* ホールプレートの校正法とそれによる座標測定機の性能評価和合健池浩之高精度座標測定機を使用して環境温度に依存しない低熱膨張特性を有する低熱膨張セラミックス製ホールプレートへの目盛り付け方法を試みその不確かさを求めたさらにホールプレートを利用した座標測定機の性能検査を行い

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まれあみやくぼ
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1 * ホールプレートの校正法とそれによる座標測定機の性能評価和合健 ** ** 池浩之高精度座標測定機を使用して環境温度に依存しない低熱膨張特性を有する低熱膨張セラミックス製ホールプレートへの目盛り付け方法を試みその不確かさを求めたさらにホールプレートを利用した座標測定機の性能検査を行いその検査様式を示したその結果低熱膨張セラミックス製ホールプレートの校正値の不確かさは測定長さ 350mm では U(k=2)=444nm と算出されブロックゲージなど温度膨張材の場合と比較して温度膨張に起因する因子の不確かさが排除できるため不確かさが小さく算出されたキーワード : 座標測定機ホールプレート低熱膨張セラミックス性能検査値付けの不確かさ Holeplate Calibration and Performance of Coordinate-Measuring Machine incorporating Holeplates Takeshi Wago and Hiroyuki Ike After calibrating holeplates using a reverse method based on a high-precision coordinate-measuring machine (CMM), we calculated the uncertainty in calibration. The CMM performance is demonstrated by comparing the measured dimensions of holeplates against its design values. The result allowed us to calculate the uncertainty in calibration of holeplates made from ceramics with a low thermal-expansion coefficient. For a measurement length of 350 mm, an uncertainty U(k=2) = 444 nm was obtained, which is less than that obtained with materials with normal coefficients of thermal expansion (e.g., gauge block). key words : coordinate-measuring machine, holeplate, low coefficient of thermal expansion ceramics, evaluation of performance, uncertainty of calibration 1 緒言ホールプレート ( 以下 HP という ) は二次元的に円筒を配置した標準器であり座標測定機 ( 以下 CMM という ) の精度検査や補正テーブル作成に使用されている HP は低膨張ガラスインバー合金及び炭素繊維を筺体として測定要素の円筒穴を機械加工で仕上げたものや円筒ブッシュを埋め込んだものなどが提案市販されていたしかしながら円筒ブッシュを埋め込んだものでは値付け精度の問題点個々の材料の筺体においても経年変化難加工性などの多くの問題点を有していたここで使用した HP は低熱膨張セラミックスを筺体としたもので機械加工性が良好経年変化が小さいかつ比剛性 ( ヤング率 / 密度 ) が高く大型 HP( 500 mm 以上 ) へも対応可などの優位な特性を有している HP は CMM の性能検査や校正での有効性が高く広く日本国内の製造産業で稼働する CMM に適用することで CMM の検査及び校正技術が向上すると予想される HP を広く普及させるためには全国の公設試において HP の値付け校正ができること HP を使用した検査方法技術が蓄積されていることが必要になるここでは産業技術連携推進会議知的基盤部会計測分科会形状計測研究会の共同研究としてパイロットラボが示したプロトコルに従い HP の値付け校正と HP を使用した性能検査を実施した特に環境温度に依存しない低熱膨張特性を有する低熱膨張セラミックス製 HP が示す校正値の不確かさの大きさ及びその算出方法さらに CMM の性能検査を実施するための治具による固定方法やワーク座標系の設定方法などを把握しその検査様式を示した 2 実験方法実験に使用した CMM は UPMC550-CARAT(Carl Zeiss) ソフトウエアの OS は Windows XP CMM のソフトウエアのバージョンは UMESS-LX Ver1.0 最終メーカ校正日は平成 25 年 1 月 22 日である CMM は門移動型の構造でプローブはパラレルツイン式の 3D プロービングが行え * 平成 24 年度産業技術連携推進会議知的基盤部会計測分科会形状計測研究会 ( 共同研究 ) ** ものづくり基盤技術第 2 部 ( 現素形材技術部 )

熱によるゲージの膨張を阻害しない固定方法にすることのみを指示しているここでは写真 1 に示すとおり CMM テーブルの上に補助石定盤を置きその上に T 型治具を置いた構造とした補助石定盤は自重のみで位置が固定できると予想して直接的に CMM テーブルとネジ止等の固定は行わなかった付属の T 型治具は写真 1 のとおり補助石定盤に 2 箇所をクランプで固定した反転法による測定で

2 岩手県工業技術センター研究報告第 18 号 (2016) るプローブである CMM の指示誤差は MPEE=0.8+L/600 µm(l は測定長さ mm) である相互測定での測定期日は平成 25 年 2 月 4 日 ~3 月 1 日グループは A ループ HP No.1 であるトレーサビリティの道筋は国家標準ホールステップゲージ HP である 3 HP への値付け 3-1 固定方法プロトコルでは HP とホールステップゲージ ( 以下 HSG) の二つのゲージの固定の制限として直接 CMM テーブルに固定してはいけないことを指示している他のゲージ固定に関する指示事項は付属の支持台の使用は必須ではないこと熱によるゲージの膨張を阻害しない固定方法にすることのみを指示しているここでは写真 1 に示すとおり CMM テーブルの上に補助石定盤を置きその上に T 型治具を置いた構造とした補助石定盤は自重のみで位置が固定できると予想して直接的に CMM テーブルとネジ止等の固定は行わなかった付属の T 型治具は写真 1 のとおり補助石定盤に 2 箇所をクランプで固定した反転法による測定で反転後の位置の再現性を確保するために写真 2 のとおり CMM テーブルに付き当て板を 2 箇所設置した 3-2 測定物座標系 HP の値付けを行うためにはそこで使用する CMM に正確な目盛を与えることが必要でありその目盛補正方法は国家標準にトレーサブルな寸法標準器を利用して行われるここではその寸法標準器として HSG を用いて CMM の目盛校正を実施したこの HSG による CMM の目盛校正が HP への値付けにおいて最大の要点であると考えた HSG により行った目盛校正値を HP 測定へ適切に受け渡すためには HP 測定での測定物座標系 ( 以下 WCS) の X 軸 ( 回転軸 ) と HSG 測定での WCS の X 軸 ( 回転軸 ) をほぼ一致させる必要があるここでは二つのゲージの X 軸を揃える方策として補助石定盤の -Y 側端面を利用したこの補助石定盤の端面を CMM の機械座標系 ( 以下 MCS) に揃えて配置することでこの補助石定盤の端面を利用して二つのゲージ間の X 軸を容易に揃えることができると考えたそこで T 型治具と補助石定盤の - Y 端面をプレートに付き当てて揃えた CMM テーブル上の 2 箇所の付き当て板に補助石定盤を押しつけて T 型治具の -Y 端面の Y 軸方向の出入りを図 1 に示す点 1 と点 2 の位置で測定したその結果機械座標系で点 1 が Y0 mm 点 2 が mm となり Y 軸方向の出入りは mm であった次に HP は反転法を利用することから補助石定盤上に T 型プレートを固定したままで Z 軸を回転中心として補助石定盤を 180 回転させ CMM テーブル上の付き当て板に補助石定盤を押し当てた状態で図 2 に示す点 3 と点 4 の Y 座標を測定したところ点 3 は Y mm 点 4 は Y mm となり Y 軸方向の出入りは mm であった写真 1 T 型治具の固定方法写真 2 CMM テーブル上の付き当て板補助石定盤点 1 点 2 CMM-X 図 1 T 型治具の Y 軸出入り測定 ( 回転前 ) 商標側点 3 補助石定盤 CMM-X 図 2 T 型治具の Y 軸出入り測定 ( 回転後 ) No.22 No.1 X,Yゼロ点 No.15 Z ゼロ点 : 平面から Z-15mm 図 3 HP の WCS 点 4 商標側平面 4 点 : 空間軸 No.8 回転軸

ホールプレートの校正法とそれによる座標測定機の性能評価写真 3 D0 の姿勢写真 4 HSG の X 軸の姿勢 6 155 92 ø8 図 4 使用したスタイラス HP 測定での WCS は図 3 のとおり空間軸は HP の上端面を平面 4 点測定した時の法線ベクトルとし回転軸 (X 軸 ) は No.1 円と No.8 円で成す直線 X Y 軸のゼロ点は No.

15 No.22 No.1 の順による Forward 方向続いて No.1 No.22 No.15 No.8 No.

用と DX DY 用に 1 個ずつ用意し座標系変換 DI1711 で D0 が 1 DZ が 3 DY が 7 DX が 5 を設定することでこの二つの NC プログラムのみで測定対応ができた 1 姿勢あたりの Forward + Backward 測定に要する測定時間は 22 分であったスタイラスは図 4 に示す鉛直下向きの φ8 mm チップの赤色ルビーを使用した 3-4 HP

3 ホールプレートの校正法とそれによる座標測定機の性能評価写真 3 D0 の姿勢写真 4 HSG の X 軸の姿勢 ø8 図 4 使用したスタイラス HP 測定での WCS は図 3 のとおり空間軸は HP の上端面を平面 4 点測定した時の法線ベクトルとし回転軸 (X 軸 ) は No.1 円と No.8 円で成す直線 X Y 軸のゼロ点は No.1 円の中心座標 Z 軸のゼロ点は HP の上端面から Z -15 mm 平行移動させた HP の中立面上の点とした 3-3 反転法による測定 HP は写真 3 に示す D0 DX DY DZ の 4 通りの姿勢で測定した測定方法は No.1 No.8 No.15 No.22 No.1 の順による Forward 方向続いて No.1 No.22 No.15 No.8 No.1 の順による Backward 方向となる行きと帰りを 1 セットとして測定し繰り返しは無しとしたただし HP 測定での CMM の測定の不確かさを求めるために D0 のみ繰り返し 5 回の測定をした NC プログラム作成ではボールプレートの時とは異なる外側 1 列の配列のためにループを入れ子にする必要が無かったために容易に NC プログラムが作成できた NC プログラムは D0 DZ 用と DX DY 用に 1 個ずつ用意し座標系変換 DI1711 で D0 が 1 DZ が 3 DY が 7 DX が 5 を設定することでこの二つの NC プログラムのみで測定対応ができた 1 姿勢あたりの Forward + Backward 測定に要する測定時間は 22 分であったスタイラスは図 4 に示す鉛直下向きの φ8 mm チップの赤色ルビーを使用した 3-4 HP 測定での温度変動 HP 測定中の温度は CMM 内蔵温度計の検知部を CMM テーブル上に接触させて測定した D0 DX DY DZ の 4 姿勢の測定を通しての温度の平均値は変動幅は 0.1 であった HP の線膨張係数がほぼ 0 / であるため HP 測定で温度補正は行わなかった写真 5 HSG の Y 軸の姿勢図 5 HSG の X 軸出入り測定 X,Y ゼロ点補助石定盤 CMM-X 図 6 HSG の WCS 点 5 商標側点 6 平面 4 点 : 空間軸 Z ゼロ点 : 平面から Z-30mm 回転軸 4 ホールステップゲージによる目盛校正 4-1 固定方法 HSG は写真 4 のとおり補助石定盤上に付属のパラレルブロックを敷きその上に HSG を置いた HSG の固定方法は自重に加えて 2 個の V ブロック挟み込む方法としクランプ等で固定しなかった 4-2 測定物座標系 HSG の設置要点は HP と回転軸方向が一致するように設置することである X 軸方向の設置では写真 4 のとおり CMM テーブル上の付き当てに押し当てた補助石定盤の -Y 端面を起点として長さ 150 mm のパラレルブロックを利用して MCS の X 軸に揃えた Y 軸方向の設

4 岩手県工業技術センター研究報告第 18 号 (2016) 置では写真 5 のとおり補助石定盤を 90 回転させて CMM テーブル上の付き当てに押し当てて長さ 75 mm のブロックゲージを利用した補助石定盤の基準端面からの長さを一定に揃えて HSG の Y 軸方向の向きが MCS に一致するようにしたここで補助石定盤の右側端面の X 座標を図 5 に示す点 5 と点 6 の位置で測定したところ点 5 が X mm 点 6 が X mm であり X 軸方向の出入りは mm であった HSG の WCS は図 6 のとおり空間軸は上端面で平面 4 点測定の法線ベクトルとし回転軸は左側から 3 個目の円と 10 個目の円の成す直線とし X Y 軸のゼロ点は左側から 3 個目の円の中心座標 Z 軸のゼロ点は上端面から Z-30 mm 平行移動させた中立面上の点とした 4-3 HSG の測定 HSG の測定は X-50 mm の穴から右に 10 個目までの穴を円測定し繰り返しは 5 回とした Y 軸上に置いた時も同様である測定時間は X 軸 Y 軸とも 20 分を要したスタイラスは図 4 に示す鉛直下向きの φ8 mm チップの赤色ルビーを使用した 4-4 HSG 測定での温度変動 HSG 測定中の温度は CMM 内蔵温度計の検知部を CMM テーブル上に接触させて測定した HSG 測定中の温度の平均値は 19.3 変動幅は 0 であった HSG の線膨張係数がほぼ 0 / であるため HSG 測定で温度補正は行わなかった 4-5 値付けの不確かさの算出 (1) 長さに依存しない項 σ(cmm): CMM の測定の不確かさ (A タイプ ) HP 測定の繰り返しの標準偏差 :D0 姿勢 112 円 ( 行き帰り XY) 繰り返し 5 回 σ(mcali) : HSG の値付けの不確かさ (B タイプ ) パイロットラボの提示値 (k=2) (2) 長さに依存する項 σ(bias):cmm の偏りの不確かさ (A タイプ ) この因子は目盛補正をしているのでバジェット表か表 1 ホールプレートの値付け測定結果ホール中心の座標 (mm) ホール番号 X Y 表 2 ホールステップゲージを使用して求めた CMM の目盛誤差 X 軸 _CMM Y 軸 _CMM 測定値標準値誤差測定値標準値誤差長さに依存しない項記号不確かさ要因値確率標準不確感度係標準不確かさ序数分布かさ数 (mm) σ(cmm) CMMの測定の不確かさ 4.96E E E-05 σ(mcali) HSGの値付けの不確かさ 4.00E-04 正規 E E-04 長さに依存する項記号不確かさ要因値表 3 バジェット表確率分布序数標準不確かさ感度係数 1mm 当たりの標準不確かさ (mm) σ(bias) CMMの偏りの不確かさ 0.00E+00 F 分布 E+00 L 0.00E+00 σ(gb) GBの表示値の不確かさ 4.70E-04 正規 E-07 L 2.35E-07 σ(t_digit) 温度計の量子化の不確かさ 5.00E-02 矩形 E-02 L α 5.77E-10 σ(α) HSGの線膨張係数の不確かさ 2.00E-08 矩形 E-08 L t 1.15E-09 U(k=2)= 2 ( ( L) 2 ) 0.5 mm U(k=2)= 444 nm (L=350 mm)

ら除いた必要であれば HSG 測定の比例回帰式の不確かさ u m により算出する (CMM 軸に平行な 2 姿勢 ) ホールプレートの校正法とそれによる座標測定機の性能評価 M 2 1 um = ± Ff (0.05) 2 2 2 M1 + M 2 + + M k V e (1) ここで F f 1 (0.

02 10-6 -1 矩形分布以上の算出方法により値付けの不確かさ算出した 4-6 実験結果及び考察表 1 に HP の測定結果表 2 に HSG を使用して求めた CMM の目盛誤差表 3 にHP の値付けの不確かさを示す表 1 の値は反転法 D0 DX DY DZ による 4 姿勢で平均値を算出しその値に表 2 の目盛誤差を補正した結果であるまた表 1 の値の分布する範囲が表 3

5 ら除いた必要であれば HSG 測定の比例回帰式の不確かさ u m により算出する (CMM 軸に平行な 2 姿勢 ) ホールプレートの校正法とそれによる座標測定機の性能評価 M 2 1 um = ± Ff (0.05) M1 + M M k V e (1) ここで F f 1 (0.05) は自由度 f の F 分布の 5% の値 M は HSG の標準値 V e は誤差分散である σ(gb): GB の表示値の不確かさ (B タイプ ) GB の校正証明書 (k=2) σ(t_digit): 温度計の量子化の不確かさ (B タイプ ) 最小目盛 0.1 の矩形分布 σ(α) :HSG の線膨張係数の不確かさ (B タイプ ) メーカの提示値 ± 矩形分布以上の算出方法により値付けの不確かさ算出した 4-6 実験結果及び考察表 1 に HP の測定結果表 2 に HSG を使用して求めた CMM の目盛誤差表 3 にHP の値付けの不確かさを示す表 1 の値は反転法 D0 DX DY DZ による 4 姿勢で平均値を算出しその値に表 2 の目盛誤差を補正した結果であるまた表 1 の値の分布する範囲が表 3 で示す拡張不確かさ U(k=2) であるちなみに測定長さが 350mm 時の不確かさは 444nm となる表 3 のバジェット表への不確かさの配置は低熱膨張材型標準器を使用した CMM 1) の中間点検の論文を参考にした表 3 のバジェット表から長さに依存しない項の HSG の値付けの不確かさが大きく影響していた通常の標準器の校正ではブロックゲージなど温度膨張材料が多くを占めその場合では温度膨張に起因する不確かさの影響から不確かさが大きく算出される傾向が見られるがここでの低熱膨張材型標準器の場合ではこの因子が無視できるため不確かさが小さく算出された 5 ホールプレートによる YZ 面の検査 5-1 測定の目的 HP を使用して CMM の YZ 平面の検査を行い測定範囲際の測定精度を求める 5-2 固定方法 HP を利用した CMM の YZ 面の検査をした HP の固定方法は付属治具を利用して YZ 面上に平行に HP を直立させた写真 6 7 のとおり CMM テーブル上に付き当て板を 2 箇所設置してそれに押し当てて HP を MCS に揃えた ZX 面における X 軸方向の出入りを図 7 の 2 箇所で測定したところ点 7 が X mm 点 8 が X mm から mm であった XY 面における X 軸方向の出入りは点 9 が X mm 点 10 が X mm から mm であった付属治具を含む HP は自重による設置方法としてクランプ等で直接 CMM テーブルに固定することはしなかった 5-3 測定物座標系 CMM-Z ø8 写真 6 HP の YZ 面の姿勢 1 写真 7 HP の YZ 面の姿勢 2 点 9 点 7 図 7 直立姿勢での出入り測定 114 図 8 使用したスタイラス点 8 点 10 表 4 YZ 面の誤差 XY 面内 YZ 面内 ZX 面内 xtx [um/m] yty [um/m] ztz [um/m] xwy [urad] ywz [urad] xwz [urad] HP の向きは No.1 円から No.8 円に向かう方向を +Y 方向として設置し空間軸の方向は +X とした WCS は 3. ホールプレートへの値付けと同等とした

6 岩手県工業技術センター研究報告第 18 号 (2016) Z [mm] 校正値 Y [mm] YZ 面内誤差倍拡大図 9 YZ 面の誤差 5-4 YZ 面の HP 測定 Forward+Backward 測定を繰り返し無しで行い測定時間は 20 分であったスタイラスは図 8 に示す -X 方向横向きの φ8 mm チップの赤色ルビーを使用した 5-5 YZ 面の HP の測定での温度変動測定中の温度の平均値は 19.3 変動幅は 0 であった YZ 面の測定では HP の線膨張係数がほぼ 0 / であるため温度補正は行わなかった 5-6 実験結果及び考察表 4 と図 9 に YZ 面の誤差を示すここで使用した HP の校正値は表 1 を使用したつまり HP を校正した CMM と YZ 面を検査した CMM は同じものであり今後に表 1 の校正値の客観的な検証を要する表 4 より YZ 面内での誤差は Y 軸方向で -0.3 µm/m Z 軸方向で 0.5 µm/m となり検査長さ 1 m での指示誤差 2.4 µm を大きく下回ったまた Z 軸に対する Y 軸の直角度誤差は -0.3 µrad となり非常に小さい XY 面及び ZX 面は検査を実施していないため数値は 0 を示しているまた図 9 から誤差の分布傾向は規則性は見られずランダムに分布する誤差であることから CMM の校正及び仕様の分解能に依存する誤差であると思われるこのことから現状での CMM の状態は高精度測定に対応できる良い状態であることがわかった 6 結言低熱膨張セラミックス製ホールプレートを使用して高精度 CMM によりホールプレートの値付け校正を行い校正方法の様式化と値付けの不確かさを算出したまた校正値を与えたホールプレートを使用して CMM の性能検査方法を試した結果以下の結論が得られた (1) 高精度 CMM で反転法により値付け校正したトレーサビリティを付与するための標準器はホールステップゲージを使用したその結果校正値の不確かさは測定長さ 350mm では U(k=2)=444nm と算出されブロックゲージなど温度膨張材料に比較して低熱膨張材料の場合では温度膨張に起因する因子が排除された結果校正値の不確かさが小さく算出される効果が見られた (2) ホールプレートを使用した CMM の性能検査を試した YZ 面にホールプレートを立てる姿勢では低熱膨張セラミックスの比重が鉄の 1/3 の特性効果により軽量で操作性が容易であった性能検査で得られた結果は YZ 面内での誤差は Y 軸方向で -0.3 µm/m Z 軸方向で 0.5 µm/m となり検査長さ 1 m での指示誤差 2.4 µm を大きく下回り CMM が良好な状態であることが確認できた文献 1) 和合健ほか : 座標測定機の中間点検手法の考察精密工学会誌 Vol.79 No.3 p (2013) 謝辞本研究は産業技術連携推進会議知的基盤部会計測分科会形状計測研究会の共同研究として行われた実験を行うにあたり本共同研究に参加された NMIJ/AIST 公設試及び企業の研究員の方々には貴重なご指導を頂きこの場を借りて感謝を表す

CMMによるボールプレートの値付け校正

* CMMによるボールプレートの値付け校正 ** ** 和合健米倉勇雄座標測定機 ( 以下 CMM と略 ) の高精度測定を確立するために計測分科会形状計測研究会の共同研究として 16 機関によるボールプレートの値付けを目的とする持ち回り測定行った CMM を使用した反転法によりボールプレートに値付けを行った結果参照機関との差は平均値でX 軸が0.4μm Y 軸が 0.2μm となり 1μm