情報処理学会研究報告 方向の組み合わせを変えながら反射光の強度を計測する この方法は単純であるが入射方向と反射方向の組み合わせ を同時に 1 つしか計測できないため すべての方向を計 測するには膨大な計測回数が必要となる問題がある その ため 計測を効率的に行う方法がこれまでに提案されてい る [3

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(a) 1 (b) 3. Gilbert Pernicka[2] Treibitz Schechner[3] Narasimhan [4] Kim [5] Nayar [6] [7][8][9] 2. X X X [10] [11] L L t L s L = L t + L s

2. Hašan [2] Dong [3] 3D Papas [4] Brunton [5] 3D [6] UV 3. UV LUT: Lookup Table LUT LUT 計測系 出力系 半透明材質の計測 UV インクの計測 要求材質の設計 ルックアップテーブル逆引き 印刷 2 印刷時の半透明

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す 局所領域 ωk において 線形変換に用いる係数 (ak 画素の係数 (ak bk ) を算出し 入力画像の信号成分を bk ) は次式のコスト関数 E を最小化するように最適化 有さない画素に対して 式 (2) より画素値を算出する される これにより 低解像度な画像から補間によるアップサ E(

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2). 3) 4) 1.2 NICTNICT DCRA Dihedral Corner Reflector micro-arraysdcra DCRA DCRA DCRA 3D DCRA PC USB PC PC ON / OFF Velleman K8055 K8055 K8055

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,,.,.,,.,.,.,.,,.,..,,,, i

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Vol.55 No (Jan. 2014) saccess 6 saccess 7 saccess 2. [3] p.33 * B (A) (B) (C) (D) (E) (F) *1 [3], [4] Web PDF a m

4. C i k = 2 k-means C 1 i, C 2 i 5. C i x i p [ f(θ i ; x) = (2π) p 2 Vi 1 2 exp (x µ ] i) t V 1 i (x µ i ) 2 BIC BIC = 2 log L( ˆθ i ; x i C i ) + q

図 2: 高周波成分を用いた超解像 解像度度画像とそれらを低解像度化して得られる 低解像度画像との差により低解像度の高周波成分 を得る 高解像度と低解像度の高周波成分から位 置関係を保ったままパッチ領域をそれぞれ切り出 し 高解像度パッチ画像と低解像度パッチ画像の ペアとしてデータベースに登録する

(3.6 ) (4.6 ) 2. [3], [6], [12] [7] [2], [5], [11] [14] [9] [8] [10] (1) Voodoo 3 : 3 Voodoo[1] 3 ( 3D ) (2) : Voodoo 3D (3) : 3D (Welc

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, ( ξ/) ξ(x), ( ξ/) x = x 1,. ξ ξ ( ξ, u) = 0. M LS ξ ξ (6) u,, u M LS 3).,.. ξ x ξ = ξ(x),, 1. J = (ξ ξ, V [ξ ] 1 (ξ ξ )) (7) ( ξ, u) = 0, = 1,..., N

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: : : 2 2

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1 Fig. 1 Extraction of motion,.,,, 4,,, 3., 1, 2. 2.,. CHLAC,. 2.1,. (256 ).,., CHLAC. CHLAC, HLAC. 2.3 (HLAC ) r,.,. HLAC. N. 2 HLAC Fig. 2

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Transcription:

1,a) 1,b) 1,c) 1,d) 1. CG 1 1 630 0192 8916 5 a) kushida.takahiro.kh3@is.naist.jp b) funatomi@is.naist.jp c) hkubo@is.naist.jp d) mukaigawa@is.naist.jp 散乱なし 散乱あり 1 2. c 2017 Information Processing Society of Japan 1

情報処理学会研究報告 方向の組み合わせを変えながら反射光の強度を計測する この方法は単純であるが入射方向と反射方向の組み合わせ を同時に 1 つしか計測できないため すべての方向を計 測するには膨大な計測回数が必要となる問題がある その ため 計測を効率的に行う方法がこれまでに提案されてい る [3] カメラ 多数の反射方向を同時に計測する方法として 大量の光 反射 源やセンサを用いる方法がある Ben-Ezra ら [1] や Rump ら [10] は 半球状に 1 つの LED と大量のセンサを取 図 2 散乱媒体を通して反射光を観測 り付けた装置を制作し 受光器を機械的に動かすことなく あらゆる方向の反射光を同時に取得する方法を提案した Tunwattanapong ら [11] は 大量のを取り付けた半円 散乱媒体で 満たした容器 状のアームを回転させ 複数の方向からカメラで撮影する ことで計測を効率化した 鏡の反射を利用して 複数の方向の反射特性を同時に計 測しようとする研究も行われている Mukaigawa ら [7] は カメラ 楕円鏡を利用し Ghosh ら [2] は独自に設計した凹面鏡を 利用して 機械的な駆動系を排除することで計測の効率化 回転ステージ を行った これらの装置ではにプロジェクタを利用し ており 投影パターンを変えることによって光の入射方向 を高速に切り替えながら計測を行うことができる 図 3 観測システム カメラを用いて広範囲を同時に計測するイメージベー スの方法も提案されている Marschner ら [5] は 反射特 乱媒体に入射した光が媒体中で一度だけ微粒子と衝突して 性が一様な球や円筒をとして 少数の画像から 出射する散乱現象である 単一散乱を仮定することで 光 様々な入射方向と反射方向の組み合わせを計測する方法を 路の解析が容易になる 提案した さらに Matusik ら [6] は Marschner と同様に 反射特性が一様な球をとして 100 種類の異なる 素材の反射特性を計測したデータベース MERL BRDF Database を構築した 我々はこれらの方法とは異なった 散乱現象を利用して 反射特性を推定する方法を提案する 3. 問題設定と観測方法 3.1 問題設定 3.2 観測方法 観測システム 物体で反射し散乱媒体で散乱した光を複数の視点から観 測するために 我々は図 3 の観測システムを構築した 観 測システムの中央には散乱媒体で満たされた容器があり 容器の中にとなる物体を設置する 容器の上部か らとなる物体に光を照射し 物体で反射して散乱 した光をカメラで観測する カメラは回転軸の中心を向く ように回転ステージに取り付けられており を中 反射特性の表現には 一般的に BRDF 双方向反射率分 心に回転する これにより様々な視点から散乱光を観測す 布関数 が用いられる BRDF はある角度から入射した光 ることができる 観測の光学系には平行系を仮定するため が各方向へどの程度反射するかを表すものであり 入射方 に カメラにテレセントリックレンズを取り付ける 向 (θi, ϕi ) と反射方向 (θo, ϕo ) の組み合わせの4次元で表 現される 本研究では 入射方向を固定した時の2次元の 反射光強度分布を求める 図 2 のように散乱媒体を通して反射光を観測すると 各 方向の反射光が散乱した光が同時に観測される 各方向へ 散乱媒体は単一散乱とみなせる程度まで薄めた牛乳を用 いる 4. 反射光強度分布の推定 4.1 散乱の異方性が観測に与える影響 の反射光強度を推定するには 複数の方向の反射光の散乱 本研究では 図 1 の下段のように観測される散乱光を複 光の積算値から 各方向の反射光強度を推定しなければな 数の方向から観測し 各方向の反射光強度を得る このと らない これを単一の観測から推定するのは困難である き 散乱された光が全方向に均等に放射される等方散乱で そのため 複数の視点からの観測を用いて各方向の反射光 あれば 観測は散乱光強度分布の Radon 変換として表さ 強度を推定する れるため X 線 CT のような逆投影による再構成法により 本研究ではすべて単一散乱を仮定する 単一散乱は 散 c 2017 Information Processing Society of Japan 反射光の強度分布を得ることができる しかし 身の回り 2

散乱 4.2 [8] x i x s x o L(x i, x o ) L(x i, x o ) = L 0 σ s p(g, θ)e σt(d1+d2) (1) L 0 σ s σ t p(g, θ) d 1 d 2 p(g, θ) Henyey-Greenstein [4] p(g, θ) = 1 4π 1 g 2 [1 + g 2 2g cos θ] 3 2 (2) g [ 1, 1] 4 x s 1 x o x s x o L(x s, x o ) L(x s, x o ) =L 0 f r (ω i, ω o ) 1 d 2 1 e σtd1 σ s p(g, θ)e σtd2 (3) L 0 f r (ω i, ω o ) ω i ω o BRDF d 1 x s d 2 x s x o σ t p(g, θ) θ 4 5 反射 カメラ ω i ω o L 0 f r x s d 1 x o σ s p 5 I(x c, v) = L 0 f r (ω i, ω o ) 1 e σtd1 σ x s Ω(x c,v) d 2 s p(g, θ)e σtd2 dx s 1 (4) x c v Ω(x c, v) f r 4 c 2017 Information Processing Society of Japan 3

I = k w k I cellk p(g, θ k )e σtd2 k (5) I cellk = L 0 f r (ω i, ω ok ) 1 d 2 1 k e σtd1 k σs A (6) I cellk w k A f r f r f r x c 180 6 50 40 30 20 10 0 180 50 40 30 20 10 0 I = c x (7) I = Cx (8) 7 4.3 5. 5.1 5.1.1 pbrt-v3[9] CT g = 0.9 5.1.2 6 7 7 5.2 5.2.1 3 c 2017 Information Processing Society of Japan 4

6. 180 8 20304050607080 10 0 180 80 60 40 20 0 JSPS JP26700013 9 5.2.2 8 9 9 [1] Ben-Ezra, M., Wang, J., Wilburn, B., Xiaoyang Li and Le Ma: An LED-only BRDF measurement device, 2008 IEEE Conference on Computer Vision and Pattern Recognition, IEEE, pp. 1 8 (online), DOI: 10.1109/CVPR.2008.4587766 (2008). [2] Ghosh, A., Achutha, S., Heidrich, W. and O Toole, M.: BRDF Acquisition with Basis Illumination, 2007 IEEE 11th International Conference on Computer Vision, IEEE, pp. 1 8 (online), DOI: 10.1109/ICCV.2007.4408935 (2007). [3] Guarnera, D., Guarnera, G., Ghosh, A., Denk, C. and Glencross, M.: BRDF Representation and Acquisition, Computer Graphics Forum, Vol. 35, No. 2, pp. 625 650 (online), DOI: 10.1111/cgf.12867 (2016). [4] Henyey, L. C. and Greenstein, J. L.: Diffuse radiation in the Galaxy, The Astrophysical Journal, Vol. 93, p. 70 (online), DOI: 10.1086/144246 (1941). [5] Marschner, S. R., Westin, S. H., Lafortune, E. P. F. and Torrance, K. E.: Image-based bidirectional reflectance distribution function measurement, Applied Optics, Vol. 39, No. 16, p. 2592 (online), DOI: 10.1364/AO.39.002592 (2000). [6] Matusik, W., Pfister, H., Brand, M. and McMillan, L.: A data-driven reflectance model, ACM Transactions on Graphics, Vol. 22, No. 3, p. 759 (online), DOI: 10.1145/882262.882343 (2003). [7] Mukaigawa, Y., Sumino, K. and Yagi, Y.: Rapid BRDF Measurement Using an Ellipsoidal Mirror and a Projector, IPSJ Transactions on Computer Vision and Applications, Vol. 1, pp. 21 32 (online), DOI: 10.2197/ipsjtcva.1.21 (2009). [8] Narasimhan, S. G., Gupta, M., Donner, C., Ramamoorthi, R., Nayar, S. K. and Jensen, H. W.: Acquiring scattering properties of participating media by dilution, ACM Transactions on Graphics, Vol. 25, No. 3, p. 1003 (online), DOI: 10.1145/1141911.1141986 (2006). [9] Pharr, M., Jakob, W. and Humphreys, G.: Physically Based Rendering: From Theory to Implementation, Morgan Kaufmann Publishers Inc., San Francisco, CA, c 2017 Information Processing Society of Japan 5

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