70 58 01A 1/23
INDEX PE000FA PAGE 1. 静電気放電イミュニティ試験 3 Electrostatic Discharge Immunity Test (IE1000 4 2) 2. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 5 adiated, adio Frequency, Electromagnetic Field Immunity Test (IE1000 4 3) 3. 電気的ファーストトランジェントバーストイミュニティ試験 7 Electrical Fast Transient / Burst Immunity Test (IE1000 4 4) 4. サージイミュニティ試験 12 Surge Immunity Test (IE1000 4 5) 5. 伝導性無線周波数電磁界イミュニティ試験 15 Conducted Disturbances Induced by adio Frequency Field Immunity Test (IE1000 4 6) 6. 電力周波数磁界イミュニティ試験 20 Power Frequency Magnetic Field Immunity Test (IE1000 4 8) 7. 電圧ディップ 瞬停イミュニティ試験 22 Voltage Dips, Short Interruptions Immunity Test (IE1000 4 11) 当社標準測定条件における結果であり 参考値としてお考え願います Test results are reference data based on our standard measurement condition. 2/23
1. Electrostatic Discharge Immunity Test (IE1000 4 2) MODEL : (1) Equipment Used 静電気試験機 : ESS3011 ( ノイズ研究所 ) Electrostatic Discharge Simulator (Noise Laboratory) 放電抵抗 : 330Ω Discharge esistance 静電容量 : 150pF Capacity (2) The Number of D.U.T. (Device Under Test) 12 : 1 台 (unit) 48 : 1 台 (unit) 28 : 1 台 (unit) (3) Test Conditions 入力電圧 : 100VAC, 230VAC 出力電圧 : 定格 Input Voltage Output Voltage ated 出力電流 : 12 0A, 60A (0%,100%) 極性 : +,- Output Current 28 0A, 36A (0%,100%) Polarity 48 0A, 21A (0%,100%) 試験回数 : 10 回 ベースプレート温度 : 25 o C Number of Tests 10 times Base Plate Temperature 放電間隔 : >1 秒 Discharge Interval >1 second (4) Test Method and Device Test Point 接触放電 : 端子 Contact Discharge Terminal 気中放電 : 入出力端子 Air Discharge Input and Output Terminal ノイズフィルター Noise Filter 絶縁板 Insulation AC Input アナログ電圧計 (*) Analog Voltage Meter 放電ガン V Discharge gun 供試体 D.U.T. 負荷 Load アルミプレート Aluminum Plate リターンケーブル eturn cable 静電気試験器 Electrostatic Discharge Simulator OUTPUT 木製台 Wooden Table 抵抗 470kΩ 抵抗 470kΩ 0.8 m グランドプレーン GND Plane (*) オシロスコープが誤動作する為 アナログ電圧計を使用 Analog Voltage Meter is used because Oscilloscope may malfunction. 3/23
(5) Test Circuit 静電気試験機器 Electrostatic Discharge Simulator GND 1 BASE PLATE TIM +ON/OFF 5 6 7 8 9 0 TF2 T 1 2 3 4 フィルムコンデンサ (,,,) : 250VAC 1µF セラミックコンデンサ (8) : 100V 2.2µF セラミックコンデンサ (,) : 250VAC 470pF チョークコイル (,,) : 2mH セラミックコンデンサ (,) : 250VAC 4700pF 抵抗 (1) : 0.5W 470kΩ フィルムコンデンサ (,0) : 450V 1µF 温度ヒューズ (T,TF2) : 5.1Ω 139 C Thermal fuse 電解コンデンサ (1,2,3,4) : 450V 390µF 使用ヒューズ () : 250VAC 25A フィルムコンデンサ (5,6) : 250VAC 0.033µF 電解コンデンサ (7,9) 12V : 25V 1000µF 28V : 50V 470µF 48V : 100V 220µF (6) Acceptable Conditions 1. 入力再投入を必要とする一時的な機能低下のない事 Must not have temporary function degradation that requires input restart. (7) Test esult Contact Discharge 12 28 48 4kV (Level 2) Air Discharge 12 28 48 8kV (Level 3) 4/23
2. adiated, adio Frequency, Electromagnetic Field Immunity Test (IE1000 4 3) MODEL : 48 (1) Equipment Used シグナルジェネレータ Signal Generator パワーアンプ (80MHz~1GHz) Power Amplifier パワーアンプ (1GHz~3GHz) Power Amplifier 照射用アンテナ (80MHz~3GHz) BiConiLog Antenna 電界強度センサー Electric field sensor : N5173B (KEYSIGHT) : MT400 (PANA) : AP32SV125 (PANA) : 3142C (EMCO) : HI 6005 (ETS LINDGEN) (2) The Number of D.U.T (Device Under Test) 48 : 1 台 (unit) (3) Test Conditions 入力電圧 : 100VAC, 230VAC 出力電圧 : 定格 Input Voltage Output Voltage ated 出力電流 : 0A, 21A(0%, 100%) 振幅変調 : 80%, 1kHz Output Current Amplitude Modulated ベースプレート温度 : 25 o C 偏波 : 水平 垂直 Base Plate Temperature Wave Angle Horizontal and Vertical 距離 : 3.0m Distance スイープコンディション : 1.0% ステップ 0.5 秒保持 Sweep Conditions 1.0% step up, 0.5 seconds hold 試験方向 : 上下 左右 前後 Test Angle Top/Bottom, Both Sides, Front/Back 電磁界周波数 : 80MHz~1GHz, 1.4GHz~2.0GHz, 2.0GHz~2.7GHz Electromagnetic Frequency (4) Test Method AC INPUT ノイズフィルター Noise Filter 0.8 m アナログ電圧計 (*) Analog Voltage Meter 供試体 D.U.T. V 負荷 Load 木製台 Wooden Table グランドプレーン GND Plane アルミプレート Aluminum Plate アンテナ Antenna (*) オシロスコープが誤動作する為 アナログ電圧計を使用 Analog Voltage Meter is used because Oscilloscope may malfunction. 無反響体 Anechoic material to reduce floor reflections 5/23
(5) Test Circuit 1 TIM BASE PLATE +ON/OFF 5 6 7 8 9 0 フィルムコンデンサ (,,,) : 250VAC 1µF セラミックコンデンサ (,) : 250VAC 470pF セラミックコンデンサ (,) : 250VAC 4700pF フィルムコンデンサ (,0) : 450V 1µF 電解コンデンサ (1,2,3,4) : 450V 390µF フィルムコンデンサ (5,6) : 250VAC 0.033µF 電解コンデンサ (7,9) : 100V 220µF セラミックコンデンサ (8) : 100V 2.2µF チョークコイル (,,) : 2mH 抵抗 (1) : 0.5W 470kΩ 温度ヒューズ (T,TF2) : 5.1Ω 139 C Thermal Fuse 使用ヒューズ () : 250VAC 25A TF2 T 1 2 3 4 (6) Acceptable Conditions 1. 試験中 5% を超える出力電圧の変動のない事 The regulation of output voltage must not exceed 5% of initial value during test. (7) Test esult Electromagnetic Frequency 80MHz 1000MHz 1.4GHz 2.0GHz 2.0GHz 2.7GHz Magnetic Field Strength 10V/m 3V/m 1V/m 48 6/23
3. Electrical Fast Transient / Burst Immunity Test (IE1000 4 4) MODEL : (1) Equipment Used バースト試験機 : FNS AX3 B50B ( ノイズ研究所 ) EFT/B Generator (Noise Laboratory) カップリングクランプ : 15 00001A ( ノイズ研究所 ) Coupling Clamp (Noise Laboratory) (2) The Number of D.U.T. (Device Under Test) 12 : 1 台 (unit) 28 : 1 台 (unit) 48 : 1 台 (unit) (3) Test Conditions 入力電圧 : 100VAC, 230VAC ベースプレート温度 : 25 o C Input Voltage Base Plate Temperature 出力電圧 : 定格 試験時間 : 1 分間 Output Voltage ated Test Time 1 minute 出力電流 : 12 0A, 60A(0%, 100%) パルス周波数 : 5kHz Output Current 28 0A, 36A(0%, 100%) Pulse Frequency 48 0A, 21A(0%, 100%) パルス個数 : 75pcs 極性 : +, - Number of Pulse Polarity バースト期間 : 15msec. 試験回数 : 1 回 Burst Time Number of Tests 1 Time バースト周期 : 300msec. Burst Cycle (4) Test Method and Device Test Points A. 入力ポート : に同時に印加 Input port : Apply to,, all the same time. AC Input EFT/B 発生器 EFT/B Generator 0.5±0.05 m ノイズフィルター Noise Filter 供試体 D.U.T. V アナログ電圧計 (*) Analog Voltage Meter 負荷 Load 絶縁支持具 Insulating Support 0.1 m アルミプレート Aluminum Plate 木製台 Wooden Table グランドプレーン GND Plane 0.8 m (*) オシロスコープが誤動作する為 アナログ電圧計を使用 Analog Voltage Meter is used because Oscilloscope may malfunction. 7/23
B. 出力ポート : に同時に印加 Output port : Apply to and all the same time. ノイズフィルター Noise Filter アナログ電圧計 (*) Analog Voltage Meter V 0.5±0.05 m 0.1 m AC Input 供試体 D.U.T. 負荷 Load EFT/B 発生器 EFT/B Generator 0.8 m 絶縁支持具 Insulating Support アルミプレート Aluminum Plate 木製台 Wooden Table グランドプレーン GND Plane (*) オシロスコープが誤動作する為 アナログ電圧計を使用 Analog Voltage Meter is used because Oscilloscope may malfunction. C. 信号ポート : (, +ON/OFF) に印加 Input port : Apply to, +ON/OFF. ノイズフィルター Noise Filter アナログ電圧計 (*) Analog Voltage Meter V カップリングクランプ Coupling Clamp AC Input 供試体 D.U.T. 負荷 Load 0.1 m EFT/B 発生器 EFT/B Generator 0.8 m 絶縁支持具 Insulating Support アルミプレート Aluminum Plate 木製台 Wooden Table グランドプレーン GND Plane (*) オシロスコープが誤動作する為 アナログ電圧計を使用 Analog Voltage Meter is used because Oscilloscope may malfunction. 8/23
(5) Test Circuit A. 入力ポート : に同時に印加 Input port : Apply to,, all the same time. EFT/B 発生器 EFT/B Generator GND 1 TIM BASE PLATE +ON/OFF 5 6 7 8 9 0 TF2 T 1 2 3 4 フィルムコンデンサ (,,,) : 250VAC 1µF セラミックコンデンサ (,) : 250VAC 470pF セラミックコンデンサ (,) : 250VAC 4700pF フィルムコンデンサ (,0) : 450V 1µF 電解コンデンサ (1,2,3,4) : 450V 390µF フィルムコンデンサ (5,6) : 250VAC 0.033µF 電解コンデンサ (7,9) 12V : 25V 1000µF 28V : 50V 470µF 48V : 100V 220µF セラミックコンデンサ (8) : 100V 2.2µF チョークコイル (,,) : 2mH 抵抗 (1) : 0.5W 470kΩ 温度ヒューズ (T,TF2) : 5.1Ω 139 C Thermal Fuse 使用ヒューズ () : 250VAC 25A (6) Acceptable Conditions 1. 入力再投入を必要とする一時的な機能低下のない事 Must not have temporary function degradation that requires input restart. (7) Test esult Test port Test Voltage 12 28 48 Input [,,] 2kV (Level 3) 9/23
(8) Test Circuit B. 出力ポート : に同時に印加 Output port : Apply to and all the same time. 1 TIM BASE PLATE +ON/OFF 5 6 7 8 9 EFT/B 発生器 EFT/B Generator GND 0 TF2 T 1 2 3 4 フィルムコンデンサ (,,,) : 250VAC 1µF セラミックコンデンサ (,) : 250VAC 470pF セラミックコンデンサ (,) : 250VAC 4700pF フィルムコンデンサ (,0) : 450V 1µF 電解コンデンサ (1,2,3,4) : 450V 390µF フィルムコンデンサ (5,6) : 250VAC 0.033µF 電解コンデンサ (7,9) 12V : 25V 1000µF 28V : 50V 470µF 48V : 100V 220µF セラミックコンデンサ (8) : 100V 2.2µF チョークコイル (,,) : 2mH 抵抗 (1) : 0.5W 470kΩ 温度ヒューズ (T,TF2) : 5.1Ω 139 C Thermal Fuse 使用ヒューズ () : 250VAC 25A (9) Acceptable Conditions 1. 入力再投入を必要とする一時的な機能低下のない事 Must not have temporary function degradation that requires input restart. (10) Test esult Test port Test Voltage 12 28 48 Output (, ) 2kV (Level 3) 10/23
(11) Test Circuit C. 信号ポート : (, +ON/OFF) に印加 Signal port : Apply to, +ON/OFF. SW A: 電源出力 ON Output voltage ON B: 電源出力 OFF Output voltage OFF 1 TIM BASE PLATE +ON/OFF TF2 T 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 カップリングクランプ Coupling Clamp EFT/B 発生器 EFT/B Generator GND SW A B フィルムコンデンサ (,,,) : 250VAC 1µF セラミックコンデンサ (,) : 250VAC 470pF セラミックコンデンサ (,) : 250VAC 4700pF フィルムコンデンサ (,0) : 450V 1µF 電解コンデンサ (1,2,3,4) : 450V 390µF フィルムコンデンサ (5,6) : 250VAC 0.033µF 電解コンデンサ (7,9) 12V : 25V 1000µF 28V : 50V 470µF 48V : 100V 220µF セラミックコンデンサ (8) : 100V 2.2µF チョークコイル (,,) : 2mH 抵抗 (1) : 0.5W 470kΩ 温度ヒューズ (T,TF2) : 5.1Ω 139 C Thermal Fuse 使用ヒューズ () : 250VAC 25A (12) Acceptable Conditions 1. 入力再投入を必要とする一時的な機能低下のない事 Must not have temporary function degradation that requires input restart. (13) Test esult Test port Test Voltage 12 28 48 Signal (, +ON/OFF) 1kV (Level 2) 11/23
4. Surge Immunity Test (IE1000 4 5) MODEL : (1) Equipment Used サージ試験機 : LSS F02A1A ( ノイズ研究所 ) Surge Simulator (Noise Laboratory) 結合インピーダンス : コモン 12Ω Coupling Impedance Common : ノーマル 2Ω Normal 結合コンデンサ : コモン 9μF Coupling Capacitance Common : ノーマル 18μF Normal (2) The Number of D.U.T. (Device Under Test) 12 : 1 台 (unit) 48 : 1 台 (unit) 28 : 1 台 (unit) (3) Test Conditions 入力電圧 : 100VAC, 230VAC 出力電圧 : 定格 Input Voltage Output Voltage ated 出力電流 : 12 0A, 60A(0%, 100%) 極性 : +, - Output Current 28 0A, 36A(0%, 100%) Polarity 48 0A, 21A(0%, 100%) 位相 : 0, 90, 180, 270deg Phase 試験回数 : 5 回 ベースプレート温度 : 25 o C Number of Tests 5 Times Base Plate Temperature モード : コモン ノーマル Mode Common, Normal (4) Test Method and Device Test Points コモンモード [, ] 及びノーマルモード [ ] に印加 Apply to Common mode [, ] and Normal mode [ ]. V アナログ電圧計 (*) Analog Voltage Meter ノイズフィルター Noise Filter 供試体 D.U.T. 負荷 Load アルミプレート Aluminum Plate AC Input サージ試験器 Surge Simulator 0.8 m 木製台 Wooden Table グランドプレーン GND Plane (*) オシロスコープが誤動作する為 アナログ電圧計を使用 Analog Voltage Meter is used because Oscilloscope may malfunction. 12/23
(5) 試験回路 Test Circuit Application for MON : 4kV (Level 4), NOMAL : 2kV (Level 3) サージ試験機 Surge Simulator GND SA2 SA1 SA3 1 BASE PLATE TIM +ON/OFF 5 6 7 8 9 0 フィルムコンデンサ (,,,) : 250VAC 1µF セラミックコンデンサ (,) : 250VAC 470pF セラミックコンデンサ (,) : 250VAC 4700pF フィルムコンデンサ (,0) : 450V 1µF 電解コンデンサ (1,2,3,4) : 450V 390µF フィルムコンデンサ (5,6) : 250VAC 0.033µF 電解コンデンサ (7,9) 12V : 25V 1000µF 28V : 50V 470µF 48V : 100V 220µF セラミックコンデンサ (8) : 100V 2.2µF チョークコイル (,,) : 2mH 抵抗 (1) : 0.5W 470kΩ 温度ヒューズ (T,TF2) : 5.1Ω 139 C Thermal Fuse 使用ヒューズ () : 250VAC 25A サージアブソーバ (SA1) : TND20SE471 (NIPPON CHEMI ) Surge Absorber サージアブソーバ (SA2, SA3) : DSAZ2 302M (MITSUBISHI) Surge Absorber T TF2 1 2 3 4 (6) Acceptable Conditions 1. 入力再投入を必要とする一時的な機能低下のない事 Must not have temporary function degradation that requires input restart. (7) Test esult Test Mode Test Voltage 12 Common 4kV (Level 4) Normal 2kV (Level 3) 28 48 13/23
(8) 試験回路 Test Circuit Application for MON : 6kV (Level X ), NOMAL : 6kV (Level X) サージ試験機 Surge Simulator GND SA2 SA1 SA3 1 SA4 BASE PLATE TIM +ON/OFF 5 6 7 8 9 0 T TF2 1 2 3 4 フィルムコンデンサ (,,,) : 250VAC 1µF セラミックコンデンサ (,) : 250VAC 470pF セラミックコンデンサ (,) : 250VAC 4700pF フィルムコンデンサ (,0) : 450V 1µF 電解コンデンサ (1,2,3,4) : 450V 390µF フィルムコンデンサ (5,6) : 250VAC 0.033µF 電解コンデンサ (7,9) 12V : 25V 1000µF 28V : 50V 470µF 48V : 100V 220µF セラミックコンデンサ (8) : 100V 2.2µF チョークコイル (,,) : 2mH 抵抗 (1) : 0.5W 470kΩ 温度ヒューズ (T,TF2) : 5.1Ω 139 C Thermal Fuse 使用ヒューズ () : 250VAC 25A サージアブソーバ (SA1, SA4) : TND20SE471 (NIPPON CHEMI ) Surge Absorber サージアブソーバ (SA2, SA3) : DSAZ2 302M (MITSUBISHI) Surge Absorber (9) Acceptable Conditions 1. 入力再投入を必要とする一時的な機能低下のない事 Must not have temporary function degradation that requires input restart. (10) Test esult Test Mode Test Voltage 12 Common 6kV (Level X) Normal 6kV (Level X) 28 48 14/23
5. Conducted Disturbances, Induced by adio Frequency Field Immunity Test (IE1000 4 6) MODEL : 48 (1) Equipment Used シグナルジェネレータ : 8665B (HP) Signal Generator パワーアンプ : 5048 (Ophir) Power Amplifier 減衰器 : 40 6 33 (Weinschel) Attenuator 結合 / 減結合ネットワーク : KSI 8003S (KYOITSU) Coupling De coupling Network (CDN) EMクランプ : KT 30 (KYOITSU) Electro Magnetic Clamp (2) The Number of D.U.T. (Device Under Test) 48 : 1 台 (unit) (3) Test Conditions 入力電圧 : 100VAC, 230VAC 出力電圧 : 定格 Input Voltage Output Voltage ated 出力電流 : 0A, 21A (0, 100%) 電磁界周波数 : 150kHz~80MHz Output Current Electromagnetic Frequency スイープコンディション : 1.0% ステップ 0.5 秒保持 ベースプレート温度 : 25 o C Sweep Condition 1.0% step up, 0.5 seconds hold Base plate Temperature (4) Test Method and Device Test Point A. 入力ポート : に同時に印加 Input port : Apply to, and all the same time. AC Input Line F 入力 F Input 結合 / 減結合ネットワーク CDN 0.1~0.3m ノイズフィルター Noise Filter 木製台 供試体 D.U.T. V Wooden Table アナログ電圧計 (*) Analog Voltage Meter 負荷 Load アルミプレート Aluminum Plate 0.1m グランドプレーン GND Plane (*) オシロスコープが誤動作する為 アナログ電圧計を使用 Analog Voltage Meter is used because Oscilloscope may malfunction. 15/23
B. 出力ポート : に同時に印加 Output port : Apply to and all the same time. AC Input ノイズフィルター Noise Filter 供試体 D.U.T. V アナログ電圧計 (*) Analog Voltage Meter 負荷 Load 妨害波信号入力 F Input EM クランプ Electro Magnetic Clamp Line 木製台 Wooden Table 0.1m アルミプレート Aluminum Plate グランドプレーン GND Plane (*) オシロスコープが誤動作する為 アナログ電圧計を使用 Analog Voltage Meter is used because Oscilloscope may malfunction. C. 信号ポート : (, +ON/OFF) に印加 Signal port : Apply to, +ON/OFF. AC Input ノイズフィルター Noise Filter 供試体 D.U.T. V アナログ電圧計 (*) Analog Voltage Meter 負荷 Load 信号ポート Signal Port 妨害波信号入力 F Input EM クランプ Electro Magnetic Clamp Line 木製台 Wooden Table 0.1m アルミプレート Aluminum Plate グランドプレーン GND Plane (*) オシロスコープが誤動作する為 アナログ電圧計を使用 Analog Voltage Meter is used because Oscilloscope may malfunction. 16/23
(5) Test Circuit A. 入力ポート : に同時に印加 Input port : Apply to, and all the same time. 妨害波信号入力 F Input 結合 / 減結合ネットワーク CDN GND 1 TIM BASE PLATE +ON/OFF 5 6 7 8 9 0 TF2 T 1 2 3 4 フィルムコンデンサ (,,,) : 250VAC 1µF 抵抗 (1) : 0.5W 470kΩ セラミックコンデンサ (,) : 250VAC 470pF 温度ヒューズ (T,TF2) : 5.1Ω 139 C Thermal Fuse セラミックコンデンサ (,) : 250VAC 4700pF 使用ヒューズ () : 250VAC 25A フィルムコンデンサ (,0) : 450V 1µF 電解コンデンサ (1,2,3,4) : 450V 390µF フィルムコンデンサ (5,6) : 250VAC 0.033µF 電解コンデンサ (7,9) : 100V 220µF セラミックコンデンサ (8) : 100V 2.2µF チョークコイル (,,) : 2mH (6) Acceptable Conditions 1. 試験中 5% を超える出力電圧の変動のない事 The regulation of output voltage must not exceed 5% of initial value during test. (7) Test esult Test Port Test Voltage 48 Input [,, ] 10V (Level 3) 17/23
(8) Test Circuit B. 出力ポート : に同時に印加 Output port : Apply to and all the same time. EM クランプ Electro Magnetic Clamp 1 TIM BASE PLATE +ON/OFF 5 6 7 8 9 妨害波信号入力 F Input TF2 0 1 2 T 3 4 フィルムコンデンサ (,,,) : 250VAC 1µF 抵抗 (1) : 0.5W 470kΩ セラミックコンデンサ (,) : 250VAC 470pF 温度ヒューズ (T,TF2) : 5.1Ω 139 C Thermal Fuse セラミックコンデンサ (,) : 250VAC 4700pF 使用ヒューズ () : 250VAC 25A フィルムコンデンサ (,0) : 450V 1µF 電解コンデンサ (1,2,3,4) : 450V 390µF フィルムコンデンサ (5,6) : 250VAC 0.033µF 電解コンデンサ (7,9) : 100V 220µF セラミックコンデンサ (8) : 100V 2.2µF チョークコイル (,,) : 2mH (9) Acceptable Conditions 1. 試験中 5% を超える出力電圧の変動のない事 The regulation of output voltage must not exceed 5% of initial value during test. (10) Test esult Test Port Test Voltage 48 OutPut (, ) 10V (Level 3) 18/23
(11) Test Circuit C. 信号ポート : (, +ON/OFF) に印加 Signal port : Apply to, +ON/OFF. 1 BASE PLATE TIM +ON/OFF 5 6 7 8 9 EM クランプ Electro Magnetic Clamp SW A: 電源出力 ON Output voltage ON B: 電源出力 OFF Output voltage OFF TF2 T 0 1 2 3 4 妨害波信号入力 F Input SW A B フィルムコンデンサ (,,,) : 250VAC 1µF 抵抗 (1) : 0.5W 470kΩ セラミックコンデンサ (,) : 250VAC 470pF 温度ヒューズ (T,TF2) : 5.1Ω 139 C Thermal Fuse セラミックコンデンサ (,) : 250VAC 4700pF 使用ヒューズ () : 250VAC 25A フィルムコンデンサ (,0) : 450V 1µF 電解コンデンサ (1,2,3,4) : 450V 390µF フィルムコンデンサ (5,6) : 250VAC 0.033µF 電解コンデンサ (7,9) : 100V 220µF セラミックコンデンサ (8) : 100V 2.2µF チョークコイル (,,) : 2mH (12) Acceptable Conditions 1. 試験中 5% を超える出力電圧の変動のない事 The regulation of output voltage must not exceed 5% of initial value during test. (13) Test esult Test Port Test Voltage 48 Signal (, +ON/OFF) 10V (Level 3) 19/23
6. Power Frequency Magnetic Field Immunity Test (IE1000 4 8) MODEL : (1) Equipment Used ACパワーソース : AA2000XG ( 高砂製作所 ) AC Power Source (TAKASAGO) ヘルムホルツコイル : HHS5215 ( シュプーレン ) Helmholts Coil (Spulen) (2) The Number of D.U.T. (Device Under Test) 12 : 1 台 (unit) 48 : 1 台 (unit) 28 : 1 台 (unit) (3) Test Conditions 入力電圧 : 100VAC, 230VAC 出力電圧 : 定格 Input Voltage Output Voltage ated 出力電流 : 12 0A, 60A(0%, 100%) ベースプレート温度 :25 o C Output Current 28 0A, 36A(0%, 100%) Base Plate Temperature 48 0A, 21A(0%, 100%) 試験方向 :X, Y, Z 印加磁界周波数 : 50Hz, 60Hz Test Angle Magnetic Frequency 試験時間 : >10 秒 Test Time >10 seconds (4) Test Method and Device Test Point ヘルムホルツコイル Helmholts Coil 1.5m ノイズフィルター Noise Filter アナログ電圧計 (*) Analog Voltage Meter 供試体 D.U.T. V 負荷 Load 1.5m AC Input 木製台 Wooden Table 0.8 m AC パワーソース AC Power Source (*) オシロスコープが誤動作する為 アナログ電圧計を使用 Analog Voltage Meter is used because Oscilloscope may malfunction. 20/23
(5) Test Circuit 1 BASE PLATE TIM +ON/OFF 5 6 7 8 9 0 TF2 T 1 2 3 4 フィルムコンデンサ (,,,) : 250VAC 1µF セラミックコンデンサ (,) : 250VAC 470pF セラミックコンデンサ (,) : 250VAC 4700pF フィルムコンデンサ (,0) : 450V 1µF 電解コンデンサ (1,2,3,4) : 450V 390µF フィルムコンデンサ (5,6) : 250VAC 0.033µF 電解コンデンサ (7,9) 12V : 25V 1000µF 28V : 50V 470µF 48V : 100V 220µF セラミックコンデンサ (8) : 100V 2.2µF チョークコイル (,,) : 2mH 抵抗 (1) : 0.5W 470kΩ 温度ヒューズ (T,TF2) : 5.1Ω 139 C Thermal Fuse 使用ヒューズ () : 250VAC 25A (6) Acceptable Conditions 1. 試験中 5% を超える出力電圧の変動のない事 The regulation of output voltage must not exceed 5% of initial value during test. (7) Test esult Magnetic Field Strength 12 28 48 30A/m (Level 4) 21/23
7. Voltage dips, short interruptions Immunity Test (IE1000 4 11) MODEL : (1) Equipment Used 試験発生器 : 6000L ( 菊水電子工業 ) Test Generator (KIKUSUI ) (2) The Number of D.U.T. (Device Under Test) 12 : 1 台 (unit) 48 : 1 台 (unit) 28 : 1 台 (unit) (3) Test Conditions 入力電圧 : 100VAC, 230VAC 出力電圧 : 定格 Input Voltage Output Voltage ated 出力電流 : 12 60A(100%) ベースプレート温度 : 25 o C Output Current 28 36A(100%) Base Plate Temperature 48 21A(100%) 試験回数 : 1 回 試験間隔 : >10 秒 Number of Tests 1time Test Interval >10 seconds (4) Test Method and Device Test Point ノイズフィルター Noise Filter オシロスコープ Oscilloscope 供試体 D.U.T. 負荷 Load AC Input 試験発生器 Test Generator 0.8 m 木製台 Wooden Table 22/23
(5) 試験回路 Test Circuit 1 TIM BASE PLATE +ON/OFF 5 6 7 8 9 0 TF2 T 1 2 3 4 フィルムコンデンサ (,,,) : 250VAC 1µF セラミックコンデンサ (8) : 100V 2.2µF セラミックコンデンサ (,) : 250VAC 470pF チョークコイル (,,) : 2mH セラミックコンデンサ (,) : 250VAC 4700pF 抵抗 (1) : 0.5W 470kΩ フィルムコンデンサ (,0) : 450V 1µF 温度ヒューズ (T,TF2) : 5.1Ω 139 C Thermal Fuse 電解コンデンサ (1,2,3,4) : 450V 390µF 使用ヒューズ () : 250VAC 25A フィルムコンデンサ (5,6) : 250VAC 0.033µF 電解コンデンサ (7,9) 12V : 25V 1000µF 28V : 50V 470µF 48V : 100V 220µF (6) Acceptable Conditions 1. 入力再投入を必要とする一時的な機能低下のない事 Must not have temporary function degradation that requires input restart. (7) Test esult Test Level (Class3) 70% Dip ratio Duration 30% 500ms 12 28 48 40% 60% 200ms 0% 100% 20ms 0% 100% 5000ms 23/23