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1 2 2 (Dielecrics) Maxwell ( ) D H

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q π =0 Ez,t =ε σ {e ikz ωt e ikz ωt } i/ = ε σ sinkz ωt 5.6 x σ σ *105 q π =1 Ez,t = 1 ε σ + ε π {e ikz ωt e ikz ωt } i/ = 1 ε σ + ε π sinkz ωt 5.7 σ

C-2 NiS A, NSRRC B, SL C, D, E, F A, B, Yen-Fa Liao B, Ku-Ding Tsuei B, C, C, D, D, E, F, A NiS 260 K V 2 O 3 MIT [1] MIT MIT NiS MIT NiS Ni 3 S 2 Ni

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C 3 C-1 Ru 2 x Fe x CrSi A A, A, A, A, A Ru 2 x Fe x CrSi 1) 0.3 x 1.8 2) Ru 2 x Fe x CrSi/Pb BTK P Z 3 x = 1.7 Pb BTK P = ) S.Mizutani, S.Ishid

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: (a) ( ) A (b) B ( ) A B 11.: (a) x,y (b) r,θ (c) A (x) V A B (x + dx) ( ) ( 11.(a)) dv dt = 0 (11.6) r= θ =

1 d 6 L S p p p p-d d 10Dq 1 ev p-d d 70 % 1: NiO [3] a b CI c [5] NiO Ni [ 1(a)] Ni 2+ d 8 d 7 d 8 + hν d 7 + e d 7 1(b) d 7 p Ni 2+ t 3 2g t3 2g e2

V(x) m e V 0 cos x π x π V(x) = x < π, x > π V 0 (i) x = 0 (V(x) V 0 (1 x 2 /2)) n n d 2 f dξ 2ξ d f 2 dξ + 2n f = 0 H n (ξ) (ii) H

( ) URL: December 2, 2003

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d > 2 α B(y) y (5.1) s 2 = c z = x d 1+α dx ln u 1 ] 2u ψ(u) c z y 1 d 2 + α c z y t y y t- s 2 2 s 2 > d > 2 T c y T c y = T t c = T c /T 1 (3.

C 3 C-1 Cu 2 (OH) 3 Cl A, B A, A, A, B, B Cu 2 (OH) 3 Cl clinoatacamite S=1/2 Heisenberg Cu 2+ T N 1 =18K T N 2 =6.5K SR T N 2 T N 1 T N 1 0T 1T 2T 3T

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2018/6/12 表面の電子状態 表面に局在する電子状態 表面電子状態表面準位 1. ショックレー状態 ( 準位 ) 2. タム状態 ( 準位 ) 3. 鏡像状態 ( 準位 ) 4. 表面バンドのナローイング 5. 吸着子の状態密度 鏡像力によるポテンシャル 表面からzの位置の電子に働く力とポテン

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( ) ) ) ) 5) 1 J = σe 2 6) ) 9) 1955 Statistical-Mechanical Theory of Irreversible Processes )

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I-2 (100 ) (1) y(x) y dy dx y d2 y dx 2 (a) y + 2y 3y = 9e 2x (b) x 2 y 6y = 5x 4 (2) Bernoulli B n (n = 0, 1, 2,...) x e x 1 = n=0 B 0 B 1 B 2 (3) co

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3 3.1 R r r + R R r Rr [ ] ˆn(r) = ˆn(r + R) (3.1) R R = r ˆn(r) = ˆn(0) r 0 R = r C nn (r, r ) = C nn (r + R, r + R) = C nn (r r, 0) (3.2) ( 2.2 ) C

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(e ) (µ ) (τ ) ( (ν e,e ) e- (ν µ,µ ) µ- (ν τ,τ ) τ- ) ( ) ( ) ( ) (SU(2) ) (W +,Z 0,W ) * 1) [ ] [ ] [ ] ν e ν µ ν τ e µ τ, e R,µ R,τ R (2.1a

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Chadwick [ 1 ] 1919,, electron number Q kinetic energy [MeV] 8.1: 8.1, 1 internal conversion electron E γ E e =

H 0 H = H 0 + V (t), V (t) = gµ B S α qb e e iωt i t Ψ(t) = [H 0 + V (t)]ψ(t) Φ(t) Ψ(t) = e ih0t Φ(t) H 0 e ih0t Φ(t) + ie ih0t t Φ(t) = [

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4. ϵ(ν, T ) = c 4 u(ν, T ) ϵ(ν, T ) T ν π4 Planck dx = 0 e x 1 15 U(T ) x 3 U(T ) = σt 4 Stefan-Boltzmann σ 2π5 k 4 15c 2 h 3 = W m 2 K 4 5.

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References: 3 June 21, 2002 K. Hukushima and H. Kawamura, Phys.Rev.E, 61, R1008 (2000). M. Matsumoto, K. Hukushima,

SO(3) 7 = = 1 ( r ) + 1 r r r r ( l ) (5.17) l = 1 ( sin θ ) + sin θ θ θ ϕ (5.18) χ(r)ψ(θ, ϕ) l ψ = αψ (5.19) l 1 = i(sin ϕ θ l = i( cos ϕ θ l 3 = i ϕ

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Transcription:

物構研シンポジウム : 放射光 中性子 ミュオンを用いた表面 界面科学の最前線 共鳴軟 X 線散乱による 薄膜電子状態の研究 KEK 物構研 岡本 淳 2009. 11. 17 つくば国際会議場

共同研究者共鳴軟 x 線散乱および硬 x 線散乱測定 D. J. Huang C.-H. Hsu C. T. Chen (NSRRC, Taiwan) K. S. Chao S. W. Huang (National Chaio Tung University) 試料作製 :La 1/3 Sr 2/3 FeO 3 (111)/SrTiO 3 (111) 増野敦信 ( 京大化研 ) 寺嶋孝仁 ( 京大低温物質科学研究センター ) 高野幹夫 (icems, 京大 ) 議論 藤森淳 ( 東大理 )

Outline of this talk 共鳴軟 X 線散乱 共鳴軟 X 線磁気散乱による La 1/3 Sr 2/3 FeO 3 薄膜の研究

物性を特徴づける秩序構造 物性 電荷 格子 スピン 軌道 様々なプローブを用いた散乱測定 電荷 スピン 軌道秩序 格子構造の情報

散乱手法を用いた秩序構造の研究 Lattice structure: Symmetry and position of atoms Charge ordering: spatial localization of the charge carriers on certain sites X-ray Neutron X-ray Electron 2 + 3 + Spin ordering: long range ordering of local magnetic moments X-ray Neutron Orbital ordering: periodic arrangement of specific electron orbitals X-ray Structures and orderings Spectroscopy Electronic structures X-ray scattering is a powerful tool in studying super-lattice structures and orderings, and their relation with the electronic structures.

共鳴 X 線散乱 X 線散乱 散乱ベクトル 構造因子 共鳴 X 線散乱 元素選択的な測定 r r r v ik r 0 ε e i Δf ~ hω ( E i i 0 r r r q = k' k r r r sin( q ) = 4π n i( ) r r r q f 2 r r r v ik' r i ε' e E iγ ) h ω : 入射光エネルギー hω = ε ( i) ε (0) 0 k dr k v v v v q = k ' k empty valence i > k v ' k 共鳴散乱振幅 f res f res i Charge scattering ε ε ε s i 1 1 ε F, F ( )[ + 1 1, F, F ( ) zˆ[ s i 1 1 1, 1 magnetic scattering + ε zˆ)( ε zˆ)[ i 1 0 ( 2 F, F s 1, 1 F 1, 1 Orbital ordering ] ] ] 0 > core level ε i and ε s* : electric field vector of incident and scattered light ẑ: Local moment F 1,q : Scattering amplitudes with Δm l = q

共鳴 X 線散乱 X 線散乱 散乱ベクトル 構造因子 共鳴 X 線散乱 元素選択的な測定 r r r v ik r 0 ε e i Δf ~ hω ( E i i 0 r r r q = k' k r r r sin( q ) = 4π n i( ) r r r q f 2 r r r v ik' r i ε' e E iγ ) h ω : 入射光エネルギー hω = ε ( i) ε (0) 0 dr k v v v v q = k ' k Hard X-rayX (~6.5 KeV) Soft X-rayX Mn 4p (~643 ev) e g t 2g k v ' E F 共鳴散乱振幅 f res f res i Charge scattering ε ε ε s i 1 1 ε F, F ( )[ + 1 1, F, F ( ) zˆ[ s i 1 1 1, 1 magnetic scattering + ε zˆ)( ε zˆ)[ i 1 0 ( 2 F, F s 1, 1 F 1, 1 Orbital ordering ] ] ] Mn 1s Mn 2p ε i and ε s* : electric field vector of incident and scattered light ẑ: Local moment F 1,q : Scattering amplitudes with Δm l = q

放射光での軟 X 線散乱の利点 1. エネルギー選択性 Electron Energy (ev) E F DOS 10 1 10 2 10 3 10 4 10 5 VUV (~1 200 ev) Photon Energy (ev) SX (200 2000 ev) HX (2 100 KeV) p d transition energy 3d TM : 460 ev --- 952 ev 4d TM : 330 ev --- 603 ev 2223 ev --- 3524 ev 5d TM : 380 ev --- 643 ev 9561 ev --- 13734 ev 2108 ev --- 3148 ev s p transition energy O 1s :530 ev 3d TM :4966 ev --- 8979 ev d f transition RE : 836 ev --- 1640 ev 共鳴条件による元素選択的な測定強相関系酸化物 (TM, O) 2. 高い輝度 3. 偏光成分 直線偏光 σ, π 偏光 円偏光 helicity ±1

共鳴軟 X 線磁気散乱 非共鳴条件での磁気散乱と電荷散乱の断面積の比較 σ σ mag charg e Δm l ~ = ±1 ~ 10 6 非共鳴 X 線磁気散乱は非常に弱い 共鳴条件での X 線磁気散乱 2 hω 2 mc for ħω ~ 600 ev Local moment 電気双極子遷移 (E1) 3λ * f res mag = i (ε ε0) zˆ( F1,1 F 8π M. Blume, J. Appl. Phys. 57, 3615 (1985). 1, 1 Δ l m = 1 m = 1 ) Δ l ε0 ε 3d 2p 3/2 2p 1/2 circularly polarized E1 oscillator:f 1,1, F 1,-1 共鳴電荷散乱との比較 F F 1, 1 1, 1 F + F 1, 1 1, 1 2 f res cha ~ 10-3 10-1 3λ = ( ε ε )[ F1 1 + F1, 8π = XMCD ~ 数 -30 %, 1 スピン軌道相互作用 交換相互作用の大きい系 磁気散乱は増幅される J. P. Hannon et al., Phys. Rev. Lett. 61, 1245 (1988). ]

共鳴軟 X 線散乱の注意点 1. 長波長軟 X 線領域 (3d TM: 500 ev ~ 1 K ev) 12.5 ~ 25 Å Bragg condition (2d sinθ = l) 対象とする秩序構造は限られる. ( 周期長 10 Å) 2. 短い侵入長 :~ 1000-2000 Å 硬 X 線散乱 中性子散乱に比べ 表面敏感 清浄な試料表面を準備 (1) 真空中でのへき開 (2) 散乱面の切り出し 様々な表面処理 表面研磨後に酸素雰囲気 (or 大気中 ) でアニール エッチング (3) 非常に薄いキャップ層 薄膜試料の共鳴軟 X 線散乱に向いた特徴 1. 積層構造の作成 : ヘテロ構造 界面 長周期構造の作成 2. 基盤による調整 歪みの調整 成長面の調整 La 1/3 Sr 2/3 FeO 3 (111) 磁気秩序構造 q = (1/6,1/6,1/6), 周期長 ~ 13.6 Å SrTiO 3 (111) 上に成長 散乱面 = (111) 面

Outline of this talk 共鳴軟 X 線散乱 共鳴軟 X 線磁気散乱による La 1/3 Sr 2/3 FeO 3 薄膜の研究

La 1/3 Sr 2/3 FeO FeO 3 の電荷不均化転移 ペロブスカイト型構造 Pseudo cubic(rhombohedral): a ~ 3.87 Å Fe 3+ (3.61 μ B ) Fe 5+ (2.72 μ B ) 電荷不均化転移 : T CO = 207 K 反強磁性 : T N = 207 K Mössbauer 3Fe ~3.67+ 2Fe 3+ + Fe 5+ 明確な格子歪みはない 中性子散乱 M. Takano et al., J. Solid State Chem. 39, 75 (1981). P. B. Battle et al., J. Solid State Chem. 84, 271 (1990). [111] 方向に3 倍周期の電荷密度波 反強磁性秩序 = [111] 方向に 6 倍周期のスピン密度波 M. Imada et al., Rev. Mod. Phys. 70, 1039 (1998). 磁化 抵抗に 2 つのとび 常磁性の平均電価相 [111] 方向に反強磁性電荷不均化相

電荷不均化転移に関与する元素の状態と相互作用 予想されている電荷とスピン間の相互作用 Fe 3+ -O-Fe 5+ : 強磁性交換相互作用 J F Fe 3+ -O-Fe 3+ : 反強磁性交換相互作用 J AF O 2p 状態のホールLの転移 Fe 3+ (3.61 μ B ) Fe 5+ (d 3 ) Fe 3+ L 2 (d 5 L 2 ) Fe 5+ (2.72 μ B ) J. Matsuno et al., Phys. Rev. B 84, 271 (1990). 非弾性中性子散乱 J F /J AF > 1 電荷秩序が磁気相関で安定化 R. J. McQueeney et al., Phys. Rev. Lett. 98, 126402 (2007). Fe 5+ Fe 3+ ぺロブスカイト [111] に垂直なスピン電荷秩序相は 遷移金属がdomain wall の中心なら超交換相互作用で安定化 T. Mizokawa and A. Fujimori, Phys. Rev. Lett. 80, 1320 (1998). O 2p ( 半径 = ホール濃度 ) 電荷不均化相の Fe 3d 電子の磁気秩序の情報 Fe L 2,3 端の共鳴軟 x 線磁気散乱 ex. Fe 3 O 4 の Verwey 転移 O 2p 状態の電荷軌道秩序により B site の Fe に電荷不均化が生じる O K 端の共鳴軟 x 線散乱 D. J. Huang et al., Phys. Rev. Lett. 96, 096401 (2006).

La 1/3 Sr 2/3 FeO 3 SrTiO 3 cap 125 Å La 1/3 Sr 2/3 FeO 3 (111) 1000 Å SrTiO 3 substrate (111) (111) /SrTiO 3 (111) 薄膜試料 Resistivity (Ωcm) 10 3 10 2 10 1 10 0 10-1 0 T ~195 K 硬 x 線散乱 q scan along [111] direction 10-2 50 100 150 200 250 300 Temperature (K) BL 13A at NSRRC, Taiwan hν = 12099.3 ev T = 80 K Fringe Cap 層膜厚 格子のBragg 散乱 :q = (1,1,1) 電荷秩序散乱 :q = (1±1/3,1±1/3,1±1/3) 磁気秩序散乱 :q = (1±1/6,1±1/6,1±1/6) 散乱断面積の違い

Experimental BL-5 EPU beamline at NSRRC, Taiwan 4-m 楕円偏光 undulatorビームライン NSRRC, Taiwan 1.5 GeV ring Hsinchu 超高真空用二軸回折計 Base pressure : 5 10-9 torr Lowest Temperature : 8 K by flowing liq. He 2θ limit : 173º Δq ~ 0.0005 Å -1 k 検出器 Photodiode Channeltron e - CsI Channeltron

Intensity (arb. units) XAS (arb. units) La 1/3 Sr 2/3 FeO Fe 3d 2p 3/2 XAS and Constant q scan around Fe L 2,3 edge 0.04 0.03 0.02 0.01 0 1.2 0.8 0.4 0 RT XAS in TEY mode T = 160 K q = (1/6,1/6,1/6) π pol. 700 FeO 3 の共鳴軟 x 線磁気散乱測定 hν = 707.3 ev ε : π( 散乱面内 ) 705 710 π σ [111] 715 720 Photon Energy (ev) 1.0 0.8 0.6 0.4 0.2 0 0.14 π π [1 12] 0.16 725 707.3 ev 0.18 q 111 (r. l. u.) [110] π q σ π 730 0.20 f res Intensity (arb. units) 1.5 1.0 0.5 ( ε ε )[ F1,1 + F1, 1] 0.0 700 電荷散乱 + ε ε ) Zˆ[ F F ( 1,1 1, 1 磁気散乱 705 710 715 Photon Energy (ev) 磁気秩序を測定 q = (1/6,1/6,1/6) 80 K π σ 720 1. q = (1/6,1/6,1/6) 2. Peak が Fe L 3 より低エネルギー ref. La 1.5 Sr 0.5 MnO 4 3. 偏光依存性 :I π I σ ]

磁気秩序構造の温度依存性 磁気秩序構造 : q = (1/6,1/6,1/6) 共鳴軟 x 線散乱 hν = 707.3 ev ε : π( 散乱面内 ) Ref. 電荷 磁気秩序の比較 二つの転移点 :195 K と188 K q 111 scan : (111) 面間の秩序構造 T < 195 K : 徐々に細くなる q 1-10 scan: (111) 面内の秩序構造 188 K < T < 195 K : 鋭いピーク T < 188 K : 別の広いピーク

q 111 q 1-10 10 空間での磁気秩序構造の分布 hν = 707.3 ev ε : π( 散乱面内 ) 188 K 上下での磁気秩序構造の比較 192 K: 擬二次元的な構造 q 1-10 方向に鋭く q 111 方向に広い 195 K と 188 K の転移 195 K: 擬二次元的構造を持つドメインが現れる 160 K: 二つの構造の重なり 188 K: 擬 2 次元的な構造 :192 Kで見られたもの 三次元等方的構造を持 等方的な構造 :188 K 以下で現れたもの つドメインが現れる

格子構造と電荷 磁気秩序構造の q 111, q 1-10 10 scan の比較 q = (1,1,1) 160 K と 192 K 格子構造 : スペクトルに明確な変化が見えない 電荷秩序と磁気秩序 : ほぼ同じ変化の傾向を示す q = (2/3,2/3,2/3) q = (1/6,1/6,1/6) 温度が下がると q 111 scan: 徐々に狭くなる q 1-10 scan: 鋭い構造に幅広の構造が加わる La 1/3 Sr 2/3 FeO 3 の電荷不均化転移は格子の歪みを伴わない La 1/3 Sr 2/3 FeO 3 の電荷秩序は交換相互作用によって安定化されている T. Mizokawa and A. Fujimori Phys. Rev. Lett. 80, 1320 (1998). J. Matsuno et al., Phys. Rev. B 60, 4605 (1999). 磁気秩序構造を詳細に解析

磁気秩序構造の相関長 :q: 111, q 1-10 10 scan q 111 scan at 160 K q 1-10 scan at 160 K 構造の fitting q 111 scan: 1 Lorentz function q 1-10 scan: 2 Lorentz functions Domain A (T < 195 K) と B (T < 188 K) 積分強度 相関長 ξ 1/HWHM

磁気秩序相関長と積分強度の温度依存性 188 K T 195 K:Domain A のみ ξ 111 : 20 Å ξ 1-10 :1000 Å 700 Å A = (111) 面内に相関の強い擬 2 次元的秩序構造 T 188 K:Domain A と B の混在 ξ 111 : 20 Å 80 Å ξ 1-10 :A, B ξ 1-10A ~ 700 Å ξ 1-10 B ~ 100 Å B =3 次元等方的秩序構造 Domain A と B の積分強度ともに 温度が下がるとともに増大するが B は A よりも 1 桁強くなる 電荷不均化転移直後は擬 2 次元秩序構造低温では 3 次元等方的秩序構造が主体

測定結果に基づく議論と考察 195 K:(111) 面内に相関の強い擬 2 次元電荷 磁気秩序構造が生じる 188 K: 相関長の短い 3 次元等方的電荷 磁気秩序構造が生じ 主体に 1. Fe 3+ -O-Fe 5+ J F が Fe 3+ -O-Fe. 3+ J AF より非常に強い 2. O 2pバンドからの電荷移動でFe 5+ はFe 3+ L 2 (d 5 L 2 ). Fe 5+ の周りに O 2p ホールが隣接して Fe 3+ -O-Fe 5+ -O-Fe 3+ の三重層が強磁性的に結合し 長距離擬 2 次元磁気秩序構造を作る 電荷不均化転移での O 2p ホール 均一に分布していた O 2p ホール層 2 層の高ホール濃度層と 1 層の低ホール濃度層が交互に並ぶ [111] 長距離擬 2 次元磁気秩序構造は [111] 方向へ反強磁性的に並び成長する La 1/3 Sr 2/3 FeO 3 の rhombohedral な歪みが [111] 方向で安定する 長距離擬 2 次元的秩序は格子によってかなり安定する 188 K 以下の3 次元的秩序の相関長は短い 歪んでいるものの FeO 6 八面体のFe-Oボンド長は全て等しい P. B. Battle et al., J. Solid State Chem. 84, 271 (1990).

共鳴軟 X 線散乱による La La 1/3 Sr 2/3 FeO FeO 3 薄膜の研究まとめ 電荷不均化転移を示す La 1/3 Sr 2/3 FeO 3 薄膜の磁気秩序を Fe L 2,3 端での共鳴軟 x 線磁気散乱で測定した 電荷不均化転移は 単純な電荷均一常磁性相から反強磁性電荷不均化相への転移でないことが明らかになった 強磁性的な Fe 3+ -O-Fe 5+ O-Fe 3+ 三重層が酸素ホールの分布変化によって安定化し 擬 2 次元的長距離秩序を示す 温度を下げると 3 次元等方的な磁気秩序構造が生じ 低温では支配的になる

PF BL-16A 軟 x 線散乱測定装置 BL-16A: 可変偏光 X 線分光ステーション偏光モード : 左右円偏光 水平 垂直直線偏光エネルギー分解能 : 0.1 ev (500 ev - 1500 ev) 測定可能波長領域 : 250-1800eV PF 久保田正人 ビームサイズ : 縦 50μm 横 100-200μm 軟 X 線用 2 軸回折計 2Θ 可動範囲 : 0-170 真空度 : < 1x10-5 Pa 検出器 : PD, MCP He フロークライオ : 試料位置 12-350K

軟 x 線散乱測定装置改修概要 精度が高く かつ 快適な共鳴軟 X 線散乱実験を目指して 改修項目 4 4 1 4 象限スリット設置迷光 background cut 2 検出機構の z 駆動擬似的 χ 駆動 3 架台光軸微調整 放射光 水平散乱面 1 散乱光 1 5 2 4 xyz stage モーター駆動試料位置合わせ 5 パルスカウント検出器 S/N 向上 3 2θ 研究計画 Mn L 3 端 O K 端での共鳴軟 X 線散乱 (LaMnO 3 ) m /(SrMnO 3 ) n 薄膜の界面電子構造研究 25

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