INDEX PAGE 1. 静電気放電イミュニティ試験 3 Electrostatic Discharge Immunity Test (IEC ) 2. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 4 Radiated Radio Frequency Electromagnetic F

INDEX PAGE. 静電気放電イミュニティ試験 3 Electrostatic Discharge Immunity Test (IEC ) 2. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 4 Radiated Radio Frequency Electromagnetic Fiel

A27 58 0A /7 INDEX PAGE. 静電気放電イミュニティ試験 3 Electrostatic Discharge Immunity Test (IEC6000 4 2) 2. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 4 Radiated Radio Frequency Electromagnetic Field Immunity Test (IEC6000 4 3) 3. 電気的ファーストトランジェントバーストイミュニティ試験

INDEX PAGE. 静電気放電イミュニティ試験 3 Electrostatic Discharge Immunity Test (IEC ) 2. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 4 Radiated Radio Frequency Electromagnetic Fiel

A262 58 0A /9 INDEX PAGE. 静電気放電イミュニティ試験 3 Electrostatic Discharge Immunity Test (IEC6000 4 2) 2. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 4 Radiated Radio Frequency Electromagnetic Field Immunity Test (IEC6000 4 3) 3. 電気的ファーストトランジェントバーストイミュニティ試験

I N D E X PAGE 1. イミュニティ試験結果サマリ R-1 Summary of Immunity Test Result

IMMUNITY DATA イミュニティデータ TDK-Lambda A258-58-01B I N D E X PAGE 1. イミュニティ試験結果サマリ R-1 Summary of Immunity Test Result ---------------------------------------------------- -----------------------------------------------------------

INDEX PAGE. 静電気放電イミュニティ試験 3 Electrostatic Discharge Immunity Test (IEC ) 2. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 4 Radiated Radio-Frequency Electromagnetic Fiel

RWS 009-58-0 /9 INDEX PAGE. 静電気放電イミュニティ試験 3 Electrostatic Discharge Immunity Test (IEC6000-4-2) 2. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 4 Radiated Radio-Frequency Electromagnetic Field Immunity Test (IEC6000-4-3) 3. 電気的ファーストトランジェントバーストイミュニティ試験

INDEX PAGE 1. 静電気放電イミュニティ試験 3 Electrostatic Discharge Immunity Test (IEC ) 2. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 5 Radiated, Radio Frequency, Electromagnetic

82 58 01 1/16 INDEX PAGE 1. 静電気放電イミュニティ試験 3 Electrostatic Discharge Immunity Test (IEC61000 4 2) 2. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 5 Radiated, Radio Frequency, Electromagnetic Field Immunity Test (IEC61000 4 3) 3.

INDEX PAGE 1. 静電気放電イミュニティ試験 3 Electrostatic Discharge Immunity Test (IEC ) 2. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 5 Radiated, Radio Frequency, Electromagnetic

WC037 58 01 1/16 INDEX PAGE 1. 静電気放電イミュニティ試験 3 Electrostatic Discharge Immunity Test (IEC61000 4 2) 2. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 5 Radiated, Radio Frequency, Electromagnetic Field Immunity Test (IEC61000 4 3)

INDEX PAGE 1. 静電気放電イミュニティ試験 3 Electrostatic Discharge Immunity Test (IEC ) 2. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 5 Radiated, Radio Frequency, Electromagnetic

67 58 01 1/18 INDEX PAGE 1. 静電気放電イミュニティ試験 3 Electrostatic Discharge Immunity Test (IEC61000 4 2) 2. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 5 Radiated, Radio Frequency, Electromagnetic Field Immunity Test (IEC61000 4 3) 3.

INDEX PAGE 1. 静電気放電イミュニティ試験 3 Electrostatic Discharge Immunity Test (IEC ) 2. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 5 Radiated, Radio Frequency, Electromagnetic

68 58 01 1/18 INDEX PAGE 1. 静電気放電イミュニティ試験 3 Electrostatic Discharge Immunity Test (IEC61000 4 2) 2. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 5 Radiated, Radio Frequency, Electromagnetic Field Immunity Test (IEC61000 4 3) 3.

I N D E X PAGE 1. イミュニティ試験結果サマリ R-1 Summary of Immunity Test Result

IMMUNITY DATA イミュニティデータ TDK-Lambda DA006-58-01A I N D E X PAGE 1. イミュニティ試験結果サマリ R-1 Summary of Immunity Test Result ---------------------------------------------------- -----------------------------------------------------------

○MTBF_HFS150A_ xls

-24 Calculated values of MTBF 1. 算出方法 Part count reliability projection MIL-HDBK-217F NOTICE 2 の部品点数信頼度予測法により算出されています Calculated based on part count reliability projection of MIL-HDBK-217F NOTICE 2.

INDEX PE000FA PAGE 1. 静電気放電イミュニティ試験 3 Electrostatic Discharge Immunity Test (IE ) 2. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 5 adiated, adio Frequency, Electromagn

70 58 01A 1/23 INDEX PE000FA PAGE 1. 静電気放電イミュニティ試験 3 Electrostatic Discharge Immunity Test (IE1000 4 2) 2. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 5 adiated, adio Frequency, Electromagnetic Field Immunity Test (IE1000 4 3)

Visio-CA A.vsd

RWS 50B-600B Series CA836-58-01A 1/18 INDEX PAGE 1. 静電気放電イミュニティ試験 3 Electrostatic Discharge Immunity Test (IE1000-4-2) 2. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 5 Radiated Radio-Frequency Electromagnetic Field Immunity Test

PH150A280 TEST DATA IEC61000 SERIES テストデータ IEC61000 シリーズ TDK-Lambda C

PH150A280 TEST DATA IEC61000 SERIES テストデータ IEC61000 シリーズ TDK-Lambda C263-58-01 INDEX PAGE 1. 静電気放電イミュニティ試験 Electrostatic discharge immunity test (IEC61000-4-2) E-1 2. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 E-3 Radiated,

INDEX PH50A280-* PAGE 1. 静電気放電イミュニティ試験 Electrostatic discharge immunity test (IEC ) E-1 2. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 E-3 Radiated, radio-frequency,

PH50A280 TEST DATA IEC61000 SERIES テストデータ IEC61000 シリーズ TDK-Lambda C273-58-01 INDEX PH50A280-* PAGE 1. 静電気放電イミュニティ試験 Electrostatic discharge immunity test (IEC61000-4-2) E-1 2. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 E-3

IEC シリーズ イミュニティ試験規格の概要

IEC 61000-4 e 2018 7 23 1 2 2 2 2.1.............. 2 2.2.................. 2 3 IEC 61000-4-2 ( ) 3 3.1...................... 3 3.2..................... 3 3.2.1 ESD........... 3 3.2.2 ESD.............. 3

LFS 雑音端子電圧 onducted Emission Vin: 100V / 50Hz Limit(QP): VI lass Limit(V): VI lass 150.1k k k V ata List

LFS150-5 雑音端子電圧 onducted Emission Vin: 100V / 50Hz Limit(QP): VI lass Limit(V): VI lass 192.9k 63.9 18.6 260.6k 61.4 15.5 2.59M 56.0 18.0 260.9k 61.4 15.4 E 521.1k 56.0 19.2 F 2.59M 56.0 18.8 V ata List

INDEX PAGE 1. Evaluation Method 1 1. 測定回路 Measurement Circuits 3 (1) 静特性 待機電力特性 通電ドリフト特性 その他特性 Steady state, Standby power, Warm up voltage drift and

C267 53 1A 1/35 INDEX PAGE 1. Evaluation Method 1 1. 測定回路 Measurement Circuits 3 (1) 静特性 待機電力特性 通電ドリフト特性 その他特性 Steady state, Standby power, Warm up voltage drift and Other characteristics (2) 入力サージ電流 (

INDEX PAGE 1. Evaluation Method 1 1. 測定回路 Measurement Circuits 3 (1) 静特性 待機電力特性 通電ドリフト特性 その他特性 Steady state, Standby power, Warm up voltage drift and

C268 53 1 1/35 INDEX PAGE 1. Evaluation Method 1 1. 測定回路 Measurement Circuits 3 (1) 静特性 待機電力特性 通電ドリフト特性 その他特性 Steady state, Standby power, Warm up voltage drift and Other characteristics (2) 入力サージ電流 (

1_30B_Top_INDEX_OK.xls

EALUATION DATA 型式データ CA797-53-1B INDEX ZWS3B 1. 測定方法 Evaluation Method PAGE 1.1 測定回路 Circuit used for determination 測定回路 1 Circuit 1 used for determination... T-1 静特性 Steady state data 過電流保護特性 Over current

INDEX 1. 測定方法 Evaluation Method PAGE 1.1 測定回路 Circuit used for determination 測定回路 1 Circuit 1 used for determination... T-1 静特性 Steady state data 通電ドリ

EALUATION DATA 型式データ TDK-Lambda 005-53-01B INDEX 1. 測定方法 Evaluation Method PAGE 1.1 測定回路 Circuit used for determination 測定回路 1 Circuit 1 used for determination... T-1 静特性 Steady state data 通電ドリフト特性 Warm

INDEX 1. 測定方法 Evaluation Method PAGE 1.1 測定回路 Circuit used for determination 測定回路 1 Circuit 1 used for determination... 4 静特性 Steady state data 通電ドリフト

A265 53 01 1/18 INDEX 1. 測定方法 Evaluation Method PAGE 1.1 測定回路 Circuit used for determination 測定回路 1 Circuit 1 used for determination... 4 静特性 Steady state data 通電ドリフト特性 Warm up voltage drift characteristics

j9c11_avr.fm

AVR Type: AVR-M AVRL Issue date: September 211 RoHS EU Directive 22/95/EC PBB PBDE (1/1) SMD RoHS AVR AVR-M AVRL Varistor 2Zener diode Current(A) Positive direction 1 1 1 2 1 3 1 4 1 5 Zener diode /Vz:6.8V

INDEX RWS50B 1. 測定方法 Evaluation Method PAGE 1.1 測定回路 Circuit used for determination 測定回路 1 Circuit 1 used for determination... T-1 静特性 Steady state da

EVALUATION DATA 型式データ TDK-Lambda CA806-53-01C INDEX RWS50B 1. 測定方法 Evaluation Method PAGE 1.1 測定回路 Circuit used for determination 測定回路 1 Circuit 1 used for determination... T-1 静特性 Steady state data 通電ドリフト特性

TDK-Lambda INDEX 1. 評価方法 Evaluation Method PAGE 1.1 測定回路 Measurement Circuits... T-1 (1) 静特性 過電流保護特性 出力リップル ノイズ波形 Steady state characteristics, Over c

EVALUATION DATA 型式データ TDK-Lambda C271-53-1 TDK-Lambda INDEX 1. 評価方法 Evaluation Method PAGE 1.1 測定回路 Measurement Circuits... T-1 (1) 静特性 過電流保護特性 出力リップル ノイズ波形 Steady state characteristics, Over current protection

ISO 11452シリーズの概要 前編: ECE R10.05 に関係する規格

ISO 11452 : ECE R10.05 e 2016 8 26 1 1 2 ECE Regulation No. 10 1 3 ISO 11452 2 4 3 4.1 (ISO 11452-1:2005)......... 3 4.1.1.................. 3 4.1.2........... 3 4.1.3.......... 4 4.1.4................

HA17458シリーズ　データシート

お客様各位 カタログ等資料中の旧社名の扱いについて 1 年 月 1 日を以って NEC エレクトロニクス株式会社及び株式会社ルネサステクノロジが合併し 両社の全ての事業が当社に承継されております 従いまして 本資料中には旧社名での表記が残っておりますが 当社の資料として有効ですので ご理解の程宜しくお願い申し上げます ルネサスエレクトロニクスホームページ (http://www.renesas.com)

Visio-A A.vsd

A274-53-01A 1/28 INDEX PAGE 1. Evaluation Method 1-1. 測定回路 Circuit used for determination 測定回路 1 Circuit 1 used for determination 4 静特性 Steady state data 通電ドリフト特性 Warm up voltage drift characteristics

OPA134/2134/4134('98.03)

OPA OPA OPA OPA OPA OPA OPA OPA OPA TM µ Ω ± ± ± ± + OPA OPA OPA Offset Trim Offset Trim Out A V+ Out A Out D In +In V+ Output In A +In A A B Out B In B In A +In A A D In D +In D V NC V +In B V+ V +In

PA M01 LITEON SPEC Rev A

規格書 Electrical Specification Model No: PA-1360-5M01 Description: 12V 36W single output AC adapter Revision: A Issued Date: May 21, 2013 Customer Part No.: 90, Chien I Rd, Chung Ho city, Taipei Hsien 235,

電力線重畳型機器認証技術

1 電力線重畳型認証技術 RFID over Power Line System ソニー株式会社コーポレート R&D 新規事業創出部門ホームエネルギーネットワーク事業開発部 和城賢典 2012 年 4 月 17 日 2 内容 イントロダクション 基本構造 測定結果 EV 充電スタンドへの取り組み 3 内容 イントロダクション 基本構造 測定結果 EV 充電スタンドへの取り組み 4 RFID の原理

Specification for Manual Pulse Generator, GFK-2262

Specification change in Manual Pulse Generator () A) Abstract This document explains about the specification change in Manual Pulse Generator (). The production of the former specifications written in

LMC6022 Low Power CMOS Dual Operational Amplifier (jp)

Low Power CMOS Dual Operational Amplifier Literature Number: JAJS754 CMOS CMOS (100k 5k ) 0.5mW CMOS CMOS LMC6024 100k 5k 120dB 2.5 V/ 40fA Low Power CMOS Dual Operational Amplifier 19910530 33020 23900

5 11 3 1....1 2. 5...4 (1)...5...6...7...17...22 (2)...70...71...72...77...82 (3)...85...86...87...92...97 (4)...101...102...103...112...117 (5)...121...122...123...125...128 1. 10 Web Web WG 5 4 5 ²

(2/17) 5 4 C 2 7%RH 6

V o l t a g e P r o t e c t i o n D e v i c e s October 217 AVR AVRM, AVR-M AVRM168/AVR-M168 JIS 168 [EIA 63] AVRM212/AVR-M212 JIS 212 [EIA 85] AVRL AVRL JIS 5 [EIA 42] AVRL16 JIS 168 [EIA 63] AVRH AVRH

INDEX PAGE 1. Evaluation Method 1 1. 測定回路 Circuit used for determination 測定回路 1 Circuit 1 used for determination 4 静特性 Steady state data 通電ドリフト特性 Warm

A273 53 1C 1/4 INDEX PAGE 1. Evaluation Method 1 1. 測定回路 Circuit used for determination 測定回路 1 Circuit 1 used for determination 4 静特性 Steady state data 通電ドリフト特性 Warm up voltage drift characteristics 出力保持時間特性

IEC :2014 (ed. 4) の概要 (ed. 2)

IEC 60601-1-2:2014 (ed. 4) (ed. 2) e 2018 4 2 1 1 2 / 1 2.1............... 2 2.2............... 3 2.3.................. 4 3 6 4 6 4.1.................. 6 4.1.1............... 7 4.1.2....... 7 4.1.3............

0_表紙_A.xls

EVALUATION DATA 型式データ TDK-Lambda C275-53-1A INDEX 1. 測定方法 Evaluation Method PAGE 1.1 測定回路 Measurement Circuits (1) 静特性 Steady state characteristics... T-1 (2) 過渡応答 保護機能 出力リップル ノイズ波形 その他 Dynamic, Protection,Output

圧電型加速度センサ Piezoelectric Acceleration sensor 特長 Features 圧電素子に圧電型セラミックを用いた加速度センサは 小型堅牢 高感度で広帯域を特長としております 従って 低い周波数の振動加速度から衝突の様な高い加速度の測定まで 各分野で 幅広く使用されて

圧電型加速度センサ 小型タイプ φ3.5 5.85 2.5(H)mm 加速度 MAX100,000m/s 2 高温タイプ MAX250 小型 3 軸タイプ 8 7 5.5(H)mm Super miniature type φ3.5 5.85 2.5(H)mm 100,000m/s 2 High temperature resistance type MAX250 and Triaxial type

はじめに 本資料は NTTグループで使用する高電圧直流で動作するICT 装置等に関わる給電インタフェースや機能について 必要な要求条件を述べたものです 本文中に記載する条件等は 情報通信システムに対する給電システム全体の信頼性 安全性を確保する上で必要とされるものです なお 本資料に記載する内容は

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LMC6082 Precision CMOS Dual Operational Amplifier (jp)

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INDEX KWS25A PAGE 1. Evaluation Method 1 1. 測定回路 Circuit used for determination 測定回路 1 Circuit 1 used for determination 4 静特性 Steady state data 通電ドリフト

FC005 53 01A 1/36 INDEX KWS25A PAGE 1. Evaluation Method 1 1. 測定回路 Circuit used for determination 測定回路 1 Circuit 1 used for determination 4 静特性 Steady state data 通電ドリフト特性 Warm up voltage drift characteristics

MainOfManuscript.dvi

18 2 28 0244086 IC IC IC (MDA) 20% 60% i 1 1 2 4 2.1................. 4 2.2 UHF............. 9 2.2.1 315MH.......................... 10 2.2.2 433MH.......................... 13 2.2.3.......................

LT 低コスト、シャットダウン機能付き デュアルおよびトリプル300MHz 電流帰還アンプ

µ µ LT1398/LT1399 V IN A R G 00Ω CHANNEL A SELECT EN A R F 3Ω B C 97.6Ω CABLE V IN B R G 00Ω EN B R F 3Ω 97.6Ω V OUT OUTPUT (00mV/DIV) EN C V IN C 97.6Ω R G 00Ω R F 3Ω 1399 TA01 R F = R G = 30Ω f = 30MHz

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() 増幅回路の周波数特性 Frequency characteristic of amplifier circuit (2) 増幅回路の周波数特性 Frequency characteristic of amplifier circuit MOS トランジスタの高周波モデル High-frequency model for MOS FET ゲート酸化膜は薄いので G-S, G-D 間に静電容量が生じる

Helvetica bold 30 pts two lines

ULオンラインセミナー車載機器向けEMC(Jaguar Land Rover 新規格 ) および電気試験 (LV124) サービス 2015 年 7 月 30 日 UL and the UL logo are trademarks of UL LLC 2014 本日の講師及び司会 : < 講師 > 大水豊 ( オオミズユタカ ) コンシューマーテクノロジー事業部鹿島 EMC 試験所 UL Japan,

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< kazuro.furukawa @ kek.jp > 1 2 Remote controlled automatic pattern arbitrator" Manual pattern generator" Recent typical operation. ~37Hz for KEKB LER (3.5GeV e+) ~12.5Hz for KEKB HER (8GeV e ) ~0.5Hz

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MANUAL SUPPLEMENT 3-2 3-2 Agilent 1 3-2 P/N 16000-99023 Print Date: October 2001 PRINTED IN JAPAN Copyright Agilent Technologies Japan, Ltd. 2001 1-3-2, Murotani, Nishi-ku, Kobe-shi, Hyogo, 651-2241 JAPAN

Unidirectional Measurement Current-Shunt Monitor with Dual Comparators (Rev. B

www.tij.co.jp INA206 INA207 INA208 INA206-INA208 INA206-INA208 V S 1 14 V IN+ V S 1 10 V IN+ OUT CMP1 IN /0.6V REF 2 3 1.2V REF 13 12 V IN 1.2V REF OUT OUT CMP1 IN+ 2 3 9 8 V IN CMP1 OUT CMP1 IN+ 4 11

OPA277/2277/4277 (2000.1)

R OPA OPA OPA OPA OPA OPA OPA OPA OPA µ µ ± ± µ OPA ±± ±± ± µ Offset Trim Offset Trim In OPA +In -Pin DIP, SO- Output NC OPA Out A In A +In A A D Out D In D +In D Out A In A +In A A B Out B In B +In B

スライド 1

プリント回路基板の EMC 設計 京都大学大学院工学研究科 松嶋徹 EMC( 電磁的両立性 ): 環境電磁工学 EMC とは? 許容できないような電磁妨害波を, 如何なるものに対しても与えず, かつ, その電磁環境において満足に機能するための, 機器 装置またはシステムの能力 高 Immunity イミュニティ ( 耐性 ) 低 EMI 電磁妨害 EMS 電磁感受性 低 電磁妨害波によって引き起こされる機器

LM7171 高速、高出力電流、電圧帰還型オペアンプ

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端子正定電圧電源 概要 は Io=mA の 端子正定電圧電源です 既存の NJM78L と比較し 出力電圧精度の向上 動作温度範囲の拡大 セラミックコンデンサ対応および.V の出力電圧もラインアップしました 外形図 特長 出力電流 ma max. 出力電圧精度 V O ±.% 高リップルリジェクション セラミックコンデンサ対応 過電流保護機能内蔵 サーマルシャットダウン回路内蔵 電圧ランク V,.V,

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0_表紙_A.xls

EVALUATION DATA 型式データ TDK-Lambda C265-53-1A INDEX 1. 測定方法 Evaluation Method PAGE 1.1 測定回路 Measurement Circuits (1) 静特性 Steady state characteristics... T-1 (2) 過渡応答 保護機能 出力リップル ノイズ波形 その他 Dynamic, protection,output

Microsoft Word - p3-p7_研究報告_本文-1-ヘッダー付き

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2017年4 更新版 岩手県工業技術センターでは EMC 電磁両立性 試験の 各種規格に対応した試験設備をご利用いただけます 電気 電子製品の開発 品質保証にぜひお役立てください 申込方法 担当者にお電話またはE-Mailにてご相談ください 試験内容等を確認後に 申込書をお送りいただきます 予約状況の確認方法 電波暗室の予約状況は下記URLよりご確認頂けます http://www.pref.iwate.jp/~kiri/ranking/2005-h00004.html

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ISO 7637-2 & ISO 7637-3 e 217 3 13 1 1 2 ISO 7637-2 2 2.1.................... 2 2.1.1 LISN (AN).............. 2 2.1.2 S............... 3 2.1.3.. 3 2.2 ECE Regulation No. 1.5.......... 3 3 ISO 7637-2 4

Options(Unit : mm) Finger guards Model :19-139E :19-139H 53 Surface treatment :Nickel-chrome plating (silver) :Cation electropainting (black) Inlet si

AC Fan 6mm sq. San Ace 6 28mm thick, 38mm thick General Specifications Material Frame: Aluminum, Impeller:Plastics (Flammability: UL94V-1) Life Expectancy Varies for each model (L1: Survival rate: 9% at

AnechoWeb_JA_01

EMCRF EMC Contents Update : AUGUST 24 / 5 2 / 5 emcrf_ ja /254 Deviation (db) Deviation (db) Center Front 2m Back 2m Right 2m Left 2m Center Front 2m Back 2m Right 2m Left 2m Tx =m Tx =m 2 2 - - 2-2 Tx

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1 2 4 5 Table 16. Static characteristics (LPC1100, LPC1100L series) continued T amb = 40 C to +85 C, unless otherwise specified. Symbol Parameter Conditions Min Typ [1] Max Unit Standard port pins, RESET

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AN15880A

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