I N D E X PAGE 1. イミュニティ試験結果サマリ R-1 Summary of Immunity Test Result

Similar documents
I N D E X PAGE 1. イミュニティ試験結果サマリ R-1 Summary of Immunity Test Result

INDEX PAGE 1. 静電気放電イミュニティ試験 3 Electrostatic Discharge Immunity Test (IEC ) 2. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 4 Radiated Radio Frequency Electromagnetic F

INDEX PAGE. 静電気放電イミュニティ試験 3 Electrostatic Discharge Immunity Test (IEC ) 2. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 4 Radiated Radio Frequency Electromagnetic Fiel

INDEX PAGE. 静電気放電イミュニティ試験 3 Electrostatic Discharge Immunity Test (IEC ) 2. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 4 Radiated Radio Frequency Electromagnetic Fiel

INDEX PAGE 1. 静電気放電イミュニティ試験 3 Electrostatic Discharge Immunity Test (IEC ) 2. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 5 Radiated, Radio Frequency, Electromagnetic

INDEX PAGE 1. 静電気放電イミュニティ試験 3 Electrostatic Discharge Immunity Test (IEC ) 2. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 5 Radiated, Radio Frequency, Electromagnetic

INDEX PAGE. 静電気放電イミュニティ試験 3 Electrostatic Discharge Immunity Test (IEC ) 2. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 4 Radiated Radio-Frequency Electromagnetic Fiel

INDEX PAGE 1. 静電気放電イミュニティ試験 3 Electrostatic Discharge Immunity Test (IEC ) 2. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 5 Radiated, Radio Frequency, Electromagnetic

INDEX PAGE 1. 静電気放電イミュニティ試験 3 Electrostatic Discharge Immunity Test (IEC ) 2. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 5 Radiated, Radio Frequency, Electromagnetic

○MTBF_HFS150A_ xls

INDEX PE000FA PAGE 1. 静電気放電イミュニティ試験 3 Electrostatic Discharge Immunity Test (IE ) 2. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 5 adiated, adio Frequency, Electromagn

PH150A280 TEST DATA IEC61000 SERIES テストデータ IEC61000 シリーズ TDK-Lambda C

INDEX PH50A280-* PAGE 1. 静電気放電イミュニティ試験 Electrostatic discharge immunity test (IEC ) E-1 2. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 E-3 Radiated, radio-frequency,

Visio-CA A.vsd

IEC シリーズ イミュニティ試験規格の概要

LFS 雑音端子電圧 onducted Emission Vin: 100V / 50Hz Limit(QP): VI lass Limit(V): VI lass 150.1k k k V ata List

INDEX PAGE 1. Evaluation Method 1 1. 測定回路 Measurement Circuits 3 (1) 静特性 待機電力特性 通電ドリフト特性 その他特性 Steady state, Standby power, Warm up voltage drift and

INDEX PAGE 1. Evaluation Method 1 1. 測定回路 Measurement Circuits 3 (1) 静特性 待機電力特性 通電ドリフト特性 その他特性 Steady state, Standby power, Warm up voltage drift and

j9c11_avr.fm

1_30B_Top_INDEX_OK.xls

TDK-Lambda INDEX 1. 評価方法 Evaluation Method PAGE 1.1 測定回路 Measurement Circuits... T-1 (1) 静特性 過電流保護特性 出力リップル ノイズ波形 Steady state characteristics, Over c

INDEX RWS50B 1. 測定方法 Evaluation Method PAGE 1.1 測定回路 Circuit used for determination 測定回路 1 Circuit 1 used for determination... T-1 静特性 Steady state da

OPA134/2134/4134('98.03)

Specification for Manual Pulse Generator, GFK-2262

PA M01 LITEON SPEC Rev A

HA17458シリーズ データシート

LMC6082 Precision CMOS Dual Operational Amplifier (jp)

LMC6022 Low Power CMOS Dual Operational Amplifier (jp)

INDEX 1. 測定方法 Evaluation Method PAGE 1.1 測定回路 Circuit used for determination 測定回路 1 Circuit 1 used for determination... T-1 静特性 Steady state data 通電ドリ

0_表紙_A.xls

(2/17) 5 4 C 2 7%RH 6

IEC :2014 (ed. 4) の概要 (ed. 2)

INDEX 1. 測定方法 Evaluation Method PAGE 1.1 測定回路 Circuit used for determination 測定回路 1 Circuit 1 used for determination... 4 静特性 Steady state data 通電ドリフト


OPA277/2277/4277 (2000.1)

INDEX KWS25A PAGE 1. Evaluation Method 1 1. 測定回路 Circuit used for determination 測定回路 1 Circuit 1 used for determination 4 静特性 Steady state data 通電ドリフト

Helvetica bold 30 pts two lines

LT 低コスト、シャットダウン機能付き デュアルおよびトリプル300MHz 電流帰還アンプ

Visio-A A.vsd

LM837 Low Noise Quad Operational Amplifier (jp)

LMV851/LMV852/LMV854 8 MHz Low Power CMOS, EMI Hardened Operational Amplifi(jp)

LM7171 高速、高出力電流、電圧帰還型オペアンプ

電力線重畳型機器認証技術

LMC7101/101Q Tiny Low Pwr Op Amp w/Rail-to-Rail Input and Output (jp)

INDEX PAGE 1. Evaluation Method 1 1. 測定回路 Circuit used for determination 測定回路 1 Circuit 1 used for determination 4 静特性 Steady state data 通電ドリフト特性 Warm

ISO 11452シリーズの概要 前編: ECE R10.05 に関係する規格

0_表紙_A.xls

NJM78L00S 3 端子正定電圧電源 概要 NJM78L00S は Io=100mA の 3 端子正定電圧電源です 既存の NJM78L00 と比較し 出力電圧精度の向上 動作温度範囲の拡大 セラミックコンデンサ対応および 3.3V の出力電圧もラインアップしました 外形図 特長 出力電流 10

Fan mm San Ace 36 9GX/9GV type (Model no.: 9GX3612P3K1 only) / General Specifications Material Frame: Plastic (Flammability: UL 94V-), Impell

untitled

pc725v0nszxf_j

Options(Unit : mm) Finger guards Model :19-139E :19-139H 53 Surface treatment :Nickel-chrome plating (silver) :Cation electropainting (black) Inlet si

FreeSpace.book

Unidirectional Measurement Current-Shunt Monitor with Dual Comparators (Rev. B

Microsoft Word - p3-p7_研究報告_本文-1-ヘッダー付き

untitled

Microsoft PowerPoint - pp601-1.ppt

EMC設備案内_2017版

elm1117hh_jp.indd

CISPR 32の概要 (ed. 2)

PowerPoint プレゼンテーション

XFEL/SPring-8

CA xls

MITSUMI Any products mentioned in this catalog are subject to any modification in their appearance and others for improvements without prior notificat

Plastic Package (Note 12) Note 1: ( ) Top View Order Number T or TF See NS Package Number TA11B for Staggered Lead Non-Isolated Package or TF11B for S


MainOfManuscript.dvi

はじめに 本資料は NTTグループで使用する高電圧直流で動作するICT 装置等に関わる給電インタフェースや機能について 必要な要求条件を述べたものです 本文中に記載する条件等は 情報通信システムに対する給電システム全体の信頼性 安全性を確保する上で必要とされるものです なお 本資料に記載する内容は

PS5042 Through-hole Phototransistor/Right Angle Type 特長 パッケージ 製品の特長 サイドビュータイプ 無色透明樹脂 光電流 : 1.4mA TYP. (V CE =5V,Ee=1mW/cm 2 ) 鉛フリーはんだ耐熱対応 RoHS 対応 ピーク感

pc123xnnsz_j

dr-timing-furukawa4.pptx[読み取り専用]

pc817xj0000f_j

AD8212: 高電圧の電流シャント・モニタ

Triple 2:1 High-Speed Video Multiplexer (Rev. C

ISO & ISO の概要

Airflow - Static Pressure Characteristics DC % 6% % Airflow 風量 PWM PWMDuty デューティ Cycle %

AN504 Through-hole IRED/Right Angle Type 特長 パッケージ 製品の特長 φ3.6 サイドビュ - タイプ 無色透明樹脂 光出力 : 5mW TYP. (I F =50mA) 鉛フリーはんだ耐熱対応 RoHS 対応 ピーク発光波長指向半値角素子材質ランク選別はん

絶縁抵抗試験機 ST550 Output transformer High voltage output Switching power supply DUT Discharge circuit Voltage monitor Contact check ADC EXT I/O Current de

xEffect_SG_MV_Part2_E_xEffect_SG_MV_E

圧電型加速度センサ Piezoelectric Acceleration sensor 特長 Features 圧電素子に圧電型セラミックを用いた加速度センサは 小型堅牢 高感度で広帯域を特長としております 従って 低い周波数の振動加速度から衝突の様な高い加速度の測定まで 各分野で 幅広く使用されて

LP3470 Tiny Power On Reset Circuit (jp)

THYRISTOR 100A Avg 800 Volts PGH100N8 回路図 CIRCUIT 外形寸法図 OUTLINE DRAWING Dimension:[mm] 総合定格 特性 Part of Diode Bridge & Thyristor 最大定格 Maximum Ratings 項

untitled

Keysight MIMO MIMO Cluster n Path n σ n, AoA σ n, AoD Θ n, AoA MS/UE Array Boresight Rx0 Tx0 Θ n, AoD LOS BS Array Boresight Θ n+1, AoA Rx1 Tx1 Path n

General Purpose, Low Voltage, Rail-to-Rail Output Operational Amplifiers 324 V LM LMV321( )/LMV358( )/LMV324( ) General Purpose, Low Voltage, Rail-to-

AN15880A

I N D E X PAGE 1.MTBF 計算値 Calculated Values of MTBF R-1~2 2. 部品ディレーティング Components Derating R-3~5 3. 主要部品温度上昇値 Main Components Temperature Rise T List

INDEX RWS15B PAGE 1.MTBF 計算値 Calculated Values of MTBF R-1~2 2. 部品ディレーティング Component Derating R-3~5 3. 主要部品温度上昇値 Main Components Temperature Rise T Li

NJM41005-T 75Ω ドライバ内蔵ビデオアイソレーションアンプ 特長 動作電源電圧 動作温度範囲 同相信号除去比 75Ω ドライバ内蔵 出力 AC DC 結合 電圧利得 周波数特性 バイポーラ構造 外形 SOT to5.5V -40to dBtyp. 0dBtyp.

Keysight Technologies スイッチング電源の測定

NJM2835 低飽和型レギュレータ 概要 NJM2835 はバイポーラプロセスを使用し 高耐圧 ローノイズ 高リップル除去比を実現した出力電流 500mAの低飽和型レギュレータです TO パッケージに搭載し 小型 2.2 Fセラミックコンデンサ対応 ノイズバイパスコンデンサ内蔵をしてい

LM150/LM350A/LM350 3A 可変型レギュレータ

Agilent 4339B High Resistance Meter Operation Manual

pc2sd11_j

INDEX RWS1B PAGE 1.MTBF 計算値 Calculated Values of MTBF R-1~2 2. 部品ディレーティング Component Derating R-3~5 3. 主要部品温度上昇値 Main Components Temperature Rise T Lis

CISPR 35の概要

回路シミュレーションに必要な電子部品の SPICE モデル 回路シミュレータでシミュレーションを行うためには 使用する部品に対応した SPICE モデル が必要です SPICE モデルは 回路のシミュレーションを行うために必要な電子部品の振る舞い が記述されており いわば 回路シミュレーション用の部

R1RW0408D シリーズ

INDEX 1. MTBF 計算値 Calculated Values of MTBF 3~4 PAGE 2. 部品ディレーティング Component Derating 5~7 3. 主要部品温度上昇値 Main Components Temperature Rise T List 8 4. 電解

Transcription:

IMMUNITY DATA イミュニティデータ TDK-Lambda DA006-58-01A

I N D E X PAGE 1. イミュニティ試験結果サマリ R-1 Summary of Immunity Test Result ---------------------------------------------------- ----------------------------------------------------------- 2. 静電気放電イミュニティ試験 R-2 Electrostatic Discharge Immunity Test (IEC61000-4-2) 3. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 R-3 Radiated Radio-Frequency Electromagnetic Field Immunity Test (IEC61000-4-3) 4. 電気的ファーストトランジェントバーストイミュニティ試験 R-4 Electrical Fast Transient / Burst Immunity Test (IEC61000-4-4) 5. サージイミュニティ試験 R-5 Surge Immunity Test (IEC61000-4-5) 6. 伝導性無線周波数電磁界イミュニティ試験 R-6 Conducted Disturbances Induced by Radio-Frequency Field Immunity Test (IEC61000-4-6) 7. 電力周波数磁界イミュニティ試験 R-7 Power Frequency Magnetic Field Immunity Test (IEC61000-4-8) 8. 電圧ディップ 瞬停イミュニティ試験 R-8 Voltage Dips, Short Interruptions Immunity Test (IEC61000-4-11) ---------------------------------------------------- /ME--------------------------------------------------------- 9. 静電気放電イミュニティ試験 R-9 Electrostatic Discharge Immunity Test (IEC60601-1-2 Ed.4) 10. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 R-10 Radiated Radio-Frequency Electromagnetic Field Immunity Test (IEC60601-1-2 Ed.4) 11. 電気的ファーストトランジェントバーストイミュニティ試験 R-11 Electrical Fast Transient / Burst Immunity Test (IEC60601-1-2 Ed.4) 12. 電圧ディップ 瞬停イミュニティ試験 R-12 Voltage Dips, Short Interruptions Immunity Test (IEC60601-1-2 Ed.4) 使用記号 Terminology used フレームグラウンド Frame GND L ライブライン Live line N ニュートラルライン Neutral line 接地 Earth +V + 出力 + Output -V - 出力 - Output 当社標準測定条件における結果であり 参考値としてお考え願います Test results are reference data based on our standard measurement condition. TDK-Lambda

1. イミュニティ試験結果サマリ Summary of Immunity Test Result MODEL : ( カタログオプション含む *1) (Include option models *1) 項目 Item 静電気放電イミュニテイ試験 Electrostatic Discharge Immunity Test 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 Radiated Radio-Frequency Electromagnetic Field Immunity Test 電気的ファーストトランシ ェントハ ーストイミュニティ試験 Electrical Fast Transient / Burst Immunity Test 規格 Standard 試験レベル Test level 判定基準 Criteria 結果 Result Page IEC61000-4-2 1,2,3 A R-2 IEC61000-4-3 1,2,3 A R-3 IEC61000-4-4 1,2,3 A R-4 備考 条件 Notes & Conditions サーシ イミュニティ試験 Surge Immunity Test IEC61000-4-5 1,2,3,4 A R-5 伝導性無線周波数電磁界イミュニティ試験 Conducted Disturbances Induced by Radio-Frequency Field Immunity Test 電力周波数磁界イミュニティ試験 Power Frequency Magnetic Field Immunity Test IEC61000-4-6 1,2,3 A R-6 IEC61000-4-8 1,2,3,4 A R-7 電圧テ ィッフ 瞬停イミュニティ試験 Voltage Dips, Short Interruptions Immunity Test Dip:30% 10ms A IEC61000-4-11 Dip:60% 100ms B R-8 Dip:100% 5000ms B 試験条件の詳細は 各テストページを参照してください Detail of test condition refer to each test page. MODEL : /ME 項目 Item 規格 Standard 試験レベル Test level 判定基準 Criteria 結果 Result Page 備考 条件 Notes & Conditions 静電気放電イミュニテイ試験 Electrostatic Discharge Immunity Test 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 Radiated Radio-Frequency Electromagnetic Field Immunity Test 電気的ファーストトランシ ェントハ ーストイミュニティ試験 Electrical Fast Transient / Burst Immunity Test 電圧テ ィッフ 瞬停イミュニティ試験 Voltage Dips, Short Interruptions Immunity Test IEC60601-1-2 Ed.4 IEC60601-1-2 Ed.4 IEC60601-1-2 Ed.4 IEC60601-1-2 Ed.4 Dip:30% 500ms A Dip:100% 10ms A Dip:100% 20ms A Dip:100% 5000ms B 試験条件の詳細は 各テストページを参照してください Detail of test condition refer to each test page. 1,2,3,4 A R-9 1,2,3 A R-10 1,2,3 A R-11 R-12 判定基準 A Criteria A 判定基準 B Criteria B 1. 入力再投入を必要とする一時的な機能低下のない事 Must not have temporary function degradation that requires input restart. *1 カタログオプション Option models /HD, /PV TDK-Lambda R-1

2. 静電気放電イミュニティ試験 Electrostatic Discharge Immunity Test (IEC61000-4-2) MODEL : 静電気試験器 :ESS-630A ( ノイズ研究所 ) Electro Static Discharge Simulator (Noise Laboratory CO.,LTD.) 放電ガン :TC-815C ( ノイズ研究所 ) Discharge Gun (Noise Laboratory CO.,LTD.) 放電抵抗 : 330Ω エネルギー蓄積コンデンサ : 150pF Discharge resistance Energy-Storage Capacitor 入力電圧 :100, 230VAC 出力電圧 : 定格 出力電流 :100% 極性 : 正, 負 Output Current Polarity Positive, Negative 試験回数 :10 回 放電間隔 :>1 秒 Number of Tests 10 times Discharge Interval >1 second 周囲温度 :25 Ambient Temperature (3) 試験方法及び印加箇所 Test Method and Device Test Point 接触放電 :, ケース止めネジ部 Contact Discharge, Case Screw 気中放電 : 入出力端子,, ケース止めネジ部 Air Discharge Input and Output Terminal,, Case Screw 放電ガン Discharge Gun アナログ電圧計 Analog Voltmeter 供試体 D.U.T v 負荷 LOAD アルミフ レート Aluminum Plate 静電気試験器 Electro Static DischargeSimulator OUTPUT GND AC INPUT 木製台 Wood Made Table 0.8m 基準接地板 Ground Reference Plane Contact Discharge Air Discharge -24 (kv) (kv) -24 2 2 4 4 8 TDK-Lambda R-2

3. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 Radiated Radio-Frequency Electromagnetic Field Immunity Test (IEC61000-4-3) MODEL : TS5010 型放射イミュニティ測定システム ( 東陽テクニカ ) TS5010 RADIATION IMMUNITY MEASUREMENT SYSTEM (TOYO CORPORATION) バイログアンテナ : CBL6111(CHASE) BILOG ANTENNA 入力電圧 : 100,230VAC 出力電圧 : 定格 出力電流 : 100% 振幅変調 : 80%, 1kHz Output Current Amplitude Modulated 電磁界周波数 : 80~1000MHz 周囲温度 : 25 Electromagnetic Frequency Ambient Temperature 距離 : 3.0m 偏波 : 水平 垂直 Distance Wave Angle Horizontal and Vertical スイープ コンディション : 1.0% ステップ, 2.8 秒保持 Sweep Condition 1.0%Step Up, 2.8 Seconds Hold 試験方向 : 上下 左右 前後 Test Angle Top/Bottom, Both Sides, Front/Back (3) 試験方法 Test Method アナログ電圧計 Analog Voltmeter 供試体 D.U.T V 負荷 LOAD アルミプレート Aluminum Plate アンテナ Antena AC INPUT 木製台 Wood Made Table 0.8m グランドプレーン GND Plane 無反響体 Anechoic material to reduce floor reflections Radiation Field Strength (V/m) 1 3 10-24 TDK-Lambda R-3

4. 電気的ファーストトランジェント / バースト イミュニティ試験 Electrical Fast Transient / Burst Immunity Test (IEC61000-4-4) MODEL : EFT/B 発生器 : NSG2025( シャフナー ) EFT/B Generator (SCHAFFNER) 入力電圧 : 100, 230VAC 出力電圧 : 定格 出力電流 : 100% 試験時間 : 1 分間 Output Current Test Time 1minute 極性 : 正, 負 周囲温度 : 25 Polarity Positive, Negative Ambient Temperature 試験回数 : 3 回 Number of Tests 3 times (3) 試験方法及び印加箇所 Test Method and Device Test Point (N,L,),(N,L),(N),(L),() に印加 Apply to (N,L,),(N,L),(N),(L),(). アナログ電圧計 Analog Voltmeter v 供試体 D.U.T 負荷 LOAD アルミフ レート Aluminum Plate AC INPUT EFT/B 発生器 EFT/B GENERATOR 木製台 Wood Made Table 0.8m ク ラント フ レーン GND Plane Test Voltage (kv) 0.5 1.0 2.0 Repetition Rate (khz) 5 5 5-24 TDK-Lambda R-4

5. サージイミュニティ試験 Surge Immunity Test (IEC 61000-4-5) MODEL : サーシ 発生器 : LSS-15AX ( ノイズ研究所 ) Surge Generator (Noise Laboratory) 結合インヒ ータ ンス : コモン 10Ω 結合コンテ ンサ : コモン 9μF Coupling Impedance Common Coupling Capacitance Common ノーマル 2Ω ノーマル 18μF Normal Normal 入力電圧 : 100, 230VAC 出力電圧 : 定格 出力電流 : 100% 試験回数 : 5 回 Output Current Number of Tests 5 times 極性 : 正, 負 モート : コモン ノーマル Polarity Positive, Negative Mode Common, Normal 位相 : 0, 90 周囲温度 : 25 Phase Ambient Temperature (3) 試験方法及び印加箇所 Test Method and Device Test Point コモンモート (N-,L-) 及びノーマルモート (N-L) に印加 Apply to Common mode(n-,l-)and Normal mode(n-l) アナログ電圧計 Analog Voltmeter サーシ 発生器 SURGE GENERATOR 供試体 D.U.T v 負荷 LOAD アルミフ レート Aluminum Plate AC INPUT 木製台 Wood Made Table 0.8m ク ラント フ レーン Test Voltage (kv) Common 0.5 1.0 2.0 4.0-24 Test Voltage (kv) Normal 0.5 1.0 2.0-24 TDK-Lambda R-5

6. 伝導性無線周波数電磁界イミュニティ試験 Conducted Disturbances Induced by Radio-Frequency Field Immunity Test (IEC61000-4-6) MODEL : RF ジェネレーター : SMY01 (ROHDE&SCHWARZ) RF GENERATOR RF アンプ : AK250-300 (KALMUS) RF AMP 結合 / 減結合ネットワーク : TCDN-801-M3-16 ( 東洋 ) COUPLING DE-COUPLING NETWORK(CDN) (TOYO) 入力電圧 : 230VAC 出力電圧 : 定格 出力電流 : 100% 電磁界周波数 : 150kHz~80MHz Output Current Electromagnetic Frequency スイーフ コンテ ィション : 1.0% ステッフ, 2.8 秒保持 Sweep Condition 1.0%Step Up, 2.8 Seconds Hold 周囲温度 : 25 Ambient Temperature (3) 試験方法 Test Method アナログ電圧計 Analog Voltmeter RF INPUT 供試体 D.U.T V 負荷 LOAD アルミプレート Aluminum Plate AC INPUT CDN 0.1m 木製台 Wood Made Table グランドプレーン GND Plane Voltage Level (V) 1 3 10-24 TDK-Lambda R-6

7. 電力周波数磁界イミュニティ試験 Power Frequency Magnetic Field Immunity Test (IEC61000-4-8) MODEL : 磁界発生器 Magnetic field generator : ESA-100CCSP (Tokyo-Rikosha) 入力電圧 : 100, 230VAC 出力電圧 : 定格 出力電流 : 100% 印加磁界周波数 : 50Hz Output Current Magnetic Frequency 試験時間 : 10 秒以上 ( 各方向 ) 印加方向 : X,Y,Z Test Time More than 10 sec (Each direction) Direction 周囲温度 : 25 Ambient Temperature (3) 試験方法及び印加箇所 Test Method and Device Test Point ワンターンコイル ( 三軸型 ) One Turn Coil (Three Axes Type) アナログ電圧計 Analog Voltmeter v 負荷 供試体 D.U.T AC INPUT 木製台 Wood Made Table 0.8m 磁界発生器 Magnetic Field Generator Magnetic Field Strength (A/m) 1 3 10 30-24 TDK-Lambda R-7

8. 電圧ディップ 瞬停イミュニティ試験 Voltage Dips, Short Interruptions Immunity Test (IEC61000-4-11) MODEL : 試験発生器 : AS-517( エヌエフ ) Test Generator (NF) 入力電圧 : 100, 230VAC 出力電圧 : 定格 出力電流 : 100% 周囲温度 : 25 Output Current Ambient Temperature 試験回数 : 3 回 試験間隔 : 10 秒以上 Number of Tests 3 times Test interval More than 10sec (3) 試験方法及び印加箇所 Test Method and Device Test Point オシロスコープ Oscilloscope 供試体 D.U.T 負荷 LOAD AC INPUT 試験発生器 Test Generator 木製台 Wood Made Table 0.8m 試験レベル 70% 時 At Test level 70% 試験レベル 40% 0% 時 At Test level 40%,0% 1. 入力再投入を必要とする一時的な機能低下のない事 Must not have temporary function degradation that requires input restart. Test Level 70% 40% 0% Dip rate 30% 60% 100% Continue Time 10ms 100ms 5000ms -24 TDK-Lambda R-8

9. 静電気放電イミュニティ試験 Electrostatic Discharge Immunity Test (IEC60601-1-2 Ed.4) MODEL : /ME 静電気試験機 :ESS-S3011 ( ノイズ研究所 ) Electro Static Discharge Simulator (Noise Laboratory CO.,LTD) 放電ガン :GT-30R ( ノイズ研究所 ) Discharge Gun (Noise Laboratory CO.,LTD) 放電抵抗 :330Ω 静電容量 :150pF Discharge Resistance Capacity 入力電圧 :100, 230VAC 出力電圧 : 定格 出力電流 :0,100% 極性 :+,- Output Current Polarity 試験回数 :10 回 放電間隔 :>1 秒 Number of Tests 10 times Discharge Interval >1 second 周囲温度 :25 Ambient Temperature (3) 試験方法及び印加箇所 Test Method and Device Test Point 接触放電 : 供試体ネジ部 Contact Discharge, Screw 気中放電 : 入出力端子 (L, N, +V, -V) Air Discharge Input and Output terminal (L, N, +V, -V) Contact Discharge (kv) -24/ME Air Discharge(kV) -24/ME 2 2 4 4 6 8 8 15 TDK-Lambda R-9

10. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 Radiated Radio-Frequency Electromagnetic Field Immunity Test (IEC60601-1-2 Ed.4) MODEL : /ME シグナルジェネレータ Signal Generator パワーアンプシステム Power Amplifier System アンテナ Antenna :N5181A (Agilent) :CBA 1G-250 (Teseq) :AS0104-55/55 (Milmega) :3106B (ETS Lindgren) :ATH800M 5GA (ar) :ATH4G8 (ar) 入力電圧 :100, 230VAC 出力電圧 : 定格 出力電流 :0, 100% 距離 :3.0m Output Current Distance 偏波 : 水平 垂直 周囲温度 :25 Wave Angle Horizontal and Vertical Ambient Temperature 試験方向 : 上下 左右 前後 Test Angle Top/Bottom, Both Sides, Front/Back 振幅変調(AM) :80%, 1kHz, 1.0% ステップ 0.5 秒保持 パルス変調(PM) :18Hz, 217Hz, Amplitude Modulated 80%, 1kHz, 1.0% step up, 0.5 seconds hold 0.5 秒保持 周波数変調(FM) :5kHz 偏差 1kHz 正弦 0.5 秒保持 Pulse Modulated 18Hz, 217Hz, Frequency Modulated 5kHz deviation, 1kHz sine, 0.5 seconds hold 0.5 seconds hold (3) 試験方法 Test Method Modulation Radiation Field Strength (V/m) Electromagnetic Frequency -24/ME AM 10 80~2700MHz PM 27 385MHz (18Hz) 28 810,870,930MHz PM 9 710,745,780,5240,5500,5785MHz (217Hz) 28 1720,1845,1970,2450MHz FM 28 450MHz TDK-Lambda R-10

11. 電気的ファーストトランジェントバーストイミュニティ試験 Electrical Fast Transient / Burst Immunity Test (IEC60601-1-2 Ed.4) MODEL : /ME EFT/B 発生器 :FNS-AX3-B50B(Noiseken) EFT/B Generator 入力電圧 :100, 230VAC 出力電圧 : 定格 出力電流 :0, 100% 試験時間 :1 分間 Output Current Test Time 1 minute 極性 :+,- 周囲温度 :25 Polarity Ambient Temperature 試験回数 :3 回 パルス周波数 :100 khz Number of Tests 3 times Pulse Frequency バースト期間 :0.75 msec パルス個数 :75 pcs Burst Time Number of Pulse バースト周期 :300 msec Burst Cycle (3) 試験方法及び印加箇所 Test Method and Device Test Point (N, L, ), (+V, -V),(+S,-S) に印加 Apply to (N, L, ), (+V, -V),(+S,-S). Test Voltage (kv) -24/ME 0.5 1 2 TDK-Lambda R-11

12. 電圧ディップ 瞬停イミュニティ試験 Voltage Dips, Short Interruptions Immunity Test (IEC60601-1-2 Ed.4) MODEL : /ME 試験発生器 :4420(NF) Test Generator 入力電圧 :100, 230VAC 出力電圧 : 定格 出力電流 :100% 周囲温度 :25 Output Current Ambient Temperature 試験回数 :3 回 試験間隔 :10 秒以上 Number of Tests 3 times Test Interval More than 10 seconds (3) 試験方法 Test Method 判定基準 A Criteria A 判定基準 B Criteria B 1. 入力再投入を必要とする一時的な機能低下のない事 Must not have temporary function degradation that requires input restart. Test Level Dip Rate Continue Time Phase Angles Criteria B -24/ME 70% 30% 500ms 0 deg A (Less than 80% load at 100Vac) 0% 100% 10ms 0,45,90,135,180, 225,270,315 deg A 0% 100% 20ms 0 deg A 0% 100% 5000ms 0 deg B TDK-Lambda R-12