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X 線の測定と線量校正 放射線の測定と線量校正法の基礎その (1)

予定 放射線の種類 (10/23) 放射線計測の原理 検出器の種類とその原理 線量の定義 (10/23~) 線量校正法 X 線の線量測定及び線量校正法 (10/23~) 電子線の線量測定及び線量校正法 2

X 線の測定と線量校正 < 本日の予定 > 放射線とは X 線と物質との相互作用 X 線の性質 X 線束の減弱 逆自乗則 エネルギー分布 線量とは 線量校正と測定 Bragg-Gray の空洞理論 線量分布の関係式 3

主な放射線の種類 放射線の定義 : 電子や原子核のような粒子( X 線やγ 線などの電磁波も 光子 として含む ) が高速で走っているもの 空間及び物質を通じてエネルギー伝える能力を有するもの 電磁波や粒子線( 超音波は除く ) 放射線医学及び放射線医療技術学では 放射線とは 電離放射線 4

放射線の正体 5

放射線と物質との相互作用 五感で捉えることができない ( 目で見えない 手で触れない 音がしない 匂いがしない 味がしない ) 放射線を 人間が認識する手段の原理となる 放射線が ( 物質に入射した際 ) 物質との間でどのような影響の与え合いを起こすか ( 物質 ): 検出器 測定の基礎 学問的基礎 ( 原子核 素粒子 ) ( 物質 ): 患者 治療の基礎 放射線 は もの ではなく 状態 も含んだ概念 β 線 電子線 正体の粒子等だけでは放射線ではない 6

X 線の正体 X 線の定義 : 高速の電子が原子にぶつかった時に生じる電磁波 原子 ( 核外 ) から放出される光子線 物理的性質は 核内から放出されるγ 線と同じ 7

X 線と物質との相互作用 光電効果 コンプトン散乱 1) 電子対生成 2) 低エネルギーの干渉性散乱 ( 束縛電子によるレイリー散乱 cf. 1) ) 三対子生成 cf. 2) 高エネルギーの光核反応 (γ,n) 等 図の引用は 原子力百科辞典 ATOMICA http://mext-atm.jst.go.jp/atomica/ より 8

光電効果 ( 光電吸収 ) 生体組織で重要となるのは 光子エネルギーが 100keV 以下の場合 カイネマより光電子は直角方向に放出 発生頻度の一般式は困難 吸収端の存在 K 殻以外に起こる光電吸収断面積は約 20%( 実験的 ) a σ τ,k Z 5 低 E (hν) m 0 c 2 (hν) 高 E (hν) 診断領域 : Z 3 (hν) 9

コンプトン散乱 唯一 カイネマと微分断面積 (Klein( Klein- 仁科の式 ) が正確に解けている 非干渉性散乱 とも言う Klein- 仁科の式は干渉性散乱も包含する (hν ( ν m 0 c 2 ) 図の引用 : 原子力百科辞典 ATOMICA http://mext-atm.jst.go.jp/atomica atm.jst.go.jp/atomica/ 10

電子対生成 断面積の一般式は存在しない a σ π Z 2 (100MeV 以上でさちる ) 三対子生成はほぼ 1/2 しきいエネルギーは 2 m 0 c 2 =1.022MeV ( 三対子生成は 4 m 0 c 2 =2.044MeV) 11

X 線と物質との相互作用の概要 散乱と吸収 ( 反応 ) 散乱 : はじき飛ばされる 吸収 ( 反応 ): なくなる 12

X 線束の減弱 線減弱係数 μ[m -1 ]( 質量減弱係数 μ/ρ 電子 原子 ) μ/ρ ~ σ ( 反応 散乱 ) 断面積 N ( ρx) µ = ρ N N = N 0 e µ ρ ρ x μ=τ( 光電効果 )+σ( コンプトン散乱 )+κ( 電子対生成 ) 13

X 線の性質 (1) X 線束の減弱 N=N 0 e -μx I=II 0 e -μx (N 0 : 入射光子数 I 0 : 入射 X 線強度 μ: : 減弱係数 ) 14

X 線の性質 (2) 逆自乗側 N=N 0 I=II 0 {f/(f+d)} 2 (N 0 : 入射光子数 I 0 : 入射 X 線強度 ) 15

散乱線の混入 指数則ビルドアップ効果 : 二次電子がある長さ走りながら電離を起こすので ほぼ二次電子の飛程でピーク線量 60 Co 4 6 8 10 15 20 30 MV の最大深は 0.5 1 1.5 2 2.5 3 4 5 cm 電子平衡 : 場に乱れがない 空洞への流入と流出の平衡 理想的にはエネルギースペクトルとフルエンスの不変であるが 現実的にはビルドアップ領域以降準電子平衡領域と扱う 16

X 線の性質 (3) エネルギー分布 ( 半価層 HVL) 制動放射 三角形のエネルギー分布 半価層 :X 強度が半分になる厚さ ( 第 1) 半価層 < 第 2 半価層 < < 第 10 半価層 1/1000 半価層が等しい単色 X 線のエネルギーを実効エネルギー 実効管電圧 実効波長 < Duane-Hunt の法則 > λ min [ 12.4 A ] = V[ kv ] 制動放射線の最短波長最短波長とX 線管電圧の波高値の積は一定 半価層の測定は細い線束やコリメータ等 散乱線が寄与しない対策が必要 半価層は線質の目安となる ( 簡便方法 ) 正式には TPR 20,10 が線質指標 17

ここまでのまとめ X 線の主な相互作用は吸収 ( 反応 ) と散乱 いずれも 初期線束を変化 ( 減少 ) させることで 局所への付与エネルギーが変わる 線量分布 上記現象は 放射状の各ビーム毎に起こり マクロな線束全体の挙動は逆自乗則逆自乗則 さらに 放射源のエネルギー分布エネルギー分布より 以上の現象はエネルギー重畳される 実際の治療では 物質の不均一性がきいてくる 18

線量の定義 吸収線量 : 質量 あたりの エネルギー D = de吸収 dm エネルギー 質量 単位 ; [ Gy] J kg 19

吸収線量 Dの定義詳細 ( 01 ) 吸収線量 D: 平均付与エネルギー dε を質量 dm で割ったもの ; ε dε dm : 付与エネルギーの期待値 ; ε : 与えられた全ての基礎付与エネルギー ε i ε 基礎付与エネルギーの和 ; : 一つの相互作用で与えられたエネルギー D = ε = R R + Q in out ある ( 微小 ) 体積内について ある ( 長 ) 時間平均 ε ε = i i i ある ( 微小 ) 体積内について あらゆる相互作用について ε = ε ε i in out + Q i ε 20

吸収線量 D と照射線量 X の違い D(absorbed dose): 体積内の物質が吸収した全てのエネルギー X(exposure): dq: 質量 dmの空気中で光子により放出された陰陽全ての電子が 空気中で完全に停止するまでの間に発生させた (± どちらか )1 符号のイオン群の全電荷の絶対値 単位 : C X = dq dm ;1[R] 2.58 10-4 [C/kg] 厳密に成立 むしろ単位変換の定義 kg 放射過程 ( 制動放射や蛍光 X 線 ) 起源の光子による電離は含まず 光子エネルギーが, 数 MeV 以上または数 kev 以下の場合, 照射線量の測定は, 現在の技術では難しい ( 01 ) 21

線量校正 治療線量 ( 標的線量 ) の測定 : ビーム軸上の任意の深さの深部線量をもとめ 標的容積の中心点での吸収線量を決めること (X 線の場合 ) 指頭型電離箱リファレンス線量計による絶対線量の評価 校正の目的 : モニタ単位 MU 当たりの基準点吸収線量 DMUの維持管理をすること 測定方法 ( セットアップ方法 ) には SSD 一定の場合 と STD 一定の場合 の2 種類ある 22

校正 か 較正 か? 現状 : 目盛りあわせ の意味 校正 が正しい JIS Z 8103 ( 計測用語 ) 理化学辞典 物理学辞典 本来 : calibration の意味の コウセイ は 較正 校正 も可だが当て字広辞苑 ( 第 5 版 ) 速記協会基準( 使用する表外音訓 較 ( コウ ) ) 較 の読みとしては カク しか認めていない常用漢字表 calibration に対応する日本語 2 語 目盛定め 校正 JIS Z 8103 新しく目盛を入れる : 目盛定め 既にある目盛の補正を求める : 校正 < 参考文献 > 各種辞書 辞典 ( 広辞苑 理化学辞典 物理学辞典 ) 常用漢字表 ( http://www.bunka.go.jp/kokugo/frame.asp?tm=20031002121110 ) 常用漢字と新聞協会との違い ( http://www.ne.jp/asahi/e-genko/net/column/hyouki6.html ) いろいろ ( 日記風 )( http://www.asahi-net.or.jp/~ez3k-msym/iroiro03a.htm#0418 ) 目盛りあわせの意味で 校正 と書くのを 較正 にしたいという話を見て, ちょっと考える 校正 と書くことは JIS Z 8103 ( 計測用語 ) で定められている また常用漢字表では 較 の読みとしてカクしか認めていないので, JIS としてはこれを採用しにくいだろう またコウは常用漢字表でもっとも同音字数の多い読みで, コウセイでも 校正 以外に 構成 公正 恒星 抗生 更正 厚生 更生 後世 後生 攻勢 など, ふつうのことばだけで 15 くらいある あまり同音異綴をふやしすぎるのは考えものではないか JIS Z 8103 では calibration に対応する語として 目盛定め 校正 の 2 語があり, 新しく目盛を入れるときは目盛定めといい 既にある目盛の補正を求めるときは 校正という と書いてある 両方 目盛定め にしてしまうのが一番単純な解決方法かもしれない 正しい日本語 ( http://decatur.hp.infoseek.co.jp/japanese.htm#ateji ) 23

Bragg-Gray の空洞原理 物質中の小空洞で場が乱されなければ ( 電子平衡 ; エネルギー分布とフルエンス ) D m =D gas S m,gas 質量阻止能比 気体の吸収線量 :J W: Gy = J: : 質量あたりのイオン対数 W:1 イオン対生成に必要なエネルギー J kg = n kg D J n gas = en kg C kg W[eV/ / イオン対 ] W[J/C] = Q m gas J e W 1 n = 24 ev n

X 線における線量校正の手順 リファレンス線量計の校正 ( 校正機関 ) 水吸収線量校正定数 N D,W ( コバルト校正定数 N C ) 校正点吸収線量 D C (A) の測定 (SSD 一定の場合 A A 0 ) 基準点吸収線量 D r (A) の計算 DMU (Dose Monitor Unit) の算出 ビーム軸上の任意の深さの点における吸収線量 D(d,A) D(d,A)=n DMU F(d,A) n: モニタ指示値 F(d,A):PDD(d,A 0 )/100 または TMR(d,A) 予め知っておくべき相対分布 ; 水中深部量比 (PDD TMR) 出力係数 OPF 等 ( 照射野毎に また 各深さの OCR も ) 25

吸収線量の計算 ( 01 ) 校正点吸収線量 D c D c =M N D,W,Q 0 k Q,Q0 基準線質 Q 0 は 60 Coγ 線である場合には記号,Q 0 は省略できる リファレンス線量計の指示値 Mは ( 必要に応じて ) 温度気圧 極性効果極性効果 イオン再結合 電位計 ( エレクトロメータ ) の各補正 ( 校正 ) を行なったものを使用しなければならない M=M raw k TP k pol k S k elec 水吸収線量校正定数 N D,W,Q 0は 基準線質が 60 Coγ 線である場合には 60 Co コバルト校正定数 N C と校正定数比 k D,X との積になる 校正定数比 (N( D,W /N C 変換係数 )k) D,X は 86 の 60 Co に対する Cλに相当する 既存の電離箱線量計については文献 : : 01 ガイドライン に値そのものが掲載されている 線質変換係数 k Q,Q 0は文献 : : 01 ガイドライン に計算法が詳解されており 既存の電離箱線量計については値そのものが掲載されている リファレンス線量計の電離箱は パラメータの値が掲載されている型番のチェンバーを使うべし 26

温度気圧補正 k TP 医療用線量標準センターにおいては, 気圧 101.33kPa, 温度 22.0 を基準条件として校正定数を決めているので, 101.3[kPa](@89) 101.33[kPa](@01) 理科年表 : セルシウス温度の定義 ; t/ = T/K - 273.15 k TP = 273.2 + T 295.2 101.33 P 27

X 線測定のセットアップ 校正深 d c =10cm( ( 基準深 d r は線量最大深 ) 照射野は 10 10cm 10cm 2 電離箱円筒幾何学的中心 / 点 変位法 / 深部量比 28

PDD とTAR やTMR の関係 X 線では基準深は最大深深部量百分率 PDD 組織空中線量比 TAR 基準深と同じ位置の空中組織吸収線量 D Δm (A) との比 ( 組織吸収線量 : 空中にビルドアップ厚 Δmの半径の組織球 ) 組織最大線量比 TMR 散乱係数 SF(Ar) SF(A r ) D r (A r )/D Δm (A r ) TMR ( d, A) = TAR( d, A) SF( A) SSD が40cm 以上 ;TAR; はSCD に依存しない ( 誤差は 2% 以下と証明されている ) TAR( d, A) f + d r PDD( d, A ) = 100 0 SF( A ) f + d SF( A) f + d r PDD( d, A ) = 100 TMR( d, A) 0 SF( A ) f + d r r 2 2 ただし A =A 0 {( {(f+d)/f} 2 A r =A 0 {( {(f+d r )/f} 2 29

等価照射野 出力係数 散乱係数 等価照射野 深部百分率の値 ; 長方形照射野 < 同面積の正方形 ( あるいは円形 ) 照射野 等価正方形 : 長方形照射野と同じ深部百分率の正方形照射野 等価円 : 円形照射野 面積 Aと周囲長 Pとの比 A/Pが等しい長方形は PDD がほぼ一致 等価正方形の一辺は 2 a b/( /(a+b) 出力係数 OPF( 86 の照射野係数 F A ) 照射野 10 10cm 10cm 2 の場合との基準点吸収線量の比 線源基準点間距離は同一とする 4 つの原因散乱 ; 平坦化フィルタ コリメータ コリメータからモニタへ ファントム内 散乱係数 SF ある基準点の全吸収線量 D r を一次光子のみによる吸収線量 D primary 割ったもの ゼロ照射野では 1 SF(d,A)=TAR TAR(d,A)/TAR(d,0) D( d, A ) = D ( A r 0 ) OPF PDD 0 d primary で 100 30

参考文献 THE PHYSICS OF RADIOLOGY ( 第 4 版 ) HAROLD ELFORD JOHNES and JOHN ROBERT CUNNINGHAM ISBN 0-398-04669-7 CHARLES C THOMAS PUBLISHER 2600 South First Street, Springfield, Illinois 62717 U.S.A. レヴュー 原典 ICRU REPORT 33 Radiation Quantities and Units ISBN 0-913394-27-0 原典 外部放射線治療における吸収線量の標準測定法 ( 標準測定法 0 1) 日本医学物理学会編 ISBN 4-86045-020-5 通商産業社 ( 日本の ) 原典 放射線医学物理学 西臺武弘 ISBN 4-8306-4203-3 文光堂 31

問題 1. 円筒形電離箱の半径変位法による実効中心補正値が 0.67r ( 2/3 r) ) であることを導け 円筒形の場合 X 線の校正と点測定では幾何学的中心 分布測定では 0.6r 前方電子線 ( 高 E) の校正では幾何学的中心 点測定では 0.5r 前方平行平板の場合 X 線の分布測定では空洞内前壁電子線の校正では電極間中心 点測定と分布測定では空洞内前壁 32