宇宙を使った半導体単結晶製造技術の開発

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1 宇宙を使った半導体単結晶製造技術の開発 微小重力下における TLZ 法による均一組成 SiGe 結晶育成の研究 (Hicari) 代表研究者木下恭一 ( 宇宙航空研究開発機構 ) 詳しくは以下のホームページもご覧ください 1

2 2 はじめに 宇宙利用の意義の変化 ISS 計画当初 (1990 年代 ) 宇宙環境利用は 宇宙工場 として期待された しかし 二度のシャトル事故 ISS 計画の遅延 : リスクの大きさ 不安定性 輸送及びクルータイム等の制約 地上技術の加速的な進展 宇宙工場の意義喪失 宇宙環境利用の意義は 宇宙工場 から宇宙の実験室へ ( 地上では得られない 新たな知見やノウハウの獲得 へ )

3 3 実験の背景 : シリコンテクノロジーの限界 現代生活に不可欠である代表的半導体はシリコン シリコンの素子を小さくすることで コンピュータの小型化 高速度化を実現してきたが その試みは限界! 持続的発展可能社会の実現に向けては コンピュータの低消費電力化 高性能化 高機能化 小型化は必要不可欠 シリコンにゲルマニウムを均一に * 混ぜてできた新しい半導体ができれば コンピュータの処理能力が格段にあがり 将来的に高速かつ省エネなコンピュータ実現に繋がる! * 均一組成 :Si( シリコン ) と Ge( ゲルマニウム ) が交互にきれいに並んで配置された状態

4 宇宙実験の背景 : 均一組成混晶への期待 各種半導体結晶は原子が規則正しく並んで固体になったもの 原子の並びの間隔は各々結晶固有の値を持っている 均一組成混晶が可能になれば 混ぜ合わせたもの同士の原子の大きさが異なるので 混ぜ合わせの比率によって並びの間隔を変えることができる 混晶を基板として使用できれば その上に成長させることのできる薄膜結晶の種類が増える Si 基板 性能が飛躍的にアップした素子や今までになかった性能の新しい素子製造が可能に! ( 隙間が大きくなることで電子が移動しやすくなり 半導体素子の高速動作が可能 また 低い電圧で動作させることができるため消費電力も少なくなる ) しかし 均一に混ぜたバルク SiGe 結晶の製造は 産業界でも宇宙実験でも誰も成功したことがない 困難な課題 4

5 均一組成混晶育成を目指した宇宙でのチャレンジの歴史 1974 年 Gatos らの均一不純物濃度 InSb 結晶を皮切りに数十例の宇宙実験が実施 日本でも ふわっと 92 SFU] 等で均一組成混晶育成にチャレンジ 期待値 ふわっと 92 実験結果 PbTe-SnTe 混晶育成実験短い領域で均一組成実現も目的の組成ではなし 均一組成のデータはとれたものの 狙った組成ではなかった なぜ? 微小重力環境でも固液界面濃度を一定にすることができなかったため 従来の結晶成長方法に代わる新しい結晶成長方法を考案する必要がある TLZ 法の発明!! 5

6 均一組成の混晶育成に係る成功の鍵は何か? 液体中の Ge の 6 割しか固体中にとりこまれない ( 状態図参照 ) 取り込めない分を最初から増加させておいて結晶成長を行う必要がある そのためには安定な濃度勾配を維持する必要があるが 安定な濃度勾配を維持する方法がなかった 液体中の飽和状態を利用して安定な濃度勾配を維持する方法を考案 (TLZ 法 ) 濃度6 割高濃度 結晶成長 目的の均一組成 固相線 固体 液体 液相線 液体 + 固体 C 固体 /C 液体 = 0.60 Si 17%, Ge83% が溶けた状態 ( 液体 ) これが固体になると Ge 濃度が 50% になる C 液体 0.83 長さ 界面 界面 900 Si C 固体 0.50 Si Ge 平衡状態図 Ge 6

7 Traveling Liquidus Zone (TLZ) 法の考案 溶液中の濃度勾配を一定に保つため 溶液帯を形成し 溶融帯全体を飽和状態する そうすることにより濃度勾配は温度でコントロールできるようになることに着目 シリコンとゲルマニウムの混晶で 期待通りの均一組成結晶をつくることに世界で初めて成功 ( 特許取得 ) Si 原料 溶液帯 SiGe 結晶 安定な濃度勾配 液相線 固体 液体液相線 + 固体 液体 固相線 (a) 試料構成 Si Ge (b)ge 濃度分布 Si Ge 平衡状態図 重力環境下では熱対流が発生するため 溶液が撹拌されてしまい 溶液中の濃度勾配を一定に保つことができず これまでは均一組成単結晶生成ができなかった 宇宙で対流がなくなると濃度勾 7 配を保つことが可能になるため 微小重力環境は結晶育成に関するデータ取得に適した環境 7

8 これまで 2 回行った宇宙実験の成果 (1) 1. 直径 10 mm 長さ 17 mm の均一組成 Si 0.5 Ge 0.5 結晶の製造に成功 TLZ 法を用いても地上では直径 2mm が限界 対流が均一組成実現に必要な液体内の濃度分布を乱すため 宇宙では密度差による対流がなくなり 均一組成の大きな結晶が実現できた * JAXA が開発した新しい結晶成長方法 (TLZ 法 ) により世界で初めて大きな均一組成の結晶を製造した 従来の方法では地上はもちろんのこと宇宙でも均一組成は実現できなかった * TLZ 法が均一組成バルク混晶の生成技術として有効であることが確認できた したがってこの方法を地上で応用していけば 均一組成の混晶の製造の道が開ける Si 種結晶 SiGe 結晶 固化したメルトゾーン 原料 図 1.1 回目の宇宙実験で育成した SiGe 結晶の外観 8

9 これまで 2 回行った宇宙実験の成果 (2) 2. 今後の地上応用に向けて 長尺 大口径化に役立つデータの取得 * 成長に伴う径方向組成均一性の悪化とTLZ 法モデル式との関係データの取得 今後の実験によりデータの更なる蓄積を図る *1 回目の実験成果を国際学術誌に投稿し 高い評価で受理された (2 月に発行予定 ) Ge 濃度 (at%) ±1.5% 成長結晶 軸方向長さ (mm) シリコンの結晶製造でも 地上で対流を抑えるような様々な工夫がされている 磁場で抑える 温度勾配を小さくするなど 地上での製造の条件を最適化するなどで 長尺 大口径化をしていくことが可能 濃度 (at%) Si Ge Si Ge 地上実験 10 mm 位置 宇宙実験 16.3 mm 位置 径方向長さ (mm) S 9

10 Si 0.5 Ge 0.5 単結晶の産業応用価値 Oxide High mobility ひずみ Si n-mos Si Metal Si 0.5 Ge 0.5 ( 基板 ) High mobility ひずみ Ge p-mos Metal n + n + p + p + Strained p-si Strained n-ge Oxide ( 従来は Si) Si 0.5 Ge 0.5 基板上のトランジスタ構造 SiGe 基板上のトランジスタは Si 基板上のトランジスタに比べ 約 6 倍の高速化が可能 トランジスタの型 n 型 /Si 基板 600 p 型 /Si 基板 200 ひずみ Si-n 型 /SiGe 基板 1200 移動度 (cm2/vs) 140 低電力高速 CPU の実現 ひずみ Ge-p 型 /SiGe 基板 1200 消費電力 (W) 現状 宇宙実験成果による期待値 CPU の使用例 クロック周波数 (MHz) CPU の高速度化に伴う消費電力の増大を SiGe 基板により防止 さらに高速化の限界の打破 CPU とそれを組み込んだマザーボードの例 10

11 加熱室 試料自動交換装置に取り付けられたカートリッジ 11 今後 2 回宇宙実験を予定 若田船長の操作 実験後カートリッジを温度勾配炉から取り外し, 手作業で解体する 結晶試料が封入されている金属セルを回収容器に梱包する * 炉の加熱や加熱室の移動は地上からの指令で行う 実験目的 : 第 1 回 第 2 回では綺麗な均一組成混晶を作る為の条件に係る基礎データを取得 今後の 2 回の実験では 組成が乱れる条件と 乱れないようにコントロールする条件についてのデータを取得 温度勾配炉制御部

12 バックアップチャート

13 13 温度勾配炉 (GHF) および実験の詳細 Si 種結晶 Ge( 溶融帯 ) Si 原料 炭素バネ 加熱炉 加熱炉移動用モーター上図. GHF ヒーター外観 結晶成長上図. GHFヒーター温度履歴

14 光通信用半導体レーザーへの要求 メトロ アクセス NW の大容量化 メトロ 局内リンクの 10Gb/s 化が進展 データコムの高速化 10G ラインがバックボーンからユーザエリア サーバエリアに急速に拡大 10G ラインの急増 ルータ 10G ポートの高密度化 小型化が進展 小型 低消費電力 高温動作可能な 10G 光源の要求が増大 RHK Q コア / メトロネットワーク 大学 データセンタ 10G Ether (10GE- LR/LW/LRM) 企業 LAN メトロ 局内リンク (10Gb/s) CATV FTTH アクセス用 (1~2.5G) ADSL 無線 出荷数 (1000 台 ) 12,000 10,000 8,000 6,000 4,000 2,000 アクセスネットワーク ホーム LAN 年 通信用 10G 直接変調レーザ市場 14

15 出力(相対値)TLZ 法を用いた地上実験 (InGaAs 単結晶 ) では レーザーを実現 InGaAs 単結晶基板 : 対流抑制のために薄板状の結晶を製造 InGaAs 基板レーザーの実現 : 光通信ネットワークに使用出力の温度安定性に優れる p-ingap クラッド p 電極 単結晶領域 発光 活性層 高速 ブロードバンド 低消費電力光通信ネットワークの実現に貢献 絶縁膜 n-ingap クラッド n-ingaas 基板 n 電極 3.4m 1µm 1.7.µm レーザー断面 地上での NTT およびフルウチ化学 ( 株 ) との研究開発により 半導体レーザーの試作に成功し高温まで安定した出力を持つこと および 10 Gb/s 変調シグナルの 20 km 光ファイバ伝送を確認 ( 性能は十分達成 現状まだ高コストのため実用化は見送り 宇宙実験の成果を活かして地上で InGaAs 基板を低コストで製造できるようになれば実用化の道が開けると期待される 1 InGaAs 基板上レーザー 従来レーザー (InP 基板 ) 温度 ( o C) 15

16 濃度濃度濃度無重力下では均一組成の結晶育成が可能 重力環境下では熱対流が発生するため 溶液が撹拌されてしまい 溶液中の濃度勾配を一定に保つことができず これまでは均一組成単結晶生成ができなかった 宇宙で対流がなくなると濃度勾配を保つことが可能になるため 微小重力環境は結晶育成に関するデータ取得に適した環境 地上 長さ 宇宙 宇宙 ( 期待値 ) 地上 ( 実測値 ) 長さ 固化した割合 8

17 結晶成長に伴う組成変化 ( 地上 対流有り ) 17

18 均一組成結晶成長 ( 宇宙 対流なし ) 18

19 19 微小重力環境を利用した均一組成半導体結晶育成の試み Te -doped InSb Witt et al., J. Electrochem. Soc., 122 (1975) 276.

20 20 Si 基板の開発史 ? SiGeウエーハシリコン ウエーハの口径とチップ面積の変遷 1918 年 :CZ 法の考案 1947 年 : 半導体トランジスタ 1957 年 : 集積回路の発明 1958 年 :Si 単結晶無転位化 1968 年 :φ50 Si 基板 1974 年 :φ75 Si 基板 1980 年 :φ100 Si 基板 1986 年 :φ150 Si 基板 1990 年 :φ200 Si 基板 1998 年 :φ300 Si 基板 2007 年 :φ400 Si 基板 GaAs 単結晶の大口径化 1957 年 :5 mm 角 ( 溶液成長 ) 1968 年 :φ25 HB 法育成基板 1980 年 :φ50 LEC 法育成基板 1982 年 :φ75 基板 1988 年 :φ100 基板 1999 年 :φ150 基板

21 21 TLZ 法と従来のゾーンメルト法との比較 温度 T m2 融点 T m2 ( >T m1 ) 温度分布 T m2 温度 温度分布 融点は同じ T m T m T m1 固体 melt 融液 固体 固体 融液 固体 TLZ 法 長さ ( 低い融点の融液形成材を使用して比較的低い温度勾配で融液を形成 ) 長さ 従来のゾーンメルト法 ( 急峻な温度勾配で融液を形成 )

22 22 研究成果まとめ 特許まとめ : 申請者, 題名, 取得年 ( 特許番号 ), 採用企業 1.NASDA ( 単独 ) 固溶体単結晶の製造方法 ( 特許番号 , 2009 年登録 ), フルウチ化学 2.JAXA ( 単独 ) 固溶体単結晶の製造方法 ( 特許番号 , 2011 年登録 ), フルウチ化学 3. JAXA ( 単独 ) 固溶体単結晶の製造方法 ( 特願 ) 4. JAXA ( 単独 ) 固溶体単結晶製造用容器およびそれを用いた固溶体単結晶製造方法 ( 特願 ) 外部資金 : 題目, 申請者, 実施年, 資金額 1. 温度制御装置を必要としない光通信用半導体レーザーの研究開発 (NEDO) 依田眞一平成 15~17 年 169,603,200 円 ( 補助率 100%) 2. 省エネ性に優れた光通信用半導体レーザーの実用化開発 (NEDO) 依田眞一平成 18~20 年 51,243,150 円 ( 補助率 100%) 3. 極限 CMOSの研究開発 (NEDO) 依田眞一平成 21~23 年 201,378,450 円 ( 補助率 100%) 受賞歴 : 第 27 回日本結晶成長学会論文賞 受賞者 : 木下恭一 TLZ 法開発と均一組成バルク混晶育成への応用 (2010 年 8 月 )

23 その他 :TLZ 法育成 InGaAs を基板とする光通信用半導体レーザに関する連携企業としては NTT フォトニクス研究所 ( レーザ作製と性能評価 ) およびフルウチ化学株式会社 ( 基板製造 ) 半導体レーザーの試作に成功し高温まで安定した出力を持つこと 10 Gb/s 変調シグナルの 20 km 光ファイバ伝送を確認 ( 性能は十分達成 現状まだ高コストのため実用化は見送り 宇宙実験の成果を活かして InGaAs 基板を低コストで製造できるようになれば実用化の途が開けると期待される ) フルウチ化学株式会社には産業連携センターを通して TLZ 法特許の使用を許諾 23 研究論文 : 代表的論文 5 報 1. K. Kinoshita, Y. Hanaue, H. Nakamura, S. Yoda, M. Iwai, T. Tsuru, Y. Muramatsu, "Growth of homogeneous mixed crystals of In 0.3 Ga 0.7 As by the traveling liquidus-zone method", J. Crystal Growth, (2002) H. Nakamura, Y. Hanaue, H. Kato, K. Kinoshita and S. Yoda, "A one-dimensional model to predict the growth conditions of In x Ga 1-x As alloy crystals grown by the traveling liquiduszone method", J. Crystal Growth, 258 (2003), pp K. Kinoshita, Y. Ogata, S. Adachi, N. Koshikawa, S. Yoda, H. Miyata and A new crystal growth method for growing homogeneous mixed crystals of In 0.3 Ga 0.7 As: the traveling liquidus-zone (TLZ) method, Adv. in Astronautical Sciences 117 (2004) pp K. Kinoshita, H. Miyata, R. Tanaka, T. Ueda, Y. Arai and S. Yoda, Si 0.5 Ge 0.5 bulk single crystals with uniform composition, J. Crystal Growth 349 (2012) pp K. Kinoshita, Y. Arai, Y. Inatomi, T. Tsukada, S. Adachi, H. Miyata, R. Tanaka, J. Yoshikawa, T. Kihara, H.Tomioka,H. Shibayama, Y. Kubota, Y. Warashina, Y. Sasaki, Y. Ishizuka, Y. Harada, S. Wada, C. Harada, T. Ito, M. Takayanagi and S. Yoda, Growth of a Si 0.50 Ge 0.50 crystal by the traveling liquidus-zone (TLZ) method in microgravity, J. Crystal Growth 388 (2014) pp その他関連英文論文 36 件.

木下恭一, 他 2. 実験方法 2.1 TLZ 法の原理 まず, 宇宙実験で用いた TLZ 法の原理 7 10) について, その概略を Fig. 1 に示す.TLZ 法は溶液法の一種であることについては先に述べたが,TLZ 法はゾーンメルト法の一種でもある. 今までのゾーンメルト法と異なる点は,0

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