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研究成果報告書

① ア ニ ー ル 温 度 の 違 い に よ る ナ ノ 構 造 制御 論文④ ⑤関連 シード層として Ti を用い Ag/Ti 薄膜を MgO(001)基板上に室温蒸着させた後にアニ ール処理を施す その際 アニール条件 温 度 時間 を変えた場合の基板上に形成され る Ag ナノ構造の変化について調べた Fig.1 の薄膜表面の原子間力顕微鏡 AFM 像に見られるように (a)ti シード層

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7-1 光学顕微鏡 8-2 エレクトロニクス材料評価技術 途による分類 透過型顕微鏡 体組織の薄切切 や細胞 細菌など光を透過する物体の観察に いる 落射型顕微鏡 ( 反射型顕微鏡 ) 理 学部 材料機能 学科 属表 や半導体など 光を透過しない物体の観察に いる 岩 素顕 iwaya@meijo-u.ac.jp 電 線を使った結晶の評価法 透過電 顕微鏡 査電 顕微鏡 実体顕微鏡拡 像を 体的に

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No.001 CO 2 CO 2 LASER OPTICS For CO Laser 2 Processing 01 住友電工はCO2レーザ加工機の発振器系から伝送系 集光系まですべての光学部品をご提供します Sumitomo Electric provides all optical components including resonator optics, beam delivery optics

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凝集しにくい粒径約 20 nm のコアシェル型ナノ粒子を開発 - 光学フィルムへの応用に期待 - 平成 25 年 1 月 29 日独立行政法人産業技術総合研究所北興化学工業株式会社 ポイント 酸化セリウムとポリマーからなるナノ粒子の粒径を従来の 2 分の 1 以下に このナノ粒子を高濃度に含有させて樹脂フィルムに透明性を維持したまま高屈折率を付与 ナノ粒子の量産化の研究開発を推進し サンプル提供を開始

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平凸シリンドリカルレンズ / Positive Cylindorical lenses 平凸シリンドリカルレンズは正の焦点距離を持ちます 入射されたビームをライン状に集光させる用途などに使用されます, FS, UVFS, CaF2, ZnSe 焦点距離公差 ±3 % 設計波長 632.8 nm スクラッチ - ディグ 40-20 S/D

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2011 年 5 月 20 日 第 4 回ソフトマター研究会 産業利用における GISAXS の活用 東レリサーチセンター構造化学研究部構造化学第 2 研究室岡田一幸 1. 小角 X 線散乱 ( 反射測定 ) 薄膜中のポア (Low-k 膜 ) 2.GISAXS による粒子サイズ評価 薄膜に析出した結晶 (High-k 膜 ) 3. ポリマーの秩序構造の評価 ブロックコポリマーの自己組織化過程 4.

14 2 1 1 2 2 1 2 2 2 2 3 2 3 6 2 4 7 2 5 8 3 3 1 10 3 2 12 4 4 1 14 4 17 4 19 4 3 1 22 4 3 2 28 4 3 3 31 5 34 6 36 37 38 1. Ti:Sapphire 2. (1) (2) 2. 2. (3)(4) (5) 2 2 1 (6) 2. 3. 4 3.. 5 4 3. 6 2 5. 1

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無偏光ビームスプリッターキューブ / Non Polarizing Beamsplitter Cubes 無偏光ビームスプリッターは 透過と反射の成分比率を等分にするビームスプリッターです BK7 寸法公差 +0.0/-0.2mm 有効径 >90% スクラッチ - ディグ 40-20 面精度

SPring-8ワークショップ_リガク伊藤

GI SAXS. X X X X GI-SAXS : Grazing-incidence smallangle X-ray scattering. GI-SAXS GI-SAXS GI-SAXS X X X X X GI-SAXS Q Y : Q Z : Q Y - Q Z CCD Charge-coupled device X X APD Avalanche photo diode - cps 8

Fermat の原理によると A から B に進む光は その経路を最小にするように進むのではなく その時間を最小にするように進むのである Fermat の原理をわかりやすくするために 次のようなシミュレーションを考える まず 縦と横の長さが の正方形の対角線上の点を A および B とする A 点を

. Fermat の最小時間最小時間の原理原理に従ってって 光の屈折屈折の法則法則を証明証明せよせよ (-): 始めに一般的に光とは可視光のことを指す場合が多い 可視光とは 波長 λ が 400 m から 700 m 程度の電磁波である λ が 400 m よりも小さい電磁波は紫外線 X 線 およびγ 線などであり λ が 700 m よりも大きい電磁波は赤外線やマイクロ波である マクロな物体の大きさに比べて光の波長は十分に小さいため

FT-IRにおけるATR測定法

ATR 法は試料の表面分析法で最も一般的な手法で 高分子 ゴム 半導体 バイオ関連等で広く利用されています ATR(Attenuated Total Reflectance) は全反射測定法とも呼ばれており 直訳すると減衰した全反射で IRE(Internal Reflection Element 内部反射エレメント ) を通過する赤外光は IRE と試料界面で試料側に滲み出した赤外光 ( エバネッセント波

Microsoft Word - 04.doc

東海大学紀要工学部 Vol.47, No.2, 27, pp.31-38 光学薄膜における光散乱計測方法の検討 大日向哲郎 *1 室谷裕志 *2 若木守明 *3 *4 飯田義隆 Evaluation Method of Light Scattering in Optical Thin Films by Tetsuro OBINATA *1, Hiroshi MUROTANI *2, Moriaki

1/8 ページ ユニケミー技報記事抜粋 No.40 p2 (2005) 1. はじめに 電子顕微鏡のはなし 今村直樹 ( 技術部試験一課 ) 物質表面の物性を知る方法として その表面構造を拡大観察するのが一つの手段となる 一般的には光学顕微鏡 (Optical Microscope) が使用されているがより高倍率な像が必要な場合には電子顕微鏡が用いられる 光学顕微鏡と電子顕微鏡の違いは 前者が光 (

スライド 1

暫定版修正 加筆の可能性あり ( 付録 ) 屈折率と誘電率 : 金属. 復習. 電気伝導度 3. アンペールの法則の修正 4. 表皮効果 表皮深さ 5. 鏡の反射 6. 整理 : 電子振動子模型 注意 : 整理しましょう! 前回 : 付録 (4) のアプローチ. 屈折率と損失について記述するために分極振動 ( 電気双極子の集団運動 ) による電気双極子放射を考慮. 誘電率は 真空中の値 を採用 オリジナル光

Microsoft PowerPoint - 豊田2008HP閲覧用資料

核融合プラズマからプラズマプロセスまで - プラズマ中の原子過程 - 研究会 Aug 24. 26 プロセスガス分子およびイオンの同時照射下における表面反応過程の解析 名古屋大学工学研究科電子情報システム専攻 豊田浩孝 高田昇治 木下欣紀 菅井秀郎 Department of Electrical Engineering and omputer Science, Nagoya University

Microsoft PowerPoint - 集積デバイス工学２.ppt

チップレイアウトパターン ( 全体例 ) 集積デバイス工学 () LSI の製造プロセス VLSI センター藤野毅 MOS トランジスタの基本構造 MOS トランジスタの基本構造 絶縁膜 絶縁膜 p 型シリコン 断面図 n 型シリコン p 型シリコン 断面図 n 型シリコン 破断面 破断面 トランジスタゲート幅 W 平面図 4 トランジスタゲート長 L 平面図 MOS トランジスタ (Tr) の構造

研究成果報告書(基金分)

様式 C-19 F-19 Z-19( 共通 ) 1. 研究開始当初の背景国内外のエネルギー問題に対応するため, 革新的な省 創エネルギーデバイス ( 低消費電力の単電子デバイスや超高効率太陽電池など ) の実現が求められている. そのためには, 機能上重要なビルディングブロックである低次元半導体ナノ材料 ( 量子ドット, 量子細線, 量子井戸など ) の規則配列構造を構築する必要がある. 低次元半導体ナノ材料を決められたサイズ

A4タチ切りPDF.ai

001 光学製品ガイド No. CO2レーザ用光学部品 CO2 LASER OPTICS 第13版 For CO2 Laser Processing 自然界に存在する光の数百万倍のエネルギーをレンズ で集め 非接触で高精度かつ高速に材料を切断する Laser processing realizes a non-contact and highly precise processing method

情報処理学会研究報告 IPSJ SIG Technical Report Vol.2013-CVIM-188 No /9/3 BRDF i

BRDF E-mail: {yoshie,ki}@cvl.iis.u-tokyo.ac.jp, tetsuro.morimoto@toppan.co.jp, imarik@nii.ac.jp, mukaigaw@am.sanken.osaka-u.ac.jp 2 CG 1 BRDF 1. (BRDF) BRDF Lambert Oren-Nayar [1] Phong [2] Blinn [3] Ward

「世界初、高出力半導体レーザーを8分の1の狭スペクトル幅で発振に成功」

NEWS RELEASE LD を 8 分の 1 以下の狭いスペクトル幅で発振するレーザー共振器の開発に 世界で初めて成功全固体レーザーの出力を向上する励起用 LD 光源の開発に期待 215 年 4 月 15 日 本社 : 浜松市中区砂山町 325-6 代表取締役社長 : 晝馬明 ( ひるまあきら ) 当社は 高出力半導体レーザー ( 以下 LD ) スタック 2 個を ストライプミラーと単一面型

Pick-up プロダクツ プリズム分光方式ラインセンサカメラ用専用レンズとその応用 株式会社ブルービジョン 当社は プリズムを使用した 3CMOS/3CCD/4CMOS/4CCD ラインセンサカメラ用に最適設計した FA 用レンズを設計 製造する専門メーカである 当社のレンズシリーズはプリズムにて

Pick-up プロダクツ プリズム分光方式ラインセンサカメラ用専用レンズとその応用 当社は プリズムを使用した 3CMOS/3CCD/4CMOS/4CCD ラインセンサカメラ用に最適設計した FA 用レンズを設計 製造する専門メーカである 当社のレンズシリーズはプリズムにて発生する軸上色収差 倍率色収差を抑えた光学設計を行い 焦点距離が異なったレンズを使用しても RGB 個々の焦点位置がレンズ間で同じ位置になるよう設計されている

<4D F736F F F696E74202D B9E93738D EF2891E590BC90E690B68E9197BF292E707074>

平成 28 年 4 月 28 日 ( 木 ) シンビオ社会研究会講演会京都大学, 百周年時計台記念館 LSI の開発競争と EUV 光源の研究 大西正視 Out Line of Talk 1) Background of the research What is EUV? Why is EUV? 2) Semi conductor Lithography 3) Microwave Discharge

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11 Application Note 光測定と単位について 1. 概要 LED の性質を表すには 光の強さ 明るさ等が重要となり これらはその LED をどのようなアプリケーションに使用するかを決定するために必須のものになることが殆どです しかし 測定の方法は多種存在し 何をどのような測定器で測定するかにより 測定結果が異なってきます 本書では光測定とその単位について説明していきます 2. 色とは

AlGaN/GaN HFETにおける 仮想ゲート型電流コラプスのSPICE回路モデル

AlGaN/GaN HFET 電流コラプスおよびサイドゲート効果に関する研究 徳島大学大学院先端技術科学教育部システム創生工学専攻電気電子創生工学コース大野 敖研究室木尾勇介 1 AlGaN/GaN HFET 研究背景 高絶縁破壊電界 高周波 高出力デバイス 基地局などで実用化 通信機器の発達 スマートフォン タブレットなど LTE LTE エンベロープトラッキング 低消費電力化 電源電圧を信号に応じて変更

ＬＥＤの光度調整について

光測定と単位について 目次 1. 概要 2. 色とは 3. 放射量と測光量 4. 放射束 5. 視感度 6. 放射束と光束の関係 7. 光度と立体角 8. 照度 9. 照度と光束の関係 10. 各単位の関係 11. まとめ 1/6 1. 概要 LED の性質を表すには 光の強さ 明るさ等が重要となり これらはその LED をどのようなアプリケーションに使用するかを決定するために必須のものになることが殆どです

1 入射電力密度について 佐々木謙介

1 入射電力密度について 佐々木謙介 準ミリ波 ミリ波帯電波ばく露 6GHz 超の周波数で動作する無線機器の実用化へ向けた技術開発 研究の活発化 p 5G システム WiGig 車載レーダー 人体へ入射する電力密度が指標として利用されている p 電波ばく露による人体のエネルギー吸収は体表組織において支配的なため 現在 電波ばく露による人体防護のための 各国際ガイドラインにおいて 局所 SAR から電力密度への遷移周波数

電子部品の試料加工と観察 分析 解析 ~ 真の姿を求めて ~ セミナー A 電子部品の試料加工と観察 分析 解析 ~ 真の姿を求めて ~ セミナー 第 9 回 品質技術兼原龍二 前回の第 8 回目では FIB(Focused Ion Beam:FIB) のデメリットの一つであるGaイ

第 9 回 品質技術兼原龍二 前回の第 8 回目では FIB(Focused Ion Beam:FIB) のデメリットの一つであるGaイオンの打ち込み ( 図 19. 第 6 回参照 ) により 試料の側壁に形成されるダメージ層への対処について事例などを交えながら説明させていただきました 今回は 試料の表面に形成されるダメージ層について その対処法を事例を示してお話しをさせていただきます Gaイオンの試料への打ち込みですが

Microsoft PowerPoint - 阪大XFELシンポジウム_Tono.ppt [互換モード]

X 線自由電子レーザーシンポジウム 10 月 19 日大阪大学レーザー研 X 線自由電子レーザーを用いた利用研究 登野健介 理研 /JASRI X 線自由電子レーザー計画合同推進本部 1 科学の基本中の基本 : 光 ( 電磁波 ) による観察 顕微鏡 望遠鏡 細胞の顕微鏡写真 赤外望遠鏡 ( すばる ) で観測した銀河 2 20 世紀の偉大な発明 : 2 種類の人工光源 レーザー LASER: Light

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カールツァイス社 ZEISS Lenses for Line Scan and Large Image Format General Features 高精度マニュアルフォーカス& アイリス調整 堅牢なフルメタル構造 忠実な色表現 マシンビジョン 43mm ラインスキャンカメラ対応 マシンビジョン 24x36mm エリアスキャンカメラ対応 Index Introduction 4 Interlock

JPS2012spring

BelleII 実験用 TOP カウンターの性能評価 2012.7.7( 土 ) 名古屋大学高エネルギー物理学研究室 (N 研究室 ) 有田義宣 BelleII に搭載する粒子識別装置 TOP カウンター 2 BelleII 実験 もっとも識別の難しい π/k 識別 BelleⅡ 実験は Belle 実験をさらに高輝度化 (40 倍 ) し 大量の B 中間子からの稀崩壊現象を探る電子陽電子コライダー

Microsoft PowerPoint - TMTinst_ _summerschool_akiyama

1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 590nm 2200nm 0 1.739 1.713 5 1.708 1.682 10 1.678 1.652 0-10 0.061061 0.061061 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 1.0 x1.0 0.5 x0.5 0.2 x0.2 0.1 x0.1 bg/30ms

自然現象とモデル_ pptx

光と物質の相互作用入門 統合自然科学科 深津 晋 The University of Tokyo, Komb Grdute School of Arts nd Sciences 0. 光は電磁波 振動しながら進行する電磁場 波長 λ γ線 0.1nm 10 nm 380 nm 780 nm 1 µm 10 µm 100 µm 1mm 1cm 1 m 1,000 m 単位の変換関係 X線 真空紫外 深紫外

Microsoft Word - IPhO2007実験問題Green問題.doc

実験問題 半導体薄膜のエネルギーバンドギャップの決定 I. はじめに半導体は導体と絶縁体の中間の電気的性質をもつものとして特徴づけられる 半導体の電気的性質を理解するために, よく知られている 光電効果 から始めよう 光電効果は量子的電子現象である 光電子 ( 光を吸収して飛び出した電子 ) は照射光 ( 光子 ) から十分なエネルギーを吸収することにより, 物質から放出される 金属から光照射によって電子

研究成果報告書

10m 2m Ge Si BaF2 ZnSZnSe Sb-Ge-Sn-S IIR-SF1 1 2 Tungsten SilicideWSi WSi () IIR-SF 1 Sb-Ge-Sn-S 0.85~11μm2.710μm 253 C Al Al 220μm He-Cd laser 1 Exposure Photoresist WSi (a) 500 nm Development RIE WSi

タイトル→○○○○○○○○○○○○○○○○○○○○○○○○

走査プローブ顕微鏡 所属ナノスケール物性研究部門 発表者浜田雅之 mahamada@issp.u-tokyo.ac.jp 私は ナノスケール物性研究部門 長谷川研究室で業務を行っている 主な業務としては 原子間力顕微鏡 (A FM) や走査トンネル顕微鏡 (STM) の維持管理 新しい手法の開発である 以下にそれらについて報告する 1. はじめに 走査トンネル顕微鏡 (STM) 原子間力顕微鏡 (AFM)

Microsoft PowerPoint - machida0206

広帯域制御のためのフォトメカニカルアクチュエータの開発とその応用 東京大学新領域創成科学研究科物質系専攻三尾研究室 M2 町田幸介 重力波研究交流会 (2009 2/6) 1 発表の流れ 実験の背景 広帯域制御のためのアクチュエータ 実験の目的 実験 電磁アクチュエータの作製 電磁アクチュエータの評価 電磁アクチュエータの応用 ( 位相雑音補償と共振器長制御 ) まとめ 2 広帯域制御のためのアクチュエータ

The Effects of Tax Revenue by Deductions of National Income Tax and Individual Inhabitants Tax The national income tax and individual inhabitants tax

The Effects of Tax Revenue by Deductions of National Income Tax and Individual Inhabitants Tax The national income tax and individual inhabitants tax have similar deduction systems, but their respective

研究成果報告書(基金分)

様式 F-19 科学研究費助成事業 ( 学術研究助成基金助成金 ) 研究成果報告書 平成 25 年 6 月 5 日現在 機関番号 :13901 研究種目 : 若手研究 (B) 研究期間 :2011 ~ 2012 課題番号 :23760694 研究課題名 ( 和文 ) 反応性プラズマプロセスにおけるラジカル イオンの相互表面反応過程の解明研究課題名 ( 英文 ) Clarification of surface

Microsoft Word - 1.2全反射.doc

. 全反射 φ 吸収があると透過光は減少する ( 吸収は考えない ) 全反射普通に三角関数を理解しているものには不思議な現象 Opia Fibr はこのメカニズムで伝える ブリュ - スター角 全反射 となる すなわち は実数として存在しない角度となる虚数 (or 複素数 ) となる 全反射という そこで r si を考えよう は存在しない角度なので この式から を消去して 実数である だけの表示にしよう

JAIST Reposi Title プロジェクトの連続性を考慮した半導体分野プロジェ クト群の評価手法に関する一考察 Author(s) 工藤, 祥裕 ; 有馬, 宏和 ; 佐藤, 義竜 Citation 年次学術大会講演要旨集, 24: Issu

JAIST Reposi https://dspace.j Title プロジェクトの連続性を考慮した半導体分野プロジェ クト群の評価手法に関する一考察 Author(s) 工藤, 祥裕 ; 有馬, 宏和 ; 佐藤, 義竜 Citation 年次学術大会講演要旨集, 24: 661-666 Issue Date 2009-10-24 Type Conference Paper Text version

Microsystem Integration & Packaging Laboratory

2015/01/26 MemsONE 技術交流会 解析事例紹介 東京大学実装工学分野研究室奥村拳 Microsystem Integration and Packaging Laboratory 1 事例紹介 1. 解析の背景高出力半導体レーザの高放熱構造 2. 熱伝導解析解析モデルの概要 3. チップサイズの熱抵抗への影響 4. 接合材料の熱抵抗への影響 5. ヒートシンク材料の熱抵抗への影響 Microsystem

Microsoft PowerPoint - 島田美帆.ppt

コンパクト ERL におけるバンチ圧縮の可能性に関して 分子科学研究所,UVSOR 島田美帆日本原子力研究開発機構,JAEA 羽島良一 Outline Beam dynamics studies for the 5 GeV ERL 規格化エミッタンス 0.1 mm mrad を維持する周回部の設計 Towards user experiment at the compact ERL Short bunch

F 1 2 dc dz ( V V V sin t 2 S DC AC ) 1 2 dc dc 1 dc {( VS VDC ) VAC} ( VS VDC ) VAC sin t VAC cos 2 t (3.2.2) 2 dz 2 dz 4 dz 静電気力には (3.2.2) 式の右

3-2 ケルビンプローブフォース顕微鏡による仕事関数の定量測定 3-2-1 KFM の測定原理ケルビンプローブフォース顕微鏡 (Kelvin Force Microscopy: KFM) は ケルビン法という測定技術を AFM に応用した計測手法で 静電気力によるプローブ振動の計測を利用して プローブとサンプルの仕事関数差を測定するプローブ顕微鏡の手法である 仕事関数というのは 金属の表面から電子を無限遠まで取り出すのに必要なエネルギーであり

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2011 Vol.60 No.2 p.138 147 Performance of the Japanese long-term care benefit: An International comparison based on OECD health data Mie MORIKAWA[1] Takako TSUTSUI[2] [1]National Institute of Public Health,

PowerPoint プレゼンテーション

KAGRA 用高性能ミラー評価 : 散乱角度分布測定装置の開発 長岡慧, 武者満, 辰巳大輔 A, 上田暁俊 A, 三尾典克 B, 米田仁紀, 植田憲一 電通大レーザー研, 国立天文台 A, 東大工 B 発表概要 研究背景 原理 散乱角度分布測定装置概要 光検出回路 迷光対策 散乱角度分布測定結果 まとめと展望 研究背景 KAGRA に必要な3 種類のミラー KAGRA に必要なミラー高パワー耐性

目次 1. 序論 研究背景 研究目的 2 2. 原理 ラビング法による液晶配向 イオンビーム法による液晶配向 液晶アクチュエータの駆動 4 3. 実験装置 試料を加工するためのイオンビーム照射装置 イオンビーム生

Ar イオンビーム照射法による液晶配向 知能機械システム工学コース修士 2 年量子ビーム研究室学籍番号 1145041 寺内晃 0 目次 1. 序論 2 1.1 研究背景 2 1.2 研究目的 2 2. 原理 2 2.1 ラビング法による液晶配向 2 2.2 イオンビーム法による液晶配向 3 2.3 液晶アクチュエータの駆動 4 3. 実験装置 4 3.1 試料を加工するためのイオンビーム照射装置

Mirror Grand Laser Prism Half Wave Plate Femtosecond Laser 150 fs, λ=775 nm Mirror Mechanical Shutter Apperture Focusing Lens Substances Linear Stage

Mirror Grand Laser Prism Half Wave Plate Femtosecond Laser 150 fs, λ=775 nm Mirror Mechanical Shutter Apperture Focusing Lens Substances Linear Stage NC Unit PC は 同時多軸に制御はできないため 直線加工しかでき 図３は ステージの走査速度を

厚生労働省委託事業 「 平成25年度 適切な石綿含有建材の分析の実施支援事業 」アスベスト分析マニュアル1.00版

クリソタイル標準試料 UICC A 1 走査型電子顕微鏡形態 測定条件等 :S-3400N( 日立ハイテクノロジーズ )/BRUKER-AXS Xflash 4010) 倍率 2000 倍 加速電圧 5kv 162 クリソタイル標準試料 UICC A 2 走査型電子顕微鏡元素組成 cps/ev 25 20 15 C O Fe Mg Si Fe 10 5 0 2 4 6 8 10 12 14 kev

化学結合が推定できる表面分析　Ｘ線光電子分光法

1/6 ページ ユニケミー技報記事抜粋 No.39 p1 (2004) 化学結合が推定できる表面分析 X 線光電子分光法 加藤鉄也 ( 技術部試験一課主任 ) 1. X 線光電子分光法 (X-ray Photoelectron Spectroscopy:XPS) とは物質に X 線を照射すると 物質からは X 線との相互作用により光電子 オージェ電子 特性 X 線などが発生する X 線光電子分光法ではこのうち物質極表層から発生した光電子

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光検出器 pin-pd 数 GHzまでの高速応答する光検出器に pin-フォトダイオードとアバランシェフォトダイオードがある pin-フォトダイオードは図 1に示すように n + 基板と低ドーピングi 層と 0.3μm 程度に薄くした p + 層からなる 逆バイアスを印加して 空乏層を i 層全体に広げ 接合容量を小さくしながら光吸収領域を拡大して高感度にする 表面より入射した光は光吸収係数 αによって指数関数的に減衰しながら光励起キャリアを生成する

ここまで進化した! 外観検査システムの今 表 2 2 焦点ラインスキャンカメラ製品仕様 項目 仕 様 ラインセンサ 4K ラインセンサ 2 光学系 ビームスプリッター (F2.8) ピクセルサイズ 7μm 7μm, 4096 pixels 波長帯域 400nm ~ 900nm 感度 可視光 : 量子

2 焦点ラインスキャンカメラ 株式会社ブルービジョン 当社は プリズムによる分光を用いた特殊カメラ 専用レンズの製造販売を行っている 本稿では プルズム分光技術を使用し 可視領域で異なる 2 面に焦点を結ぶようにラインセンサを配置した 2 焦点ラインスキャンカメラ ( 写真 1) および専用レンズについて紹介する 1 開発の経緯と技術的特長 透明物体の表面と裏面の画像を同時に取得する また 凹凸のある製品

Laser Ablation Dynamics of Amorphous Film of a Cu-Phthalocyanine Derivative Masahiro HOSODA*,**, Hiroshi FURUTANI*,**. Hiroshi FUKUMURA*,** Hiroshi MASUHARA*, Masanobu NISHII*** Nobuyuki ICHINOSE**,***,

報道発表資料 2000 年 2 月 17 日 独立行政法人理化学研究所 北海道大学 新しい結晶成長プロセスによる 低欠陥 高品質の GaN 結晶薄膜基板作製に成功 理化学研究所 ( 小林俊一理事長 ) は 北海道大学との共同研究により 従来よりも低欠陥 高品質の窒化ガリウム (GaN) 結晶薄膜基板

報道発表資料 2000 年 2 月 17 日 独立行政法人理化学研究所 北海道大学 新しい結晶成長プロセスによる 低欠陥 高品質の GaN 結晶薄膜基板作製に成功 理化学研究所 ( 小林俊一理事長 ) は 北海道大学との共同研究により 従来よりも低欠陥 高品質の窒化ガリウム (GaN) 結晶薄膜基板を製作することに成功しました 新しい手法は 当研究所半導体工学研究室の青柳克信主任研究員と 北大電子科学研究所の田中悟助教授らのグループで開発

表紙_偏光・位相差デバイスのコピー

2 Table of Contents 2 Note: Polarizers are available from less than 5mm square to 200 mm and greater diameter Polarizers Retarders 3 Polarizers Retarders Fig. 1-2 4 Polarizers Retarders polarizer. Polarized

(Microsoft Word - \230a\225\266IChO46-Preparatory_Q36_\211\374\202Q_.doc)

問題 36. 鉄 (Ⅲ) イオンとサリチルサリチル酸の錯形成 (20140304 修正 : ピンク色の部分 ) 1. 序論この簡単な実験では 水溶液中での鉄 (Ⅲ) イオンとサリチル酸の錯形成を検討する その錯体の実験式が求められ その安定度定数を見積もることができる 鉄 (Ⅲ) イオンとサリチル酸 H 2 Sal からなる安定な錯体はいくつか知られている それらの構造と組成はpHにより異なる 酸性溶液では紫色の錯体が生成する

16 (16) poly-si mJ/cm 2 ELA poly-si super cooled liquid, SCL [3] a-si poly-si [4] solid phase crystalization, SPC [5] mJ/cm 2 SPC SCL (di

(15) 15 ELA により形成された poly-si 結晶成長様式 - グレイン形状と水素の関係 - Crystal Growth Mode of Poly-Si Prepared by ELA -Relationship between the Grain Morphology and ydrogens- Naoya KAWAMOTO (Dept. of Electrical and Electronic

QOBU1011_40.pdf

印字データ名 ＱＯＢＵ1 0 1 1 (1165) コメント 研究紹介 片山 作成日時 07.10.04 19:33 図 2 (a )センサー素子の外観 (b )センサー基板 色の濃い部分が Pt 形電極 幅 50μm, 間隔 50μm (c ),(d )単層ナノ チューブ薄膜の SEM 像 (c )Al O 基板上, (d )Pt 電極との境 界 熱 CVD 条件 触媒金属 Fe(0.5nm)/Al(5nm)

フロントエンド IC 付光センサ S CR S CR 各種光量の検出に適した小型 APD Si APD とプリアンプを一体化した小型光デバイスです 外乱光の影響を低減するための DC フィードバック回路を内蔵していま す また 優れたノイズ特性 周波数特性を実現しています

各種光量の検出に適した小型 APD Si APD とプリアンプを一体化した小型光デバイスです 外乱光の影響を低減するための DC フィードバック回路を内蔵していま す また 優れたノイズ特性 周波数特性を実現しています なお 本製品の評価キットを用意しています 詳細については 当社 営業までお問い合わせください 特長 高速応答 増倍率 2 段階切替機能 (Low ゲイン : シングル出力, High

03マイクロ波による光速の測定

マイクロ波による光速の測定 小河貴博石橋多郎高田翔宮前慧士 指導者 : 仲達修一 要旨本研究では, マイクロ波を用いて光速を測定するための装置を製作し, その装置を用いて, 波長を測定することによって光速を算出する方法の妥当性を検討した また, 複数の測定方法を考案してより良い測定方法を探った その結果, 自作の実験装置とマイクロ波を用いた測定方法の妥当性を明らかにすることができた In our research,

Crystals( 光学結晶 ) 価格表 台形状プリズム (ATR 用 ) (\, 税別 ) 長さ x 幅 x 厚み KRS-5 Ge ZnSe (mm) 再研磨 x 20 x 1 62,400 67,200 40,000 58,000

Crystals( 光学結晶 ) 2011.01.01 価格表 台形状プリズム (ATR 用 ) (\, 税別 ) 長さ x 幅 x 厚み KRS-5 Ge ZnSe (mm) 45 60 再研磨 45 60 45 60 50 x 20 x 1 62,400 67,200 40,000 58,000 58,000 88,000 88,000 50 x 20 x 2 58,000 58,000 40,000

<4D F736F F D20362E312090B691CC8DD796458ACF8E4082CC82BD82DF82CC92B48D8290B F578CF590FC837E B82CC8DEC90BB82C68D645890FC D95AA8CF B F CC8A4A94AD2E646F63>

6.7 極端紫外光源の開発 () 研究の背景と目的半導体デバイスの微細化進展に伴って LSI 製造プロセス中のリソグラフィ用光源は 可視光領域から水銀ランプの g 線 ( 波長 :λ=436nm) I 線 (λ=365nm) を経て KrF エキシマレーザ (λ=48nm) ArF レーザ (λ=93nm) と より短い波長へ推移してきた ITRS (International technology

< コマツ IR-DAY 2017 事業説明会 > ギガフォトンについて 2017 年 9 15 ギガフォトン取締役常務執 役員榎波 雄 DOC#: GPD Copyright Gigaphoton Inc.

< コマツ IR-DAY 2017 事業説明会 > ギガフォトンについて 2017 年 9 15 ギガフォトン取締役常務執 役員榎波 雄 Copyright Gigaphoton Inc. ギガフォトンの事業概要 2 半導体露光 光源ビジネス 液晶アニール 光源ビジネス 本体販売先 部品販売先 ASML, Nikon, Canon Intel, Toshiba, Samsung, TSMC など半導体メーカ

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伊藤光学工業株式会社 Itoh Optical Industrial Co., Ltd. 科学技術コーディネート事業 育成試験 真空アーク蒸着を用いた 赤外透過レンズ用金型保護膜の開発 代表機関協力支援機関 研究開発機関伊藤光学工業株式会社シム オプチカル株式会社国立大学法人豊橋技術科学大学 発表者神谷雅男 1 会社紹介 伊藤光学工業 ( 株 ): 眼鏡レンズ製造事業, コンタクトレンズ製造事業,

ロナ放電を発生させました これによって 環状シロキサンが分解してプラスに帯電した SiO 2 ナノ微粒子となり 対向する電極側に堆積して SiO 2 フィルムが形成されるという コロナ放電堆積法 を開発しました 多くの化学気相堆積法 (CVD) によるフィルム作製法には 真空 ガス装置が必要とされて

平成 28 年 6 月 14 日 国立大学法人北見工業大学 国立大学法人北海道大学 ガラス表面へのナノ構造形成に成功 ~SiO 2 ナノ粒子を目的とする場所に選択的に積み上げる手法を構築 ~ 研究成果の概要国立大学法人北見工業大学 ( 学長髙橋信夫 ) の酒井大輔助教と国立大学法人北海道大学 ( 総長山口佳三 ) 電子科学研究所の西井準治教授らは AGC 旭硝子との共同研究によって 二酸化ケイ素 (SiO

1 EPDM EPDM EPDM 耐塩素水性に優れた EPDM の開発 - 次亜塩素酸による EPDM の劣化と耐塩素水性に優れた EPDM の開発 - Development of EPDM with Excellent Chlorine Water Resistance - EPDM: Degr

1 耐塩素水性に優れた の開発 - 次亜塩素酸による の劣化と耐塩素水性に優れた の開発 - Development of with Excellent Chlorine Water Resistance - : Degradation by Hypochlous Acid and Development of Excellent Resistance to Chlorine Water - 機器部品事業部技術開発部

EDS分析ってなんですか？どのようにすればうまく分析できますか？（EDS分析の基礎）

EDS 分析ってなんですか? どのようにすればうまく分析できますか?(EDS 分析の基礎 ) ブルカー エイエックスエス ( 株 ) 山崎巌 Innovation with Integrity 目次 1 SEM EDS とは 1-1 走査電子顕微鏡と X 線分析 1-2 微少領域の観察 分析 1-3 SEM で何がわかる 1-4 試料から出てくる情報 2 EDS でどうして元素がわかるの 2-1 X

Table 1 Type of polymeric coating materials Fig. 2 Results of suppressive effects of polymeric coating materials on the progress of neutralization of concrete. Table 2 Evaluation of the suppressive effects

ホログラフィック光学素子を用いたウェアラブルディスプレイの光学設計 Optical design of head mounted display using holographic optical element 稲垣義弘 Yoshihiro INAGAKI Abstract We have dev

ホログラフィック光学素子を用いたウェアラブルディスプレイの光学設計 Optical design of head mounted display using holographic optical element 稲垣義弘 Yoshihiro INAGAKI Abstract We have developed wearable displays using a holographic optical

偏光板 波長板 円偏光板総合カタログ 偏光板 シリーズ 波長板 シリーズ 自社製高機能フィルムをガラスで挟み接着した光学フィルター

偏光板 波長板 円偏光板総合カタログ 偏光板 波長板 自社製高機能フィルムをガラスで挟み接着した光学フィルター 光について ルケオの光学フィルター でんじは 光とは 電磁波の一種です 波のような性質があります 電磁波とは 電界と磁界が互いに影響し合いながら空間を伝わっていく波のことを言います 電磁波は 波長により次のように分類されます 人の目で認識できる光を可視光線と言います 創業時から 50 年以上かけて培ってきた光学フィルム製造技術や接着技術があります

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東芝バイポーラ形リニア集積回路シリコンモノリシック TA,,5,3,33,5F/S TAF, TAF, TA5F, TA3F, TA33F, TA5F, TAS, TAS, TA5S, TA3S, TA33S, TA5S.,,.5, 3, 3.3, 5 A 三端子正出力ロードロップアウトレギュレータ TA**F/S シリーズは 出力段に -PNP トランジスタを使用した出力電流 A ( 最大 ) の固定正出力ロードロップアウトレギュレータです

SP8WS

GIXS でみる 液晶ディスプレイ用配向膜 日産化学工業株式会社 電子材料研究所 酒井隆宏 石津谷正英 石井秀則 遠藤秀幸 ( 財 ) 高輝度光科学研究センター 利用研究促進部門 Ⅰ 小金澤智之 広沢一郎 背景 Ⅰ ~ LCD の表示品質 ~ 液晶ディスプレイ (LCD) 一方向に揃った ( 配向した ) 液晶分子を電圧により動かすことで表示 FF 液晶分子 液晶配向と表示品質 C 電極 液晶分子の配向が乱れると表示品質が悪化

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デンドリマー構造を持つアクリルオリゴマー 大阪有機化学工業 ( 株 ) 猿渡欣幸 < はじめに > アクリル材料の開発は 1970 年ごろから UV 硬化システムの確立とともに急速に加速した 現在 UV 硬化システムは電子材料において欠かせないものとなっており その用途はコーティング 接着 封止 パターニングなど多岐にわたっている アクリル材料による UV 硬化システムは下記に示す長所と短所がある

フジクラ技報　第１２６号

光事業部宮地正己 1 麻野将弘 1 林和幸 1 愛川和彦 2 3 工藤学 Low-loss Large Core Fiber for Wide Wavelength Range M. Miyachi, M. Asano, K. Hayashi, K. Aikawa, and M. Kudo 大口径ファイバのコアには, 紫外および可視領域と近赤外領域で異なるタイプのシリカガラスが用いられてきた. 紫外および可視領域で低損失な大口径ファイバには,OH

600 V系スーパージャンクション パワーMOSFET TO-247-4Lパッケージのシミュレーションによる解析

[17.7 White Paper] 6 V 系スーパージャンクションパワー MOSFET TO-247-4L パッケージのシミュレーションによる解析 MOSFET チップの高速スイッチング性能をより引き出すことができる 4 ピン新パッケージ TO-247-4L 背景 耐圧が 6V 以上の High Voltage(HV) パワー半導体ではオン抵抗と耐圧のトレードオフの改善を行うためスーパージャンクション

Fig. 1. Relation between magnetron anode current and anode-cathod voltage. Fig. 2. Inverter circuit for driving a magnetron. 448 T. IEE Japan, Vol. 11

High Frequency Inverter for Microwave Oven Norikazu Tokunaga, Member, Yasuo Matsuda, Member, Kunio Isiyama, Non-member (Hitachi, Ltd.), Hisao Amano, Member (Hitachi Engineering, Co., Ltd.). Recently resonant

パナソニック技報

Panasonic Technical Journal Vol. 64 No. 2 Nov. 2018 Optical Disc Archiving System with 100 Years Lifespan of Digital Data Takuto Yamazaki Yasushi Kobayashi Blu-ray Disc 1 Archival Disc 2 3300 GB 10012

ポイント 太陽電池用の高性能な酸化チタン極薄膜の詳細な構造が解明できていなかったため 高性能化への指針が不十分であった 非常に微小な領域が観察できる顕微鏡と化学的な結合の状態を調査可能な解析手法を組み合わせることにより 太陽電池応用に有望な酸化チタンの詳細構造を明らかにした 詳細な構造の解明により

この度 名古屋大学大学院工学研究科の望月健矢大学院生 後藤和泰助教 黒川康良准教授 山本剛久教授 宇佐美徳隆教授らは 太陽電池への応用に有 望な電気的特性を示す酸化チタン注 1) 極薄膜を開発しました さらに その微小領域 の構造を明らかにすることに世界で初めて成功しました 近年 原子層堆積法注 2) を用いて製膜した酸化チタン薄膜は 結晶シリコン注 3) の太 陽電池において 光で生成した電子を収集する材料として優れた特性を示すため

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Arts and Sciences Development and usefulness evaluation of a remote control pressured pillow for prone position 1 36057 2 45258 2 29275 3 3 4 1 2 3 4 Key words: pressured pillow prone position, stomach

02.参考資料標準試料データ

参考資料 標準試料データ目次 クリソタイル標準試料 JAWE111 108 アモサイト標準試料 JAWE211 113 クロシドライト標準試料 JAWE311 118 クリソタイル標準試料 JAWE121 123 アモサイト標準試料 JAWE221 131 クロシドライト標準試料 JAWE321 139 アンソフィライト標準試料 JAWE411 147 トレモライト標準試料 JAWE511 155

液相レーザーアブレーションによるナノ粒子生成過程の基礎研究及び新規材料創成への応用 北海道大学大学院工学工学院量子理工学専攻プラズマ応用工学研究室修士 2年竹内将人

液相レーザーアブレーションによるナノ粒子生成過程の基礎研究及び新規材料創成への応用 北海道大学大学院工学工学院量子理工学専攻プラズマ応用工学研究室修士 2年竹内将人 研究背景 目的 液相レーザーアブレーション 液相に設置したターゲットに高強度レーザーパルスを照射するとターゲット表面がプラズマ化する ターゲットを構成する原子 分子が爆発的に放出され, ターゲット由来のナノ粒子ナノ粒子が生成される レーザー照射

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フィードバック ~ 様々な電子回路の性質 ~ 実験 (1) 目的実験 (1) では 非反転増幅器の増幅率や位相差が 回路を構成する抵抗値や入力信号の周波数によってどのように変わるのかを調べる 実験方法 図 1 のような自由振動回路を組み オペアンプの + 入力端子を接地したときの出力電圧 が 0 となるように半固定抵抗器を調整する ( ゼロ点調整のため ) 図 1 非反転増幅器 2010 年度版物理工学実験法

No.2 < 研究発表 ( 口頭 ポスター 誌上別 )> 口頭発表 Hiroshi Sugimoto, Minoru Fujii "Colloidal Silicon Nanoantenna for Low-Loss Dielectric Nanophotonics Platform" Abstra

研究助成報告書 ( 中間 終了 ) No.1 整理番号 H29-J-016 報告者氏名杉本泰 研究課題名可視領域に近接場増強効果を有する低損失シリコン微小球の作製と表面増強蛍光 < 代表研究者 > 機関名 : 神戸大学 職名 : 助教 氏名 : 杉本泰 大学院工学研究科 < 共同研究者 > < 研究内容 成果等の要約 > 特定のたんぱく質やウイルスに蛍光分子を化学的に結合し 蛍光により識別 検出する蛍光検出型バイオセンサは迅速且つ高感度なセンシング技術として注目されている

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System to Diagnosis Concrete Deterioration with Spectroscopic Analysis IHI IHI IHI The most popular method for inspecting concrete structures for deterioration ( for example, due to chloride attack ) is

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年度 物理化学 Ⅱ 講義ノート. 二原子分子の振動. 調和振動子近似 モデル 分子 = 理想的なバネでつながった原子 r : 核間距離, r e : 平衡核間距離, : 変位 ( = r r e ), k f : 力の定数ポテンシャルエネルギー ( ) k V = f (.) 古典運動方程式 [ 振動数 ] 3.3 d kf (.) dt μ : 換算質量 (m, m : 原子, の質量 ) mm

Light Sources レーザ保護メガネガイド Laser Protect Goggles Guide レーザ保護メガネの使用 アプリケーションシステム 光学素子 厚生労働省通達 レーザ光線による障害の防止対策について では 400~700nm の波長以外のレーザ光線を放出するクラス 3R の

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日本学術振興会 : 情報科学用有機材料第 142 委員会合同研究会 (26 年 7 月 21 日 ) 分光 偏光を用いた薄膜 界面解析の実際 Recent topics of thin films/interface analysis using spectrometry and ellipsometry 田所利康 Toshiytasu TADOKORO ( 有 ) テクノ シナジー Techno-synergy,

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ヘテロ表面ダイによるしごき加工性の向上 豊橋技科大安部洋平 パンチ しわ押え 焼付き 電気自動車 素板 深絞りダイス (a) 工具鋼 SKD11 二次電池用ケースステンレス鋼板 しごき加工 しごきダイス (b) TiCN サーメット TiCN サーメットダイスは耐焼付き性が高く有効 良好 パンチ ヘテロ表面サーメットダイ しごき加工後容器 しごきダイス 容器 ラッピング 潤滑剤 ダイ (a) ラッピング

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Examination of the lecture by the questionnaire of class evaluation -Analysis and proposal of result at the first term of fiscal year - Kazuo MORI, Tukasa FUKUSHIMA, Michio TAKEUCHI, Norihiro UMEDA, Katuya

J-PARCにおける超高精度非球面スーパーミラーの開発

Osaka University 京大炉におけるビーム利用のための次期中性子源検討 2 ワークショップ 140117@KUR J-PARC における超高精度非球面 スーパーミラーの開発 原子力機構 J-PARC センター 山﨑大 dai.yamazaki@j-parc.jp 概要 反射ミラー集光とその特徴 作成プロセス ; Supermirror, NC- LWE 1 次元集光スーパーミラーの開発

第122号(A4、E)(4C)/3 宇野ほか

trans Development of high performance heat resistant transparent polyimides based on trans-,,, -cyclopentanetetracarboxylic dianhydride Takaaki Uno Takashi Okada Igor Rozhanskii Toshimitsu Kikuchi Kohei

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1 透明 鏡 黒ならびに発光状態を有する スイッチャブルスマートウィンドウ Switchable smart window with a light-emitting state and mirror transparent black 東京工芸大学工学部メディア画像学科教授内田孝幸 2 研究の背景 地球温暖化やエネルギー供給の問題から エネルギーを特に多く消費する 冷暖房負荷の軽減に関する技術開発の期待が高まっている.

TOKYO UNIVERSITY OF SCIENCE 1-3 KAGURAZAKA, SHINJUKU-KU, TOKYO , JAPAN Phone: 報道関係各位 2018 年 5 月 22 日 形状と表面の性質の両方に異方性のある双面粒子の汎用

TOKYO UNIVERSITY OF SCIENCE 1-3 KAGURAZAKA, SHINJUKU-KU, TOKYO 162-8601, JAPAN Phone: +81-3-5228-8107 報道関係各位 2018 年 5 月 22 日 形状と表面の性質の両方に異方性のある双面粒子の汎用的作成法を開発 世界で初めての半球プラズモニックヤヌス粒子を作製 電場 磁場で 3 次元配向完全制御可能

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科学技術振興機構 (JST) 理 化 学 研 究 所 京 都 大 学 有機薄膜太陽電池で飛躍的なエネルギー変換効率の向上が可能に ~ 新材料開発で光エネルギー損失低減に成功 ~ ポイント 塗布型有機薄膜太陽電池 ( 塗布型 OPV) の実用化には変換効率の向上が課題となっている 新しい半導体ポリマーの開発により 塗布型 OPV の光エネルギー損失が無機太陽電池並みまで低減に成功した 塗布型 OPV

Siマイクロマシニングと集積化技術.PDF

ケミカル エンジニアリング(化学工業社) 25 年 9 月号 pp.731-735. シリコンマイクロマシニングと集積化技術 佐々木実*1 金森義明*2 羽根一博*3 Minoru Sasaki, Yoshiaki Kanamori, Kazuhiro Hane 東北大学大学院工学研究科 *1 助教授 工学博士 *2 助手 工学博士 *3 教授 工学博士 １ はじめに LSI に代表される半導体産業の黎明期にフォト

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J. of Population Problems. pp.,,,.,.,,. Becker,,.,,.,,.,,.,,,,.,,,.....,,. ..,,...,..,...,,.,....,,,.,.,,.,.,,,.,.,.,.,,.,,,.,,,,.,,, Becker., Becker,,,,,, Becker,.,,,,.,,.,.,, ,,, Becker,,., Becker,

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30 2015 139-148 2015/01/19 2015/06/18 * The Memorial Stones of the 1923 Kanto Earthquake in Saitama City, Saitama Prefecture: Part 2 Takahiro ISHIGURO, Ken ichi ARAI, Yusuke KOBAYASHI, Kyosuke NISHIYAMA

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** Department of Materials Science and Engineering, University of California, Los Angeles, CA 90025, USA) Preparation of Magnetopulmbite Type Ferrite Thin Films by Dip-Coating Method and Magnetic Properties

設備供用パンフ（表紙）

工業用顕微鏡 Industrial 光学顕微鏡 微分干渉 通常の光学顕微鏡観察 ( 株 ) ニコン製 ECLIPSE LV100D 落射明視野 落射暗視野 落射微分干渉光源水銀ランプファイバ光源 CCD カメラは付属していないが デジタルカメラ (C マウント ) による写真撮影は可能 レジストパターンの形状の検査 微粒子生成挙動の確認 物質工学分野研究室 ( 界面制御プロセス ) 栁瀬明久准教授内線