォルト設定にリセットされます 2. [MODE/TRG] ソフトキーを選択し カーソルとノブを使用して次のように設定します CONTINUOUS PATTERN of Pulses Out 1:NRZ Out2:NRZ PRBS Polynom : 2^7 1 Trigger Output at Segm1 Start 3. [TIMING] ソフトキーを選択します カーソルを Per に移動し 回転ノブを使用して Freq に変更します 周波数を 480MHz に設定します 4. [LEVELS] ソフトキーを選択し カーソルとノブを使用して次のように設定します Ch 1 Ch 2 Separate Outputs High +800mV High +800mV Low +0mV Low +0mV 5. [PATTERN] ソフトキーを選択して 次のように設定します Segment Length Loopcnt Update 1 32 1 2 32 3 896 4 0 6. 各セグメントを次のように定義します Segment 1: 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 CH1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 CH2 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 39
11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 CH1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 CH2 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 CH1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 0 CH2 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 1 Segment 2: 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 CH1 0 1 0 0 1 1 1 0 0 1 CH2 1 0 1 1 0 0 0 1 1 0 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 CH1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 0 CH2 1 0 1 0 1 0 1 0 1 1 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 CH1 1 1 1 1 0 0 0 0 0 0 0 0 CH2 0 0 0 0 1 1 1 1 1 1 1 1 Segment 3: すべてを 0 に設定 7. [SHIFT] キーの後に [0] キーで OUTPUT 1 に [SHIFT] キーの後に [+/-] キーで OUTPUT 2 にデータ ジェネレータは出力を開始します 8. メモリカードを 81130A に差し込みます [MEMCARD] ソフトキーを選択します メニューに [MEMCARD] がない場合は [MEMCARD] が表示されるまで [MORE] キーを押します メモリの内容が画面上に表示されます カーソルを [Perform Operation] まで移動し ノブを回して [Store] を選択します 次に [ENTER] キーを押します ノブを回してファイル名を IN_ADD1 として入力し 次に [ENTER] を押してメモリ カードに保存します B.1.2 MIN_ADD1.ST0 設定ファイル MIN_ADD1.ST0 設定ファイルは 12 ビット sync フィールド パケット パターンを持つ IN TOKEN 用です 40
1. [MEMCARD] ソフトキーを選択します メニューに [MEMCARD] がない場合は [MEMCARD] が表示されるまで [MORE] キーを押します メモリの内容が画面上に表示されます カーソルと回転ノブを使用して MIN_ADD1.ST0 設定ファイルを選択します カーソルを [Perform Operation] まで移動し ノブを回して [Recall] を選択します 次に [ENTER] キーを押してロードします 2. [PATTERN] ソフトキーを選択し 1 つ目のセグメントを次のように変更します Segment 1: 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 CH1 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 CH2 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 CH1 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 CH2 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 CH1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 0 CH2 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 1 3. [MEMCARD] ソフトキーを選択します メニューに [MEMCARD] がない場合は [MEMCARD] が表示されるまで [MORE] キーを押します メモリの内容が画面上に表示されます カーソルを [Perform Operation] まで移動し ノブを回して [Store] を選択します 次に [ENTER] キーを押します ノブを回してファイル名を MIN_ADD1 として入力し 次に [ENTER] を押してメモリカードに保存します 41