Agilent 5100 ICP-OES ICP-OES
Agilent 5100 ICP-OES ICP-OES Agilent 5100 (SVDV) ICP-OES ICP-OES (DSC) ICP-OES 1 1 Vista Chip II (DSC) (CCI) RF Agilent ICP Expert DSC Agilent 5100 3 (SVDV) : (VDV) : SVDV (RV) : ICP-OES 120 Agilent 5100 ICP-OES 25 % NaCI における 4 時間の安定性 100 リードバック (%) 80 60 40 20 AI 396.152 As 188.980 Ba 455.403 Cd 214.439 Co 238.892 Cr 267.716 Cu 327.395 0 Mn 257.610 Mo 202.032 Ni 231.604 Pb 220.353 Se 196.026 Sr 407.771 Zn 213.857 0:00 0:30 1:00 1:30 2:00 2:30 3:00 3:30 4:00 時間 (h:mm) 25 % NaCl 4 1.3 % RSD Agilent 5100 ICP-OES 2
55 % 50 % 5100 SVDV ICP-OES 1 1 (DSC) 1 1 > 40 L 20 L 5100 SVDV 27 L 5100 VDV 1 5100 ICP-OES 1 ICP-OES (DSC) ICP-OES 1 4 1. 5991-4821EN (US EPA 200.7 ) 3 www.agilent.com/chem/jp
Agilent 5100 ICP-OES CCI RF
1 DSC 1 1 VistaChip II CCD ICP-OES 5100 ICP-OES www.agilent.com/chem/jp
Agilent 5100 ICP-OES Agilent ICP Expert A オフピークバックグラウンド補正 B バックグラウンド補正フィッティング (FBC) C 分析波長 D FBC を使用しない場合のエラー DSC 5100 ICP-OES 波長 FBC FBC A C D B (FBC) 2481 干渉 スペクトルデータ A (FACT) (IEC) 2000 サンプルスペクトル 分析対象成分 B 強度 1500 C 2 1000 Spectroscopy Configuration Manager (SCM) US FDA 21 CFR Part 11 (IQ/OQ) 490 214.405 214.420 214.440 214.460 214.474 波長 (nm) FACT Cd 214.438 nm Fe A. B. C. Cd (FACT ) 6
SVS2+ 1 5100 ICP-OES 3 1 SPS 4 ( 360 2 3 (MSIS) ppb As Se Hg / (HF) 7 www.agilent.com/chem/jp
20 www.agilent.com/chem/jp 0120-477-111 email_japan@agilent.com 10 Agilent AA Agilent MP-AES Agilent ICP-OES Agilent ICP-MS Agilent ICP-QQQ Agilent Technologies, Inc. 2015 Printed in Japan July 1, 2015 5991-4734JAJP