02.参考資料標準試料データ

参考資料 標準試料データ目次 クリソタイル標準試料 JAWE111 108 アモサイト標準試料 JAWE211 113 クロシドライト標準試料 JAWE311 118 クリソタイル標準試料 JAWE121 123 アモサイト標準試料 JAWE221 131 クロシドライト標準試料 JAWE321 139 アンソフィライト標準試料 JAWE411 147 トレモライト標準試料 JAWE511 155 クリソタイル標準試料 UICC A 163 クリソタイル標準試料 UICC B 171 アモサイト標準試料 UICC 179 クロシドライト標準試料 UICC 187 アンソフィライト標準試料 UICC 195 107

クリソタイル標準試料 JAWE111 1 走査型電子顕微鏡形態 測定条件等 :S-3400N( 日立ハイテクノロジーズ )/BRUKER-AXS Xflash 4010) 倍率 2000 倍 加速電圧 5kv 108

クリソタイル標準試料 JAWE111 2 走査型電子顕微鏡元素組成 cps/ev 20 18 16 14 12 C O Fe Mg Si Fe 10 8 6 4 2 0 2 4 6 8 10 12 14 kev 加速電圧 15kv cps/ev 3.0 2.5 2.0 O Mg Fe Si Fe 1.5 1.0 0.5 0.0 5 10 15 20 25 30 kev 加速電圧 30kv 測定条件等 :S-3400N( 日立ハイテクノロジーズ )/BRUKER-AXS Xflash 4010) EDX 分析加速電圧 15kv 30kv 109

クリソタイル標準試料 JAWE111 3 走査型電子顕微鏡元素マッピング 4 走査型電子顕微鏡元素マッピング ( 元素別 ) 110

クリソタイル標準試料 JAWE111 5 偏光顕微鏡による光学特性 形態 色 曲線状 白色 多色性 なし 複屈折 低い 伸長性 正 消光角 ( 最大 ) 0 度 111

クリソタイル標準試料 JAWE111 6 FT-IR による赤外吸収スペクトル 100.0 95 90 85 80 75 70 %T 65 60 55 50 45 40 35 30 27.4 4000.0 3600 3200 2800 2400 2000 1800 1600 1400 1200 1000 800 650.0 cm-1 FT-IR 分析 :spectrum100(perkinelmer 社製 ) 検出器 :MIR TGS/ATR( ダイヤモンド /ZnSe) 積算回数 :4 回分解能 4cm-1 112

アモサイト標準試料 JAWE211 1 走査型電子顕微鏡形態 測定条件等 :S-3400N( 日立ハイテクノロジーズ )/BRUKER-AXS Xflash 4010) 倍率 2000 倍 加速電圧 5kv 113

アモサイト標準試料 JAWE211 2 走査型電子顕微鏡元素組成 cps/ev 18 16 14 12 10 O Mn C Fe Mg Si Mn Fe 8 6 4 2 0 2 4 6 8 10 12 14 kev 加速電圧 15kv 4.5 cps/ev 4.0 3.5 3.0 2.5 Mn O Mg Fe Si Mn Fe 2.0 1.5 1.0 0.5 0.0 5 10 15 20 25 30 kev 加速電圧 30kv 測定条件等 :S-3400N( 日立ハイテクノロジーズ )/BRUKER-AXS Xflash 4010) EDX 分析加速電圧 15kv 30kv 114

アモサイト標準試料 JAWE211 3 走査型電子顕微鏡元素マッピング 4 走査型電子顕微鏡元素マッピング ( 元素別 ) 115

アモサイト標準試料 JAWE211 5 偏光顕微鏡による光学特性 形態 色 角柱針状 灰色 ~ 茶色 多色性 非常に弱い 複屈折 中度 伸長性 正 消光角 ( 最大 ) 0 度 116

アモサイト標準試料 JAWE211 6 FT-IR による赤外吸収スペクトル FT-IR 分析 :spectrum100(perkinelmer 社製 ) 検出器 :MIR TGS/ATR( ダイヤモンド /ZnSe) 積算回数 :4 回分解能 4cm-1 117

クロシドライト標準試料 JAWE311 1 走査型電子顕微鏡形態 測定条件等 :S-3400N( 日立ハイテクノロジーズ )/BRUKER-AXS Xflash 4010) 倍率 2000 倍 加速電圧 5kv 118

クロシドライト標準試料 JAWE311 2 走査型電子顕微鏡元素組成 22 cps/ev 20 18 16 14 12 O Na C Fe Mg Si Fe 10 8 6 4 2 0 2 4 6 8 10 12 14 kev 加速電圧 15kv cps/ev 4.0 3.5 3.0 2.5 Na O Mg Fe Si Fe 2.0 1.5 1.0 0.5 0.0 5 10 15 20 25 30 kev 加速電圧 30kv 測定条件等 :S-3400N( 日立ハイテクノロジーズ )/BRUKER-AXS Xflash 4010) EDX 分析加速電圧 15kv 30kv 119

クロシドライト標準試料 JAWE311 3 走査型電子顕微鏡元素マッピング 4 走査型電子顕微鏡元素マッピング ( 元素別 ) 120

クロシドライト標準試料 JAWE311 5 偏光顕微鏡による光学特性 形態 色 角柱針状 青色 多色性 α 青色 γ 灰色 複屈折 低い 伸長性 負 消光角 ( 最大 ) 0 度 121

クロシドライト標準試料 JAWE311 6 FT-IR による赤外吸収スペクトル FT-IR 分析 :spectrum100(perkinelmer 社製 ) 検出器 :MIR TGS/ATR( ダイヤモンド /ZnSe) 積算回数 :4 回分解能 4cm-1 122

クリソタイル標準試料 JAWE121 1 走査型電子顕微鏡形態 測定条件等 :S-3400N( 日立ハイテクノロジーズ )/BRUKER-AXS Xflash 4010) 倍率 2000 倍 加速電圧 5kv 123

クリソタイル標準試料 JAWE121 2 走査型電子顕微鏡元素組成 cps/ev 22 20 18 16 14 12 C Fe O Mg Si Fe 10 8 6 4 2 0 2 4 6 8 10 12 14 kev 加速電圧 15kv cps/ev 4.5 4.0 3.5 3.0 2.5 O Mg Fe Si Fe 2.0 1.5 1.0 0.5 0.0 5 10 15 20 25 30 kev 加速電圧 30kv 測定条件等 :S-3400N( 日立ハイテクノロジーズ )/BRUKER-AXS Xflash 4010) EDX 分析加速電圧 15kv 30kv 124

クリソタイル標準試料 JAWE121 3 走査型電子顕微鏡元素マッピング 4 走査型電子顕微鏡元素マッピング ( 元素別 ) 125

クリソタイル標準試料 JAWE121 5 偏光顕微鏡による光学特性 形態 色 曲線状 白色 多色性 なし 複屈折 低い 伸長性 正 消光角 ( 最大 ) 0 度 屈折率 γ 1.550~1.565 屈折率 α 1.542~1.555 126

6 クリソタイル標準試料 JAWE121 FT-IR による赤外吸収スペクトル FT-IR 分析 :spectrum100(perkinelmer 社製 ) 検出器 :MIR TGS/ATR( ダイヤモンド /ZnSe) 積算回数 :4 回分解能 4cm-1 127

クリソタイル標準試料 JAWE121 7 粉末 X 線回折分析 測定条件等 : X PertPRO(PANalytical 社製 ) CuKα 線 45kv40mA: 発散スリット 1/2 : step scan; step width 0.002 (2θ):scan speed 0.0066 (2θ/s) 8 化学組成 鉄が全て二価の場合 鉄が全て三価の場合 wt% wt% SiO 2 45.89 SiO 2 43.54 Al 2 O 3 0.80 Al 2 O 3 0.76 FeO 4.41 Fe 2 O 3 9.31 MnO 0.03 MnO 0.03 MgO 44.31 MgO 42.04 CaO 0.44 CaO 0.42 Na 2 O 2.11 Na 2 O 2.00 K 2 O 1.02 K 2 O 0.97 P 2 O 5 0.21 P 2 O 5 0.20 その他成分 0.77 その他成分 0.73 測定条件等 :ICP 発光分光分析 Vista MPX( セイコーインスツルメンツ社製 ) ( 鉄は二価と三価を合算した定量値になる為 全て二価または三価と仮定した場合の数値を記載 ) 128

クリソタイル標準試料 JAWE121 9 結晶子サイズ 指数 hkl 角度 2θ( ) 結晶子サイズ (nm) 002 12.803 15.2 004 24.343 14.9 060 60.190 6.3 測定条件等 :X PertPRO(PANalytical 社製 ) CuKα 線 45kv40mA: 発散スリット 1/2 : step scan; step width 0.002 (2θ):scan speed 0.0066 (2θ/s) 129

クリソタイル標準試料 JAWE121 10 透過型電子顕微鏡形態 測定条件等 : 透過型電子顕微鏡 JEM2010( 日本電子社製 ) 倍率左 2500 倍右 20000 倍 加速電圧 100kv 11 透過型電子顕微鏡電子線回折 測定条件等 : 透過型電子顕微鏡 JEM2010( 日本電子社製 ) 加速電圧 100kv 130

アモサイト標準試料 JAWE221 1 走査型電子顕微鏡形態 測定条件等 :S-3400N( 日立ハイテクノロジーズ )/BRUKER-AXS Xflash 4010) 倍率 2000 倍 加速電圧 5kv 131

アモサイト標準試料 JAWE221 2 走査型電子顕微鏡元素組成 cps/ev 18 16 14 12 10 O Mn C Fe Mg Si Mn Fe 8 6 4 2 0 2 4 6 8 10 12 14 kev 加速電圧 15kv cps/ev 3.5 3.0 2.5 2.0 O Mn Mg Fe Si Mn Fe 1.5 1.0 0.5 0.0 5 10 15 20 25 30 kev 加速電圧 30kv 測定条件等 :S-3400N( 日立ハイテクノロジーズ )/BRUKER-AXS Xflash 4010) EDX 分析加速電圧 15kv 30kv 132

アモサイト標準試料 JAWE221 3 走査型電子顕微鏡元素マッピング 4 走査型電子顕微鏡元素マッピング ( 元素別 ) 133

アモサイト標準試料 JAWE221 5 偏光顕微鏡による光学特性 形態 色 角柱針状 灰色 ~ 茶色 多色性 非常に弱い 複屈折 中度 伸長性 正 消光角 ( 最大 ) 0 度 屈折率 γ 1.691~1.703 屈折率 α 1.668~1.683 134

6 アモサイト標準試料 JAWE221 FT-IR による赤外吸収スペクトル FT-IR 分析 :spectrum100(perkinelmer 社製 ) 検出器 :MIR TGS/ATR( ダイヤモンド /ZnSe) 積算回数 :4 回分解能 4cm-1 135

アモサイト標準試料 JAWE221 7 粉末 X 線回折分析 測定条件等 : X PertPRO(PANalytical 社製 ) CuKα 線 45kv40mA: 発散スリット 1/2 : step scan; step width 0.002 (2θ):scan speed 0.0066 (2θ/s) 8 化学組成 鉄が全て二価の場合 鉄が全て三価の場合 wt% wt% SiO 2 52.07 SiO 2 44.91 Al 2 O 3 1.14 Al 2 O 3 0.71 FeO 33.32 Fe 2 O 3 46.02 MnO 2.11 MnO 1.31 MgO 5.58 MgO 3.47 CaO 1.23 CaO 0.76 Na 2 O 2.63 Na 2 O 1.63 K 2 O 1.54 K 2 O 0.96 P 2 O 5 0.06 P 2 O 5 0.03 その他成分 0.31 その他成分 0.19 測定条件等 :ICP 発光分光分析 Vista MPX( セイコーインスツルメンツ社製 ) ( 鉄は二価と三価を合算した定量値になる為 全て二価または三価と仮定した場合の数値を記載 ) 136

アモサイト標準試料 JAWE221 9 結晶子サイズ 指数 hkl 角度 2θ( ) 結晶子サイズ (nm) 020 9.731 41.6 110 10.695 44.3 400 19.042 45.1 測定条件等 :X PertPRO(PANalytical 社製 ) CuKα 線 45kv40mA: 発散スリット 1/2 : step scan; step width 0.002 (2θ):scan speed 0.0066 (2θ/s) 137

アモサイト標準試料 JAWE221 10 透過型電子顕微鏡形態 測定条件等 : 透過型電子顕微鏡 JEM2010( 日本電子社製 ) 倍率 2500 倍 加速電圧 100kv 11 透過型電子顕微鏡電子線回折 測定条件等 : 透過型電子顕微鏡 JEM2010( 日本電子社製 ) 加速電圧 100kv 138

クロシドライト標準試料 JAWE321 1 走査型電子顕微鏡形態 測定条件等 :S-3400N( 日立ハイテクノロジーズ )/BRUKER-AXS Xflash 4010) 倍率 2000 倍 加速電圧 5kv 139

クロシドライト標準試料 JAWE321 2 走査型電子顕微鏡元素組成 cps/ev 22 20 18 16 14 12 Fe Mg O Na Si Fe 10 8 6 4 2 0 2 4 6 8 10 12 14 kev 加速電圧 15kv cps/ev 5 4 3 Na O Mg Fe Si Fe 2 1 0 5 10 15 20 25 30 kev 加速電圧 30kv 測定条件等 :S-3400N( 日立ハイテクノロジーズ )/BRUKER-AXS Xflash 4010) EDX 分析加速電圧 15kv 30kv 140

クロシドライト標準試料 JAWE321 3 走査型電子顕微鏡元素マッピング 4 走査型電子顕微鏡元素マッピング ( 元素別 ) 141

クロシドライト標準試料 JAWE321 5 偏光顕微鏡による光学特性 形態 色 角柱針状 青色 多色性 α 青色 γ 灰色 複屈折 低い 伸長性 負 消光角 ( 最大 ) 0 度 屈折率 γ 1.683~1.703 屈折率 α 1.682~1.699 142

クロシドライト標準試料 JAWE321 6 FT-IR による赤外吸収スペクトル FT-IR 分析 :spectrum100(perkinelmer 社製 ) 検出器 :MIR TGS/ATR( ダイヤモンド /ZnSe) 積算回数 :4 回分解能 4cm-1 143

クロシドライト標準試料 JAWE321 7 粉末 X 線回折分析 測定条件等 : X PertPRO(PANalytical 社製 ) CuKα 線 45kv40mA: 発散スリット 1/2 : step scan; step width 0.002 (2θ):scan speed 0.0066 (2θ/s) 8 化学組成 鉄が全て二価の場合 鉄が全て三価の場合 wt% wt% SiO 2 54.09 SiO 2 50.81 Al 2 O 3 0.24 Al 2 O 3 0.14 FeO 33.46 Fe 2 O 3 42.14 MnO 0.08 MnO 0.05 MgO 3.32 MgO 1.88 CaO 1.42 CaO 0.80 Na 2 O 5.45 Na 2 O 3.09 K 2 O 1.69 K 2 O 0.96 P 2 O 5 0.01 以下 P 2 O 5 0.01 以下 その他成分 0.24 その他成分 0.14 測定条件等 :ICP 発光分光分析 Vista MPX( セイコーインスツルメンツ社製 ) ( 鉄は二価と三価を合算した定量値になる為 全て二価または三価と仮定した場合の数値を記載 ) 144

クロシドライト標準試料 JAWE321 9 結晶子サイズ 指数 hkl 角度 2θ( ) 結晶子サイズ (nm) 020 9.250 50.5 040 19.617 30.4 110 10.509 30.0 310 28.566 29.4 測定条件等 :X PertPRO(PANalytical 社製 ) CuKα 線 45kv40mA: 発散スリット 1/2 : step scan; step width 0.002 (2θ):scan speed 0.0066 (2θ/s) 145

クロシドライト標準試料 JAWE321 10 透過型電子顕微鏡形態 測定条件等 : 透過型電子顕微鏡 JEM2010( 日本電子社製 ) 倍率 2500 倍 加速電圧 100kv 11 透過型電子顕微鏡電子線回折 測定条件等 : 透過型電子顕微鏡 JEM2010( 日本電子社製 ) 加速電圧 100kv 146

アンソフィライト標準試料 JAWE411 1 走査型電子顕微鏡形態 測定条件等 :S-3400N( 日立ハイテクノロジーズ )/BRUKER-AXS Xflash 4010) 倍率 2000 倍 加速電圧 5kv 147

アンソフィライト標準試料 JAWE411 2 走査型電子顕微鏡元素組成 cps/ev 18 16 14 12 10 Fe O Mg Si Fe 8 6 4 2 0 2 4 6 8 10 12 14 kev 加速電圧 15kv cps/ev 4.5 4.0 3.5 3.0 2.5 O Mg Fe Si Fe 2.0 1.5 1.0 0.5 0.0 5 10 15 20 25 30 kev 加速電圧 30kv 測定条件等 :S-3400N( 日立ハイテクノロジーズ )/BRUKER-AXS Xflash 4010) EDX 分析加速電圧 15kv 30kv 148

アンソフィライト標準試料 JAWE411 3 走査型電子顕微鏡元素マッピング 4 走査型電子顕微鏡元素マッピング ( 元素別 ) 149

アンソフィライト標準試料 JAWE411 5 偏光顕微鏡による光学特性 形態 色 角柱針状 白色 多色性 なし 複屈折 中度 伸長性 正 消光角 ( 最大 ) 0 度 屈折率 γ 1.626~1.639 屈折率 α 1.601~1.626 150

アンソフィライト標準試料 JAWE411 6 FT-IR による赤外吸収スペクトル FT-IR 分析 :spectrum100(perkinelmer 社製 ) 検出器 :MIR TGS/ATR( ダイヤモンド /ZnSe) 積算回数 :4 回分解能 4cm-1 151

アンソフィライト標準試料 JAWE411 7 粉末 X 線回折分析 測定条件等 : X PertPRO(PANalytical 社製 ) CuKα 線 45kv40mA: 発散スリット 1/2 : step scan; step width 0.002 (2θ):scan speed 0.0066 (2θ/s) 8 化学組成 鉄が全て二価の場合 鉄が全て三価の場合 wt% wt% SiO 2 62.55 SiO 2 57.56 Al 2 O 3 0.38 Al 2 O 3 0.35 FeO 7.09 Fe 2 O 3 14.51 MnO 0.24 MnO 0.22 MgO 24.36 MgO 22.42 CaO 0.51 CaO 0.47 Na 2 O 1.49 Na 2 O 1.37 K 2 O 1.59 K 2 O 1.46 P 2 O 5 0.01 以下 P 2 O 5 0.01 以下 その他成分 1.78 その他成分 1.64 測定条件等 :ICP 発光分光分析 Vista MPX( セイコーインスツルメンツ社製 ) ( 鉄は二価と三価を合算した定量値になる為 全て二価または三価と仮定した場合の数値を記載 ) 152

アンソフィライト標準試料 JAWE411 9 結晶子サイズ 指数 hkl 角度 2θ( ) 結晶子サイズ (nm) 020 9.814 57.1 040 19.682 55.2 610 29.282 59.9 12 00 59.782 71.9 測定条件等 :X PertPRO(PANalytical 社製 ) CuKα 線 45kv40mA: 発散スリット 1/2 : step scan; step width 0.002 (2θ):scan speed 0.0066 (2θ/s) 153

アンソフィライト標準試料 JAWE411 10 透過型電子顕微鏡形態 測定条件等 : 透過型電子顕微鏡 JEM2010( 日本電子社製 ) 倍率 2500 倍 加速電圧 100kv 11 透過型電子顕微鏡電子線回折 測定条件等 : 透過型電子顕微鏡 JEM2010( 日本電子社製 ) 加速電圧 100kv 154

トレモライト標準試料 JAWE511 1 走査型電子顕微鏡形態 測定条件等 :S-3400N( 日立ハイテクノロジーズ )/BRUKER-AXS Xflash 4010) 倍率 2000 倍 加速電圧 5kv 155

トレモライト標準試料 JAWE511 2 走査型電子顕微鏡元素組成 cps/ev 18 16 14 12 O 10 Fe Ca Mg Si Ca Fe 8 6 4 2 0 2 4 6 8 10 12 14 kev 加速電圧 15kv cps/ev 4.0 3.5 3.0 2.5 O Mg Fe Si 2.0 Ca Ca Fe 1.5 1.0 0.5 0.0 5 10 15 20 25 30 kev 加速電圧 30kv 測定条件等 :S-3400N( 日立ハイテクノロジーズ )/BRUKER-AXS Xflash 4010) EDX 分析加速電圧 15kv 30kv 156

トレモライト標準試料 JAWE511 3 走査型電子顕微鏡元素マッピング 4 走査型電子顕微鏡元素マッピング ( 元素別 ) 157

トレモライト標準試料 JAWE511 5 偏光顕微鏡による光学特性 形態 色 角柱針状 白色 多色性 なし 複屈折 中度 伸長性 正 消光角 ( 最大 ) 15 度 屈折率 γ 1.618~1.633 屈折率 α 1.603~1.626 158

トレモライト標準試料 JAWE511 6 FT-IR による赤外吸収スペクトル FT-IR 分析 :spectrum100(perkinelmer 社製 ) 検出器 :MIR TGS/ATR( ダイヤモンド /ZnSe) 積算回数 :4 回分解能 4cm-1 159

トレモライト標準試料 JAWE511 7 粉末 X 線回折分析 測定条件等 : X PertPRO(PANalytical 社製 ) CuKα 線 45kv40mA: 発散スリット 1/2 : step scan; step width 0.002 (2θ):scan speed 0.0066 (2θ/s) 8 化学組成 鉄が全て二価の場合 鉄が全て三価の場合 wt% wt% SiO 2 51.91 SiO 2 49.09 Al 2 O 3 0.30 Al 2 O 3 0.28 FeO 4.69 Fe 2 O 3 9.87 MnO 0.32 MnO 0.30 MgO 25.41 MgO 24.03 CaO 16.90 CaO 15.98 Na 2 O 0.12 Na 2 O 0.12 K 2 O 0.07 K 2 O 0.07 P 2 O 5 0.01 以下 P 2 O 5 0.01 以下 その他成分 0.27 その他成分 0.25 測定条件等 :ICP 発光分光分析 Vista MPX( セイコーインスツルメンツ社製 ) ( 鉄は二価と三価を合算した定量値になる為 全て二価または三価と仮定した場合の数値を記載 ) 160

トレモライト標準試料 JAWE511 9 結晶子サイズ 指数 hkl 角度 2θ( ) 結晶子サイズ (nm) 110 10.414 42.6 020 9.711 40.6 200 18.524 40.8 040 19.535 40.8 測定条件等 :X PertPRO(PANalytical 社製 ) CuKα 線 45kv40mA: 発散スリット 1/2 : step scan; step width 0.002 (2θ):scan speed 0.0066 (2θ/s) 161

トレモライト標準試料 JAWE511 10 透過型電子顕微鏡形態 測定条件等 : 透過型電子顕微鏡 JEM2010( 日本電子社製 ) 倍率 2500 倍 加速電圧 100kv 11 透過型電子顕微鏡電子線回折 測定条件等 : 透過型電子顕微鏡 JEM2010( 日本電子社製 ) 加速電圧 100kv 162

クリソタイル標準試料 UICC A 1 走査型電子顕微鏡形態 測定条件等 :S-3400N( 日立ハイテクノロジーズ )/BRUKER-AXS Xflash 4010) 倍率 2000 倍 加速電圧 5kv 163

クリソタイル標準試料 UICC A 2 走査型電子顕微鏡元素組成 cps/ev 25 20 15 C O Fe Mg Si Fe 10 5 0 2 4 6 8 10 12 14 kev 加速電圧 15kv cps/ev 4.5 4.0 3.5 3.0 2.5 O Mg Fe Si Fe 2.0 1.5 1.0 0.5 0.0 5 10 15 20 25 30 kev 加速電圧 30kv 測定条件等 :S-3400N( 日立ハイテクノロジーズ )/BRUKER-AXS Xflash 4010) EDX 分析加速電圧 15kv 30kv 164

クリソタイル標準試料 UICC A 3 走査型電子顕微鏡元素マッピング 4 走査型電子顕微鏡元素マッピング ( 元素別 ) 165

クリソタイル標準試料 UICC A 5 偏光顕微鏡による光学特性 形態 色 曲線状 白色 多色性 なし 複屈折 低い 伸長性 正 消光角 ( 最大 ) 0 度 屈折率 γ 1.544~1.562 屈折率 α 1.542~1.556 166

6 クリソタイル標準試料 UICC A FT-IR による赤外吸収スペクトル FT-IR 分析 :spectrum100(perkinelmer 社製 ) 検出器 :MIR TGS/ATR( ダイヤモンド /ZnSe) 積算回数 :4 回分解能 4cm-1 167

クリソタイル標準試料 UICC A 7 粉末 X 線回折分析 測定条件等 : X PertPRO(PANalytical 社製 ) CuKα 線 45kv40mA: 発散スリット 1/2 : step scan; step width 0.002 (2θ):scan speed 0.0066 (2θ/s) 8 化学組成 鉄が全て二価の場合 鉄が全て三価の場合 wt% wt% SiO 2 38.96 SiO 2 37.35 Al 2 O 3 2.24 Al 2 O 3 2.15 FeO 3.51 Fe 2 O 3 7.48 MnO 0.07 MnO 0.06 MgO 50.61 MgO 48.53 CaO 1.07 CaO 1.02 Na 2 O 1.44 Na 2 O 1.38 K 2 O 0.69 K 2 O 0.66 P 2 O 5 0.39 P 2 O 5 0.37 その他成分 1.03 その他成分 0.99 測定条件等 :ICP 発光分光分析 Vista MPX( セイコーインスツルメンツ社製 ) ( 鉄は二価と三価を合算した定量値になる為 全て二価または三価と仮定した場合の数値を記載 ) 168

クリソタイル標準試料 UICC A 9 結晶子サイズ 指数 hkl 角度 2θ( ) 結晶子サイズ (nm) 002 12.084 15.9 004 24.343 12.0 060 60.174 5.6 測定条件等 :X PertPRO(PANalytical 社製 ) CuKα 線 45kv40mA: 発散スリット 1/2 : step scan; step width 0.002 (2θ):scan speed 0.0066 (2θ/s) 169

クリソタイル標準試料 UICC A 10 透過型電子顕微鏡形態 測定条件等 : 透過型電子顕微鏡 JEM2010( 日本電子社製 ) 倍率左 2500 倍右 20000 倍 加速電圧 100kv 11 透過型電子顕微鏡電子線回折 測定条件等 : 透過型電子顕微鏡 JEM2010( 日本電子社製 ) 加速電圧 100kv 170

クリソタイル標準試料 UICC B 1 走査型電子顕微鏡形態 測定条件等 :S-3400N( 日立ハイテクノロジーズ )/BRUKER-AXS Xflash 4010) 倍率 2000 倍 加速電圧 5kv 171

クリソタイル標準試料 UICC B 2 走査型電子顕微鏡元素組成 cps/ev 5 4 3 C O Fe Mg Si Fe 2 1 0 2 4 6 8 10 12 14 kev 加速電圧 15kv cps/ev 4.0 3.5 3.0 2.5 O Mg Fe Si Fe 2.0 1.5 1.0 0.5 0.0 5 10 15 20 25 30 kev 加速電圧 30kv 測定条件等 :S-3400N( 日立ハイテクノロジーズ )/BRUKER-AXS Xflash 4010) EDX 分析加速電圧 15kv 30kv 172

クリソタイル標準試料 UICC B 3 走査型電子顕微鏡元素マッピング 4 走査型電子顕微鏡元素マッピング ( 元素別 ) 173

クリソタイル標準試料 UICC B 5 偏光顕微鏡による光学特性 形態 色 曲線状 白色 多色性 なし 複屈折 低い 伸長性 正 消光角 ( 最大 ) 0 度 屈折率 γ 1.550~1.567 屈折率 α 1.542~1.556 174

6 クリソタイル標準試料 UICC B FT-IR による赤外吸収スペクトル FT-IR 分析 :spectrum100(perkinelmer 社製 ) 検出器 :MIR TGS/ATR( ダイヤモンド /ZnSe) 積算回数 :4 回分解能 4cm-1 175

クリソタイル標準試料 UICC B 7 粉末 X 線回折分析 測定条件等 : X PertPRO(PANalytical 社製 ) CuKα 線 45kv40mA: 発散スリット 1/2 : step scan; step width 0.002 (2θ):scan speed 0.0066 (2θ/s) 8 化学組成 鉄が全て二価の場合 鉄が全て三価の場合 wt% wt% SiO 2 41.63 SiO 2 39.74 Al 2 O 3 1.36 Al 2 O 3 1.30 FeO 3.87 Fe 2 O 3 8.22 MnO 0.07 MnO 0.07 MgO 49.06 MgO 46.84 CaO 0.70 CaO 0.67 Na 2 O 1.58 Na 2 O 1.51 K 2 O 1.18 K 2 O 1.13 P 2 O 5 0.01 以下 P 2 O 5 0.01 以下 その他成分 0.55 その他成分 0.52 測定条件等 :ICP 発光分光分析 Vista MPX( セイコーインスツルメンツ社製 ) ( 鉄は二価と三価を合算した定量値になる為 全て二価または三価と仮定した場合の数値を記載 ) 176

クリソタイル標準試料 UICC B 9 結晶子サイズ 指数 hkl 角度 2θ( ) 結晶子サイズ (nm) 002 12.073 15.7 004 24.312 14.9 060 60.172 6.1 測定条件等 :X PertPRO(PANalytical 社製 ) CuKα 線 45kv40mA: 発散スリット 1/2 : step scan; step width 0.002 (2θ):scan speed 0.0066 (2θ/s) 177

クリソタイル標準試料 UICC B 10 透過型電子顕微鏡形態 測定条件等 : 透過型電子顕微鏡 JEM2010( 日本電子社製 ) 倍率左 2500 倍右 20000 倍 加速電圧 100kv 11 透過型電子顕微鏡電子線回折 測定条件等 : 透過型電子顕微鏡 JEM2010( 日本電子社製 ) 加速電圧 100kv 178

アモサイト標準試料 UICC 1 走査型電子顕微鏡形態 測定条件等 :S-3400N( 日立ハイテクノロジーズ )/BRUKER-AXS Xflash 4010) 倍率 2000 倍 加速電圧 5kv 179

アモサイト標準試料 UICC 2 走査型電子顕微鏡元素組成 cps/ev 22 20 18 16 14 12 O Mn C Fe Mg Si Mn Fe 10 8 6 4 2 0 2 4 6 8 10 12 14 kev 加速電圧 15kv cps/ev 4.0 3.5 3.0 2.5 2.0 Mn O Mg Fe Si Mn Fe 1.5 1.0 0.5 0.0 5 10 15 20 25 30 kev 加速電圧 30kv 測定条件等 :S-3400N( 日立ハイテクノロジーズ )/BRUKER-AXS Xflash 4010) EDX 分析加速電圧 15kv 30kv 180

アモサイト標準試料 UICC 3 走査型電子顕微鏡元素マッピング 4 走査型電子顕微鏡元素マッピング ( 元素別 ) 181

アモサイト標準試料 UICC 5 偏光顕微鏡による光学特性 形態 色 角柱針状 灰色 ~ 茶色 多色性 非常に弱い 複屈折 中度 伸長性 正 消光角 ( 最大 ) 0 度 屈折率 γ 1.689~1.701 屈折率 α 1.664~1.681 182

6 アモサイト標準試料 UICC FT-IR による赤外吸収スペクトル FT-IR 分析 :spectrum100(perkinelmer 社製 ) 検出器 :MIR TGS/ATR( ダイヤモンド /ZnSe) 積算回数 :4 回分解能 4cm-1 183

アモサイト標準試料 UICC 7 粉末 X 線回折分析 測定条件等 : X PertPRO(PANalytical 社製 ) CuKα 線 45kv40mA: 発散スリット 1/2 : step scan; step width 0.002 (2θ):scan speed 0.0066 (2θ/s) 8 化学組成 鉄が全て二価の場合 鉄が全て三価の場合 wt% wt% SiO 2 54.67 SiO 2 47.65 Al 2 O 3 1.13 Al 2 O 3 0.69 FeO 32.90 Fe 2 O 3 44.75 MnO 1.76 MnO 1.08 MgO 6.21 MgO 3.80 CaO 0.82 CaO 0.50 Na 2 O 1.16 Na 2 O 0.71 K 2 O 1.26 K 2 O 0.77 P 2 O 5 0.01 以下 P 2 O 5 0.01 以下 その他成分 0.10 その他成分 0.06 測定条件等 :ICP 発光分光分析 Vista MPX( セイコーインスツルメンツ社製 ) ( 鉄は二価と三価を合算した定量値になる為 全て二価または三価と仮定した場合の数値を記載 ) 184

アモサイト標準試料 UICC 9 結晶子サイズ 指数 hkl 角度 2θ( ) 結晶子サイズ (nm) 020 9.766 42.0 110 10.726 45.0 400 19.084 48.7 測定条件等 :X PertPRO(PANalytical 社製 ) CuKα 線 45kv40mA: 発散スリット 1/2 : step scan; step width 0.002 (2θ):scan speed 0.0066 (2θ/s) 185

アモサイト標準試料 UICC 10 透過型電子顕微鏡形態 測定条件等 : 透過型電子顕微鏡 JEM2010( 日本電子社製 ) 倍率 2500 倍 加速電圧 100kv 11 透過型電子顕微鏡電子線回折 測定条件等 : 透過型電子顕微鏡 JEM2010( 日本電子社製 ) 加速電圧 100kv 186

クロシドライト標準試料 UICC 1 走査型電子顕微鏡形態 測定条件等 :S-3400N( 日立ハイテクノロジーズ )/BRUKER-AXS Xflash 4010) 倍率 2000 倍 加速電圧 5kv 187

クロシドライト標準試料 UICC 2 走査型電子顕微鏡元素組成 cps/ev 20 18 16 14 12 O Mg C Fe Na Si Fe 10 8 6 4 2 0 2 4 6 8 10 12 14 kev 加速電圧 15kv cps/ev 3.0 2.5 2.0 Na O Mg Fe Si Fe 1.5 1.0 0.5 0.0 5 10 15 20 25 30 kev 加速電圧 30kv 測定条件等 :S-3400N( 日立ハイテクノロジーズ )/BRUKER-AXS Xflash 4010) EDX 分析加速電圧 15kv 30kv 188

クロシドライト標準試料 UICC 3 走査型電子顕微鏡元素マッピング 4 走査型電子顕微鏡元素マッピング ( 元素別 ) 189

クロシドライト標準試料 UICC 5 偏光顕微鏡による光学特性 形態 色 角柱針状 青色 多色性 α 青色 γ 灰色 複屈折 低い 伸長性 負 消光角 ( 最大 ) 0 度 屈折率 γ 1.697~1.703 屈折率 α 1.694~1.701 190

6 クロシドライト標準試料 UICC FT-IR による赤外吸収スペクトル FT-IR 分析 :spectrum100(perkinelmer 社製 ) 検出器 :MIR TGS/ATR( ダイヤモンド /ZnSe) 積算回数 :4 回分解能 4cm-1 191

クロシドライト標準試料 UICC 7 粉末 X 線回折分析 測定条件等 : X PertPRO(PANalytical 社製 ) CuKα 線 45kv40mA: 発散スリット 1/2 : step scan; step width 0.002 (2θ):scan speed 0.0066 (2θ/s) 8 化学組成 鉄が全て二価の場合 鉄が全て三価の場合 wt% wt% SiO 2 54.06 SiO 2 47.82 Al 2 O 3 0.61 Al 2 O 3 0.36 FeO 34.76 Fe 2 O 3 45.59 MnO 0.12 MnO 0.07 MgO 2.38 MgO 1.40 CaO 1.44 CaO 0.85 Na 2 O 5.03 Na 2 O 2.97 K 2 O 1.33 K 2 O 0.79 P 2 O 5 0.12 P 2 O 5 0.07 その他成分 0.15 その他成分 0.09 測定条件等 :ICP 発光分光分析 Vista MPX( セイコーインスツルメンツ社製 ) ( 鉄は二価と三価を合算した定量値になる為 全て二価または三価と仮定した場合の数値を記載 ) 192

クロシドライト標準試料 UICC 9 結晶子サイズ 指数 hkl 角度 2θ( ) 結晶子サイズ (nm) 020 9.297 47.7 040 19.737 47.8 110 10.619 52.3 310 28.777 46.0 測定条件等 :X PertPRO(PANalytical 社製 ) CuKα 線 45kv40mA: 発散スリット 1/2 : step scan; step width 0.002 (2θ):scan speed 0.0066 (2θ/s) 193

クロシドライト標準試料 UICC 10 透過型電子顕微鏡形態 測定条件等 : 透過型電子顕微鏡 JEM2010( 日本電子社製 ) 倍率 2500 倍 加速電圧 100kv 11 透過型電子顕微鏡電子線回折 測定条件等 : 透過型電子顕微鏡 JEM2010( 日本電子社製 ) 加速電圧 100kv 194

アンソフィライト標準試料 UICC 1 走査型電子顕微鏡形態 測定条件等 :S-3400N( 日立ハイテクノロジーズ )/BRUKER-AXS Xflash 4010) 倍率 2000 倍 加速電圧 5kv 195

アンソフィライト標準試料 UICC 2 走査型電子顕微鏡元素組成 cps/ev 16 14 12 10 Fe O Mg Si Fe 8 6 4 2 0 2 4 6 8 10 12 14 kev 加速電圧 15kv 4.0 cps/ev 3.5 3.0 2.5 2.0 O Mg Fe Si Fe 1.5 1.0 0.5 0.0 5 10 15 20 25 30 kev 加速電圧 30kv 測定条件等 :S-3400N( 日立ハイテクノロジーズ )/BRUKER-AXS Xflash 4010) EDX 分析加速電圧 15kv 30kv 196

アンソフィライト標準試料 UICC 3 走査型電子顕微鏡元素マッピング 4 走査型電子顕微鏡元素マッピング ( 元素別 ) 197

アンソフィライト標準試料 UICC 5 偏光顕微鏡による光学特性 形態 色 角柱針状 うすい灰色 多色性 なし 複屈折 中度 伸長性 正 消光角 ( 最大 ) 0 度 屈折率 γ 1.610~1.633 屈折率 α 1.607~1.617 198

アンソフィライト標準試料 UICC 6 FT-IR による赤外吸収スペクトル FT-IR 分析 :spectrum100(perkinelmer 社製 ) 検出器 :MIR TGS/ATR( ダイヤモンド /ZnSe) 積算回数 :4 回分解能 4cm-1 199

7 アンソフィライト標準試料 UICC 粉末 X 線回折分析 測定条件等 : X PertPRO(PANalytical 社製 ) CuKα 線 45kv40mA: 発散スリット 1/2 : step scan; step width 0.002 (2θ):scan speed 0.0066 (2θ/s) 8 化学組成 鉄が全て二価の場合 鉄が全て三価の場合 wt% wt% SiO 2 58.02 SiO 2 50.04 Al 2 O 3 2.24 Al 2 O 3 2.24 FeO 6.48 Fe 2 O 3 14.43 MnO 0.13 MnO 0.13 MgO 28.52 MgO 28.55 CaO 0.83 CaO 0.83 Na 2 O 1.60 Na 2 O 1.60 K 2 O 1.46 K 2 O 1.46 P 2 O 5 0.26 P 2 O 5 0.26 その他成分 0.46 その他成分 0.46 測定条件等 :ICP 発光分光分析 Vista MPX( セイコーインスツルメンツ社製 ) ( 鉄は二価と三価を合算した定量値になる為 全て二価または三価と仮定した場合の数値を記載 ) 200

9 アンソフィライト標準試料 UICC 結晶子サイズ 当該アンソフィライト標準試料にはタルクが多く含まれており アンソフィライトのみのエックス線回折ピークを選定することができず 有意なデータが得られなかった 201

アンソフィライト標準試料 UICC 10 透過型電子顕微鏡形態 測定条件等 : 透過型電子顕微鏡 JEM2010( 日本電子社製 ) 倍率 2500 倍 加速電圧 100kv 11 透過型電子顕微鏡電子線回折 測定条件等 : 透過型電子顕微鏡 JEM2010( 日本電子社製 ) 加速電圧 100kv 202

備考 :JIS A 1481-3 の解説に記載された海外の標準試料の輸入 使用に当たっては 労働安全衛生法第 55 条ただし書きに基づき都道府県労働局長の許可が必要となること また 輸入後の譲渡は認められないため 当該試料を使用する予定の分析機関が直接輸入する必要があることに留意すること ただし 輸入に係る輸出元の事業者との調整等諸事務を輸入業者に代行させることについては 輸入業者が輸入行為それ自体を行うものではないため 認められること 203