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例 e 指数関数的に減衰する信号を h( a < + a a すると, それらのラプラス変換は, H ( ) { e } e インパルス応答が h( a < ( ただし a >, U( ) { } となるシステムにステップ信号 ( y( のラプラス変換 Y () は, Y ( ) H ( ) X (

Transcription:

フォトカソード レーザ光源パルスの 3D 整形技術と今後の展開 レーザパルス形状 (3 次元 ) の整形技術開発を中心として 冨沢宏光 (JASRI 加速器部門 ) 1 SPring-8 における RF 電子銃用レーザ光源開発の歴史 2 円筒型パルス形状レーザ源開発 レーザパルス形状の最適化トランスバース ( 空間 ) および時間プロファイル パルス計測技術と最適化フィードバック 3 3 次元円筒型パルス整形のまとめ 4 レーザ光源の干渉性を利用するか殺すか? Z 偏光レーザ源開発と平面レーザ電界放出型電子銃 ファイバーバンドル整形とラジアル偏光利用

SPring-8 RF 電子銃の歴史 1996 Study of photocathode RF guns started for the next generation photon source 1999 First beam test with YLF laser system 2001 New Ti:Sapphire laser system installed. 2002 Emittance 2.3 πmm mrad @0.1 nc (pulse width: 5 ps) with homogenizing in Spatial profile (using Microlens array) Cartridge type cathode development started. 2003 New gun & laser test room constructed and an accelerating structure installed. 2004 Maximum field of 190 MV/m at cathode Laser was stabilized with 0.2%(rms @0.3TW fundamental) for 1.5 Month (Laser Oscillator itself: 0.3% p-p for 4.5 months) 2006 3D-laser shaping system was completed.(pulse stacking rods) Emittance 1.4 πmm mrad @0.4 nc (pulse width: 10 ps) with 3D-Cillindlical laser pulse (Flattop SP (DM); Square TP (PS)) 2007 Axicon lens pair-hollow beam incidence system with 3Dlaser shaping was developed. Z-pol. gun was proposed.

フォトカソード RF 電子銃の開発の戦略地図 低エミッタンスビーム生成にはレーザ高度化 (3D パルス整形 ) が必須! RF 電子銃は その要素技術であるは その要素技術である光源光源 カソード RF 空胴と そこで生成された電子ビームの評価をするための極低エミッタンスの測定方法の開発が必要である の開発が必要である レーザ RF 空胴 カソード F: 環境の安定化 時 / 空プロファイル自動整形 P: 小型レーザ装置 & 最適整形テスト用 単空胴電子銃実用 RF 電子銃高安定 低 QE 金属カソード透過型 高 QE 半導体カソード RF 電子銃システム エミッタンス モニタ 極低エミッタンス測定方法の確立

実用に堪える高輝度電子源としてのフォトカソードには 今までのような瞬間風速値としての低エミッタンス競争は改めるべきで 電子生成のメカニズムの解明から根本的な考察をすべきである 1 フォトカソード用レーザ光源パルスは常に再現できること 2 光電効果には干渉性のあるレーザ光源は最適? 3 カソードでの光電効果の正確な物理モデルの構築 レーザパルス形状は電子ビームバンチ形状ではないカソードの応答性とスペックルの影響を考察すべき カソードの物理の理解なくして 初期条件が決定するわけもなく 現状でシミュレーションと一致するほうがおかしい ( シミュレーションの収束の問題とは別に ) 4 カソード レーザ光源 RF 空胴を正確な物理的な知見から融合的に最適化すべきと思う

SPring-8 RF 電子銃用レーザ源の構成 790 nm 4nJ 20 fs 790 nm 300 ps DAZZLER 790 nm 2790 mjnm 300 2mJps 300 ps 790 nm 30 mj 790 300 nm ps 40 mj 300 ps 790 nm 790 20 mj nm 20 mj 50 40 fs fs 263 263 nm nm 850 200 uj μj 60 1-20 fsps Mode-locked Ti:Sapphire oscillator Stretcher Regeneration amplifier Multipass amplifier Compressor THG + Stretcher 532 nm 5W(CW ) Diode-pumped Frequency-doubled Nd:YVO4 Laser 40 mj 532 nm Q-Switched Frequency-doubled Nd:YAG Laser 140 mj 時間プロファイル整形 : 石英ロッドStretcher or SLM 空間プロファイル整形 : Microlens array or DM 10-20 ps

円筒型レーザパルス整形システム UV- Laser source (total stability!) Laser Pulse Energy : 1.4% @THG Pointing Stability & Reproducible Timing Jitter < 1 ps Temporal Profile: Pulse duration: 2.5 ~ 20 ps Spatial Profile: Distribution: Flattop Deformable Mirror Gaussian UV- Pulse Stacker Pulse duration: 2.5 ps Pulse duration: 10 ps Diameter:1 mm DAZZLER Pulse Stacker 10 pps Deformable Mirror Deformable Mirror Flattop Streak Image of stacked pulses Pulse Stacker (3 stages)

3 次元的レーザパルス整形システム DAZZLER: micro pulse shaping THG UV-Pulse Stacker: macro pulse shaping Deformable mirror: transverse shaping Normal incidence to the cathode

レーザ源の安定化 重要性 信頼性のある実験データを得るために 営業運転を行なう加速器用として 不安定要因と対策 オシレータの光共振器長 ( 光路長 ) の変化 レーザ用励起光源のレーザ結晶照射位置の変化 増幅器種光の入射軸変化 環境安定化および機械的安定性 ( 耐温度 耐振動 ) の向上オシレータのフィードバック制御 ミラー等光学素子特性の経年変化 結晶等の埃の焼き付きを防ぐため 加湿による帯電防止

マルチバンチ対応可能な時間プロファイルの整形 石英ロッドによる紫外レーザのパルス伸長 入射したレーザパルスのスペクトルが まず石英の非線形分散効果により広帯域化し 石英ロッドの長さに比例して伝搬中にパルス幅は伸びる レーザのエネルギーによってパルス長が異なる パルス長はパルス エネルギー依存 時間プロファイル形状の調整不可 石英板空間位相変調器を用いる方法 レーザパルスのスペクトルに位相変調を与え パルス波形を自由に制御 紫外レーザには非実用的 赤外レーザに有効 レーザパワーを 20% しか利用できず 高効率高調波発生器が必要 UV-Laser Fluence [uj/cm2] パルススタッカーを用いる方法 短パルスを次々に連ねて長いパルスを合成する方法 パルススタッカー以降のパルス伸長を考慮した短パルスの生成が難しい 調整は難しいが 現状では矩形レーザパルスを生成する唯一の実用的方法

時間プロファイル整形用 SLM 比較 ~ どれもリフレッシュが必要 ~ Maker name Cyber Laser Inc. CRI Meadlark Jenoptik Hamamatsu FASTLITE Product name SP8 test-slm SLM-128 SSP -256 - λ SLM640/12 X8267 T-UV200-300 wavelength 200 nm~ limited by gratings & optics 400 nm~ 400 nm~ 400 nm~ 350 nm~ 200~300nm transparency 99% 94% 90% 95% 90% (Reflective) 50% Total efficiency (0.1 nm/pixel) 20% in IR depends on input bandwidth (20 nm) ~ 40% in IR depends on input bandwidth (20 nm) ~ 70% in IR input bandwidth (< 26nm) ~ 70% in IR input bandwidth (< 64 nm) ~ 70% in IR input bandwidth (< 100 nm) 30-50% in UV depends on shaping Damage threshold for amplified pulses (10 Hz) 1TW/cm 2 (100mJ/pulse) 500MW/cm 2 (50μJ/ pulse) 500MW/cm 2 (50μJ/ pulse) 2 GW/cm 2 (100μJ/ pulse) 2GW/cm 2 (200μJ/ pulse) 1GW/cm 2 (100μJ/ pulse) Operating speed 50ms 100 ms 100 ms 100 ms 500 ms 0.04ms Pixel number 48 128 256 640 1024 None (No dead space) Others Whole system is packaged Only SLM Only SLM Only SLM Only SLM Whole system is packaged Fused silica type: Mechanical control Liquid crystal type Electrical addressed type AOPDF type

チャープパルス スタッキング法 カソード面で 2.5ps パルスになるよう最適のパルス長を選ぶ IN : 2 ps λ/2 Plate Pulse Doubler Unit S ( パルススタッカ及び輸送路でパルス伸長が起こるため ) S P S P S P P S 波と P 波を交互に並べることにより 相互の干渉を防いでいる S P S P S P S P OUT : 20 ps 20 ps

UV レーザパルス (THG) の 3 次元形状 Flattop : φ0.8 mm Square pulse:10~20ps Deformable Mirror Pulse Stacker : 3 stages for 20 ps 2 stages for 10 ps

パルススタッカ法 - 結果 パルススタッカの調整 マイクロパルスが カソード面で2.5psのパルス幅になるよう DAZZLER で最適なチャープ量を与えた (DAZZLERでは微調設定が可能!) パルススタッカの調整は 直接電子ビームを観測して行った レーザ入射位相をビームエネルギー分散が大きくなる位相に調整し エネルギー分布から時間プロファイルを観る 結果ほぼ理想的な矩形状の時間プロファイルを得ることに成功 パルススタッカ調整中の電子ビームエネルギースペクトル 左 : 分離しているマイクロパルス右 : マイクロパルスが重なって一つのパルスになる

SPring-8 RF 電子銃 - 超低エミッタンスへ Normalized Emittance [π mm mrad] 10 8 6 4 2 0 X エミッタンスの測定結果 10ps 15ps ビーム :26MeV DM によるプロファイル整形パルススタッカによる時間方向整形 20ps 0 0.2 0.4 0.6 0.8 1 1.2 1.4 Charge/Bunch [nc] ビーム :3.1MeV マイクロレンズアレイによるプロファイル整形時間方向の整形なし (5ps 固定 ) 理想に近いレーザパルス形状安定なレーザ源

パルス スタッキングロッド方式 Oscillator Dazzler 出願番号 : 特願 2007 197232 発明者 : 冨澤宏光 (JASRI) Stretcher Amplifier Compressor THG Pulse stacker UV-pulse stacking rods 45 α-bbo UV-pulse stacking rods S P S P S P S P S P S P S P 20 ps 2.5 ps 20 mm ±0.1mm (10 ps ±50 fs) Angle of 70.37 rotation 10 mm ±0.1mm (5 ps ±50 fs) 35.19 5 mm ±0.1mm (2.5 ps ±50 fs) 17.6

UV パルス形状の計測 フィードバックへ Oscillator Dazzler UV- & IR-DAZZLER feedback sys. Stretcher Amplifier Compressor THG Pulse stacker AOPDF SPIDER Feedback loop with Single-shot pulse characterization Courtesy of Fastlite

まとめ 超低エミッタンスビーム生成を目指してレーザ源の改良を行った レーザパルス 3 次元形状の最適化非線形空間電荷効果の少ない ほぼ均一で対称な円筒形状ビームを世界で始めて実現した トランスバースプロファイル整形 : 可変形補償ミラー時間プロファイル整形 : パルススタッカ X エミッタンスは 2πmm mrad@1nc を達成 しかし Y エミッタンスは 1.5 倍ほど大きい 現在 原因調査中 レーザ源の長期安定化環境安定化および機械的安定性 ( 耐温度 耐振動 ) の向上 オシレータのフィードバック制御により 10 ヶ月以上の連続運転達成 これにより テラワット級レーザ源を加速器用として実用運転する見通しが立った

さらなるフォトカソード発展のために レーザような干渉性光源は光電効果に必要は本来ないはず 光源としてはランプでもいいが 短パルス電子ビーム生成とワーキング ディスタンスを長くとる要請のためにレーザ光源を用いていると言える 今一度 コヒーレント光源使用の功罪を再考をすべきである 1 レーザ光のカソード面でのスペックルは熱エミッタンスを悪化しないか? 短時間に変動すれば縦方向エミッタンスへの影響がないだろうか? スペックルキラーの必要性 ~ 皆さんも考えてみましょう ~ ファイバーバンドル整形法 2 レーザ光がコヒーレント光源であることを逆に積極的に利用できないか? 今のフォトカソード光源の使い方はレーザを有効利用しているのか? レーザ電場の積極的利用 Z 偏光 ( 極 ) 電子銃は可能?

ファイバーバンドル整形技術 UV ファイバーバンドルによる時 空間同時プロファイル整形 ~~ エリプソイド整形 ~~ Ellipsoid ケーブルストランドマイクロレンズ アレイ石英ファイバーバンドル

エリプソイド形状の整形実証試験 公開番号 : 特開 2007 249059 発明の名称 : 光強度分布整形装置発明者 : 冨澤宏光 (JASRI) 佐々部順 ( 浜松ホトニクス ) Profile Data PC PC for control Deformable mirror and Evaluate resulting Laser Profile CCD sensor (LBA-PC) Fiber Bundle (0.5~1m) Lens Laser Light source (THG: 263nm) Deformable mirror

Water bag: Luiten スキーム ( エリプソイドの発展系?) フェムト秒レーザでのエリプソイドビーム生成 : フォトカソード 自動的に 3 次元的に均一なエリプソイド形状のバンチに成長 Luiten, How to realize uniform 3-dimensional ellipsoidal electron bunches, Phys. Rev. Letters 93, 094802 (2004) Laser: 100 fs with parabolic transverse distribution with 1 mm radius Cornell DC gun with 500 kv, peak 5MV/m Bazarov, PRST-AB 8, 034202 (2005)

Z 偏光電子銃試験装置

ホロー集光レンズ微調ホルダー ( 真空仕様 ) Focusing hollow lens holder: NA= 0.1 Hollow lens position adjustment knob

ホローミラーホルダーチェンバー Hollow mirror holder (φ=20 mm) Axicon lens pair (λ/20)

分割位相板によるラジアル偏光生成 laser 分割波長板 直線偏光 ラジアル偏光 Z 偏光レーザ高電界を利用した超コンパクト マルチバンチ フォトカソード電子銃の可能性 出願番号 : 特願 2007 133183 発明の名称 : 電子銃 電子発生方法 および偏光制御素子発明者 : 冨澤宏光 (JASRI) 小林実 ( ナノフォトン )

ラジアル偏光ビームの集光 直線偏光 ラジアル偏光 y y z z 焦点において光軸方向の電場成分が強めあう

各種金属カソードの仕事関数の電気陰性度依存性 1GV/m の電場が焦点で生じると 仕事関数 ~2eV 程度を下げることが可能 Oscillator でも Z 偏極レーザ電場で 金属カソードの仕事関数を ~2 ev 程度を下げることが可能!?

各種金属カソードの反射率の波長依存性

円環レーザビームへの変換はアキシコンレンズで行う ここは超高真空中 フォトカソード面 入射レーザ偏光の方向 円環レーザビーム

分割波長板方式の分割数依存性 スケールバーは 790nm で 7.5μm (NA=0.1; Flattop) 分割波長板を用いてレーザを集光した場合の 焦点近傍の電場強度 E 2 の分布 (a)2 分割 (b)4 分割 (c)8 分割 (d)16 分割 (e)32 分割 (f) 完全なラジアル偏光の場合

焦点位置での Z 偏光強度の円環比率依存性率 (Gaussian incidence) Comparison Z-polarization field dependency of R1/R0 ratio between Axicon lens pair (hollow beam generator) & simply masking central region(r1): The former is much efficient to convert to hollow beam.

ラジアルおよびアジマス偏光の生成 laser ZPol TM 直線偏光 ラジアル偏光 (Z: 最大 ) ZPol TM laser 直線偏光 アジマス偏光 (Z: ゼロ )

平面レーザ電界放出型電子銃 透過型カソード式 反射型カソード式 Z 偏光強度は波長 λ の 2 乗に反比例 Z 偏光強度はレンズの NA のほぼ 4 乗に比例 ( 焦点距離の 4 乗に反比例 )

まとめと考察 フォトカソード表面において表面に垂直な電場を発生させることにより 実効的な仕事関数を下げ 従来よりも長い波長のレーザで金属カソードをドライブできる 例えば 銅カソードにおいては従来 288nm よりも短い波長の光源が必要であったが この電子銃では倍波 (395nm) を光源に用いることができる また ダイアモンドを材料に用いたフォトカソードにおいては従来 226nm よりも短い波長の光源が必要であったが 3 倍波 (263nm) で可能 実際には 1GV/m 以上が必要 計算結果から円環ラジアル偏光レーザ (NA=0.15 60-% hollow ratio, inside-out Gaussian beam) を集光する場合 基本波で 1.3 MW 倍波で 0.32 MW のピーク強度で 1GV/m の電場が焦点で生じ 実効的な仕事関数 ~2eV 程度を下げることができる