新技術説明会 様式例

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1 1 殺菌用 深紫外 LED の開発 国立研究開発法人理化学研究所平山量子光素子研究室 主任研究員平山秀樹

2 出力 深紫外 LED の応用分野 高密度光記録深紫外 DVD 樹脂加工 接着電子部品 UV 接着 3D プリンター 医療機器 殺菌 浄水 空気浄化 DUV 光 浄水 冷蔵庫 エアコン 医療 農業免疫療法 ( アトピー皮膚炎 ); ナローバンド UVB 療法商品作物の病害防止 ( イチゴのうどん粉病など ) 印刷 塗装 コーティング インクジェットプリンター フレキソスクリーン UV 硬化インク 浄水器 UVC UVB UVA 波長 (nm) 2

3 紫外 LED の効率の予測と広がる市場 3

4 紫外 LED の高効率化の経緯 外部量子効率 η ext =η int η inj η lee λ η ext η int η inj η lee 270nm 7% = 60% 0.5% 80% 20% 15% 8% 内部量子効率 : η int 従来 <1% 程度 電子注入効率 : η inj 従来 20% 以下 低転位 AlN の開発 In 組成変調により 50~80% を実現 多重量子障壁 (MQB) により >80% を実現 光取り出し効率 : η lee 現在 8% 程度最高値 20% 程度 今後も 大幅な改善が必要 4

5 AlN AlGaN の MOCVD 成長 成長温度 : AlN(1300~1500 ) AlGaN(1100~1160 ) V/III 比 : AlN(5~4000) AlGaN(2000~4000) 1 号機 2 号機 3 号機 4 号機 (HVPE) 5 号機 6 号機 ( 建設中 ) 7 号機 ( 建設中 ) SR ¼ AlN 下地 UVCLED 開発 UVCLED 開発 AlN 下地 UVCLED 開発 AlN 下地 UVCLED 開発 5

6 高品質 AlN バッファーの実現 TMAl NH 3 アンモニアパルスフロー成長 マイク レーションエンハンス成長 安定したⅢ 族極性 AlN 5s 3s 5s 3s 5s NH 3 パルス供給多段成長法 AlN H. Hirayama et al, Appl. Phys. Lett. 91, (2007) AlN AlN 1.3μm 0.3μm 1.3μm 特許登録日本 :2010 US: μm サファイア基板サファイア基板サファイア基板サファイア基板 1. AlN 核形成 ( パルス供給 ) 2. 横エンハンス成長による核の埋め込み ( パルス供給 ) 3. 縦高速成長による平坦化とクラック防止 ( 連続供給 ) 4. 繰り返しによる貫通転位低減 クラック防止 平坦化 ( パルス供給 / 連続供給 ) 貫通転位低減 クラック発生阻止 表面原子層平坦化 転位低減 高効率紫外 LED の実現が可能に 6

7 AlN/ サファイアの高品質結晶 アンモニアパルス供給多段成長 による AlN 成長 Al 0.76 Ga 0.24 N 2.45μm Al 0.88 Ga 0.12 N 0.2μm LED Layers TEM( 透過電子顕微鏡 ) 像 NH 3 Pulse Flow AlN 0.18μm Continuous Flow AlN 0.56μm Multilayer AlN Buffer (5-step) 3.8μm Al 0.76 Ga 0.24 N;Si 2.45μm Al 0.88 Ga 0.12 N;Si AlGaN Nucleation AlN layer (NH 3 Pulse Flow) Sapphire Sub. 刃状転位密度 : cm -2 従来の 1/100 に低減 5-Step Multilayer AlN Buffer 3.8μm Sapphire サファイア AlN 1μm 7

8 PL Intensity (arb. units) PL Intensity (arb.units) 低転位化による紫外発光の増強 λ=255nm 501arcsec 571arcsec λ=255nm (2007 年 ) arcsec AlGaN-QW arcsec FWHM of XRC (102) ω-scan Wavelength (nm) XRC(102)FWHM(arcsec) 刃状転位密度 : cm cm -2 発光強度 IQEの増加 : 2 桁程度増加 : 従来 <0.5% 50% (AlGaN-QW) 80% (InAlGaN-QW) 8

9 EL Intensity (arb.units) Output Power (mw) EQE (%) MQB による電子注入効率の向上 Ni/Au Ni/Au Electrode GaN;Mg(60nm) Al 0.77 Ga 0.23 N;Mg (25nm) Al 0.95 Ga N;Mg/ Al 0.77 Ga 0.23 N;Mg 6-layer Multiquantum Barrier (MQB) AlGaN-MQW および MQB の断面 TEM 像 Al 0.77 Ga 0.23 N;Mg (25nm) Multi-Layer (ML) AlN Buffer Sapphire Sub. Al 0.62 Ga 0.38 N(1.5nm)/ Al 0.77 Ga 0.23 N(6nm) 3-layer MQW Emitting Layer n-al 0.77 Ga 0.23 N;Si 100nm H. Hirayama et al, Appl. Phys. Express, 3, (2010). messured at cw 20mA 8 UV Output 6 MQB 1.5 EQE=1.8% MQB MQB 247nm 4 2 Single-EBL 倍 Single-EBL Wavelength (nm) Current (ma) Current (%) MQB を用いることで電子注入効率が 20% 80% に増加 9

10 Normalized Intensity 短波長 高効率紫外 LED の実現 Ni/Au n 電極 実用レベルDUV-LED( 波長 : nm) AlGaN-LED 多重 AlN バッファー層 (NH 3 パルス供給成長法 ) サファイア基板 Ni/Au p 電極 p-gan;mg コンタクト層 p-al 0.77 Ga 0.23 N;Mg Al 0.95 Ga 0.05 N;Mg(4nm)/ Al 0.77 Ga 0.23 N;Mg(2nm) 5 層多重量子障壁電子ブロック層 Al 0.77 Ga 0.23 N;Mg Al 0.62 Ga 0.38 N(1.5nm)/ Al 0.77 Ga 0.23 N(6nm) 3 層量子井戸発光層 n-al 0.77 Ga 0.23 N;Si バッファー層 UV 放射出力 AlGaN-QW DUV LEDs 222nm Pulsed 227nm Pulsed 234nm CW 240nm CW 248nm CW 255nm CW 261nm CW InAlGaN-QW DUV LED 282nm CW 342nm CW 351nm CW Measured at RT Wavelength (nm) 殺菌用波長で 30mW 級の LED を実現 (2007 年, 朝日新聞 2010 年, 毎日新聞などに掲載 ) 10

11 Voltage (V) EL intensity (a.u.) Output power (mw) 殺菌用 270nm UVC-LED モジュール 商品化 2014 年 =273nm at 20mA DC RT Current (ma) Wavelength (nm) 0 波長 :273nm 出力 >10mW EQE=2.6% 素子寿命 :~10000 時間 11

12 12 紫外 LED 照射の例 UV (λ=260nm) 大腸菌 99.9% 除菌 UVC 光がバクテリア ウィルスの DNA を破壊 増殖を防止.

13 投入電力 電圧効率 80% 内部量子効率 <60% 光取出し効率 <6% 光出力 : 2~3% 投入電力 電圧効率 80% 内部量子効率 70% 光取出し効率 70% 光出力 : 30~40% 13 光取出し効率向上の重要性 現在の深紫外 LED 将来の目標 損失 ( 発熱 )>98% 光出力 10W に対し 500W 以上の損失 電力損失 1/30 へ 損失 ( 発熱 )~60% 光出力 10W に対し 15W の損失

14 光取出し効率の高効率化の構想 光吸収コンタクト層 吸収コンタクト層 透明コンタクト層 + 高反射電極 + 縦光取出し構造 高反射フォトニック結晶透明コンタクト層 目標 発光層 AlGaN/AlN バッファー層 光散乱構造 サファイア基板 ピラー光取出し構造 LEE=4~8% LEE=12% LEE=25% LEE=35% LEE=74% 素子の透明化 高反射光帰還 ピラー光取出し の 3 つの相乗効果で 10 倍の光取出し 14

15 15 2 タイプのフリップチップ深紫外 LED FC-A 提供 :DOWA エレクトロニクス社 p-gan + Ni/Au EQE=3.2%, 50mW at 350mA, 6.5V Large FC : mm レンズ接合のためのフリップチップ (FC) ホルダー FC-B p-algan + Rh HR electrode EQE=15%, 13mW at 20mA, 9.1V Small FC : mm

16 16 レンズ接合による高効率化 1Cytop S レンズ ( 旭硝子社 ) Cytop S ペレットで接合 2 サファイアレンズ (φ3.2mm) Cytop A( 液体 ) で接着 (φ3mm) FC-A + lens Cytop S ( 旭硝子社 ) フッ素系樹脂 UVC に光に耐性あり n=1.34 ( サファイア : n=1.83) FC-B + lens

17 FC-A と FC-B の特性比較 V-I Current I (ma) Output Power L (mw) I-L P-AlGaN+lens P-AlGaN P-GaN +lens P-GaN 10 P-AlGaN EQE η eqe (%) Voltage V (V) EQE WPE η wpe (%) 10 5 Current I (ma) WPE EQE max =20.1% WPE max =10.8% Current I (ma) Current I (ma) p-algan コンタクト LED で動作電圧は増加 (5.5V 9.1V). LEE は p-algan コンタクト LED の方が 3.5 倍向上した レンズ効果で 倍効率が向上した EQE は 3.5 倍 WPE は 2.1 倍 p-algan コンタクト LED で向上した 17

18 外部量子効率 世界最高 EQE:20.3% の実現 AlN/AlGaN GaN/InGaN RIKEN UVC-LED (2017) Springer III-Nitride Ultraviolet Emitters, Michael Kneissl et al

19 Wall Plug Efficiency (WPE) (%) 19 電力変換効率で世界トップを実現 Wall Plug Efficiency of UV LED 10 RIKEN;10.8% 5 RIKEN-DOWA DOWA Nikkiso Nichia LG Innotek Seoul Biosys Crystal IS Tokuyama Wavelength(nm)

20 ωa/2πc ρ(ω) 反射フォトニック結晶で LEE 向上 発光層 横方向ブラッグ条件式 m λ/n eff =2a sinθ λ/2n eff (m: 次数 λ: 波長 n eff : 実効屈折率 a: 周期 ) PhC 垂直共振条件発光層からの距離 =λ/2n eff を満たすとき 垂直放射が得られる TE 光 2D フォトニックバンド構造 フォトニックバンドギャップ 光子の状態密度 ωa/2πc Γ M K Ka/2π Γ R/a=0.20 R/a=

21 反射フォトニック結晶 LED (HR > 90%) E-field mapping (FDTD) w/o PhC with PhC n-algan Buffer QW Emitter Flat p-algan n-algan Buffer QW Emitter p-algan PhC フォトニック結晶 (PhC) と金属の反射率比較 p-algan PhC( ほぼ完全反射 ) R >90% HR p-electrode Ni(1nm)/Al R~70% Rh(rodium) R~70% PhCで高い光取り出しが得られる 21

22 22 ナノインプリントを用いた PhC の作製 ナノインプリント ICP ドライエッチング クリーニング周期 : 280nm, 深さ : 85nm 低ダメージエッチングが特に重要 クリーニング後 傾斜蒸着法による電極形成 (Ni Rh)

23 Output power[mw] EQE[%] Intensity[a.u.] 反射 PhC を用いた UVC LED 200nm 3QW Emitter MQB-EBL w/o PhC HR electrode (80%) emission p-algan Contact Layer MQB EBL MQW n-algan AlN Buffer Sapphire Substrate with PhC emission Ni/Mg HR Electrode(80%) vs PhC with PhC w/o PhC Current[mA] Current[mA] 反射 PhC を用いた UVC LED で LEE の向上を確認 (EQE=10%) w/o PhC 283nm 20mA RT with PhC Wavelength[nm] 23

24 24 反射フォトニック結晶で高効率化 p-electrode: Ni(R=25%) vs Ni/Mg(R=80%) EQE= 10% Ni/Mg (R=80%) +PhC EQE= 8% Ni/Mg (R=80%) EQE= 6% Ni (R=25%) +PhC 反射 PhC で 90% 以上の高い実効反射率を確認 EQE= 4.8% Ni (R=25%)

25 p-gan+ 反射 PhC( 低電圧動作 ) TEM 断面観察 ベアウエア計測 R/a=0.32 残膜 :5.48nm プロセス 12インチサファイア基板に結晶成長 2p 型 GaNコンタクト層に二層レジストコート 3ナノインプリントでPhCパターニング 4ICPドライエッチングでwith/wo PhCを形成 5レジスト剥離 洗浄 6 斜め蒸着電極形成 7ベアウエハ状態で測定 25 25

26 26 p-gan+ 反射 PhC( 低電圧動作 ) p-gan 反射フォトニック結晶の効果 *I-V 特性低電圧駆動を維持 *I-EQE 特性 LEE は 1.75 倍向上した

27 駆動電圧比較 立ち上がり電圧 : 約 20V ベアウェファーチェック 立ち上がり電圧 : 約 10V ベアウェファーチェック p 型 GaN コンタクト LED で駆動電圧が低い PhC 有りで駆動電圧の上昇がない 27

28 28 AlGaN 系深紫外 LED の開発 ( まとめ ) 高品質 AlN 結晶による高い発光効率を実現 高い電子注入効率を実現 光取出し効率を向上世界最高効率 EQE:20.3% WPE:10.8% の殺菌用 LED を実現 反射フォトニック結晶でさらなる高効率化 ( 今後の展望 ) 光取出し効率の向上とともに効率 30~40% の実現が期待される 殺菌 医療などの広範な応用に大きな期待

29 29 実用化に向けた課題 反射 PhCによる光取り出し効率 (LEE) の向上の実証 透明コンタクト層 高反射電極 PSS 反射フォトニック結晶 サファイア基板リフトオフと複合効果でLEEをさらに向上 反射 PhC/ 電極間のコンタクト抵抗の低減による動作電圧の低減 素子の信頼性の向上

30 30 企業への期待 深紫外 LEDの未解決課題 ( 光取り出し向上 動作電圧低減 素子の信頼性の向上 ) に向け 結晶成長を含めた総合的な開発で共同研究を行ってくれる企業を募集しております

31 31 本技術に関する知的財産権 発明の名称 : 深紫外 LED 及びその製造 方法 出願番号 出願人 : 特許第 号 : 理研 丸文 東芝機械 東京応化 アルバック 産総研 代表発明者 : 平山秀樹

32 32 お問い合わせ先 国立研究開発法人理化学研究所 イノベーション事業本部 ライセンス部 実用化コーディネーター 半田敬信 TEL

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