INDEX PAGE 1. 静電気放電イミュニティ試験 3 Electrostatic Discharge Immunity Test (IEC ) 2. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 5 Radiated, Radio Frequency, Electromagnetic

Similar documents
INDEX PAGE 1. 静電気放電イミュニティ試験 3 Electrostatic Discharge Immunity Test (IEC ) 2. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 5 Radiated, Radio Frequency, Electromagnetic

INDEX PAGE 1. 静電気放電イミュニティ試験 3 Electrostatic Discharge Immunity Test (IEC ) 2. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 5 Radiated, Radio Frequency, Electromagnetic

INDEX PAGE 1. 静電気放電イミュニティ試験 3 Electrostatic Discharge Immunity Test (IEC ) 2. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 5 Radiated, Radio Frequency, Electromagnetic

INDEX PAGE. 静電気放電イミュニティ試験 3 Electrostatic Discharge Immunity Test (IEC ) 2. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 4 Radiated Radio Frequency Electromagnetic Fiel

INDEX PAGE 1. 静電気放電イミュニティ試験 3 Electrostatic Discharge Immunity Test (IEC ) 2. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 4 Radiated Radio Frequency Electromagnetic F

INDEX PAGE. 静電気放電イミュニティ試験 3 Electrostatic Discharge Immunity Test (IEC ) 2. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 4 Radiated Radio Frequency Electromagnetic Fiel

INDEX PAGE. 静電気放電イミュニティ試験 3 Electrostatic Discharge Immunity Test (IEC ) 2. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 4 Radiated Radio-Frequency Electromagnetic Fiel

I N D E X PAGE 1. イミュニティ試験結果サマリ R-1 Summary of Immunity Test Result

PH150A280 TEST DATA IEC61000 SERIES テストデータ IEC61000 シリーズ TDK-Lambda C

INDEX PH50A280-* PAGE 1. 静電気放電イミュニティ試験 Electrostatic discharge immunity test (IEC ) E-1 2. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 E-3 Radiated, radio-frequency,

Visio-CA A.vsd

INDEX PE000FA PAGE 1. 静電気放電イミュニティ試験 3 Electrostatic Discharge Immunity Test (IE ) 2. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 5 adiated, adio Frequency, Electromagn

○MTBF_HFS150A_ xls

I N D E X PAGE 1. イミュニティ試験結果サマリ R-1 Summary of Immunity Test Result

LFS 雑音端子電圧 onducted Emission Vin: 100V / 50Hz Limit(QP): VI lass Limit(V): VI lass 150.1k k k V ata List

IEC シリーズ イミュニティ試験規格の概要

INDEX PAGE 1. Evaluation Method 1 1. 測定回路 Measurement Circuits 3 (1) 静特性 待機電力特性 通電ドリフト特性 その他特性 Steady state, Standby power, Warm up voltage drift and

INDEX PAGE 1. Evaluation Method 1 1. 測定回路 Measurement Circuits 3 (1) 静特性 待機電力特性 通電ドリフト特性 その他特性 Steady state, Standby power, Warm up voltage drift and

INDEX RWS50B 1. 測定方法 Evaluation Method PAGE 1.1 測定回路 Circuit used for determination 測定回路 1 Circuit 1 used for determination... T-1 静特性 Steady state da

TDK-Lambda INDEX 1. 評価方法 Evaluation Method PAGE 1.1 測定回路 Measurement Circuits... T-1 (1) 静特性 過電流保護特性 出力リップル ノイズ波形 Steady state characteristics, Over c

j9c11_avr.fm

INDEX 1. 測定方法 Evaluation Method PAGE 1.1 測定回路 Circuit used for determination 測定回路 1 Circuit 1 used for determination... T-1 静特性 Steady state data 通電ドリ

PA M01 LITEON SPEC Rev A

ISO 11452シリーズの概要 前編: ECE R10.05 に関係する規格

1_30B_Top_INDEX_OK.xls

INDEX KWS25A PAGE 1. Evaluation Method 1 1. 測定回路 Circuit used for determination 測定回路 1 Circuit 1 used for determination 4 静特性 Steady state data 通電ドリフト

INDEX 1. 測定方法 Evaluation Method PAGE 1.1 測定回路 Circuit used for determination 測定回路 1 Circuit 1 used for determination... 4 静特性 Steady state data 通電ドリフト

INDEX PAGE 1. Evaluation Method 1 1. 測定回路 Circuit used for determination 測定回路 1 Circuit 1 used for determination 4 静特性 Steady state data 通電ドリフト特性 Warm

Visio-A A.vsd

NJM78L00S 3 端子正定電圧電源 概要 NJM78L00S は Io=100mA の 3 端子正定電圧電源です 既存の NJM78L00 と比較し 出力電圧精度の向上 動作温度範囲の拡大 セラミックコンデンサ対応および 3.3V の出力電圧もラインアップしました 外形図 特長 出力電流 10

OPA134/2134/4134('98.03)

IEC :2014 (ed. 4) の概要 (ed. 2)

elm1117hh_jp.indd

AN15880A

BD9328EFJ-LB_Application Information : パワーマネジメント

(2/17) 5 4 C 2 7%RH 6

HA17458シリーズ データシート

Agilent 4339B High Resistance Meter Operation Manual

LMC6022 Low Power CMOS Dual Operational Amplifier (jp)


0_表紙_A.xls

AD8212: 高電圧の電流シャント・モニタ

LMV851/LMV852/LMV854 8 MHz Low Power CMOS, EMI Hardened Operational Amplifi(jp)

CISPR 35の概要

0_表紙_A.xls

Specification for Manual Pulse Generator, GFK-2262

PowerPoint プレゼンテーション

CISPR 32の概要 (ed. 2)

電力線重畳型機器認証技術

高速度スイッチングダイオード

INDEX PAGE 1. MTBF 計算値 Calculated Values of MTBF 3~4 2. 部品ディレーティング Component Derating 5~7 3. 主要部品温度上昇値 Main Components Temperature Rise T List 8 4. 電解

OPA277/2277/4277 (2000.1)

LMC6082 Precision CMOS Dual Operational Amplifier (jp)

untitled

ISO & ISO の概要

INDEX PAGE 1.MTBF 計算値 Calculated Values of MTBF R-1 2. 部品ディレーティング Component Derating R-2 3. 主要部品温度上昇値 Main Components Temperature Rise T List R-8 4. 電

INDEX 1. MTBF 計算値 Calculated Values of MTBF 3~4 PAGE 2. 部品ディレーティング Component Derating 5~7 3. 主要部品温度上昇値 Main Components Temperature Rise T List 8 4. 電解

LM7171 高速、高出力電流、電圧帰還型オペアンプ

Options(Unit : mm) Finger guards Model :19-139E :19-139H 53 Surface treatment :Nickel-chrome plating (silver) :Cation electropainting (black) Inlet si

PowerPoint プレゼンテーション

LT 低コスト、シャットダウン機能付き デュアルおよびトリプル300MHz 電流帰還アンプ

pc725v0nszxf_j

NJM2835 低飽和型レギュレータ 概要 NJM2835 はバイポーラプロセスを使用し 高耐圧 ローノイズ 高リップル除去比を実現した出力電流 500mAの低飽和型レギュレータです TO パッケージに搭載し 小型 2.2 Fセラミックコンデンサ対応 ノイズバイパスコンデンサ内蔵をしてい

スライド 1

Helvetica bold 30 pts two lines

回路実習

圧電型加速度センサ Piezoelectric Acceleration sensor 特長 Features 圧電素子に圧電型セラミックを用いた加速度センサは 小型堅牢 高感度で広帯域を特長としております 従って 低い周波数の振動加速度から衝突の様な高い加速度の測定まで 各分野で 幅広く使用されて

AnechoWeb_JA_01

INDEX 1. MTBF 計算値 Calculated Values of MTBF 3 PAGE 2. 部品ディレーティング Components Derating 5 3. 主要部品温度上昇値 Main Components Temperature Rise ΔT List 7 4. 出力ディ

R1LV0416Dシリーズ データシート

NJM2387/89 出力可変型低飽和レギュレータ 概要 NJM2387/89 は出力可変型低飽和レギュレータです 出力電流は1.0A まで供給可能であり 可変出力電圧範囲は 1.5V~20V 最大入力電圧は 35Vと高耐圧のため TV カーオーディオ等の電源アプリケーションに最適です NJM238

mbed祭りMar2016_プルアップ.key

FreeSpace.book

Plastic Package (Note 12) Note 1: ( ) Top View Order Number T or TF See NS Package Number TA11B for Staggered Lead Non-Isolated Package or TF11B for S


回路シミュレーションに必要な電子部品の SPICE モデル 回路シミュレータでシミュレーションを行うためには 使用する部品に対応した SPICE モデル が必要です SPICE モデルは 回路のシミュレーションを行うために必要な電子部品の振る舞い が記述されており いわば 回路シミュレーション用の部

untitled

NJG1660HA8 SPDT スイッチ GaAs MMIC 概要 NJG1660HA8 は WiMAX やデータ通信カードをはじめとする通信機器の高周波信号切り替え等の用途に最適な大電力 SPDT スイッチです 8GHz までの広周波数帯域をカバーし 高パワーハンドリング 低損失 高アイソレーショ

はじめに 本資料は NTTグループで使用する高電圧直流で動作するICT 装置等に関わる給電インタフェースや機能について 必要な要求条件を述べたものです 本文中に記載する条件等は 情報通信システムに対する給電システム全体の信頼性 安全性を確保する上で必要とされるものです なお 本資料に記載する内容は


INDEX 1. MTBF 計算値 Calculated Values of MTBF 3 PAGE 2. 部品ディレーティング Components Derating 5 3. 主要部品温度上昇値 Main Components Temperature Rise ΔT List 7 4. 出力ディ

INDEX RWS15B PAGE 1.MTBF 計算値 Calculated Values of MTBF R-1~2 2. 部品ディレーティング Component Derating R-3~5 3. 主要部品温度上昇値 Main Components Temperature Rise T Li

MITSUMI Any products mentioned in this catalog are subject to any modification in their appearance and others for improvements without prior notificat

NJM2387A ON/OFF 機能付き出力可変型低飽和レギュレータ 概要 NJM2387A は出力可変型低飽和レギュレータです 可変出力電圧範囲は 1.5V~20V 出力電流は 1.0Aまで供給可能で 出力電流が 500mA 時に入出力間電位差は 0.2V(typ.) と低飽和を実現しております

USER'S GUIDE

LM35 高精度・摂氏直読温度センサIC

Keysight Technologies スイッチング電源の測定

CA xls

I N D E X PAGE 1.MTBF 計算値 Calculated Values of MTBF R-1~2 2. 部品ディレーティング Components Derating R-3~5 3. 主要部品温度上昇値 Main Components Temperature Rise T List

LM358

USER'S GUIDE

1.0 (040 ) CONNECTOR ハウジング本体に組込まれたスペーサをセットする により二重係止化を図り 端子抜けを防止します ターミナルが半挿入の場合 スペーサはセットされず半挿入を防止します ロック 部により ロック れを防止します 1. DOUBLE TERMINAL LOCKING

高周波同軸コネクタ

dr-timing-furukawa4.pptx[読み取り専用]

EMC設備案内_2017版

Unidirectional Measurement Current-Shunt Monitor with Dual Comparators (Rev. B

R1LV1616H-I シリーズ

LT 高信号レベル・アップコンバーティング・ミキサ

USER'S GUIDE

Transcription:

WC037 58 01 1/16

INDEX PAGE 1. 静電気放電イミュニティ試験 3 Electrostatic Discharge Immunity Test (IEC61000 4 2) 2. 放射性無線周波数電磁界イミュニティ試験 5 Radiated, Radio Frequency, Electromagnetic Field Immunity Test (IEC61000 4 3) 3. 電気的ファーストトランジェントバーストイミュニティ試験 7 Electrical Fast Transient / Burst Immunity Test (IEC61000 4 4) 4. サージイミュニティ試験 11 Surge Immunity Test (IEC61000 4 5) 5. 伝導性無線周波数電磁界イミュニティ試験 13 Conducted Disturbances, Induced by Radio Frequency Field Immunity Test (IEC61000 4 6) 6. 電力周波数磁界イミュニティ試験 15 Power Frequency Magnetic Field Immunity Test (IEC61000 4 8) 使用記号 Terminology Used +Vin + 入力端子 + Input terminal 入力端子 Input terminal リモートON/OFFコントロール端子 Remote ON/OFF control terminal +Vout + 出力端子 + Output terminal 出力端子 Output terminal 出力電圧外部可変用端子 Output voltage adjustment terminal FG フレームグラウンド Frame GND 接地 Earth 当社標準測定条件における結果であり 参考値としてお考え願います Test results are reference data based on our standard measurement condition. 2/16

1. Electrostatic Discharge Immunity Test (IEC61000 4 2) MODEL : 001 R (1) Equipment Used 静電気試験機 Electrostatic Discharge Simulator 放電抵抗 Discharge Resistance 静電容量 Capacitance : ESS S3011/GT 30R (Noise Laboratory) : 330Ω : 150pF (2) The number of D.U.T. (Device Under Test) 001 R : 1 台 (unit) (3) Test Conditions 入力電圧 : 24VDC 出力電圧 : 12V Input Voltage Output Voltage 出力電流 : 0% 100% 極性 : + - Output Current Polarity 試験回数 : 10 回 放電間隔 : >1 秒 Number of tests 10 times Discharge Interval >1 second 周囲温度 : 25 o C Ambient Temperature (4) Test Method and Device Test Point 気中放電 : 入出力端子 Air Discharge Input and Output terminals Analog voltage meter Electrostatic discharge output Discharge gun V Return cable D.U.T. Aluminum plate Electrostatic discharge simulator Insulation plate FG DC input Wooden table Resistor 470k 0.8m Resistor 470k GND plane 3/16

(5) Acceptable Conditions 1. 入力再投入を必要とする一時的な機能低下のない事 Must not have temporary function degradation that requires input restart. 2. 試験後の出力電圧は初期値から変動していない事 The output voltage must be within the regulation of specification after the test. 3. 発煙 発火のない事 Smoke and fire are not allowed. (6) Test Circuit C4 C5 C6 セラミックコンデンサ (,) : 100V 4.7µF インダクタ () : 1.0µH Inductor 電解コンデンサ () : 63V 120µF 電解コンデンサ (C4) : 50V 120µF 2 セラミックコンデンサ (C5) : 35V 22µF セラミックコンデンサ (C6) : 630V 1000pF (7) Test Result Air Discharge (kv) 8 PASS 4/16

2. Radiated, Radio Frequency, Electromagnetic Field Immunity Test (IEC61000 4 3) MODEL : 001 R (1) Equipment Used シグナルジェネレータ : N5181A (Agilent technologies) Signal Generator パワーアンプシステム : BBA150 (Rohde & Schwarz) Power Amplifier System バイログアンテナ : VUL9118E (Schwarzbeck) 3117 (ETS Lindgren) Bilog Antenna (2) The Number of D.U.T (Device Under Test) 001 R : 2 台 (unit) (3) Test Conditions 入力電圧 : 24VDC 出力電圧 : 12V Input Voltage Output Voltage 出力電流 : 100% 振幅変調 : 80% 1kHz Output Current Amplitude Modulated 偏波 : 水平 垂直 周囲温度 : 25 o C Wave Angle Horizontal and Vertical Ambient Temperature スイープコンディション : 1.0% ステップ 0.5 秒保持 距離 : 3.0m Sweep Condition 1.0% step up, 0.5 seconds hold Distance 試験方向 : 上下 左右 前後 Test Angle Top/Bottom, Both Sides, Front/Back 電磁界周波数 : 80~1000MHz 1.4~2.0GHz 2.0~2.7GHz Electromagnetic Frequency (4) Test Method Analog voltage meter V D.U.T. Aluminum plate Antenna DC input Wooden table 0.8m GND plane (5) Acceptable Conditions 1. 試験中 5% を超える出力電圧の変動のない事 The regulation of output voltage must not exceed 5% of initial value during test. 2. 試験後の出力電圧は初期値から変動していない事 The output voltage must be within the regulation of specification after the test. 3. 発煙 発火のない事 Smoke and fire are not allowed. Anechoic material to reduce floor reflections 5/16

(6) 試験回路 Test Circuit C4 C5 C6 セラミックコンデンサ (,) : 100V 4.7µF インダクタ () : 1.0µH Inductor 電解コンデンサ () : 63V 120µF 電解コンデンサ (C4) : 50V 120µF 2 セラミックコンデンサ (C5) : 35V 22µF セラミックコンデンサ (C6) : 630V 1000pF (7) 試験結果 Test Result Electromagnetic Frequency Radiation Field Strength (V/m) 80 1000 MHz 10 PASS 1.4 2.0 GHz 3 PASS 2.0 2.7 GHz 1 PASS 6/16

3. Electrical Fast Transient / Burst Immunity Test (IEC61000 4 4) MODEL : 001 R (1) Equipment Used EFT/B 発生器 : FNS AX3 B50B (Noise Laboratory) EFT/B Generator カップリングクランプ : 15 00001A (Noise Laboratory) Coupling Clamp (2) The Number of D.U.T. (Device Under Test) 001 R : 1 台 (unit) (3) Test Conditions 入力電圧 : 24VDC 出力電圧 : 12V Input Voltage Output Voltage 出力電流 : 0% 100% 試験時間 : 1 分間 Output Current Test Time 1 minute 極性 : + - 周囲温度 : 25 o C Polarity Ambient Temperature 試験回数 : 1 回 パルス周波数 : 5kHz / 100kHz Number of Test 1 time Pulse Frequency バースト期間 : 15msec / 0.75msec パルス個数 : 75pcs Burst Time Number of Pulse バースト周期 : 300msec Burst Cycle (4) Test Method and Device Test Point A. 入力ポート : +Vin に同時に印加 Input Port : Apply to +Vin and at the same time. Analog voltage meter V DC input EFT/B 0.5 ± 0.05m EFT/B Generator D.U.T. FG FG Insulating support 0.1m Aluminum plate Wooden table 0.8m GND plane 7/16

B. 出力ポート : +Vout に同時に印加 Output Port : Apply to +Vout and at the same time. Analog voltage meter V 0.5 ± 0.05m DC input EFT/B 0.1m D.U.T. EFT/B Generator FG FG 0.8m Insulating support Aluminum plate Wooden table GND plane C. 信号ポート : ( ) に印加 Signal Port : Apply to (, ). Coupling clamp Burst noise input Signal port Analog voltage meter V AE 0.1m DC input D.U.T. FG EFT/B EFT/B Generator FG 0.8m Aluminum plate Wooden table Insulating support GND plane 8/16

(5) Acceptable Conditions 1. 入力再投入を必要とする一時的な機能低下のない事 Must not have temporary function degradation that requires input restart. 2. 試験後の出力電圧は初期値から変動していない事 The output voltage must be within the regulation of specification after the test. 3. 発煙 発火のない事 Smoke and fire are not allowed. (6) Test Circuit A. 入力ポート : +Vin に同時に印加 Input Port : Apply to +Vin and at the same time. EFT/B 発生器 EFT/B Generator C4 C5 C6 B. 出力ポート : +Vout に同時に印加 Output Port : Apply to +Vout and at the same time. C4 C5 C6 EFT/B 発生器 EFT/B Generator 9/16

C. 信号ポート : ( ) に印加 Signal Port : Apply to (, ). C4 C5 C6 SW1 カップリングクランプ Coupling Clamp EFT/B 発生器 EFT/B Generator セラミックコンデンサ (,) : 100V 4.7µF インダクタ () : 1.0µH Inductor 電解コンデンサ () : 63V 120µF 電解コンデンサ (C4) : 50V 120µF 2 セラミックコンデンサ (C5) : 35V 22µF セラミックコンデンサ (C6) : 630V 1000pF (7) Test Result Test Port Test Voltage (kv) Input (+Vin, ) 2 PASS Output (+Vout, ) 2 PASS Signal (, ) 1 PASS 10/16

4. Surge Immunity Test (IEC61000 4 5) MODEL : 001 R (1) Equipment Used サージ試験機 : LSS F02A1A (Noise Laboratory) Surge Simulator 結合インピーダンス : ノーマル 2Ω Coupling Impedance Normal 結合コンデンサ : ノーマル 18μF Coupling Capacitance Normal (2) The Number of D.U.T. (Device Under Test) 001 R : 3 台 (unit) (3) Test Conditions 入力電圧 : 24VDC 出力電圧 : 12V Input Voltage Output Voltage 出力電流 : 0% 100% 試験回数 : 5 回 Output Current Number of Tests 5 times 極性 : + - モード : ノーマル Polarity Mode Normal 周囲温度 : 25 o C Ambient Temperature (4) Test Method and Device Test Point ノーマルモード (+Vin ) に印加 Apply to Normal mode (+Vin, ). Analog voltage meter V DC input D.U.T. Aluminum plate Surge simulator FG Wooden table 0.8m GND plane (5) Acceptable Conditions 1. 入力再投入を必要とする一時的な機能低下のない事 Must not have temporary function degradation that requires input restart. 2. 試験後の出力電圧は初期値から変動していない事 The output voltage must be within the regulation of specification after the test. 3. 発煙 発火のない事 Smoke and fire are not allowed. 11/16

(6) 試験回路 Test Circuit サージ試験機 Surge Simulator C7 SA1 D1 C4 C5 C6 サージアブソーバ (SA1) : ERZV10D470 (Panasonic) Surge Absorber ダイオード (D1) : 1SR154 600 (ROHM Semiconductor) Diode セラミックコンデンサ (,) : 100V 4.7µF インダクタ () : 1.0µH Inductor 電解コンデンサ () : 63V 120µF 電解コンデンサ (C4) : 50V 120µF 2 セラミックコンデンサ (C5) : 35V 22µF セラミックコンデンサ (C6) : 630V 1000pF 電解コンデンサ (C7) : 100V 2200µF (7) 試験結果 Test Result Test Mode Test Voltage (kv) Normal 2 PASS 12/16

5. Conducted Disturbances, Induced by Radio Frequency Field Immunity Test (IEC61000 4 6) MODEL : 001 R (1) Equipment Used RF パワーアンプ RF Power Amplifier シグナルジェネレータ Signal Generator 結合 / 減結合ネットワーク Coupling De Coupling Network (CDN) RF 注入クランプ RF Injection Clamp : BBA150 (Rohde & Schwarz) : N5181A (Agilent technologies) : CDN M216 (Schaffner) : EM101 (Luthi) (2) The Number of D.U.T. (Device Under Test) 001 R : 2 台 (unit) (3) Test Conditions 入力電圧 : 24VDC 出力電圧 : 12V Input Voltage Output Voltage 出力電流 : 100% 電磁界周波数 : 150kHz~80MHz Output Current Electromagnetic Frequency 周囲温度 : 25 o C Ambient Temperature スイープコンディション : 1.0% ステップ 0.5 秒保持 Sweep Condition 1.0% step up, 0.5 seconds hold (4) Test Method and Device Test Point A. 入力ポート (+Vin ) 及び出力ポート (+Vout ) に印加 Apply to input port (+Vin, ) and output port (+Vout, ). B. 信号ポート : ( ) に印加 Signal Port : Apply to (, ). Analog voltage meter Signal port 0.1 ~ 0.3m V RF input RF input RF input D.U.T. CDN2 FG RF injection clamp FG Aluminum plate DC input CDN1 FG FG 0.1m Wooden table GND plane (5) Acceptable Conditions 1. 試験中 5% を超える出力電圧の変動のない事 The regulation of output voltage must not exceed 5% of initial value during test. 2. 試験後の出力電圧は初期値から変動していない事 The output voltage must be within the regulation of specification after the test. 3. 発煙 発火のない事 Smoke and fire are not allowed. 13/16

(6) Test Circuit A. 入力ポート (+Vin ) 及び出力ポート (+Vout ) に印加 Apply to input port (+Vin, ) and output port (+Vout, ). CDN1 C4 C5 C6 CDN2 B. 信号ポート : ( ) に印加 Signal Port : Apply to (, ). C4 C5 C6 SW1 注入クランプ RF injection clamp RF input セラミックコンデンサ (,) : 100V 4.7µF インダクタ () : 1.0µH Inductor 電解コンデンサ () : 63V 120µF 電解コンデンサ (C4) : 50V 120µF 2 セラミックコンデンサ (C5) : 35V 22µF セラミックコンデンサ (C6) : 630V 1000pF (7) Test Result Test Port Test Voltage (V) Input (+Vin, ) 10 PASS Output (+Vout, ) 10 PASS Signal (, ) 10 PASS 14/16

6. Power Frequency Magnetic Field Immunity Test (IEC61000 4 8) MODEL : 001 R (1) Equipment Used ACパワーソース : 4420 (NF Electronic Instruments) AC Power Source ヘルムホルツコイル : HHS5215/10A (Schwarzbeck) Helmholts Coil (2) The Number of D.U.T. (Device Under Test) 001 R : 1 台 (unit) (3) Test Conditions 入力電圧 : 24VDC 出力電圧 : 12V Input Voltage Output Voltage 出力電流 : 100% 印加磁界周波数 : 50Hz 60Hz Output Current Magnetic Frequency 周囲温度 : 25 o C 印加方向 : X Y Z Ambient Temperature Direction 試験時間 : 10 秒以上 ( 各方向 ) Test Time More than 10 seconds (each direction) (4) Test Method 1.5m 1 Helmholts coil 1 2 Helmholts coil 2 V Analog voltage meter D.U.T. 1.5m 0.8m DC input Wooden table AC AC power source (5) Acceptable Conditions 1. 試験中 5% を超える出力電圧の変動のない事 The regulation of output voltage must not exceed 5% of initial value during test. 2. 試験後の出力電圧は初期値から変動していない事 The output voltage must be within the regulation of specification after the test. 3. 発煙 発火のない事 Smoke and fire are not allowed. 15/16

(6) Test Circuit C4 C5 C6 セラミックコンデンサ (,) : 100V 4.7µF インダクタ () : 1.0µH Inductor 電解コンデンサ () : 63V 120µF 電解コンデンサ (C4) : 50V 120µF 2 セラミックコンデンサ (C5) : 35V 22µF セラミックコンデンサ (C6) : 630V 1000pF (7) Test Result Magnetic Field Strength (A/m) 30 PASS 16/16