Agilent 5100 ICP-OES ICP-OES Agilent 5100 (SVDV) ICP-OES ICP-OES (DSC) ICP-OES 1 1 Vista Chip II (DSC) (CCI) RF Agilent ICP Expert DSC Agilent

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1 Agilent 5100 ICP-OES ICP-OES

2 Agilent 5100 ICP-OES ICP-OES Agilent 5100 (SVDV) ICP-OES ICP-OES (DSC) ICP-OES 1 1 Vista Chip II (DSC) (CCI) RF Agilent ICP Expert DSC Agilent (SVDV) : (VDV) : SVDV (RV) : ICP-OES 120 Agilent 5100 ICP-OES 25 % NaCI における 4 時間の安定性 100 リードバック (%) AI As Ba Cd Co Cr Cu Mn Mo Ni Pb Se Sr Zn :00 0:30 1:00 1:30 2:00 2:30 3:00 3:30 4:00 時間 (h:mm) 25 % NaCl % RSD Agilent 5100 ICP-OES 2

3 55 % 50 % 5100 SVDV ICP-OES 1 1 (DSC) 1 1 > 40 L 20 L 5100 SVDV 27 L 5100 VDV ICP-OES 1 ICP-OES (DSC) ICP-OES EN (US EPA ) 3

4 Agilent 5100 ICP-OES CCI RF

5 1 DSC 1 1 VistaChip II CCD ICP-OES 5100 ICP-OES

6 Agilent 5100 ICP-OES Agilent ICP Expert A オフピークバックグラウンド補正 B バックグラウンド補正フィッティング (FBC) C 分析波長 D FBC を使用しない場合のエラー DSC 5100 ICP-OES 波長 FBC FBC A C D B (FBC) 2481 干渉 スペクトルデータ A (FACT) (IEC) 2000 サンプルスペクトル 分析対象成分 B 強度 1500 C Spectroscopy Configuration Manager (SCM) US FDA 21 CFR Part 11 (IQ/OQ) 波長 (nm) FACT Cd nm Fe A. B. C. Cd (FACT ) 6

7 SVS ICP-OES 3 1 SPS 4 ( (MSIS) ppb As Se Hg / (HF) 7

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