C266 57 1A 1/23
INDEX 1. MTBF 計算値 Calculated Values of MTBF 3 PAGE 2. 部品ディレーティング Components Derating 5 3. 主要部品温度上昇値 Main Components Temperature Rise ΔT List 7 4. 出力ディレーティング Output Derating 9 5. アブノーマル試験 Abnormal 12 6. 振動試験 Vibration 15 7. ノイズシミュレート試験 Noise Simulate 17 8. はんだ耐熱性試験 Resistance to Soldering Heat 19 9. 熱衝撃試験 Thermal Shock 2 1. 高温加湿通電試験 High Temperature and High Humidity Bias 22 * 試験結果は 代表データでありますが 全ての製品はほぼ同等な特性を示します 従いまして 以下の結果は参考値とお考え願います results are typical data. Nevertheless the following results are considered to be reference data because all units have nearly the same characteristics. 2/23
1. MTBF Calculated Values of MTBF MODEL : CCG3 24 5S, CCG3 24 12S (1) Calculating Method Telcordiaの部品ストレス解析法 (*1) で算出されています 故障率 λssは それぞれの部品ごとに電気ストレスと動作温度によって決定されます Calculated based on parts stress reliability projection of Telcordia(*1). Individual failure rate λss is calculated by the electric stress and temperature rise of the each device. *1: Telcordia document Reliability Prediction Procedure for Electronic Equipment (Document number SR 332,Issue3) 1 1 9 < 算出式 > MTBF = = 1 m 時間 (hours) λ equip p N l l = l p p p ssi Gi Qi Si E å i = 1 Ti i ssi l epuip : 全機器故障率 (FITs) Total Equipment failure rate (FITs = Failures in 9 1 hours) l Gi : i 番目の部品に対する基礎故障率 Generic failure rate for the ith device p Qi : i 番目の部品に対する品質ファクタ Quality factor for the ith device p Si : i 番目の部品に対するストレスファクタ Stress factor for the ith device p Ti : i 番目の部品に対する温度ファクタ Temperature factor for the ith device m : 異なる部品の数 Number of different device types Ni : i 番目の部品の個数 Quantity of ith device type p E : 機器の環境ファクタ Equipment environmental factor 3/23
(2) MTBF MTBF Values 条件 Conditions 入力電圧 : 24VDC 環境ファクタ : GF (Ground, Fixed) Input Voltage Environmental Factor (2) 1 CCG3 24 5S 1,, Ambient temperature vs. MTBF MTBF ( hours ) 1,, Output Current 3A(5%) Output Current 6A(1%) 1, 1 2 3 4 5 6 7 8 9 Ambient temperature ( C) Ambient MTBF temperature Output Current 3A(5%) Output Current 6A(1%) 25 C 5,33,538(hours) 3,191,64(hours) 4 C 3,695,316(hours) 1,9,921(hours) 6 C 1,941,88(hours) 786,59(hours) 85 C 644,6(hours) (2) 2 CCG3 24 12S 1,, Ambient temperature vs. MTBF MTBF ( hours ) 1,, Output Current 1.25A(5%) Output Current 2.5A(1%) 1, 1 2 3 4 5 6 7 8 9 Ambient temperature ( C) Ambient temperature MTBF Output Current 1.25A(5%) Output Current 2.5A(1%) 25 C 6,26,353(hours) 3,792,638(hours) 4 C 4,244,646(hours) 2,283,195(hours) 6 C 2,272,93(hours) 1,,125(hours) 85 C 813,179(hours) 4/23
2. Components Derating MODEL : CCG3 24 5S, CCG3 24 12S (1) Calculating Method (a) 測定方法 Measuring method 入力電圧 : 24VDC 出力電流 : 5V 6A(1%) Input Voltage Output Current 12V 2.5A(1%) 周囲温度 : 6ºC 冷却法 : 自然空冷 Ambient Temperature Cooling 取り付け Mounting : 水平置き Horizontal (b) 半導体 Semiconductors ケース温度 消費電力 熱抵抗より使用状態の接合点温度を求め最大定格 接合点温度との比較を求めました Compared with maximum junction temperature and actual one which is calculated based on case temperature, power dissipation and thermal impedance. (c) IC 抵抗 コンデンサ等 IC, Resistors, Capacitors, etc. 周囲温度 使用状態 消費電力など 個々の値は設計基準内に入っています Ambient temperature, operating condition, power dissipation and so on are within derating criteria. (d) 熱抵抗算出方法 Calculating method of thermal impedance q j c Tj (max) - Tc = Pj (max) q j a = Tj (max) - Pj (max) Ta q j l = Tj (max) - Pj (max) Tl Tc Ta Tl Pj(max) (Pch(max)) Tj(max) (Tch(max)) θj c (θch c) θj a (θch a) θj l (θch l) : ディレーティングの始まるケース温度一般に25 o C Case Temperature at Start Point of Derating;25 o C in General : ディレーティングの始まる周囲温度一般に25 o C Ambient Temperature at Start Point of Derating;25 o C in General : ディレーティングの始まるリード温度一般に25 o C Lead Temperature at Start Point of Derating;25 o C in General : 最大接合点 ( チャネル ) 損失 Maximum Junction (channel) Dissipation : 最大接合点 ( チャネル ) 温度 Maximum Junction (channel) Temperature : 接合点 ( チャネル ) からケースまでの熱抵抗 Thermal Impedance between Junction (channel) and Case : 接合点から周囲までの熱抵抗 Thermal Impedance between Junction (channel) and Air : 接合点からリードまでの熱抵抗 Thermal Impedance between Junction (channel) and Lead 5/23
(2) Components Derating List (2) 1 CCG3 24 5S 部品番号 部品名 最大定格 使用状態 ディレーティング率 Location No. Part Name Maximum Rating Actual Rating Derating Factor Q1 CHIP MOS FET Tj(max):15ºC Tj:115.4ºC 76.9% Q11 CHIP MOS FET Tj(max):15ºC Tj:113.2ºC 75.4% D2 CHIP FRD Tj(max):15ºC Tj:19.6ºC 73.% D11 CHIP SBD Tj(max):15ºC Tj:112.8ºC 75.2% D12 CHIP FRD Tj(max):15ºC Tj:111.5ºC 74.3% A1 CHIP IC Tj(max):15ºC Tj:18.2ºC 72.1% A2 CHIP IC Tj(max):15ºC Tj:111.7ºC 74.5% A11 CHIP IC Tj(max):15ºC Tj:111.9ºC 74.6% PC1 CHIP COUPLER Tj(max):125ºC Tj:14.5ºC 83.6% PC2 CHIP COUPLER Tj(max):125ºC Tj:18.1ºC 86.5% (2) 2 CCG3 24 12S 部品番号 部品名 最大定格 使用状態 ディレーティング率 Location No. Part Name Maximum Rating Actual Rating Derating Factor Q1 CHIP MOS FET Tj(max):15ºC Tj:11.9ºC 73.9% D2 CHIP FRD Tj(max):15ºC Tj:13.8ºC 69.2% D11 CHIP SBD Tj(max):15ºC Tj:18.1ºC 72.1% A1 CHIP IC Tj(max):15ºC Tj:11.9ºC 67.9% A2 CHIP IC Tj(max):15ºC Tj:14.7ºC 69.8% PC1 CHIP COUPLER Tj(max):125ºC Tj:98.1ºC 78.5% 6/23
3. Main Components Temperature Rise ΔT List MODEL : CCG3 24 5S, CCG3 24 12S (1) Measuring Conditions 取り付け : 水平置き Mounting Horizontal 測定方法 Measuring Method 冷却法 Cooling : 自然空冷 基板 PCB モデル Model 入力電圧 Input Voltage 出力電圧 Output Voltage 出力電流 Output Current 周囲温度 Ambient Temperature CCG 3 24 5S CCG 3 24 12S 24VDC 5V 12V 6A (1%) 2.5A (1%) 6ºC 7/23
(2) Measuring Results (2) 1 CCG3 24 5S 部品番号 部品名 温度上昇値 ΔT (ºC) Location No. Part Name Temperature Rise Q1 CHIP MOS FET 53. Q11 CHIP MOS FET 51.2 D2 CHIP FRD 49.5 D11 CHIP SBD 49.5 D12 CHIP FRD 48.4 A1 CHIP IC 46.6 A2 CHIP IC 5. A11 CHIP IC 5.2 PC1 CHIP COUPLER 44.1 PC2 CHIP COUPLER 47. L1 CHE COIL 47.8 L11 CHE COIL 49.9 T1 TRANS,PULSE 47.2 T2 TRANS,PULSE 55.2 (2) 2 CCG3 24 12S 部品番号 部品名 温度上昇値 ΔT (ºC) Location No. Part Name Temperature Rise Q1 CHIP MOS FET 49.1 D2 CHIP FRD 43.7 D11 CHIP SBD 45.2 A1 CHIP IC 4.3 A2 CHIP IC 43. PC1 CHIP COUPLER 37.7 L1 CHE COIL 41.5 L11 CHE COIL 42.2 T1 TRANS,PULSE 4.5 T2 TRANS,PULSE 47.5 8/23
4. Output Derating MODEL : (1) Measuring Conditions 取り付け : 水平置き Mounting Horizontal 冷却法 : 自然空冷 Cooling 12.7mm 周囲温度測定点 Ambient temperature measurement point 76mm 基板 PCB 取り付け : 垂直置き Mounting Vertically 測定方法 Measuring Method 冷却法 Cooling : 強制空冷 Forced air cooling CL 25.4mm 基板 PCB 上面 Top View 周囲温度および風速測定点 Ambient temperature and air velocity measurement point 12.7mm 76mm 風向き Air flow 風向き Air flow モデル Model 出力電圧 Output Voltage 入力電圧 Input Voltage 風速 Air Velocity CCG3 24 3S CCG3 24 5S CCG3 24 12S CCG3 24 15S 3.3V 5V 12V 15V 9VDC, 12VDC, 24VDC, 36VDC.5m/s, 1.m/s, 1.5m/s, 2.m/s, 2.5m/s 9/23
(2) Measuring Results (2) 1 CCG3 24 3S 12 Vin = 9VDC 2.m/s 12 Vin = 12VDC 1.5m/s, 2.m/s 1 1 8 6 4.5m/s 1.m/s 1.5m/s 8 6 4.5m/s 1.m/s 2 2 4 5 6 7 8 85 9 1 4 5 6 7 8 85 9 1 12 Vin = 24VDC 1.m/s, 1.5m/s, 2.m/s 12 Vin = 36VDC 1.m/s, 1.5m/s, 2.m/s 1 1 8 6 4.5m/s 8 6 4.5m/s 2 2 4 5 6 7 8 85 9 1 4 5 6 7 8 85 9 1 (2) 2 CCG3 24 5S 12 Vin = 9VDC 2.5m/s 12 Vin = 12VDC 1.5m/s, 2.m/s, 2.5m/s 1 1 8 6 4.5m/s 1.m/s 1.5m/s 2.m/s 8 6 4.5m/s 1.m/s 2 2 4 5 6 7 8 85 9 1 4 5 6 7 8 85 9 1 12 Vin = 24VDC 1.m/s, 1.5m/s, 2.m/s, 2.5m/s 12 Vin = 36VDC 1.m/s, 1.5m/s, 2.m/s, 2.5m/s 1 1 8 6 4.5m/s 8 6 4.5m/s 2 2 4 5 6 7 8 85 9 1 4 5 6 7 8 85 9 1 1/23
(2) 3 CCG3 24 12S 12 Vin = 9VDC 1.m/s 12 Vin = 12VDC 1.m/s 1 1 8 6 4.5m/s 8 6 4.5m/s 2 2 4 5 6 7 8 85 9 1 4 5 6 7 8 85 9 1 12 Vin = 24VDC.5m/s, 1.m/s 12 Vin = 36VDC 1.m/s 1 1 8 6 4 8 6 4.5m/s 2 2 4 5 6 7 8 85 9 1 (2) 4 CCG3 24 15S 4 5 6 7 8 85 9 1 12 Vin = 9VDC 1.m/s 12 Vin = 12VDC.5m/s, 1.m/s 1 1 8 6 4.5m/s 8 6 4 2 2 4 5 6 7 8 85 9 1 4 5 6 7 8 85 9 1 12 Vin = 24VDC.5m/s, 1.m/s 12 Vin = 36VDC.5m/s, 1.m/s 1 1 8 6 4 8 6 4 2 2 4 5 6 7 8 85 9 1 4 5 6 7 8 85 9 1 11/23
5. Abnormal MODEL : CCG3 24 5S, CCG3 24 12S (1) Condition and Circuit Fuse 1A C1 +Vin +Vout TRM Vin Load RC Vout 入力電圧 : 36VDC 出力電流 : 5V 6A(1%) Input Voltage Output Current 12V 2.5A(1%) 周囲温度 : 25ºC 電解コンデンサ(C1) : 5V 12μF Temperature Electrolytic Cap. (2) Results (2) 1 CCG3 24 5S position No. 部品 No. 試験端子 Location No. point mode ショート Short オープン Open a b c d e f g h I j k l ヒュ変発発破異赤破ーO O 出そ化 V C 力の火煙裂臭熱損なズ P P 断他し断 Fire Smoke Burst 1 G D Da:Q1 2 G S 3 D S Q1 4 G Da:Q1 5 D 6 S Smell Red hot 7 G D 8 G S 効率低下 Efficiency down 9 D S Q11 1 G Da:Q11 11 D 12 S 13 B C Da:Z1,R12 14 B E 15 C E Da:Z1,R12 Q3 16 B 17 C 18 E Damaged Fuse blown result No output No change Others 記事 Note (Da:Damaged) 12/23
position No. 部品 No. 試験端子 Location No. point mode ショート Short オープン Open a b c d e f g h I j k l ヒュ変発発破異赤破ーO O 出そ化 V C 力の火煙裂臭熱損なズ P P 断他し断 Fire 19 B C Da:Z11 2 B E 効率低下 Efficiency down 21 C E Q12 22 B 出力電圧上昇 Output voltage increase 23 C 出力電圧低下 Output voltage reduction 24 E 出力電圧上昇 Output voltage increase 25 A K Da:R12 D2 26 A/K 効率低下 Efficiency down 27 A K D12 28 A/K 出力電圧上昇 Output voltage increase 29 L1 3 31 出力リップル増大 Output ripple increase L11 32 33 1 2 出力電圧発振 Unstable output voltage 34 3 4 出力電圧発振 Unstable output voltage 35 1 T1 36 2 37 3 38 4 39 1 2 4 2 3 41 3 4 42 4 5 43 5 6 44 7 8 45 8 9 46 9 1 47 1 11 Smoke 48 11 12 Burst Smell Red hot 49 1 効率低下 Efficiency down T2 5 2 効率低下 Efficiency down 51 3 効率低下 Efficiency down 52 4 効率低下 Efficiency down 53 5 効率低下 Efficiency down 54 6 効率低下 Efficiency down 55 7 出力電圧上昇 Output voltage increase 56 8 効率低下 Efficiency down 57 9 効率低下 Efficiency down 58 1 出力電圧上昇 Output voltage increase 59 11 効率低下 Efficiency down 6 12 効率低下 Efficiency down Damaged Fuse blown result No output No change Others 記事 Note 13/23
(2) 2 CCG3 24 12S position No. 部品 No. 試験端子 Location No. point mode ショート Short オープン Open a b c d e f g h I j k l ヒュ変発発破異赤破ーO O 出そ化 V C 力の火煙裂臭熱損なズ P P 断他し断 Fire Smoke Burst 1 G D Da:Q1 2 G S 3 D S Q1 4 G Da:Q1 5 D 6 S 7 B C Da:Z1,R12 8 B E 9 C E Da:Z1,R12 Q3 1 B 11 C Smell Red hot 12 E 13 A K Da:R12 D2 14 A/K 効率低下 Efficiency down 15 A K D11 16 A/K Damaged Fuse blown No output No change Others (Da:Damaged) 17 L1 18 19 出力リップル増大 Output ripple increase L11 2 21 1 2 出力電圧発振 Unstable output voltage 22 3 4 出力電圧発振 Unstable output voltage 23 1 T1 24 2 25 3 26 4 27 1 2 28 2 3 29 3 4 3 4 5 31 5 6 32 7 8 33 8 9 34 9 1 result 35 1 11 36 11 12 37 1 効率低下 Efficiency down T2 38 2 効率低下 Efficiency down 39 3 効率低下 Efficiency down 4 4 効率低下 Efficiency down 41 5 効率低下 Efficiency down 42 6 効率低下 Efficiency down 43 7 44 8 効率低下 Efficiency down 45 9 効率低下 Efficiency down 46 1 効率低下 Efficiency down 47 11 効率低下 Efficiency down 48 12 記事 Note 14/23
6. Vibration MODEL : CCG3 24 5S (1) Vibration Class 掃引振動数耐久試験 Frequency variable endurance test (2) Equipment Used EMIC ( 株 ) 製試験装置 F 16BDH/LA16AW EMIC CORP. Equipment (3) The Number of D.U.T. (Device Under ) CCG3 24 5S : 1 台 (unit) (4) Conditions 周波数範囲 : 1~55Hz 振動方向 : X, Y, Z Sweep Frequency Direction 掃引時間 : 3. 分間 振幅 : 1.52mm ( 一定 ) Sweep Time 3.min Amplitude (const.) 試験時間 : 各方向共 1 時間 Time 1 hour each (5) Method 供試品を基板に取付け それを取付台に固定する Fix the D.U.T. on the circuit board and fit it on the fitting stage. Y 7mm 15mm Z X 振動方向 Direction 2mm 振動試験機 Vibrator 供試品 D.U.T. (Device Under ) 取付台 Fitting stage 15/23
(6) Results Conditions 入力電圧 : 24VDC 出力電流 : 6A(1%) 周囲温度 : 25ºC Input Voltage Output Current Ambient Temperature 測定確認項目 Check Item 出力電圧 Output Voltage 効率 Efficiency 出力リップルノイズ電圧 Output Ripple and Noise Voltage 入力変動 Line Regulation 負荷変動 Load Regulation 耐電圧 Withstand Voltage 外観 Appearance - - 試験前 Before 試験後 After V 4.997 4.993 % 89.6 89.5 mvp p 23 25 mv 1..8 mv 6.5 9.6 16/23
7. Noise Simulate MODEL : (1) Circuit and Equipment A. 入力ポート : +Vin Vin に同時に印加 Input Port : Apply to +Vin and Vin at the same time. ノイズシミュレーター Noise Simulator Fuse 1 A C1 L1 C2 C3 +Vin +Vout TRM Vin RC Vout C5 Load C4 B 1. 信号ポート : (RC Vin) に印加 Signal Port : Apply to (RC, Vin). Fuse 1 A C1 L1 C2 C3 +Vin +Vout TRM Vin RC Vout C5 Load C4 カップリングクランプ Coupling Clamp ノイズシミュレーター Noise Simulator B 2. 信号ポート : (TRM +Vout) (TRM Vout) に印加 Signal Port : Apply to (TRM, +Vout) and (TRM, Vout). Fuse 1 A C1 L1 C2 C3 +Vin +Vout TRM Vin RC Vout C5 Load C4 カップリングクランプ Coupling Clamp SW2 A B ノイズシミュレーター Noise Simulator SW2 A : (TRM +Vout) に印加 Apply to (TRM, +Vout). B : (TRM Vout) に印加 Apply to (TRM, Vout). 17/23
ノイズシミュレーター : INS 432A ( ノイズ研究所株式会社 ) Noise Simulator (Noise Laboratory Co. LTD) セラミックコンデンサ(C1) : 5V 1μF Ceramic Cap. 電解コンデンサ(C2) : 5V 12μF Electrolytic Cap. セラミックコンデンサ(C3, C4) : 2kV 1pF 2 parallel Ceramic Cap. セラミックコンデンサ(C5) : 25V 22μF Ceramic Cap. コモンモードチョークコイル(L1) : ACM1211 12 2PL (TDK) Common Mode Choke Coil (2) Conditions 入力電圧 : 12VDC, 24VDC ノイズ電圧 : 入力ポート ~2kV Input Voltage Noise Level Input Port 出力電圧 : 定格 信号ポート ~75V Output Voltage Rated Signal Port 出力電流 : %, 1% 極性 : +, Output Current Polarity 周囲温度 : 25ºC 印加モード : 入力ポート ノーマル Ambient Temperature Mode Input Port Normal パルス幅 : 5~1ns 信号ポート コモン Pulse Width Signal Port Common トリガ選択 : Line Trigger Select (3) The Number of D.U.T (Device Under ) CCG3 24 3S 1 台 (unit) CCG3 24 12S 1 台 (unit) CCG3 24 5S 1 台 (unit) CCG3 24 15S 1 台 (unit) (4) Acceptable Conditions 1. 試験中 5% を超える出力電圧の変動のない事 The regulation of output voltage must not exceed 5% of initial value during test. 2. 試験後の出力電圧は初期値から変動していない事 The output voltage must be within the regulation of specification after the test. 3. 発煙 発火のない事 Smoke and fire are not allowed. (5) Results CCG3 24 3S CCG3 24 5S CCG3 24 12S CCG3 24 15S 合格 合格 合格 合格 18/23
8. Resistance to Soldering Heat MODEL : CCG3 24 5S (1) Machine Used 自動はんだ付け装置 : TLC 35XIV ( セイテック ) Automatic Dip Soldering Machine (SEITEC) (2) The Number of D.U.T. (Device Under ) CCG3 24 5S : 1 台 (unit) (3) Conditions 溶融半田温度 : 26ºC 予備加熱温度 : 125ºC Dip Soldering Temperature Pre heating Temperature 浸漬保持時間 : 1 秒間 予備加熱時間 : 6 秒間 Dip time 1 seconds Pre heating Time 6 seconds (4) Method 初期測定の後 供試体を基板にのせ 自動はんだ付装置でフラックス浸漬 予備加熱 はんだ付を行う 常温常湿下に1 時間放置し 出力に異常がないことを確認する Check if there is no abnormal output before test. Then fix the D.U.T. on a circuit board, transfer to flux dipping, preheat and solder in the automatic dip soldering machine. Leave it for 1 hour at the room temperature, then check if there is no abnormal output. (5) Results 試験条件 conditions 入力電圧 : 24VDC 出力電流 : 6A(1%) 周囲温度 : 25ºC Input Voltage Output Current Ambient Temperature 測定確認項目 Check Item 出力電圧 Output Voltage 効率 Efficiency 出力リップルノイズ電圧 Output Ripple and Noise Voltage 入力変動 Line Regulation 負荷変動 Load Regulation 耐電圧 Withstand Voltage 外観 Appearance - - 試験前 Before 試験後 After V 4.997 4.994 % 89.7 89.4 mvp p 13 16 mv 1..8 mv 5.9 9.7 19/23
9. Thermal Shock MODEL : CCG3 24 5S (1) Equipment Used (Thermal Shock Chamber) ESPEC( 株 ) 製 ESPEC CORP. TSA 12ES W (2) The Number of D.U.T. (Device Under ) CCG3 24 5S : 5 台 (units) (3) Conditions 1cycle 電源周囲温度 : 4ºC 125ºC 125ºC Ambient Temperature 試験時間 Time : 15min 15min 15min 試験サイクル Cycle 非動作 Not Operating : 5 75 サイクル 5, 75 Cycles 4ºC 15min (4) Method 初期測定の後 供試品を試験槽に入れ 上記サイクルで試験を行う 5, 75サイクル後に 供試品を常温常湿下に1 時間放置し 出力に異常がない事を確認する Before testing, check if there is no abnormal output, then put the D.U.T. in testing chamber, and test it according to the above cycle. 5, 75 cycles later, leave it for 1 hour at the room temperature, then check if there is no abnormal output. (5) Results 測定データは次項に示す See next page for measuring data. 2/23
5.1 出力電圧 (V) Output voltage 5.5 5. 4.95 4.9 9. 1 2 3 4 5 6 7 8 試験サイクル (cycle) cycle 効率 (%) Efficiency 89.5 89. 88.5 出力リップルノイズ電圧 (mvp p) Output ripple and noise voltage 88. 1 8 6 4 2 8 1 2 3 4 5 6 7 8 試験サイクル (cycle) cycle 1 2 3 4 5 6 7 8 試験サイクル (cycle) cycle 6 入力変動 (mv) Line regulation 4 2 8 1 2 3 4 5 6 7 8 試験サイクル (cycle) cycle 6 負荷変動 (mv) Load regulation 4 2 1 2 3 4 5 6 7 8 試験サイクル (cycle) cycle 21/23
1. High Temperature and High Humidity Bias MODEL : CCG3 24 5S, CCG3 24 12S (1) Equipment Used TEMP.&HUMID. CHAMBER PR 1KH (ESPEC CORP.) (2) The Number of D.U.T. (Device Under ) CCG3 24 5S : 1 台 (unit) CCG3 24 12S : 1 台 (unit) (3) Conditions 周囲温度 : 85ºC Ambient Temperature 湿度 : 85% Humidity Input Voltage 24VDC 試験時間 : 5 時間 time 5 hours 入力電圧 : VDC 24VDC Input Voltage 出力電圧 : 定格 Output Voltage Rated 出力電流 : A (% ) Output Current 3hours 4hours 1hour Input Voltage VDC (4) Method 初期測定の後 供試体を試験槽に入れ 槽の温度を室温 (25ºC) から周囲温度が規定温度 (85ºC) になるまで徐々に上げる 供試体を規定の条件にて5 時間試験を行い 常温常湿下に1 時間放置した後 出力に異常がない事を確認する Check if there is no abnormal output before test. Then fix the D.U.T. in testing chamber, and the ambient temperature is gradually increased from 25ºC to 85ºC. the D.U.T for 5 hours according to above conditions and leave D.U.T. for 1 hour at the room temperature, then check if there is no abnormal output. 22/23
(5) Results (5) 1 CCG3 24 5S 試験条件 conditions 入力電圧 : 24VDC 出力電流 : 6A(1%) 周囲温度 : 25ºC Input Voltage Output Current Ambient Temperature 測定確認項目 Check Item 出力電圧 Output Voltage 効率 Efficiency 出力リップルノイズ電圧 Output Ripple and Noise Voltage 入力変動 Line Regulation 負荷変動 Load Regulation 耐電圧 Withstand Voltage 外観 Appearance - - 試験前 Before 試験後 After V 5.1 5.8 % 89. 89.1 mvp p 37 35 mv.5.7 mv 6.6 6.5 (5) 2 CCG3 24 12S 試験条件 conditions 入力電圧 : 24VDC 出力電流 : 2.5A(1%) 周囲温度 : 25ºC Input Voltage Output Current Ambient Temperature 測定確認項目 Check Item 出力電圧 Output Voltage 効率 Efficiency 出力リップルノイズ電圧 Output Ripple and Noise Voltage 入力変動 Line Regulation 負荷変動 Load Regulation 耐電圧 Withstand Voltage 外観 Appearance - - 試験前 Before 試験後 After V 12.118 12.58 % 9.1 9.2 mvp p 7 7 mv.2.6 mv 2.8 2.8 23/23