14:05 14:15 1A-20 Ni-W () 14:30 1A-21 Ni-W-P () 14:45 1A-22 Pd-Ni-P () 15:00 1A-23() () () 15:15 1A-24() () 15:30 15:45 1A-26 Zn-Ni () 16:00 1A-27 -XP
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- ともなり かなり
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2 14:05 14:15 1A-20 Ni-W () 14:30 1A-21 Ni-W-P () 14:45 1A-22 Pd-Ni-P () 15:00 1A-23() () () 15:15 1A-24() () 15:30 15:45 1A-26 Zn-Ni () 16:00 1A-27 -XPS (**1) *, *1** 16:15 1A-28 PtNi (**1) ***1 16:30 1A-29 Co-Pt () 16:45 1A-30 CdTe () B 9:30 1B-(1) 6 () 10:15 1B-04() Au (**1*2) **1* ***1 *1*2 10:30 10:45 1B-(2) () 11:30 1B-09 Cu () 11:45 1B-10() --3 (**1) **1*1 12:00
3 118 13:00 13:05 13:05 14: :05 14:15 1B-20 Cu (**1*2) ****1 *2*2 14:30 1B-21 () 14:45 1B-22 (*1*1) **1*1 *1 *1 15:00 1B-23 () 15:15 1B-24 UV 15:30 (**1) ***1*1 *, *1 15:45 1B-26 Cu () 16:00 1B-27 () 16:15 1B-28 () 16:30 1B-29() (KAST*C*1*2) **1*2 16:45 1B-30() PWBPd () C 9:30 1C-01() UBMDLC (**1) **1 9:45 1C-02 UBMSDLC (**1) ***1*1 10:00 1C-03 A7075DLC/NiP (**1) * **1 10:15 1C-04() DLC (*DOWA*1) **1*1*1
4 10:30 10:45 1C-06 XPS (**1*2) **, *1 *2*1** 11:00 1C-07 (**1*2) ** *1*2 11:15 1C-(3) DLC 12:00 () :00 13:05 13:05 14: :05 14:15 1C-(4) DLC () 15:00 1C-23() () 15:15 1C-24 Cr-DLC 15:30 (**1*2) * *1* *2 15:45 1C-26 DLC (*imott*1*2*3) *** *1*1*2 *2 *3 16:00 1C-27 DLC (**1iMott*2*3*4) * * *1* *2*2 *3 *4 16:15 1C-(5) DLC () D 11:00 1D-07() () 11:15 1D-08 (*U.C.San Diego*1) M.S.M.Salem*M.J.Sailor*1** *
5 11:30 1D-09 3Si () 11:45 1D-10 12:00 () :00 13:05 13:05 14: :05 14:15 1D-20() UBM(TiMo)N (**1*2) * ***1 *1*1*2*2*2 14:30 1D-21() UBM(TiMo)N (**1*2) * ***1 *1*1*2*2*2 14:45 1D-22 NTiO 2 () 15:00 1D-23 () 15:15 1D-24 () 15:30 1D-25() CrAlNY 15:45 () 16:00 1D-27 CCP-CVD (**1*2) **1*2 *, *1 16:15 1D-28 (**1) ** *, *1 16:30 1D-29 CVDZnO:N (**1) ** *, *1 16:45 1D-30 CVDSbSnO 2 () E 9:30 1E-01 Ti () 9:45 1E-02 HAp
6 () 10:00 1E-03 (*Univ.Erlangen*1) **SteffenBerger*1Patrik Schmuki*1 10:15 1E-04 10:30 (**1) **1 10:45 1E-06 p () 11:00 1E-07 psi () 11:15 1E-08 Electric Behavior of Anodic Oxide Films in Ambient Gas Atmosphers () Damian Kowalski 11:30 1E-09 () 11:45 1E-10 12:00 () :00 13:05 13:05 14: :05 14:15 1E-20 (**1) * **1* 14:30 1E-21 (**1) **1 14:45 1E-22 (NIMS) 15:00 1E-23 () 15:15 1E-24 Al 15:30 () 15:45 1E-26 () 16:00 1E-27
7 (**1) *1**1** 16:15 1E-28 () 16:30 1E-29 /NiCu/ (**1*2*3) *** *1*2 *3 16:45 1E-30 2 (**1) ***1 F 9:45 1F-02() (**1*2) * * **1 *1*1*1*2 10:00 1F-03 (**1*2) **** *1 *2*2 10:15 1F-04 Ni (**1*2) * **1 *2*2 10:30 1F-05 10:45 (**1) **1 11:00 1F-07 ITOEC (**1) ***1* 11:15 1F-08 Al (**1*2) **1*2 11:30 1F-09 ph (**1CREST/JST*2) **,*2 *1,*2 11:45 1F-10 (**1JST-CREST*2) *, *2*1, *2 *, *1, *2 12: :00 13:05 13:05 14: :05 14:15 1F-20 (**1) * ***1*1
8 *1 14:30 1F-21 () 14:45 1F-22 PTFE (**1) **1 * 15:00 1F-23 XPS (**1*2) *1** *2 15:15 15:30 1F-25 (**1) **1 15:45 1F-26() (**1*2)**1*2 16:00 1F-27 (**1) ***1*1 16:15 1F-28 Al 2 O 3 (**1) **1*1*1 92 () A 9:30 2A-01 (**1) ***1*1* 9:45 2A-02 (AT)) 10:00 2A-03 II () 佟 10:15 2A-04() () 10:30 2A-05() () 10:45 11:00 2A-07 Al-Zn () 11:15 2A-08 Cu-Sn () 11:30 2A-09 BMITFSIAg () 11:45 2A-10 Zr ()
9 12:00 13:00 2A-15 Ni-Ti (**1HRC*2)**1* *2*1 13:15 2A-16() Ni-W (**1*2) **1* *2 13:30 2A-17() () 13:45 2A-18 (**1*2) ** * *2 *1 *1* 14:00 2A-19 Ni-P () 14:15 14:30 2A-21 CNTNi4 () 14:45 2A-22 CNTNi5CNT () 15:00 2A-23 Sn-CNT () 15:15 2A-24 Zn-MWCNT () 15:30 2A-25 CuMWCNT () 15:45 16:00 2A-27 () 16:15 2A-28() () 16:30 2A-29 (*TDK*1) *****1 *1 16:45 2A-30 Ni-P/ () B 9:30 2B-(6) ()
10 10:15 2B-04() () 10:30 2B-05 (**1*2)*** *1 *2* 10:45 11:00 2B-(7) () 11:45 2B-10 p () 12:00 13:00 2B-15 SiAr () 13:15 2B-16 CNT () 13:30 2B-17 MWCNT () 13:45 2B-18 MWCNT () 14:00 14:15 2B-20 Direct Metallization (**1) *,*1 *1** 14:30 2B-21() ABSSn Ni () 14:45 2B-22() NiP (**1) ** *1 15:00 2B-23() 3 (**1) ****1*1 15:15 15:30 2B-25 Ni-B/ () 15:45 2B-26 Ni-MWCNT () 16:00 2B-27 Ni-B () 16:15 2B-28 TV
11 () 16:30 2B-29() (**1) *****1 *1 16:45 2B-30 () C 9:30 2C-01() (**1) ***1** 9:45 2C-02 N 2 DLC () 10:00 2C-03 CVDDLC (**1) **1*1* 10:15 2C-04 Me-DLC (**1) *1* 10:30 10:45 2C-06 DLC () 11:00 2C-07 DLCPDMS () 11:15 2C-08 DLC (*JAXA*1) * ***1 11:30 2C-09 CVDDLC () 11:45 2C-10 ECR (*MES*1*2*3)*** * * *1*2*2*2 *3 12:00 13:00 2C-15 (**1MES*2 *,*1** * *2 13:15 2C-16 Pd (**1*2*3)***1 *2*3*, *1 13:30 2C-17 (**1*2*3) **1*2 *3*, *2 13:45 2C-18 (**1*2) ***1 **2
12 14:00 2C-19 CVD (**2) *1* 14:15 2C-20 p () 14:30 14:45 2C-22 CVD (**2) ** ** *1*1S.H.Firoz*1*1*1 15:00 2C-23 CVD (**1MPS*2) **1*1*2 *2*2 15:15 2C-24 CVDB (**1) **1*1 15:30 2C-25 (**1) **1*1 15:45 2C-26 CVD (**1*2) **1*1 *2 16:00 2C-27 () D 9:30 2D-01 TiO 2 /WO3 (**1) **1** 9:45 2D-02 (ZrO 2 )/(WO 3 ) (**1) **1** 10:00 2D-03 (CeO 2 )(Y 2 O 3 ) (**1)***1** 10:15 2D-04 AlCdS (**1) **1** * 10:30 10:45 2D-06 CdS/TiO 2 S x2 -/S 2 - Au/SnO 2 () 11:00 2D-(8) () 12:00 13:00 2D-(9)
13 () 13:45 14:00 2D-19 (**1) ***1 14:15 2D-20 (**1*2) **1*2* * 14:30 2D-21 (**1) **1 *1*1*1 14:45 2D-22 () 15:00 15:15 2D-24 () 15:30 2D-25 () 15:45 2D-26 () 16:00 2D-27 InP () E 9:30 2E-01 (**1) ****1 9:45 2E-02() LSI () 10:00 2E-03 () 10:15 2E-04 Co-Cr (**1*2)**1 *2 *2 10:30 2E-05 (**1) **1 10:45 11:00 2E-07 (**1) **1*1* 11:15 2E-08 ZnZn-55%Al (**1) ***1 11:30 2E-09
14 () ** 11:45 2E-10 (**1) ***1 12:00 13:00 2E-15 AZ31B (**1) **1 13:15 2E-16 AZ91TiO 2 () 13:30 2E-17 () 13:45 2E-18 (**2) ** *,*1 14:00 14:15 2E-20 (**1) ***1*1 14:30 2E-21 MPCVD (**1) ****1 14:45 2E-22 (**1) ****1 15:00 2E-23() (C*KAST*1KM*2) **1*2
名称未設定-2
Contents 1 2 3 4 5 6 7 8 9 1 11 12 13 14 15 16 17 18 19 2 21 22 i 23 24 25 26 27 28 29 3 31 32 33 34 35 36 37 38 39 4 41 42 43 44 45 46 47 48 49 5 51 52 53 54 55 56 57 ii 58 59 6 61 62 63 64 65 66 67 68
untitled
2008-11/13 12 4 12 5 401 501 702 401 501 A-1 9:00-10:30 B-1 9:15-10:30 C-1 9:00-10:30 A-5 9:00-10:30 B-5 9:15-10:30 A A-2 10:45-12:15 B-2 10:45-12:15 C-2 10:45-12:15 A-6 10:45-12:15 B-6 10:45-12:15 A B
プログラム集計（座長付）ver11
2 11 8 A 17 21 9 30 2A01 2A02 2A03 9:20 9:30 PC 9:30 10:30 9:30 9:50 * WPI-ITbM ** CREST-JST *** Univ. of North Carolina at Chapel Hill **** * M. A. Horwitz **** * *,**,*** J. S. Johnson **** 9:50 10:10
M&M2015
M&M2015 MATERIALS AND MECHANICS CONFERENCE PROGRAM 2015 11 21 23 November 21~23, 2015 Keio University & Tokyo Tech. M&M2015 9 MMR PS 12:0013:00 PS0001-142 Time-domain reflectometry Microstrip
RAA-05(201604)MRA対応製品ver6
M R A 対 応 製 品 ISO/IEC 17025 ISO/IEC 17025は 試験所及び校正機関が特定の試験又は 校正を実施する能力があるものとして認定を 受けようとする場合の一般要求事項を規定した国際規格 国際相互承認 MRA Mutual Recognition Arrangement 相互承認協定 とは 試験 検査を実施する試験所 検査機関を認定する国際組織として ILAC 国際試験所認定協力機構
５８巻 ９Ｑ／２６９ 年間ブログラム Ｐ２９６
3H731 3H732 NiP 14 : 3015 : 10 3H734 3H735 3H736 3H737 2 15 : 2016 : 00 3H739 FET 3H740 FET 3H741 FET 3H742 FET 16 : 0017 : 00 3H743 3H744 3H746 3H747 3 27 13 : 0014 : 00 2K125 C,Si,Ge 14 : 0015 : 00 2K131
Microsoft Word - 00”ŒŁ\”ƒf.doc
1-1 1 1-2 5S 3 1-3 5 2-1 1 2-2 3 2-3 5 2-4 7 3-1 1 3-2 3 3-3 5 3-4 7 4-1 1977 1 4-2 1987 7 4-3 17 4-4 26 1-1 1 1-2 5S 3 1-3 5 1-1 (1) (2) (3) 1. -1-1 1:15 1:10 2.. owf / 1.0 40 1.0 3.0 60 3.0 80 kg 0.25
untitled
NPO 2006( ) 11 14 ( ) (2006/12/3) 1 50% % - - (CO+H2) ( ) 6 44 1) --- 2) ( CO H2 ) 2 3 3 90 3 3 2 3 2004 ( ) 1 1 4 1 20% 5 ( ) ( ) 2 6 MAWERA ) MAWERA ( ) ( ) 7 6MW -- 175kW 8 ( ) 900 10 2 2 2 9 -- - 10
Al アルミニウム Cu 銅 Fe 鉄 Ni ニ
Al アルミニウム 30000 30000 30000 26000 26000 26000 28000 Cu 銅 140000 140000 140000 110000 110000 110000 130000 Fe 鉄 86000 87000 88000 140000 140000 140000 110000 Ni ニッケル 13000 13000 14000 23000 23000 23000
IS(A3) 核データ表 ( 内部転換 オージェ電子 ) No.e1 By IsoShieldJP 番号 核種核種半減期エネルギー放出割合核種番号通番数値単位 (kev) (%) 核崩壊型 娘核種 MG H β-/ce K A
IS(A3)- 284 - No.e1 核種核種半減期エネルギー放出割合核種通番数値単位 (kev) (%) 1 1 1 MG-28 20.915 H 29.08 27.0000 β-/ce K Al-28 2 1 2 MG-28 20.915 H 30.64 2.6000 β-/ce L Al-28 3 2 1 SC-44M 58.6 H 270.84 0.0828 EC/CE CA-44 4 2
…v…›…Y…}−jŠZ“⁄−w›ï”‘‡P‡P„”†y‡W‡W†|‡P‡P†z†^›ð’à
New Development of Carbon Nanomaterials SUDA Yoshiyuki, TANOUE Hideto and TAKIKAWA Hirofumi μ corresponding author s e-mail: suda@ee.tut.ac.jp a SWCNT b a a SWCNTb MWCNT b a CNCb CNTw et al. DLC DLC Ω
!!! 10 1 110 88 7 9 91 79 81 82 87 6 5 90 83 75 77 12 80 8 11 89 84 76 78 85 86 4 2 32 64 10 44 13 17 94 34 33 107 96 14 105 16 97 99 100 106 103 98 63 at 29, 66 at 58 12 16 17 25 56
17 17 17 17 11 21 28 1 24 12 36 2,000 2 22 11 3.67 3.38 22 2.97 21 10 1.7 1.12 22 10 13 2.75 11 10 15 24 10 12 14 3 17 17 2006 4 17 10 24 12 17 5 15 17 17 11 40 6 17 40 17 11 7 24 17 24 17 8 40 17 17 9
PowerPoint Presentation
2 9/ 3 3 9/ 9 4 5 , PR () 6 ,,, (11) 7 PR 8 9 10 11 TEL. 106 8/131512/291/3 TEL. 107 12/291/3 12 http://www.f-turn.jp/ 13 21 4 21 14 200910 U 200911 U 200911 20102 15 20102 PR 20103 20103 16 20103 20104
untitled
,337 37 35 0,349,09 35 55 988 3 0 0 3,387 7 90 0,369,46 5 57 5 0 90 38 8,369 3 4 5 6 7 8 9 0 3 4 5 6 7 8 9 0 3 4 5 6 8 9 30 3 3 5,400 7,00 9,000 0,800,600 4,400 6,00 8,000 9,800,600 3,400 5,00 7,000 8,800
,877 61,524 33, ,292, ,653 57,601 95,188 2,416 1,767,
02 02 02 180,771 07 02 01 1,377 07 02 02 1,051,703 07 02 05 220,099 07 03 01 926,597 08 02 04 1,877,566 08 04 02 2,973,603 08 05 03 672,950 10 06 03 778,433 10 06 04 735,789 10 06 06 225,392 10 06 07 365,442
Wn PCB PCB PCB YES NO SMW YES NO YES NO ALC PC PCGRCPC PC FR PC PC PC ALC PC ALC PCB PCB PCB PCB PCB PCB PCB PCB PCB PCBPCB PCB PCB PCBPCB
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 ( ) 24 25 26 27 28 29 30 ( ) ( ) ( ) 31 32 ( ) ( ) 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 ) i ii i ii 45 46 47 2 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58
untitled
i ii (1) (1) (2) (1) (3) (1) (1) (2) (1) (3) (1) (1) (2) (1) (3) (2) (3) (1) (2) (3) (1) (1) (1) (1) (2) (1) (3) (1) (2) (1) (3) (1) (1) (1) (2) (1) (3) (1) (1) (2) (1) (3)
23 15961615 1659 1657 14 1701 1711 1715 11 15 22 15 35 18 22 35 23 17 17 106 1.25 21 27 12 17 420,845 23 32 58.7 32 17 11.4 71.3 17.3 32 13.3 66.4 20.3 17 10,657 k 23 20 12 17 23 17 490,708 420,845 23
平成１８年度「商品先物取引に関する実態調査」報告書
... 1.... 5-1.... 6-2.... 9-3.... 10-4.... 12-5.... 13-6.... 15-7.... 16-8.... 17-9.... 20-10.... 22-11.... 24-12.... 27-13... 29-14.... 32-15... 37-16.... 39-17.... 41-18... 43-19... 45.... 49-1... 50-2...
税関分析25 年の進歩
25 1 25 40 27 25 27 32 25 CeEDTA 10) 11 1) Fe Al Zn EDTA 2) 12) n IR400 2N BT EDTA 14) e 15) 16) 17) 18) 3) Zn Cu 4) Mn 5) 6) 7) 8) 9 13) 2 24) X 56),57) 58) 25) 59) 60) X 61) X X 26) X 27),28),29) 62)
03J_sources.key
Radiation Detection & Measurement (1) (2) (3) (4)1 MeV ( ) 10 9 m 10 7 m 10 10 m < 10 18 m X 10 15 m 10 15 m ......... (isotope)...... (isotone)......... (isobar) 1 1 1 0 1 2 1 2 3 99.985% 0.015% ~0% E
,
23 1948 23 10 20 23 11 6 10 10 214 11 11 4 6,000 6,000 215 24 1949 18 69 1 2 24 31 34 24 10 11 12 14 15 2 2226 83, 24 1949 25 195017 26 1951 10 12 28 1953 22 25 1 20 31 10 15 10 1631 10 11 12 13 14 13
JAJP
Agilent 7500ce ORS ICP-MS Glenn Woods Agilent Technologies Ltd. 5500 Lakeside, Cheadle Royal Business Park Stockport UK Agilent 7500ce ICP-MS 5 7500ce (ORS) 1 ORS 7500ce ORS ICP-MS ( ) 7500 ICP-MS (27.12
36 th IChO : - 3 ( ) , G O O D L U C K final 1
36 th ICh - - 5 - - : - 3 ( ) - 169 - -, - - - - - - - G D L U C K final 1 1 1.01 2 e 4.00 3 Li 6.94 4 Be 9.01 5 B 10.81 6 C 12.01 7 N 14.01 8 16.00 9 F 19.00 10 Ne 20.18 11 Na 22.99 12 Mg 24.31 Periodic
1.06μm帯高出力高寿命InGaAs歪量子井戸レーザ
rjtenmy@ipc.shizuoka.ac.jp ZnO RPE-MOCVD UV- ZnO MQW LED/PD & Energy harvesting LED ( ) PV & ZnO... 1970 1980 1990 2000 2010 SAW NTT ZnO LN, LT IC PbInAu/PbBi Nb PIN/FET LD/HBT 0.98-1.06m InGaAs QW-LD
4_Laser.dvi
1 1905 A.Einstein 1917 A.Einstein 1954 C.H.Townes MASER Microwave Amplification by Stimulated Emission of Radiation 23.9 GHz 1.26 cm 1960 T.H.Maiman LASER Light Amplification by Stimulated Emissin of Radiation
K 吸収端 XAFS 用標準試料 Ti Ti-foil 金属箔 縦 1.3 cm 横 1.3 cm 厚さ 3 µm TiO2 anatase ペレット φ 7 mm 厚さ 0.5 mm 作製日 TiO2 rutile ペレット φ 7 mm 厚さ 0.5 mm 作製日 2017.
あいち SR BL5S1 硬 X 線 XAFS ビームライン Ⅰ 標準試料リスト 周期表のリンクをクリックすると 各元素の標準試料リストに飛びます 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 H He Li Be B C N O F Ne Na Mg Al Si P S Cl Ar K Ca Sc Ti V Cr Mn Fe Co Ni Cu Zn Ga
ナノ粒子のサイズ・形態制御と 構造敏感型触媒プロセスへの応用
2 3 10 9 m = 1 nm m 4 5 100 m 1m 10cm 100 m 1cm 1mm 10 m 1 m 100nm 10nm 1nm 1 10 m 1 m 1nm 100nm 10nm 10 8 6 1 nm 10 8 7 9 10 11 12 13 14 15 17 18 19 20 21 nm Ni-Zn 2- Ni-Zn Zn Ni Ni-Zn B 5 10 nm 23
untitled
SPring-83 22(2010)730 MBE PLD MBE 0.002% PLD p Π n p n PF PF = S 2 S =V/ΔT V: [V] ΔT: [K] S[V/K], T[K], σ[s/m] TeBi 2 Te 3 (Bi,Se) 2 Te 3 (n-type) Ar KrF Ar gas 2. A. 3. c-si a-si InP GaAs 1g (μm) PV(W/g
2 2 1990 17 000 2002 3 22 000 12 5 000 2 10 2 1999 2000 2 ii 2 2 MOS 2001 8 2002 3 2 2 iv (*2002 3 ) vi vii () 1 * 1 1.1 2 1.1.1 2 1.1.2 2 1.2 4 1.2.1 4 1.2.2 1 6 1.2.3 2 9 1.2.4 10 1.2.5 () a b, c 13
MP-AES ICP-QQQ Agilent 5100 ICP-OES Agilent 5100 (SVDV) ICP-OES (DSC) 1 5100 SVDV ICP-OES VistaChip II CCD Agilent 7900 ICP-MS 7700 / 10 7900 ICP-MS ICP-MS FTIR Agilent 7900 ICP-MS Agilent Cary 7000 (UMS)
2 1 7 - TALK ABOUT 21 μ TALK ABOUT 21 Ag As Se 2. 2. 2. Ag As Se 1 2 3 4 5 6 7 8 9 1 1 2 3 4 5 6 7 8 9 1 1 2 3 4 5 6 7 8 9 1 Sb Ga Te 2. Sb 2. Ga 2. Te 1 2 3 4 5 6 7 8 9 1 1 2 3 4 5 6 7 8 9 1 1 2 3 4
2_R_新技術説明会（佐々木）
% U: 6.58%, Np, Am:.5%, Pu:.% 5.8% Cs 6.5% Sr %.9%Mo 8.74% Tc.9% TODA C 8 H 7 C 8 H 7 N CH C CH N CH O C C 8 H 7 O N MIDOA C 8 H 7 DOODA NTA + HN(C 8 H 7 ) + H O DCC + SOCl + HN(C 8 H 7 ) + Cl TODA (TODA)
PowerPoint プレゼンテーション
2004 3 3 2 3 4 5 6 7 8 9 10 T. Ito, A. Yamamoto, et al., J. Chem. Soc., Chem. Commun., 136 (1974) J. Chem. Soc., Dalton Trans., 1783 (1974) J. Chem. Soc., Dalton Trans., 1398 (1975) 11 T.Ito, A. Yamamoto,
あいち SR 硬 X 線 XAFS ビームライン参照試料リスト 周期表のリンクをクリックすると 各元素の参照試料リストに飛びます H He Li Be B C N O F Ne Na Mg Al Si P S
あいち SR 硬 X 線 XAFS ビームライン参照試料リスト 周期表のリンクをクリックすると 各元素の参照試料リストに飛びます 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 H He Li Be B C N O F Ne Na Mg Al Si P S Cl Ar K Ca Sc Ti V Cr Mn Fe Co Ni Cu Zn Ga Ge As Se
66 3 4 5 6
1990 1 2 66 3 4 5 6 67 7 8 9 68 10 11 12 1900-86 1887-1969 13 14 15 69 佟 佟 16 17 70 1820 18 19 71 20 21 1878-1972 22 23 72 24 25 26 73 1 2001pp.35-36 2 1999 1999 1995 1997 2000 3 2000p.149 4 1999 p.16
Fe-0.3massN-1MM : Mn,Mo 4 Mn kinetics Mo 6 γ JFE 7 AlN γ
980 8577 1000 100514 10 111558 1215 1315912 10 14251317 10 1550 1605 161050 18 10 1710 170540 19 5 1750 1800 830 8352023 10 9452427 10 10552832 1210 1310 1315 55 5 33 10 1425 20 3436 5 15303739 5 1640
1/120 別表第 1(6 8 及び10 関係 ) 放射性物質の種類が明らかで かつ 一種類である場合の放射線業務従事者の呼吸する空気中の放射性物質の濃度限度等 添付 第一欄第二欄第三欄第四欄第五欄第六欄 放射性物質の種類 吸入摂取した 経口摂取した 放射線業 周辺監視 周辺監視 場合の実効線 場合
1/120 別表第 1(6 8 及び10 関係 ) 放射性物質の種類が明らかで かつ 一種類である場合の放射線業務従事者の呼吸する空気中の放射性物質の濃度限度等 添付 第一欄第二欄第三欄第四欄第五欄第六欄 放射性物質の種類 吸入摂取した 経口摂取した 放射線業 周辺監視 周辺監視 場合の実効線 場合の実効線 務従事者 区域外の 区域外の 量係数 量係数 の呼吸す 空気中の 水中の濃 る空気中 濃度限度
リサイクルデータブック2016
AppendixEU SDGs2159EU 21512UNEPOECD2165G7 2165 213 Appendix 1 EU 2 EU 3 215 i CONTENTS i 1 213 1 213 2 1 4 2 2 6 3 3 6 4 213 7 4 5 9 6 213 9 5 7 1 8 213 1 9 11 1 213 11 11 213 11 6 6.1 12 213 14 6.2 13
リサイクルデータブック2015
EUEconomy-wide Material Flow AccountsEW-MFA Domestic Extraction UsedDEU Direct Material InputDMI Domestic Material ConsumptionDMC A resource-effi cient Europe Flagship initiative under the Europe 22 Strategy
第1章 溶接法および機器
670 ) ) ) ) 2.1 ) 42 671 Sn T m K. T m. T m. T m 2.2 JIS BAl BPd Al-Si Al-Mn KAlF -K AlF H O Ni 43 672 Sn-In Zn EU RoHS ) Pb Cd Hg JIS Z ( ) ) ) 3.1 44 673. MO HX MX H O M X (d) Young sf lf cos sl sf lf
DSP FPGA î ~îå å Êšî æ j æ j jêš oêš j jìê~ šlâ ³ å Ì Ø î Êš o j ûå î j~ j g jì íp Ì Ê~½ jjå û { ò î å ~Žiî Ži»î l Internet j Router NNTPl î (192.168.x.0/24) l ip route 192.168.1.1/32 tun0 router rip redistribute
untitled
1 / 37 5-4 6.1 1 2 / 37 1 (1) FePt AuAg (2) CdSe ZnSXY 2 O 3 X X : ZnO (3) SiO 2 (4) (5) 2 1 3 / 37 1 (1) FePt AuAg (2) CdSe ZnSXY 2 O 3 X X : ZnO (3) SiO 2 (4) (5) 3 4 / 37 1Tbits/cm 2 HD FePt FePt 110nm
元素分析
: このマークが付してある著作物は 第三者が有する著作物ですので 同著作物の再使用 同著作物の二次的著作物の創作等については 著作権者より直接使用許諾を得る必要があります (PET) 1 18 1 18 H 2 13 14 15 16 17 He 1 2 Li Be B C N O F Ne 3 4 5 6 7 8 9 10 Na Mg 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 Al Si P
CoPt 17
CoPt 17 1...1 1.1...1 1.2...1 1.2.1...1 1.2.2...1 1.2.3...2 1.3...3 1.4 CoPt...3 1.5...4 2...6 2.1...6 2.1.1...6 2.1.2...6 2.2...7 2.2.1 X...7 2.2.2...7 2.3...8 2.3.1...8 2.3.2...9 3 CoPt...10 3.1...10
:
: 2005 4 16 1 1 1.1............................ 1 1.2................................ 2 2 4 2.1............................ 4 2.2......................... 4 3 5 3.1........................ 5 3.2.................
I A-7 Fe β-ga 2 O 3 31 I A-8 I A-9 I A-10 I A-11 X Ce Tb A A A A A X 43 A A 47 A A B B A A B I A-12 SrI 2 :Eu 51 A B B C D A B C D I A I A
28 12 8 ( ) I A I B 10:00 10:05 10:05 11:10 11:25 12:25 13:45 15:15 TL-1 1 I A 15:30 17:30 I A-3 ZnO 15 I A-4 ZnO 19 A B B A,C A,B D A A B C D I A-5 255 I A-6 27 Ian Friel A J. Isberg B A Element Six Innovation
RN201602_cs5_0122.indd
ISSN 1349-1229 No.416 February 2016 2 SPECIAL TOPIC113 SPECIAL TOPIC 113 FACE Mykinso 113 SPECIAL TOPIC IUPAC 11320151231 RI RIBFRILAC 20039Zn30 Bi83 20047113 20054201283 113 1133 Bh107 20082009 113 113
リサイクルデータブック2017
AppendixEU SDGs2159EU 21512UNEPOECD2165G7 2165 214 Appendix 1 EU 2 EU EU( EU EU EU EU 3 217 i CONTENTS i 1 214 1 214 2 1 4 2 2 6 3 3 6 4 214 7 4 5 9 6 214 9 5 7 1 8 214 1 9 11 1 214 11 11 214 11 6 6.1
000..\..
Bull. Nagoya Univ. Museum No. 20, 79 91, 2004 Quantitative chemical analysis of rocks with X-ray fluorescence analyzer XRF-1800 NAKAZAKI Mineko TSUBOI Motohiro KANAGAWA Kazuyo KATO Takenori SUZUKI Kazuhiro
untitled
1 Physical Chemistry I (Basic Chemical Thermodynamics) [I] [II] [III] [IV] Introduction Energy(The First Law of Thermodynamics) Work Heat Capacity C p and C v Adiabatic Change Exact(=Perfect) Differential
1 d 6 L S p p p p-d d 10Dq 1 ev p-d d 70 % 1: NiO [3] a b CI c [5] NiO Ni [ 1(a)] Ni 2+ d 8 d 7 d 8 + hν d 7 + e d 7 1(b) d 7 p Ni 2+ t 3 2g t3 2g e2
![1 d 6 L S p p p p-d d 10Dq 1 ev p-d d 70 % 1: NiO [3] a b CI c [5] NiO Ni [ 1(a)] Ni 2+ d 8 d 7 d 8 + hν d 7 + e d 7 1(b) d 7 p Ni 2+ t 3 2g t3 2g e2](/thumbs/93/111390883.jpg "1 d 6 L S p p p p-d d 10Dq 1 ev p-d d 70 % 1: NiO [3] a b CI c [5] NiO Ni [ 1(a)] Ni 2+ d 8 d 7 d 8 + hν d 7 + e d 7 1(b) d 7 p Ni 2+ t 3 2g t3 2g e2")
3 3.1 3.1.1 - d s p d 3d d d d d d d 10 23 d d 1954 [1] d d 1970 I-II-VI 2 II-VI II 1:1 I III CuAlS 2 Al 3+ d 5 Fe 3+ d 5 S 3p d 6 L L [2] configuration interaction: CI d 5 1 1 d 6 L S p p p p-d d 10Dq
hv (%) (nm) 2
HOLLOW CATHODE LAMPS hv 1 2 1 8 5 3 4 6 (%) 6 4 7 8 2 16 2 24 28 32 36 4 44 (nm) 2 1 328.7 346.5 Ag 47-47NB(AG) 338.28 1 2 Re 75-75NB(RE) 346.47 2 25 39.27 343.49 Al 13-13NB(AL) 396.15 1 2 Rh 45-45NB(RH)
( ) 66 ( ) 67 ( ) 68 () 69 ( ) ( ) 7 ( ) 35 7 ( ) 73 ( ) 74 ( ) 75 ( ) 76 ( ) 77 () ( ) 79 ( ) () 8 () 8 ( ) 83 (
( ) 8 8 9 ( ) ( ) 3 () 4 ( ) 3 5 ( ) 6 ( ) 3 7 ( ) 8 ( ) 9 ( ) L ( ) () () 4 3 4 5 6 3 ( ) 4 () 7 33 5 ( ) 6 ( ) 7 () 8 ( ) 9 ( ) ( ) 5 4 34 8 6 9 35 ( ) ( ) 3 ( ) 4 () 5 ( ) 6 ( ) 3 7 () 8 ( ) 9 () 3
Frontier Simulation Software for Industrial Science
PACS-CS FIRST 2005 2005 2 16 17 2 28 2 17 2 28 3 IT IT H14~H16 CHASE CHASE-3PT Protein Protein-DF ABINIT-MP 17 2 28 4 CMOS Si-CMOS CMOS-LSI CMOS ATP 10nm 17 2 28 5 17 2 28 6 CMOS CMOS-LSI LSI 90nm CMOS
スライド 1
High-k & Selete 1 2 * * NEC * # * # # 3 4 10 Si/Diamond, Si/SiC, Si/AlOx, Si Si,,, CN SoC, 2007 2010 2013 2016 2019 Materials Selection CZ Defectengineered SOI: Bonded, SIMOX, SOI Emerging Materials Various
fma20.PDF
PZT TSC Measurement for Degraded and Damaged PZT Thin Films Capacitors Prepared by Sputtering. FeRAM MFIS : XRD, TEM : XRF, EDS, EPMA, SIMS : SPM, NDM? DLTS DLTS (TSC) (TSC) fatigue,, ( ) (1) (2) J T TSC
2 Zn Zn + MnO 2 () 2 O 2 2 H2 O + O 2 O 2 MnO 2 2 KClO 3 2 KCl + 3 O 2 O 3 or 3 O 2 2 O 3 N 2 () NH 4 NO 2 2 O + N 2 ( ) MnO HCl Mn O + CaCl(ClO
1 [1]. Zn + 2 H + Zn 2+,. K Ca Na Mg Al Zn Fe Ni Sn Pb H Cu Hg Ag Pt Au H (H + ),,. [2] ( ) ( ) CO 2, S, SO 2, NH 3 () + () () + () FeS Fe S ( ) + ( ) ( ) + ( ) 2 NH 4 Cl + Ca(OH) 2 Ca O + 2 NH 3,.,,.,,.,.
1 1 H Li Be Na M g B A l C S i N P O S F He N Cl A e K Ca S c T i V C Mn Fe Co Ni Cu Zn Ga Ge As Se B K Rb S Y Z Nb Mo Tc Ru Rh Pd Ag Cd In Sn Sb T e
No. 1 1 1 H Li Be Na M g B A l C S i N P O S F He N Cl A e K Ca S c T i V C Mn Fe Co Ni Cu Zn Ga Ge As Se B K Rb S Y Z Nb Mo Tc Ru Rh Pd Ag Cd In Sn Sb T e I X e Cs Ba F Ra Hf Ta W Re Os I Rf Db Sg Bh
( ) 09:00 17:40 08: :00 09: :05 10:15 1 ( ) -01 ( 5 ) (10:15 10:25 ) 10:25 11:50 2 ( ) -02 ( 6 ) (11:50 13:00 ) 13:00 1
29 30 2 7 ( ) 09:00 17:40 08:55 31 501 09:00 09:05 31 501 9:05 10:15 1 ( ) -01 ( 5 ) (10:15 10:25 ) 10:25 11:50 2 ( ) -02 ( 6 ) (11:50 13:00 ) 13:00 14:10 1 ( ) -03 ( 5 ) (14:10 14:20 ) 14:20 16:10 2 (
Taro11-接遇のしおり（一太郎版）
- - - - - - - - PR - - - - PR - - W H - - - - - - - - - - - - ' - - - - - - - - - - - - - - I - - l - - II - - - - - - - - - - - - IV - - : C : B C D - - : B C D : A B C D E F E F - - - - - -
Program.PDF
6-10-1 9:30-10:00-1 3. 4. 10:10-10:409:00-9:30 9:30-11:00 10:50-11:20-2 11:30-12:00 2. 7. 8. (12:00-13:00) 11:00-11:30 11:30-13:00 13:00-13:30-3 13:40-14:10 1. 5. 13:00-13:30 14:20-14:50 13:30-15:00 15:00-15:30-4
28.3% 0.2% n=418 34.8% 21.6% 15.1% 0.2% n=418 55.2% 44.6% 0.2% 42.9% n=418 1.4% 4.1% 5.0% 8.6% 25.9% 11.8% 3.6% 0.2% 35.0% 1.9% 14.6% n=418 11.5% 16.5% 5.0% 11.5% n=418 23.0% 0.2% 8.4% 3.1% 9.6% 55.7%
untitled
JAIMA 2008 9 3 13:0017:30 201 XPS AES 13001310 13101340 13401410 14101440 14401510 15101520 15201540 15401620 16201700 17001720 17201730 TDK -94- KK X X AlK1486.6eV 0.85eV MgK1253.6eV 0.7eV -95- 20eV2,500eV
ナノハイブリッド材料の創製
1 α-fe2o3 α-fe2o3 α-fe2o3 α-fe2o3 2µm 2µm 2µm 10µm CdS CdS Cu2O 0.5µm 1µm 0.5µm 2 Ni-Zn 3 4 5 Ni-Zn 6 7 1. 2. 3. (T. Sugimoto, Adv. Colloid Interface Sci. 28, 65 (1987).) 8 LaMer 9 10 11 O 12 13 α-fe2o3