I N D E X PAGE 1. イミュニティ試験結果サマリ R-1 Summary of Immunity Test Result
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- こうき こやぎ
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1 IMMUNITY DATA イミュニティデータ TDK-Lambda DA A
2 I N D E X PAGE 1. イミュニティ試験結果サマリ R-1 Summary of Immunity Test Result 静電気放電イミュニティ試験 R-2 Electrostatic Discharge Immunity Test (IEC ) 3. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 R-3 Radiated Radio-Frequency Electromagnetic Field Immunity Test (IEC ) 4. 電気的ファーストトランジェントバーストイミュニティ試験 R-4 Electrical Fast Transient / Burst Immunity Test (IEC ) 5. サージイミュニティ試験 R-5 Surge Immunity Test (IEC ) 6. 伝導性無線周波数電磁界イミュニティ試験 R-6 Conducted Disturbances Induced by Radio-Frequency Field Immunity Test (IEC ) 7. 電力周波数磁界イミュニティ試験 R-7 Power Frequency Magnetic Field Immunity Test (IEC ) 8. 電圧ディップ 瞬停イミュニティ試験 R-8 Voltage Dips, Short Interruptions Immunity Test (IEC ) /ME 静電気放電イミュニティ試験 R-9 Electrostatic Discharge Immunity Test (IEC Ed.4) 10. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 R-10 Radiated Radio-Frequency Electromagnetic Field Immunity Test (IEC Ed.4) 11. 電気的ファーストトランジェントバーストイミュニティ試験 R-11 Electrical Fast Transient / Burst Immunity Test (IEC Ed.4) 12. 電圧ディップ 瞬停イミュニティ試験 R-12 Voltage Dips, Short Interruptions Immunity Test (IEC Ed.4) 使用記号 Terminology used フレームグラウンド Frame GND L ライブライン Live line N ニュートラルライン Neutral line 接地 Earth +V + 出力 + Output -V - 出力 - Output 当社標準測定条件における結果であり 参考値としてお考え願います Test results are reference data based on our standard measurement condition. TDK-Lambda
3 1. イミュニティ試験結果サマリ Summary of Immunity Test Result MODEL : ( カタログオプション含む *1) (Include option models *1) 項目 Item 静電気放電イミュニテイ試験 Electrostatic Discharge Immunity Test 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 Radiated Radio-Frequency Electromagnetic Field Immunity Test 電気的ファーストトランシ ェントハ ーストイミュニティ試験 Electrical Fast Transient / Burst Immunity Test 規格 Standard 試験レベル Test level 判定基準 Criteria 結果 Result Page IEC ,2,3 A R-2 IEC ,2,3 A R-3 IEC ,2,3 A R-4 備考 条件 Notes & Conditions サーシ イミュニティ試験 Surge Immunity Test IEC ,2,3,4 A R-5 伝導性無線周波数電磁界イミュニティ試験 Conducted Disturbances Induced by Radio-Frequency Field Immunity Test 電力周波数磁界イミュニティ試験 Power Frequency Magnetic Field Immunity Test IEC ,2,3 A R-6 IEC ,2,3,4 A R-7 電圧テ ィッフ 瞬停イミュニティ試験 Voltage Dips, Short Interruptions Immunity Test Dip:30% 10ms A IEC Dip:60% 100ms B R-8 Dip:100% 5000ms B 試験条件の詳細は 各テストページを参照してください Detail of test condition refer to each test page. MODEL : /ME 項目 Item 規格 Standard 試験レベル Test level 判定基準 Criteria 結果 Result Page 備考 条件 Notes & Conditions 静電気放電イミュニテイ試験 Electrostatic Discharge Immunity Test 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 Radiated Radio-Frequency Electromagnetic Field Immunity Test 電気的ファーストトランシ ェントハ ーストイミュニティ試験 Electrical Fast Transient / Burst Immunity Test 電圧テ ィッフ 瞬停イミュニティ試験 Voltage Dips, Short Interruptions Immunity Test IEC Ed.4 IEC Ed.4 IEC Ed.4 IEC Ed.4 Dip:30% 500ms A Dip:100% 10ms A Dip:100% 20ms A Dip:100% 5000ms B 試験条件の詳細は 各テストページを参照してください Detail of test condition refer to each test page. 1,2,3,4 A R-9 1,2,3 A R-10 1,2,3 A R-11 R-12 判定基準 A Criteria A 判定基準 B Criteria B 1. 入力再投入を必要とする一時的な機能低下のない事 Must not have temporary function degradation that requires input restart. *1 カタログオプション Option models /HD, /PV TDK-Lambda R-1
4 2. 静電気放電イミュニティ試験 Electrostatic Discharge Immunity Test (IEC ) MODEL : 静電気試験器 :ESS-630A ( ノイズ研究所 ) Electro Static Discharge Simulator (Noise Laboratory CO.,LTD.) 放電ガン :TC-815C ( ノイズ研究所 ) Discharge Gun (Noise Laboratory CO.,LTD.) 放電抵抗 : 330Ω エネルギー蓄積コンデンサ : 150pF Discharge resistance Energy-Storage Capacitor 入力電圧 :100, 230VAC 出力電圧 : 定格 出力電流 :100% 極性 : 正, 負 Output Current Polarity Positive, Negative 試験回数 :10 回 放電間隔 :>1 秒 Number of Tests 10 times Discharge Interval >1 second 周囲温度 :25 Ambient Temperature (3) 試験方法及び印加箇所 Test Method and Device Test Point 接触放電 :, ケース止めネジ部 Contact Discharge, Case Screw 気中放電 : 入出力端子,, ケース止めネジ部 Air Discharge Input and Output Terminal,, Case Screw 放電ガン Discharge Gun アナログ電圧計 Analog Voltmeter 供試体 D.U.T v 負荷 LOAD アルミフ レート Aluminum Plate 静電気試験器 Electro Static DischargeSimulator OUTPUT GND AC INPUT 木製台 Wood Made Table 0.8m 基準接地板 Ground Reference Plane Contact Discharge Air Discharge -24 (kv) (kv) TDK-Lambda R-2
5 3. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 Radiated Radio-Frequency Electromagnetic Field Immunity Test (IEC ) MODEL : TS5010 型放射イミュニティ測定システム ( 東陽テクニカ ) TS5010 RADIATION IMMUNITY MEASUREMENT SYSTEM (TOYO CORPORATION) バイログアンテナ : CBL6111(CHASE) BILOG ANTENNA 入力電圧 : 100,230VAC 出力電圧 : 定格 出力電流 : 100% 振幅変調 : 80%, 1kHz Output Current Amplitude Modulated 電磁界周波数 : 80~1000MHz 周囲温度 : 25 Electromagnetic Frequency Ambient Temperature 距離 : 3.0m 偏波 : 水平 垂直 Distance Wave Angle Horizontal and Vertical スイープ コンディション : 1.0% ステップ, 2.8 秒保持 Sweep Condition 1.0%Step Up, 2.8 Seconds Hold 試験方向 : 上下 左右 前後 Test Angle Top/Bottom, Both Sides, Front/Back (3) 試験方法 Test Method アナログ電圧計 Analog Voltmeter 供試体 D.U.T V 負荷 LOAD アルミプレート Aluminum Plate アンテナ Antena AC INPUT 木製台 Wood Made Table 0.8m グランドプレーン GND Plane 無反響体 Anechoic material to reduce floor reflections Radiation Field Strength (V/m) TDK-Lambda R-3
6 4. 電気的ファーストトランジェント / バースト イミュニティ試験 Electrical Fast Transient / Burst Immunity Test (IEC ) MODEL : EFT/B 発生器 : NSG2025( シャフナー ) EFT/B Generator (SCHAFFNER) 入力電圧 : 100, 230VAC 出力電圧 : 定格 出力電流 : 100% 試験時間 : 1 分間 Output Current Test Time 1minute 極性 : 正, 負 周囲温度 : 25 Polarity Positive, Negative Ambient Temperature 試験回数 : 3 回 Number of Tests 3 times (3) 試験方法及び印加箇所 Test Method and Device Test Point (N,L,),(N,L),(N),(L),() に印加 Apply to (N,L,),(N,L),(N),(L),(). アナログ電圧計 Analog Voltmeter v 供試体 D.U.T 負荷 LOAD アルミフ レート Aluminum Plate AC INPUT EFT/B 発生器 EFT/B GENERATOR 木製台 Wood Made Table 0.8m ク ラント フ レーン GND Plane Test Voltage (kv) Repetition Rate (khz) TDK-Lambda R-4
7 5. サージイミュニティ試験 Surge Immunity Test (IEC ) MODEL : サーシ 発生器 : LSS-15AX ( ノイズ研究所 ) Surge Generator (Noise Laboratory) 結合インヒ ータ ンス : コモン 10Ω 結合コンテ ンサ : コモン 9μF Coupling Impedance Common Coupling Capacitance Common ノーマル 2Ω ノーマル 18μF Normal Normal 入力電圧 : 100, 230VAC 出力電圧 : 定格 出力電流 : 100% 試験回数 : 5 回 Output Current Number of Tests 5 times 極性 : 正, 負 モート : コモン ノーマル Polarity Positive, Negative Mode Common, Normal 位相 : 0, 90 周囲温度 : 25 Phase Ambient Temperature (3) 試験方法及び印加箇所 Test Method and Device Test Point コモンモート (N-,L-) 及びノーマルモート (N-L) に印加 Apply to Common mode(n-,l-)and Normal mode(n-l) アナログ電圧計 Analog Voltmeter サーシ 発生器 SURGE GENERATOR 供試体 D.U.T v 負荷 LOAD アルミフ レート Aluminum Plate AC INPUT 木製台 Wood Made Table 0.8m ク ラント フ レーン Test Voltage (kv) Common Test Voltage (kv) Normal TDK-Lambda R-5
8 6. 伝導性無線周波数電磁界イミュニティ試験 Conducted Disturbances Induced by Radio-Frequency Field Immunity Test (IEC ) MODEL : RF ジェネレーター : SMY01 (ROHDE&SCHWARZ) RF GENERATOR RF アンプ : AK (KALMUS) RF AMP 結合 / 減結合ネットワーク : TCDN-801-M3-16 ( 東洋 ) COUPLING DE-COUPLING NETWORK(CDN) (TOYO) 入力電圧 : 230VAC 出力電圧 : 定格 出力電流 : 100% 電磁界周波数 : 150kHz~80MHz Output Current Electromagnetic Frequency スイーフ コンテ ィション : 1.0% ステッフ, 2.8 秒保持 Sweep Condition 1.0%Step Up, 2.8 Seconds Hold 周囲温度 : 25 Ambient Temperature (3) 試験方法 Test Method アナログ電圧計 Analog Voltmeter RF INPUT 供試体 D.U.T V 負荷 LOAD アルミプレート Aluminum Plate AC INPUT CDN 0.1m 木製台 Wood Made Table グランドプレーン GND Plane Voltage Level (V) TDK-Lambda R-6
9 7. 電力周波数磁界イミュニティ試験 Power Frequency Magnetic Field Immunity Test (IEC ) MODEL : 磁界発生器 Magnetic field generator : ESA-100CCSP (Tokyo-Rikosha) 入力電圧 : 100, 230VAC 出力電圧 : 定格 出力電流 : 100% 印加磁界周波数 : 50Hz Output Current Magnetic Frequency 試験時間 : 10 秒以上 ( 各方向 ) 印加方向 : X,Y,Z Test Time More than 10 sec (Each direction) Direction 周囲温度 : 25 Ambient Temperature (3) 試験方法及び印加箇所 Test Method and Device Test Point ワンターンコイル ( 三軸型 ) One Turn Coil (Three Axes Type) アナログ電圧計 Analog Voltmeter v 負荷 供試体 D.U.T AC INPUT 木製台 Wood Made Table 0.8m 磁界発生器 Magnetic Field Generator Magnetic Field Strength (A/m) TDK-Lambda R-7
10 8. 電圧ディップ 瞬停イミュニティ試験 Voltage Dips, Short Interruptions Immunity Test (IEC ) MODEL : 試験発生器 : AS-517( エヌエフ ) Test Generator (NF) 入力電圧 : 100, 230VAC 出力電圧 : 定格 出力電流 : 100% 周囲温度 : 25 Output Current Ambient Temperature 試験回数 : 3 回 試験間隔 : 10 秒以上 Number of Tests 3 times Test interval More than 10sec (3) 試験方法及び印加箇所 Test Method and Device Test Point オシロスコープ Oscilloscope 供試体 D.U.T 負荷 LOAD AC INPUT 試験発生器 Test Generator 木製台 Wood Made Table 0.8m 試験レベル 70% 時 At Test level 70% 試験レベル 40% 0% 時 At Test level 40%,0% 1. 入力再投入を必要とする一時的な機能低下のない事 Must not have temporary function degradation that requires input restart. Test Level 70% 40% 0% Dip rate 30% 60% 100% Continue Time 10ms 100ms 5000ms -24 TDK-Lambda R-8
11 9. 静電気放電イミュニティ試験 Electrostatic Discharge Immunity Test (IEC Ed.4) MODEL : /ME 静電気試験機 :ESS-S3011 ( ノイズ研究所 ) Electro Static Discharge Simulator (Noise Laboratory CO.,LTD) 放電ガン :GT-30R ( ノイズ研究所 ) Discharge Gun (Noise Laboratory CO.,LTD) 放電抵抗 :330Ω 静電容量 :150pF Discharge Resistance Capacity 入力電圧 :100, 230VAC 出力電圧 : 定格 出力電流 :0,100% 極性 :+,- Output Current Polarity 試験回数 :10 回 放電間隔 :>1 秒 Number of Tests 10 times Discharge Interval >1 second 周囲温度 :25 Ambient Temperature (3) 試験方法及び印加箇所 Test Method and Device Test Point 接触放電 : 供試体ネジ部 Contact Discharge, Screw 気中放電 : 入出力端子 (L, N, +V, -V) Air Discharge Input and Output terminal (L, N, +V, -V) Contact Discharge (kv) -24/ME Air Discharge(kV) -24/ME TDK-Lambda R-9
12 10. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 Radiated Radio-Frequency Electromagnetic Field Immunity Test (IEC Ed.4) MODEL : /ME シグナルジェネレータ Signal Generator パワーアンプシステム Power Amplifier System アンテナ Antenna :N5181A (Agilent) :CBA 1G-250 (Teseq) :AS /55 (Milmega) :3106B (ETS Lindgren) :ATH800M 5GA (ar) :ATH4G8 (ar) 入力電圧 :100, 230VAC 出力電圧 : 定格 出力電流 :0, 100% 距離 :3.0m Output Current Distance 偏波 : 水平 垂直 周囲温度 :25 Wave Angle Horizontal and Vertical Ambient Temperature 試験方向 : 上下 左右 前後 Test Angle Top/Bottom, Both Sides, Front/Back 振幅変調(AM) :80%, 1kHz, 1.0% ステップ 0.5 秒保持 パルス変調(PM) :18Hz, 217Hz, Amplitude Modulated 80%, 1kHz, 1.0% step up, 0.5 seconds hold 0.5 秒保持 周波数変調(FM) :5kHz 偏差 1kHz 正弦 0.5 秒保持 Pulse Modulated 18Hz, 217Hz, Frequency Modulated 5kHz deviation, 1kHz sine, 0.5 seconds hold 0.5 seconds hold (3) 試験方法 Test Method Modulation Radiation Field Strength (V/m) Electromagnetic Frequency -24/ME AM 10 80~2700MHz PM MHz (18Hz) ,870,930MHz PM 9 710,745,780,5240,5500,5785MHz (217Hz) ,1845,1970,2450MHz FM MHz TDK-Lambda R-10
13 11. 電気的ファーストトランジェントバーストイミュニティ試験 Electrical Fast Transient / Burst Immunity Test (IEC Ed.4) MODEL : /ME EFT/B 発生器 :FNS-AX3-B50B(Noiseken) EFT/B Generator 入力電圧 :100, 230VAC 出力電圧 : 定格 出力電流 :0, 100% 試験時間 :1 分間 Output Current Test Time 1 minute 極性 :+,- 周囲温度 :25 Polarity Ambient Temperature 試験回数 :3 回 パルス周波数 :100 khz Number of Tests 3 times Pulse Frequency バースト期間 :0.75 msec パルス個数 :75 pcs Burst Time Number of Pulse バースト周期 :300 msec Burst Cycle (3) 試験方法及び印加箇所 Test Method and Device Test Point (N, L, ), (+V, -V),(+S,-S) に印加 Apply to (N, L, ), (+V, -V),(+S,-S). Test Voltage (kv) -24/ME TDK-Lambda R-11
14 12. 電圧ディップ 瞬停イミュニティ試験 Voltage Dips, Short Interruptions Immunity Test (IEC Ed.4) MODEL : /ME 試験発生器 :4420(NF) Test Generator 入力電圧 :100, 230VAC 出力電圧 : 定格 出力電流 :100% 周囲温度 :25 Output Current Ambient Temperature 試験回数 :3 回 試験間隔 :10 秒以上 Number of Tests 3 times Test Interval More than 10 seconds (3) 試験方法 Test Method 判定基準 A Criteria A 判定基準 B Criteria B 1. 入力再投入を必要とする一時的な機能低下のない事 Must not have temporary function degradation that requires input restart. Test Level Dip Rate Continue Time Phase Angles Criteria B -24/ME 70% 30% 500ms 0 deg A (Less than 80% load at 100Vac) 0% 100% 10ms 0,45,90,135,180, 225,270,315 deg A 0% 100% 20ms 0 deg A 0% 100% 5000ms 0 deg B TDK-Lambda R-12
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IMMUNITY DATA イミュニティデータ TDK-Lambda A258-58-01B I N D E X PAGE 1. イミュニティ試験結果サマリ R-1 Summary of Immunity Test Result ---------------------------------------------------- -----------------------------------------------------------
INDEX PAGE 1. 静電気放電イミュニティ試験 3 Electrostatic Discharge Immunity Test (IEC ) 2. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 4 Radiated Radio Frequency Electromagnetic F
A278 58 01 1/9 INDEX PAGE 1. 静電気放電イミュニティ試験 3 Electrostatic Discharge Immunity Test (IEC61000 4 2) 2. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 4 Radiated Radio Frequency Electromagnetic Field Immunity Test (IEC61000 4 3) 3.
INDEX PAGE. 静電気放電イミュニティ試験 3 Electrostatic Discharge Immunity Test (IEC ) 2. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 4 Radiated Radio Frequency Electromagnetic Fiel
A262 58 0A /9 INDEX PAGE. 静電気放電イミュニティ試験 3 Electrostatic Discharge Immunity Test (IEC6000 4 2) 2. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 4 Radiated Radio Frequency Electromagnetic Field Immunity Test (IEC6000 4 3) 3. 電気的ファーストトランジェントバーストイミュニティ試験
INDEX PAGE. 静電気放電イミュニティ試験 3 Electrostatic Discharge Immunity Test (IEC ) 2. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 4 Radiated Radio-Frequency Electromagnetic Fiel
RWS 009-58-0 /9 INDEX PAGE. 静電気放電イミュニティ試験 3 Electrostatic Discharge Immunity Test (IEC6000-4-2) 2. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 4 Radiated Radio-Frequency Electromagnetic Field Immunity Test (IEC6000-4-3) 3. 電気的ファーストトランジェントバーストイミュニティ試験
INDEX PAGE 1. 静電気放電イミュニティ試験 3 Electrostatic Discharge Immunity Test (IEC ) 2. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 5 Radiated, Radio Frequency, Electromagnetic
68 58 01 1/18 INDEX PAGE 1. 静電気放電イミュニティ試験 3 Electrostatic Discharge Immunity Test (IEC61000 4 2) 2. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 5 Radiated, Radio Frequency, Electromagnetic Field Immunity Test (IEC61000 4 3) 3.
○MTBF_HFS150A_ xls
-24 Calculated values of MTBF 1. 算出方法 Part count reliability projection MIL-HDBK-217F NOTICE 2 の部品点数信頼度予測法により算出されています Calculated based on part count reliability projection of MIL-HDBK-217F NOTICE 2.
INDEX PE000FA PAGE 1. 静電気放電イミュニティ試験 3 Electrostatic Discharge Immunity Test (IE ) 2. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 5 adiated, adio Frequency, Electromagn
70 58 01A 1/23 INDEX PE000FA PAGE 1. 静電気放電イミュニティ試験 3 Electrostatic Discharge Immunity Test (IE1000 4 2) 2. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 5 adiated, adio Frequency, Electromagnetic Field Immunity Test (IE1000 4 3)
Visio-CA A.vsd
RWS 50B-600B Series CA836-58-01A 1/18 INDEX PAGE 1. 静電気放電イミュニティ試験 3 Electrostatic Discharge Immunity Test (IE1000-4-2) 2. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 5 Radiated Radio-Frequency Electromagnetic Field Immunity Test
IEC シリーズ イミュニティ試験規格の概要
IEC 61000-4 e 2018 7 23 1 2 2 2 2.1.............. 2 2.2.................. 2 3 IEC 61000-4-2 ( ) 3 3.1...................... 3 3.2..................... 3 3.2.1 ESD........... 3 3.2.2 ESD.............. 3
TDK-Lambda INDEX 1. 評価方法 Evaluation Method PAGE 1.1 測定回路 Measurement Circuits... T-1 (1) 静特性 過電流保護特性 出力リップル ノイズ波形 Steady state characteristics, Over c
EVALUATION DATA 型式データ TDK-Lambda C271-53-1 TDK-Lambda INDEX 1. 評価方法 Evaluation Method PAGE 1.1 測定回路 Measurement Circuits... T-1 (1) 静特性 過電流保護特性 出力リップル ノイズ波形 Steady state characteristics, Over current protection
INDEX RWS50B 1. 測定方法 Evaluation Method PAGE 1.1 測定回路 Circuit used for determination 測定回路 1 Circuit 1 used for determination... T-1 静特性 Steady state da
EVALUATION DATA 型式データ TDK-Lambda CA806-53-01C INDEX RWS50B 1. 測定方法 Evaluation Method PAGE 1.1 測定回路 Circuit used for determination 測定回路 1 Circuit 1 used for determination... T-1 静特性 Steady state data 通電ドリフト特性
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Specification change in Manual Pulse Generator () A) Abstract This document explains about the specification change in Manual Pulse Generator (). The production of the former specifications written in
PA M01 LITEON SPEC Rev A
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HA17458シリーズ データシート
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EVALUATION DATA 型式データ TDK-Lambda C275-53-1A INDEX 1. 測定方法 Evaluation Method PAGE 1.1 測定回路 Measurement Circuits (1) 静特性 Steady state characteristics... T-1 (2) 過渡応答 保護機能 出力リップル ノイズ波形 その他 Dynamic, Protection,Output
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IEC 60601-1-2:2014 (ed. 4) (ed. 2) e 2018 4 2 1 1 2 / 1 2.1............... 2 2.2............... 3 2.3.................. 4 3 6 4 6 4.1.................. 6 4.1.1............... 7 4.1.2....... 7 4.1.3............
5 11 3 1....1 2. 5...4 (1)...5...6...7...17...22 (2)...70...71...72...77...82 (3)...85...86...87...92...97 (4)...101...102...103...112...117 (5)...121...122...123...125...128 1. 10 Web Web WG 5 4 5 ²
OPA277/2277/4277 (2000.1)
R OPA OPA OPA OPA OPA OPA OPA OPA OPA µ µ ± ± µ OPA ±± ±± ± µ Offset Trim Offset Trim In OPA +In -Pin DIP, SO- Output NC OPA Out A In A +In A A D Out D In D +In D Out A In A +In A A B Out B In B +In B
INDEX KWS25A PAGE 1. Evaluation Method 1 1. 測定回路 Circuit used for determination 測定回路 1 Circuit 1 used for determination 4 静特性 Steady state data 通電ドリフト
FC005 53 01A 1/36 INDEX KWS25A PAGE 1. Evaluation Method 1 1. 測定回路 Circuit used for determination 測定回路 1 Circuit 1 used for determination 4 静特性 Steady state data 通電ドリフト特性 Warm up voltage drift characteristics
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PC725NSZXF PC725NSZXF PC725NSZXF PC725 DE file PC725 Date Jun. 3. 25 SHARP Corporation PC725NSZXF 2 6 5 2 3 4 Anode Cathode NC Emitter 3 4 5 Collector 6 Base PC725NSZXF PC725YSZXF.6 ±.2.2 ±.3 SHARP "S"
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IZA 190-HZ IZA 250-LZ ZA 190-HZ ZA 250-LZ FreeSpace Integrated Zone Amplifier/Zone Amplifier * 1. 2. 3. 4. 5. 6. 7. 8. 9. 2 2 10. 11. 12. 13. 14. 15. 16. 17. 40 C This product conforms to all EU Directive
Unidirectional Measurement Current-Shunt Monitor with Dual Comparators (Rev. B
www.tij.co.jp INA206 INA207 INA208 INA206-INA208 INA206-INA208 V S 1 14 V IN+ V S 1 10 V IN+ OUT CMP1 IN /0.6V REF 2 3 1.2V REF 13 12 V IN 1.2V REF OUT OUT CMP1 IN+ 2 3 9 8 V IN CMP1 OUT CMP1 IN+ 4 11
untitled
1.0 1. Display Format 8*2 Character 2. Power Supply 3.3V 3. Overall Module Size 30.0mm(W) x 19.5mm(H) x max 5.5mm(D) 4. Viewing Aera(W*H) 27.0mm(W) x 10.5mm(H) 5. Dot Size (W*H) 0.45mm(W) x 0.50mm(H) 6.
EMC設備案内_2017版
2017年4 更新版 岩手県工業技術センターでは EMC 電磁両立性 試験の 各種規格に対応した試験設備をご利用いただけます 電気 電子製品の開発 品質保証にぜひお役立てください 申込方法 担当者にお電話またはE-Mailにてご相談ください 試験内容等を確認後に 申込書をお送りいただきます 予約状況の確認方法 電波暗室の予約状況は下記URLよりご確認頂けます http://www.pref.iwate.jp/~kiri/ranking/2005-h00004.html
CISPR 32の概要 (ed. 2)
CISPR 32 (ed. 2) e 2017 7 25 1 1 2 2 2.1.................. 2 2.2............... 2 2.2.1.......... 3 3 3 3.1.............. 4 3.2 EUT............. 4 3.2.1 EUT.............. 4 3.2.2.............. 4 3.3...............
PowerPoint プレゼンテーション
() 増幅回路の周波数特性 Frequency characteristic of amplifier circuit (2) 増幅回路の周波数特性 Frequency characteristic of amplifier circuit MOS トランジスタの高周波モデル High-frequency model for MOS FET ゲート酸化膜は薄いので G-S, G-D 間に静電容量が生じる
XFEL/SPring-8
DEVELOPMENT STATUS OF RF SYSTEM OF INJECTOR SECTION FOR XFEL/SPRING-8 Takao Asaka 1,A), Takahiro Inagaki B), Hiroyasu Ego A), Toshiaki Kobayashi A), Kazuaki Togawa B), Shinsuke Suzuki A), Yuji Otake B),
Plastic Package (Note 12) Note 1: ( ) Top View Order Number T or TF See NS Package Number TA11B for Staggered Lead Non-Isolated Package or TF11B for S
Overture 68W ( ) 0.1 (THD N) 20Hz 20kHz 4 68W 8 38W SPiKe (Self Peak Instantaneous Temperature ( Ke)) SOA (Safe Operating Area) SPiKe 2.0 V ( ) 92dB (min) SN 0.03 THD N IMD (SMTPE) 0.004 V CC 28V 4 68W
i 1 40 ii Grid Dip Meter 3 10kc 1000Mc Grid Dip Meter (RF) Q Grid Dip Meter Grid Dip Meter GDM Grid Dip Meter i ii 1. Grid Dip Meter 1 1.1................... 1 1.2............... 2 1.3............... 5
AD8212: 高電圧の電流シャント・モニタ
7 V typ 7 0 V MSOP : 40 V+ V SENSE DC/DC BIAS CIRCUIT CURRENT COMPENSATION I OUT COM BIAS ALPHA 094-00 V PNP 0 7 V typ PNP PNP REV. A REVISION 007 Analog Devices, Inc. All rights reserved. 0-9 -- 0 40
Triple 2:1 High-Speed Video Multiplexer (Rev. C
www.tij.co.jp OPA3875 µ ± +5V µ RGB Channel OPA3875 OPA3875 (Patented) RGB Out SELECT ENABLE RED OUT GREEN OUT BLUE OUT 1 R G B RGB Channel 1 R1 G1 B1 X 1 Off Off Off 5V Channel Select EN OPA875 OPA4872
Airflow - Static Pressure Characteristics DC % 6% % Airflow 風量 PWM PWMDuty デューティ Cycle %
33mm thick (9BM type) 33mm thick (9BMB type) General Specifications Material Frame: Plastics (Flammability: UL94V-), Impeller: Plastics (Flammability: UL94V-) Expected Life Refer to specifications (L:Survival
AN504 Through-hole IRED/Right Angle Type 特長 パッケージ 製品の特長 φ3.6 サイドビュ - タイプ 無色透明樹脂 光出力 : 5mW TYP. (I F =50mA) 鉛フリーはんだ耐熱対応 RoHS 対応 ピーク発光波長指向半値角素子材質ランク選別はん
特長 パッケージ 製品の特長 φ3.6 サイドビュ - タイプ 無色透明樹脂 光出力 : 5mW TYP. (I F =50mA) 鉛フリーはんだ耐熱対応 RoHS 対応 ピーク発光波長指向半値角素子材質ランク選別はんだ付け方法 ESD 出荷形態 950nm 60 deg. GaAs 放射強度選別を行い ランクごとに選別 半田ディップ マニュアルはんだ実装工程に対応 はんだ付けについては はんだ付け条件をご参照ください
絶縁抵抗試験機 ST550 Output transformer High voltage output Switching power supply DUT Discharge circuit Voltage monitor Contact check ADC EXT I/O Current de
佐藤雄亮 * 要旨 は最速試験時間 50 ms, コンタクトチェック機能, 試験電圧任意設定を実現した絶縁抵抗試験器である. 当社従来製品である絶縁抵抗試験器 354 の後継機種として あらゆる絶縁抵抗を素早く測定 を商品コンセプトに開発した. ここに特長と構成について解説する.. はじめに 絶縁抵抗試験は, 被試験物に直流電圧を印加し, 被試験物の絶縁性能を抵抗値で評価する. 被試験物は, コネクタ,
xEffect_SG_MV_Part2_E_xEffect_SG_MV_E
Miniature Circuit Breakers FAZ-NA, FAZ-RT, FAZ-DU SG56912 FAZ-NA/-RT/-DU According to UL 489, CSA C22.2 No. 5 and also IEC 60947-2 standard For Applications, wich are permitted for UL 1077 or CSA C22.2
圧電型加速度センサ Piezoelectric Acceleration sensor 特長 Features 圧電素子に圧電型セラミックを用いた加速度センサは 小型堅牢 高感度で広帯域を特長としております 従って 低い周波数の振動加速度から衝突の様な高い加速度の測定まで 各分野で 幅広く使用されて
圧電型加速度センサ 小型タイプ φ3.5 5.85 2.5(H)mm 加速度 MAX100,000m/s 2 高温タイプ MAX250 小型 3 軸タイプ 8 7 5.5(H)mm Super miniature type φ3.5 5.85 2.5(H)mm 100,000m/s 2 High temperature resistance type MAX250 and Triaxial type
LP3470 Tiny Power On Reset Circuit (jp)
Tiny Power On Reset Circuit Literature Number: JAJS547 IC ( C) CMOS IC 2.63V 2.93V 3.08V 3.65V 4.00V 4.38V 4.63V 6 (V RTH ) 2.4V 5.0V V CC (L ow ) ( ) V CC ( ) IC SOT23-5 1 : 2.63V 2.93V 3.08V 3.65V 4.00V
Keysight MIMO MIMO Cluster n Path n σ n, AoA σ n, AoD Θ n, AoA MS/UE Array Boresight Rx0 Tx0 Θ n, AoD LOS BS Array Boresight Θ n+1, AoA Rx1 Tx1 Path n
Keysight MIMO MIMO Cluster n Path n σ n, AoA σ n, AoD Θ n, AoA MS/UE Array Boresight Rx0 Tx0 Θ n, AoD LOS BS Array Boresight Θ n+1, AoA Rx1 Tx1 Path n+1 Cluster n+1 ... 3 1. MIMO... 3 1.1 MIMO 1.2 MIMO
General Purpose, Low Voltage, Rail-to-Rail Output Operational Amplifiers 324 V LM LMV321( )/LMV358( )/LMV324( ) General Purpose, Low Voltage, Rail-to-
General Purpose, Low Voltage, Rail-to-Rail Output Operational Amplifiers 324 V LM LMV321( )/LMV358( )/LMV324( ) General Purpose, Low Voltage, Rail-to-Rail Output Operational Amplifiers 358 LMV358/324 LM358/324
AN15880A
DATA SHEET 品種名 パッケージコード QFH064-P-1414H 発行年月 : 2008 年 12 月 1 目次 概要.. 3 特長.. 3 用途.. 3 外形.. 3 構造...... 3 応用回路例.. 4 ブロック図.... 5 端子.. 6 絶対最大定格.. 8 動作電源電圧範囲.. 8 電気的特性. 9 電気的特性 ( 設計参考値 )... 10 技術資料.. 11 入出力部の回路図および端子機能の
I N D E X PAGE 1.MTBF 計算値 Calculated Values of MTBF R-1~2 2. 部品ディレーティング Components Derating R-3~5 3. 主要部品温度上昇値 Main Components Temperature Rise T List
RELIABILITY DATA 信頼性データ TDK-Lambda A255-57-1B I N D E X PAGE 1.MTBF 計算値 Calculated Values of MTBF R-1~2 2. 部品ディレーティング Components Derating R-3~5 3. 主要部品温度上昇値 Main Components Temperature Rise T List R-6~7.
INDEX RWS15B PAGE 1.MTBF 計算値 Calculated Values of MTBF R-1~2 2. 部品ディレーティング Component Derating R-3~5 3. 主要部品温度上昇値 Main Components Temperature Rise T Li
RWS15B RELIABILITY DATA 信頼性データ TDK-Lambda A26-57-1B INDEX RWS15B PAGE 1.MTBF 計算値 Calculated Values of MTBF R-1~2 2. 部品ディレーティング Component Derating R-3~5 3. 主要部品温度上昇値 Main Components Temperature Rise T List
Keysight Technologies スイッチング電源の測定
Keysight Technologies Application Note Keysight InfiniiVision 3000T/4000 X Keysight 3000T 4000 X Switching Mode Power Supply SMPS (DUT) SMPS Keysight InfiniiVision 3000T 4000 X DSOX3PWR DSOX4PWR Power
NJM2835 低飽和型レギュレータ 概要 NJM2835 はバイポーラプロセスを使用し 高耐圧 ローノイズ 高リップル除去比を実現した出力電流 500mAの低飽和型レギュレータです TO パッケージに搭載し 小型 2.2 Fセラミックコンデンサ対応 ノイズバイパスコンデンサ内蔵をしてい
低飽和型レギュレータ 概要 はバイポーラプロセスを使用し 高耐圧 ローノイズ 高リップル除去比を実現した出力電流 maの低飽和型レギュレータです TO-22- パッケージに搭載し 小型 2.2 Fセラミックコンデンサ対応 ノイズバイパスコンデンサ内蔵をしています また 出力電圧範囲は 2.1V~.V まで幅広くラインアップしており 各種民生機器等さまざまな用途に ご使用いただけます 特長 出力電圧範囲
LM150/LM350A/LM350 3A 可変型レギュレータ
LM150,LM350,LM350A LM150/LM350A/LM350 3-Amp Adjustable Regulators Literature Number: JAJSBC0 LM350A/LM350 3A LM350 1.2V 33V 3A 3 IC 2 & IC ADJ 6 ADJ LM350 100V ADJ LM350 ADJ 1.2V 3A LM350A 3A LM350 3A
Agilent 4339B High Resistance Meter Operation Manual
MANUAL SUPPLEMENT 3-2 3-2 Agilent 1 3-2 P/N 16000-99023 Print Date: October 2001 PRINTED IN JAPAN Copyright Agilent Technologies Japan, Ltd. 2001 1-3-2, Murotani, Nishi-ku, Kobe-shi, Hyogo, 651-2241 JAPAN
CISPR 35の概要
CISPR 35 e 2018 3 28 1 1 2 2 2.1 IEC 61000-4-2 ( )......... 2 2.2 IEC 61000-4-3, -4-20, -4-21, -4-6 ( RF )....................... 2 2.3 IEC 61000-4-5 ()............ 2 2.4............. 4 3 4 3.1 EUT............
回路シミュレーションに必要な電子部品の SPICE モデル 回路シミュレータでシミュレーションを行うためには 使用する部品に対応した SPICE モデル が必要です SPICE モデルは 回路のシミュレーションを行うために必要な電子部品の振る舞い が記述されており いわば 回路シミュレーション用の部
当社 SPICE モデルを用いたいたシミュレーションシミュレーション例 この資料は 当社 日本ケミコン ( 株 ) がご提供する SPICE モデルのシミュレーション例をご紹介しています この資料は OrCAD Capture 6.( 日本語化 ) に基づいて作成しています 当社 SPICE モデルの取り扱いに関するご注意 当社 SPICE モデルは OrCAD Capture/PSpice 及び
INDEX 1. MTBF 計算値 Calculated Values of MTBF 3~4 PAGE 2. 部品ディレーティング Component Derating 5~7 3. 主要部品温度上昇値 Main Components Temperature Rise T List 8 4. 電解
FC004 57 01B 1/13 INDEX 1. MTBF 計算値 Calculated Values of MTBF 3~4 PAGE 2. 部品ディレーティング Component Derating 5~7 3. 主要部品温度上昇値 Main Components Temperature Rise T List 8 4. 電解コンデンサ推定寿命計算値 Electrolytic Capacitor