Microsoft PowerPoint - SISSセミナー2013.ppt [互換モード]

Microsoft PowerPoint - SISS SIMS基礎講座 D-SIMS.ppt [互換モード]

SIMS 基礎講座 D-SIMS( ダイナミック SIMS) について 2016 年 7 月 20 日 アメテック ( 株 ) カメカ事業部三輪司郎 内容 1. D-SIMSとは? (Static SIMSとの違い 応用分野 ) 2. D-SIMS 装置の構成 簡単な構造 原理 ( 質量分析計 イオン源 ) 3. 応用例 4. まとめ 内容 1. D-SIMSとは? (Static SIMSとの違い

Title

SIMS のアーティファクトについて ナノサイエンス株式会社 永山進 1 artifact( アーティファクト ) とは? 辞書を調べると Artifact ( 考古学 ), 人工品 人工遺物 ( 先史時代の単純な器物 宝石 武器など ) 出土品 Artifact ( 技術的なエラー ), 技術的な側面から入り込むデーターにおける望ましくない変化 ( 測定や解析の段階で発生したデータのエラーや解析のゆがみ

化学結合が推定できる表面分析　Ｘ線光電子分光法

1/6 ページ ユニケミー技報記事抜粋 No.39 p1 (2004) 化学結合が推定できる表面分析 X 線光電子分光法 加藤鉄也 ( 技術部試験一課主任 ) 1. X 線光電子分光法 (X-ray Photoelectron Spectroscopy:XPS) とは物質に X 線を照射すると 物質からは X 線との相互作用により光電子 オージェ電子 特性 X 線などが発生する X 線光電子分光法ではこのうち物質極表層から発生した光電子

125L/s エクセルポンプ 仕様 質量約 48kg 注 1 ご使用になる制御装置により 表中の値が変わりますので御注意ください 尚 本仕様は制御装置に PIC-052NP を使用した場合を示します 名称ノーブルポンプ用小型制御装置制御装置注 2 ポンプの履歴及び被排気系の構成 容積などにより表中の

エクセルポンプ 極高真空対応スパッタイオンポンプ 概要 近年 加速器分野や半導体の量子効果素子 単原子操作 などの先端分野で 小型でかつ極高真空 XHV 領域にお いて高い排気能力を有するスパッタイオンポンプの要求が高 まっています エクセルポンプは 低い圧力領域での放電特性を改良した 新開発のノーブル素子を用いると共に効率の良いベーキング を行えるビルトインヒーター オプション の採用や NEG

G-COE　ものづくり講習会応用編　真空漏れ試験

G-COE ものづくり講習会応用編真空技術の基礎と真空漏れ試験 第二装置開発室河合利秀 1 概要 真空技術は大学で行う実験の基本的な技術の一つとして重要である 真空技術は以下に示す三要素で構成されている 1 真空を止める技術 ( 溶接やシール ) 技術 2 真空測定技術 3 真空洩れ試験今回は He リークディテクタを使った真空漏れ試験と 真空排気台 & 真空計を使った真空洩れ試験を 実習形式で行う

Xamﾃｽﾄ作成用ﾃﾝﾌﾟﾚｰﾄ

気体の性質 1 1990 年度本試験化学第 2 問 問 1 次の問い (a b) に答えよ a 一定質量の理想気体の温度を T 1 [K] または T 2 [K] に保ったまま, 圧力 P を変える このときの気体の体積 V[L] と圧力 P[atm] との関係を表すグラフとして, 最も適当なものを, 次の1~6のうちから一つ選べ ただし,T 1 >T 2 とする b 理想気体 1mol がある 圧力を

PowerPoint プレゼンテーション

PDD 検出器の直線性 ジーエルサイエンス株式会社 応用技術部 菅野了一 パルス放電型光イオン化検出器 Valco PDD (Pulsed Discharge Photo-Ionization Detector) ヘリウムガスのパルス放電によって得られる光量子 (Photon) をイオン化のエネルギー源とした検出器です PDD 検出器の構造 放電ガス入口 光量子を放出 放電 He Pt を先端に付けた放電電極を持つ石英の円筒

スライド 0

Copyright 2013 Oki Engineering Co., Ltd. All rights reserved 2013 OEG セミナー 硫黄系アウトガスによる電子機器の障害事例 身近に潜む腐蝕原因ガス 2013 年 7 月 9 日 環境事業部 鈴木康之 Copyright 2013 Oki Engineering Co., Ltd. All rights reserved 2 目次 1.

TURBOVAC i ターボ分子ポンプ

TURBOVAC i ターボ分子ポンプ 真空性能の大きな飛躍 今までプロセスを改善することは容易なことではありませんでした TURBOVAC (T) 350 iおよび450 iは排気時間 圧力とガスフローの最適化に対してお客様の要求に確実に応えます 最新のローター設計とドラッグステージにより ISO 100と160のフランジサイズにおいて最高の排気性能を発揮します 柔軟性あるローターのみでなく 最新のドラッグステージのデザインはお客様にとっての基準となり

F 1 2 dc dz ( V V V sin t 2 S DC AC ) 1 2 dc dc 1 dc {( VS VDC ) VAC} ( VS VDC ) VAC sin t VAC cos 2 t (3.2.2) 2 dz 2 dz 4 dz 静電気力には (3.2.2) 式の右

3-2 ケルビンプローブフォース顕微鏡による仕事関数の定量測定 3-2-1 KFM の測定原理ケルビンプローブフォース顕微鏡 (Kelvin Force Microscopy: KFM) は ケルビン法という測定技術を AFM に応用した計測手法で 静電気力によるプローブ振動の計測を利用して プローブとサンプルの仕事関数差を測定するプローブ顕微鏡の手法である 仕事関数というのは 金属の表面から電子を無限遠まで取り出すのに必要なエネルギーであり

<4D F736F F D C82532D E8B5A95F18CB48D655F5F8E878A4F90FC C2E646F63>

技術紹介 6. イオンビームスパッタリング法によるエキシマレーザ光学系用フッ化物薄膜の開発 Development of fluoride coatings by Ion Beam Sputtering Method for Excimer Lasers Toshiya Yoshida Keiji Nishimoto Kazuyuki Etoh Keywords: Ion beam sputtering

スライド 1

コンビができる, 小さい, 高機能, 完全 PC 制御 モバイルコンビレーザー MBE 装置 MC-LMBE 特長 操作性の高いコンパクトな超高真空レーザー MBE(PLD) システム 到達真空度 : 6.7 10-7 Pa (5 10-9 Torr) 以下 モーター駆動コンビナトリアルマスクを2 枚を装着 1200 まで加熱可能な半導体レーザー基板加熱ユニット 6 種類のターゲットが使用可 スキャニングRHEEDを標準装備

タイトル→○○○○○○○○○○○○○○○○○○○○○○○○

走査プローブ顕微鏡 所属ナノスケール物性研究部門 発表者浜田雅之 mahamada@issp.u-tokyo.ac.jp 私は ナノスケール物性研究部門 長谷川研究室で業務を行っている 主な業務としては 原子間力顕微鏡 (A FM) や走査トンネル顕微鏡 (STM) の維持管理 新しい手法の開発である 以下にそれらについて報告する 1. はじめに 走査トンネル顕微鏡 (STM) 原子間力顕微鏡 (AFM)

本日の内容 HbA1c 測定方法別原理と特徴 HPLC 法 免疫法 酵素法 原理差による測定値の乖離要因

HbA1c 測定系について ~ 原理と特徴 ~ 一般社団法人日本臨床検査薬協会 技術運営委員会副委員長 安部正義 本日の内容 HbA1c 測定方法別原理と特徴 HPLC 法 免疫法 酵素法 原理差による測定値の乖離要因 HPLC 法 HPLC 法原理 高速液体クロマトグラフィー 混合物の分析法の一つ 固体または液体の固定相 ( 吸着剤 ) 中で 液体または気体の移動相 ( 展開剤 ) に試料を加えて移動させ

富士時報　第82巻第5号(2009年9月)

Vol.82 No.5 2009 i Vol.82 No.5 2009 i Vol.82 No.5 2009 Vol.82 No.5 2009 Vol.82 No.5 2009 Vol.82 No.5 2009 i Vol.82 No.5 2009 Vol.82 No.5 2009 Vol.82 No.5 2009 Vol.82 No.5 2009 Vol.82 No.5 2009 Vol.82 No.5

マグネット ポンプ素子 吸入口フランジ 電流導入端子 ノーブルポンプ素子 連結線 ポンプ素子 イオンポンプ素子 第 1 図 イオンポンプ ノーブルポンプ外形 例 140L/s イオンポンプ 110L/s ノーブルポンプ 第 2 図 ポンプ素子 特長 1. 完全オイ

イオンポンプ ノーブルポンプ PIC-052B 小型制御装置 概要 イオンポンプ ノーブルポンプ エクセルポンプは 磁場中で冷陰極放電を起すことにより 電離された気体分子が陰極に埋め 込まれること また陰極との衝突の際の陰極材料 Ti をスパッタして 活性なゲッター膜を連続的に作ることを利用して排気 を行う超高真空ポンプです 油などの有機物を一切使用していないため 完全にオイルフリーな超高真空が得られます

アネルバ.indb

VACUUM COMPONENTS 2015 http://www.canon-anelva.co.jp ごあいさつ 真空応用技術の広がりとともに 真空機器 真空部品および材 料など多方面で活用され それらの種類ならびに構成部材も年々 増えております 弊社で開発 製造しております多彩な製品群 (Vacuum Components) に関して 一人でも多くのお客様にその全容を分りやすくご理解いただくため

1

問題を解こう. 熱力学の基礎 問題. 容積 [m ] の密閉容器内に 温度 0[ ] 質量 0[kg] の酸素が含まれている この容器内の圧力を求めよ ただし 酸素の気体定数を R= 59.8[J/kg K] とする 解答 酸素の体積 V=m 質量 m=0kg なので 酸素の比容積 v=/0 m /kg である 式 (.) において ガス定数 R=59.8 温度 T=(0+7)K であるので 圧力

Microsoft Word - プレリリース参考資料_ver８青柳（最終版）

別紙 : 参考資料 従来の深紫外 LED に比べ 1/5 以下の低コストでの製造を可能に 新縦型深紫外 LED Ref-V DUV LED の開発に成功 立命館大学総合科学技術研究機構の黒瀬範子研究員並びに青柳克信上席研究員は従来 の 1/5 以下のコストで製造を可能にする新しいタイプの縦型深紫外 LED(Ref-V DUV LED) の開発に成功した 1. コスト1/5 以下の深紫外 LED 1)

シンクロトロン光スペクトル 偏向電磁石による光の強度 およびアンジュレータ (APPLE-II 型,300 ma) 光の輝度 整備ビームライン仕様概要 1. 当初整備ビームライン一覧 ( 計算値 ) ビームライン名 測定手法 BL5S1 材料化学状態 構造分析 Ⅰ 硬 X 線 XAFS 蛍光分析 B

シンクロトロン光スペクトル 偏向電磁石による光の強度 およびアンジュレータ (APPLE-II 型,300 ma) 光の輝度 整備ビームライン仕様概要 1. 当初整備ビームライン一覧 ( 計算値 ) ビームライン名 測定手法 BL5S1 材料化学状態 構造分析 Ⅰ 硬 X 線 XAFS 蛍光分析 BL6N1 材料化学状態 構造分析 Ⅱ 軟 X 線 XAFS 真空紫外分光 BL7U 材料化学状態 構造分析

< F91E F1835C D835E815B8CA48B8689EF5F8FE396EC2E786477>

2011 年 5 月 20 日 第 4 回ソフトマター研究会 産業利用における GISAXS の活用 東レリサーチセンター構造化学研究部構造化学第 2 研究室岡田一幸 1. 小角 X 線散乱 ( 反射測定 ) 薄膜中のポア (Low-k 膜 ) 2.GISAXS による粒子サイズ評価 薄膜に析出した結晶 (High-k 膜 ) 3. ポリマーの秩序構造の評価 ブロックコポリマーの自己組織化過程 4.

e - カーボンブラック Pt 触媒 プロトン導電膜 H 2 厚さ = 数 10μm H + O 2 H 2 O 拡散層 触媒層 高分子 電解質 触媒層 拡散層 マイクロポーラス層 マイクロポーラス層 ガス拡散電極バイポーラープレート ガス拡散電極バイポーラープレート 1 1~ 50nm 0.1~1

Development History and Future Design of Reduction of Pt in Catalyst Layer and Improvement of Reliability for Polymer Electrolyte Fuel Cells 6-43 400-0021 Abstract 1 2008-2008 2015 2 1 1 2 2 10 50 1 5

エピウェハー　劈開方法

蒸着装置 EBH-6s 操作マニュアル 第 1 版 2017 年 10 月東京工業大学メカノマイクロプロセス室 担当 : 宗片研究室西沢, 内線 5178 nishizawa.n.ab@m.titech.ac.jp 危険 : 液体窒素を使用する際は装置に掲示されているマニュアルを熟読し 十分 に理解した上で使用する事!! 未経験者は必ず経験者と使用する事!! はじめに 本装置は拡散ポンプ EB(Electron

SP8WS

GIXS でみる 液晶ディスプレイ用配向膜 日産化学工業株式会社 電子材料研究所 酒井隆宏 石津谷正英 石井秀則 遠藤秀幸 ( 財 ) 高輝度光科学研究センター 利用研究促進部門 Ⅰ 小金澤智之 広沢一郎 背景 Ⅰ ~ LCD の表示品質 ~ 液晶ディスプレイ (LCD) 一方向に揃った ( 配向した ) 液晶分子を電圧により動かすことで表示 FF 液晶分子 液晶配向と表示品質 C 電極 液晶分子の配向が乱れると表示品質が悪化

EDS分析ってなんですか？どのようにすればうまく分析できますか？（EDS分析の基礎）

EDS 分析ってなんですか? どのようにすればうまく分析できますか?(EDS 分析の基礎 ) ブルカー エイエックスエス ( 株 ) 山崎巌 Innovation with Integrity 目次 1 SEM EDS とは 1-1 走査電子顕微鏡と X 線分析 1-2 微少領域の観察 分析 1-3 SEM で何がわかる 1-4 試料から出てくる情報 2 EDS でどうして元素がわかるの 2-1 X

目次 ODSA-P2 1.SGC センサガスクロについて 1)SGC の測定原理 2)SGC の特徴 3) 硫化水素定量方法 4) データ解析方法 p.3 2. 硫化水素測定器 ODSA - P 2の基本性能 1) 測定精度 2) 再現性 3) 硫化水素以外のガスの影響 p.6 3. 精度よい測定の

センサガスクロ Sensor Gas Chromatograph 硫化物測定器 ODSA-P2 Technical Information エフアイエス株式会社 目次 ODSA-P2 1.SGC センサガスクロについて 1)SGC の測定原理 2)SGC の特徴 3) 硫化水素定量方法 4) データ解析方法 p.3 2. 硫化水素測定器 ODSA - P 2の基本性能 1) 測定精度 2) 再現性

PowerPoint プレゼンテーション

1 2009825 2 / 180 160 140 120 100 80 60 40 20 2030 2006 45% 2006 61% CO223% 0 1980 1990 2000 2010 2020 2030 World Energy Outlook 2008, IEA CO2 / 800 700 600 500 400 300 200 100 0 2000 2020 2040 50 2060

講義 ppt

4.!"#$ $ "#"#$ %&"'(&#"#$ )&&$ "#"#$ *&&&"#"#$$$ +,&"#$ -,&&""# %!"!#"$"!#"!" " " " %&'()*+,*+-,-*++." /0/012/4567/#178&8,9#04#:5"" http://www.ltm.kyoto-u.ac.jp/lecturenote % $ $ $ $ $ $ $ $ $ $ $ v "

Introduction of Focused Ion Beam Time-of Flight Secondary Ion Mass Spectrometer

Laser-SNMS (FILMER) の技術情報 SIMS 研究会 7, 成蹊大学, 2016.07.20 株式会社トヤマ http://www.toyama-jp.com 柏木隆宏 石川丈晴 長嶋悟 山下智之 中川潤 竹中久貴 高野明雄 遠藤克己 E-mail; takano@toyama-jp.com 会社名 本社 工場 関西営業所 代表者 会社設立 株式会社トヤマ 258-0112 神奈川県足柄上郡山北町岸

また単分子層吸着量は S をすべて加えればよく N m = S (1.5) となる ここで計算を簡単にするために次のような仮定をする 2 層目以上に吸着した分子の吸着エネルギーは潜熱に等しい したがって Q = Q L ( 2) (1.6) また 2 層目以上では吸着に与える表面固体の影響は小さく

BET 法による表面積測定について 1. 理論編ここでは吸着等温線を利用した表面積の測定法 特に Brunauer,Emmett Teller による BET 吸着理論について述べる この方法での表面積測定は 気体を物質表面に吸着させた場合 表面を 1 層覆い尽くすのにどれほどの物質量が必要か を調べるものである 吸着させる気体分子が 1 個あたりに占める表面積をあらかじめ知っていれば これによって固体の表面積を求めることができる

QOBU1011_40.pdf

印字データ名 ＱＯＢＵ1 0 1 1 (1165) コメント 研究紹介 片山 作成日時 07.10.04 19:33 図 2 (a )センサー素子の外観 (b )センサー基板 色の濃い部分が Pt 形電極 幅 50μm, 間隔 50μm (c ),(d )単層ナノ チューブ薄膜の SEM 像 (c )Al O 基板上, (d )Pt 電極との境 界 熱 CVD 条件 触媒金属 Fe(0.5nm)/Al(5nm)

03J_sources.key

Radiation Detection & Measurement (1) (2) (3) (4)1 MeV ( ) 10 9 m 10 7 m 10 10 m < 10 18 m X 10 15 m 10 15 m ......... (isotope)...... (isotone)......... (isobar) 1 1 1 0 1 2 1 2 3 99.985% 0.015% ~0% E

ビジネスグリッドコンピューティングプロジェクト 事後評価の概要について

第 1 回 高度分析機器開発実用化プロジェクト事後評価検討会資料 5 ー 2 表面微量分析用の高感度 3 次元質量分析装置開発の概要について 開発装置名 : 表面微量分析用高感度 3D-TOF 質量分析装置 平成 21 年 10 月 6 日 アルバック ファイ ( 株 ) 目次 1. プロジェクトの概要 2. 目的 政策的位置付け 3. 目標 4. 成果 目標の達成度 5. 事業化 波及効果 6.

untitled

JAIMA 2008 9 3 13:0017:30 201 XPS AES 13001310 13101340 13401410 14101440 14401510 15101520 15201540 15401620 16201700 17001720 17201730 TDK -94- KK X X AlK1486.6eV 0.85eV MgK1253.6eV 0.7eV -95- 20eV2,500eV

スライド 0

2016 OEG セミナー 樹脂の劣化度合および劣化原因解析 2016 年 7 月 12 日 環境事業部調査分析グループ 征矢健司 Copyright 2016 Oki Engineering Co., Ltd. 目次 1. 樹脂関連解析お問合せ状況 2.FT-IRとは 測定と解析原理 FT-IRの紹介一般的な解析事例 ゴムの定性解析 積層構造の解析 マッピング解析 プラスチック製品の変色原因解析

HIGIS 3/ﾌﾟﾚｾﾞﾝﾃｰｼｮﾝ資料/J_GrayA.ppt

Static SIMS SIMS 研究会 7 2016.07.20 成蹊大学 応用技術部東京応用技術一課伊澤智香 SIMS の基本原理 一次ビームイオンビーム (Ga + Au n+ Bi n+ O 2+ Cs + Ar + Xe +...) 加速電圧 :5-25 kev 固体内での衝突カスケード (Collision cascade) 二次粒子 中性粒子 電子 二次イオン (+/-) Dynamic

Section Section JIS VF ブランクフランジ JIS VF / VG 規格 特徴 エラストマー製 O リングを使用して 向かい合わせた 2 種類の JIS フランジ ( 溝なし VF フランジと溝付き VG フランジ ) で挟み込み 外側からボルトで締め付けることに

3.1 3.1 JIS VF ブランク JIS VF / VG 規格 エラストマー製 を使用して 向かい合わせた 2 種類の JIS ( 溝なし VF と溝付き VG ) で挟み込み 外側からボルトで締め付けることにより気密性を確保する方法です VF / VG 10 ~ VF / VG 300 までを標準規格化しております それぞれ ブランク 及び規格パイプ接続用の穴あきを取り揃えております また

NW / KF センターリング NW / KF アウターリング付きセンターリング NW25CRSVO 材質規格サイズ A B E 型式製品コード インナーリング : O リング : バイトン アウターリング : NW / KF 変換センターリング NW / KF 16

1.1. 1.2 チェーンクランプ ( スイス EVAC 社製品 ) NW / KF 規格 複数のリンクで力を分散し 均一に締めこむことにより 従来の二つ割れ C 型クランプと比較するとより確実なシーリングが可能になりました 締めこむ際 手先に負担のかからない人間工学を意識したノブのデザインは 世界中の多くのユーザーを魅了してやみません 容易な装脱着性を持ち合わせており フランジとのカジリが生じません

特長 01 裏面入射型 S12362/S12363 シリーズは 裏面入射型構造を採用したフォトダイオードアレイです 構造上デリケートなボンディングワイヤを使用せず フォトダイオードアレイの出力端子と基板電極をバンプボンディングによって直接接続しています これによって 基板の配線は基板内部に納められて

16 素子 Si フォトダイオードアレイ S12362/S12363 シリーズ X 線非破壊検査用の裏面入射型フォトダイオードアレイ ( 素子間ピッチ : mm) 裏面入射型構造を採用した X 線非破壊検査用の 16 素子 Si フォトダイオードアレイです 裏面入射型フォトダイオードアレ イは 入射面側にボンディングワイヤと受光部がないため取り扱いが容易で ワイヤへのダメージを気にすることなくシ ンチレータを実装することができます

( 全体 ) 年 1 月 8 日,2017/1/8 戸田昭彦 ( 参考 1G) 温度計の種類 1 次温度計 : 熱力学温度そのものの測定が可能な温度計 どれも熱エネルギー k B T を

( 全体 htt://home.hiroshima-u.ac.j/atoda/thermodnamics/ 9 年 月 8 日,7//8 戸田昭彦 ( 参考 G 温度計の種類 次温度計 : 熱力学温度そのものの測定が可能な温度計 どれも熱エネルギー k T を単位として決められている 9 年 月 日 ( 世界計量記念日 から, 熱力学温度 T/K の定義も熱エネルギー k T/J に基づく. 定積気体温度計

CERT化学2013前期_問題

[1] から [6] のうち 5 問を選んで解答用紙に解答せよ. いずれも 20 点の配点である.5 問を超えて解答した場合, 正答していれば成績評価に加算する. 有効数字を適切に処理せよ. 断りのない限り大気圧は 1013 hpa とする. 0 C = 273 K,1 cal = 4.184 J,1 atm = 1013 hpa = 760 mmhg, 重力加速度は 9.806 m s 2, 気体

untitled

27.2.9 TOF-SIMS SIMS TOF-SIMS SIMS Mass Spectrometer ABCDE + ABC+ DE + Primary Ions: 1 12 ions/cm 2 Molecular Fragmentation Region ABCDE ABCDE 1 15 atoms/cm 2 Molecular Desorption Region Why TOF-SIMS?

fma20.PDF

PZT TSC Measurement for Degraded and Damaged PZT Thin Films Capacitors Prepared by Sputtering. FeRAM MFIS : XRD, TEM : XRF, EDS, EPMA, SIMS : SPM, NDM? DLTS DLTS (TSC) (TSC) fatigue,, ( ) (1) (2) J T TSC

低真空ポンプ 真空ポンプ オプション部品 真空ポンプを快適に使用する為に ULVAC では使い易さを考慮したオプションパーツを多数ご用意しております 用途に合わせてトラップ 真空配管部品をお役立てください DS-40 OF-2 DS TRO OT CT WT 低真空ポンプ OF

低 を快適に使用する為に ULV では使い易さを考慮したオプションパーツを多数ご用意しております 用途に合わせてトラップ 真空配管部品をお役立てください S- OF-2 S RO O W 低 OF 付属品 オイルフィルトレ - ションシステム OF シリーズ V OF OF-2 OF-2 V.. OF-3 OF-3 OF-2 OF-3 1 1 1:0.4 0.45MPa=4.0 4.5 kg /cm

Microsystem Integration & Packaging Laboratory

2015/01/26 MemsONE 技術交流会 解析事例紹介 東京大学実装工学分野研究室奥村拳 Microsystem Integration and Packaging Laboratory 1 事例紹介 1. 解析の背景高出力半導体レーザの高放熱構造 2. 熱伝導解析解析モデルの概要 3. チップサイズの熱抵抗への影響 4. 接合材料の熱抵抗への影響 5. ヒートシンク材料の熱抵抗への影響 Microsystem

要旨 遷移金属の合金系の電子伝導率や帯磁率を測定することで 液体中の電子及びイオンの性質やスピン相互作用がわかる 本論文では V1-cGec 合金について c = まで 0.1 ずつ組成を変えて帯磁率測定を行った 純粋な Ge は温度によりほとんど帯磁率の変化は見られなかったが V

液体 V-Ge 合金の磁気的性質に関する研究 Studies on liquid Ge-V metal alloys magnetic susceptibility 物理学研究室 6 年 09P160 瀬谷幸季映 ( 指導教員 : 大野智 ) 要旨 遷移金属の合金系の電子伝導率や帯磁率を測定することで 液体中の電子及びイオンの性質やスピン相互作用がわかる 本論文では V1-cGec 合金について c

■ 質量分析計の原理 ■

質量分析装置 1, 質量分析法とは? 質量分析法 (Mass Spectrometry, 以下 MS と略す ) は 極めて少量の試料 (1mg 以下, 最低必要量は 1 mmol/l の溶液が数 μl あれば測定可能 ) で 信頼性のある分子量を測定する方法である 実際には試料を高真空下 適当な方法でイオン化し そのイオンを電磁気的に分離して検出を行う 元素分析と MS を組み合わせれば 試料の分子式が決定できる

1/120 別表第 1(6 8 及び10 関係 ) 放射性物質の種類が明らかで かつ 一種類である場合の放射線業務従事者の呼吸する空気中の放射性物質の濃度限度等 添付 第一欄第二欄第三欄第四欄第五欄第六欄 放射性物質の種類 吸入摂取した 経口摂取した 放射線業 周辺監視 周辺監視 場合の実効線 場合

1/120 別表第 1(6 8 及び10 関係 ) 放射性物質の種類が明らかで かつ 一種類である場合の放射線業務従事者の呼吸する空気中の放射性物質の濃度限度等 添付 第一欄第二欄第三欄第四欄第五欄第六欄 放射性物質の種類 吸入摂取した 経口摂取した 放射線業 周辺監視 周辺監視 場合の実効線 場合の実効線 務従事者 区域外の 区域外の 量係数 量係数 の呼吸す 空気中の 水中の濃 る空気中 濃度限度

数値流体解析 (CFD) によるスプレー性能の最適化ブリテン No.J955A 数値流体解析 (CFD) による スプレー性能の最適化

数値流体解析 (CFD) によるスプレー性能の最適化ブリテン No.J955A 数値流体解析 (CFD) による スプレー性能の最適化 数値流体解析 (CFD:Computational Fluid Dynamics) とは CFD はシミュレーション技術です 流体の流れ 熱伝達 物質移動 化学反応 CFDは数値解析法とアルゴリズムを使い 流体の流れに関わる問題を分析 解決します 高性能ソフトウェアは液体および気体に関連した物理現象の相互作用を予想するために必要な膨大な数の計算を行います

1-x x µ (+) +z µ ( ) Co 2p 3d µ = µ (+) µ ( ) W. Grange et al., PRB 58, 6298 (1998). 1.0 0.5 0.0 2 1 XMCD 0-1 -2-3x10-3 7.1 7.2 7.7 7.8 8.3 8.4 up E down ρ + (E) ρ (E) H, M µ f + f E F f + f f + f X L

<4D F736F F F696E74202D C834E D836A834E83588DDE97BF955D89BF8B5A8F F196DA2E >

7-1 光学顕微鏡 8-2 エレクトロニクス材料評価技術 途による分類 透過型顕微鏡 体組織の薄切切 や細胞 細菌など光を透過する物体の観察に いる 落射型顕微鏡 ( 反射型顕微鏡 ) 理 学部 材料機能 学科 属表 や半導体など 光を透過しない物体の観察に いる 岩 素顕 iwaya@meijo-u.ac.jp 電 線を使った結晶の評価法 透過電 顕微鏡 査電 顕微鏡 実体顕微鏡拡 像を 体的に

AN504 Through-hole IRED/Right Angle Type 特長 パッケージ 製品の特長 φ3.6 サイドビュ - タイプ 無色透明樹脂 光出力 : 5mW TYP. (I F =50mA) 鉛フリーはんだ耐熱対応 RoHS 対応 ピーク発光波長指向半値角素子材質ランク選別はん

特長 パッケージ 製品の特長 φ3.6 サイドビュ - タイプ 無色透明樹脂 光出力 : 5mW TYP. (I F =50mA) 鉛フリーはんだ耐熱対応 RoHS 対応 ピーク発光波長指向半値角素子材質ランク選別はんだ付け方法 ESD 出荷形態 950nm 60 deg. GaAs 放射強度選別を行い ランクごとに選別 半田ディップ マニュアルはんだ実装工程に対応 はんだ付けについては はんだ付け条件をご参照ください

Microsoft PowerPoint プレゼン資料（基礎）Rev.1.ppt [互換モード]

プレゼン資料 腐食と電気防食 本資料は当社独自の技術情報を含みますが 公開できる範囲としています より詳細な内容をご希望される場合は お問い合わせ よりご連絡願います 腐食とは何か? 金属材料は金や白金などの一部の貴金属を除き, 自然界にそのままの状態で存在するものではありません 多くは酸化物や硫化物の形で存在する鉱石から製造して得られるものです 鉄の場合は鉄鉱石を原料として精錬することにより製造されます

Chap. 1 NMR

β α β α ν γ π ν γ ν 23,500 47,000 ν = 100 Mz ν = 200 Mz ν δ δ 10 8 6 4 2 0 δ ppm) Br C C Br C C Cl Br C C Cl Br C C Br C 2 2 C C3 3 C 2 C C3 C C C C C δ δ 10 8 6 4 δ ppm) 2 0 ν 10 8 6 4 δ ppm) 2 0 (4)

電子部品の試料加工と観察 分析 解析 ~ 真の姿を求めて ~ セミナー A 電子部品の試料加工と観察 分析 解析 ~ 真の姿を求めて ~ セミナー 第 9 回 品質技術兼原龍二 前回の第 8 回目では FIB(Focused Ion Beam:FIB) のデメリットの一つであるGaイ

第 9 回 品質技術兼原龍二 前回の第 8 回目では FIB(Focused Ion Beam:FIB) のデメリットの一つであるGaイオンの打ち込み ( 図 19. 第 6 回参照 ) により 試料の側壁に形成されるダメージ層への対処について事例などを交えながら説明させていただきました 今回は 試料の表面に形成されるダメージ層について その対処法を事例を示してお話しをさせていただきます Gaイオンの試料への打ち込みですが

メタル O リング 設計データ 1. チューブ材料 ( ハンドブック p.297 表 40.2 参照 ) SUS321 標準材料 500 以下の環境で使用できる SUS316L 耐食性材で腐食環境など かつ 500 以下で使用できる インコネル 以上 (700 以下 ) で使用できる

メタル O リング 構造 中空パイプを環状に溶接に構造である 材料 : 標準材 SUS321 SUS316L インコネル 600 である 表面被覆 : 銀めっき 金めっき インシ ウムめっき PTFE コーティンク 超研磨仕上げ (0.4S 以下 ) ------------------------ 航空 宇宙から半導体 原子力用途まで 最も使用実績がある金属シール 1. 真空 ~ 高圧まで安定したシール性能を維持する

2 1 7 - TALK ABOUT 21 μ TALK ABOUT 21 Ag As Se 2. 2. 2. Ag As Se 1 2 3 4 5 6 7 8 9 1 1 2 3 4 5 6 7 8 9 1 1 2 3 4 5 6 7 8 9 1 Sb Ga Te 2. Sb 2. Ga 2. Te 1 2 3 4 5 6 7 8 9 1 1 2 3 4 5 6 7 8 9 1 1 2 3 4

Microsoft PowerPoint - H25環境研修所(精度管理）貴田（藤森修正）

測定技術における課題 1 元素の機器分析 藤森 英治 ( 環境調査研修所 ) 1 まとめと課題 5 ろ液の保存 改正告示法では 溶出液の保存方法は規定していない 測定方法は基本的に JISK0102 工場排水試験法を引用する場合が多く 溶出液の保存についてはそれに準ずる 今回の共同分析では 溶出液の保存について指示していなかった そのため 六価クロムのブラインド標準では六価クロムが三価クロムに一部還元される現象がみられた

191a02

ミニメタルバルブ 型名品名品目番号製品コート 951-7148 ミニメタルバルブ A23-04306 30030 使用真空領域 大気圧 ~10-8 Pa 程度 許容加熱温度 400 1 シール材 ( ガスケット ) 銅合金 初期封止トルク 約 15.7N m 最大封止トルク 23.5N m 操作 手動 ( トルクレンチを推奨 ) 全開時コンダクタンス 4L/sec リーク量 6.7 10-11 Pa

α α α α α α

α α α α α α 映像情報メディア学会誌 Vol. 71, No. 10 2017 図 1 レーザビーム方式 図 3 PLAS の断面構造 図 3 に PLAS の断面構造を示す PLAS はゲート電極上の チャネル部の部分的な領域のみをフォトマスクとエッチン グなしに結晶化することが可能である 従来のラインビー ム装置はゲート電極上 テーパー上 ガラス上などの表面 の結晶性制御の課題がある

JEM2100透過電子顕微鏡操作ガイド

2015/3/26 精密分析室 装置担当者 : 原田善之 1 目次 1. 測定試料のセット 2. 測定試料の装置内導入 3. 電子銃の立ち上げ 4. コントロール系の起動 5. 測定位置の調整 6. 測定 ( 準備 + 測定 ) 1. Survey (Survey scan) 2. Multiplex (Narrow scan) 3. Profile (Depth Profile) 4. Line

登録プログラムの名称 登録番号 初回登録日 最新交付日 登録された事業所の名称及び所在地 問い合わせ窓口 JCSS JCSS 年 12 月 1 日 2018 年 5 月 23 日公益社団法人日本アイソトープ協会川崎技術開発センター 神奈川県川崎市川崎区殿町三丁目

登録プログラムの名称 登録番号 初回登録日 最新交付日 登録された事業所の名称及び所在地 問い合わせ窓口 JCSS JCSS0061 1995 年 12 月 1 日 2018 年 5 月 23 日公益社団法人日本アイソトープ協会川崎技術開発センター 210-0821 神奈川県川崎市川崎区殿町三丁目 25 番 20 号法人番号 7010005018674 研究開発課 Tel: 044-589-5494

Microsoft PowerPoint - LCテクノ　ポスター　塚本

HPLC,UHPLCそれぞれの視点から見たコアシェル型充填カラムと全多孔性充填カラムとの比較 塚本友康, 長江徳和 ( クロマニックテクノロジーズ ) 表面多孔性シリカ ( コアシェル ) 細孔のない核 ( コア ) と多孔質層から形成されているシリカ粒子であり 全多孔性シリカ粒子に比べ表面積は小さい 粒子全体に対する多孔質層の割合が 77% と高いため, 試料負荷量が低くなる欠点を克服 粒子細孔径が

2_R_新技術説明会（佐々木）

% U: 6.58%, Np, Am:.5%, Pu:.% 5.8% Cs 6.5% Sr %.9%Mo 8.74% Tc.9% TODA C 8 H 7 C 8 H 7 N CH C CH N CH O C C 8 H 7 O N MIDOA C 8 H 7 DOODA NTA + HN(C 8 H 7 ) + H O DCC + SOCl + HN(C 8 H 7 ) + Cl TODA (TODA)

IC-PC法による大気粉じん中の六価クロム化合物の測定

Application Note IC-PC No.IC178 IC-PC 217 3 IC-PC ph IC-PC EPA 1-5.8 ng/m 3 11.8 ng/m 3 WHO.25 ng/m 3 11.25 ng/m 3 IC-PC.1 g/l. g/l 1 1 IC-PC EPA 1-5 WHO IC-PC M s ng/m 3 C = C 1/1 ng/m 3 ( M s M b ) x

第 1 章序論 研究背景 概要 研究内容...3 第二章薄膜とは はじめに 薄膜の特徴 表面効果 界面効果 薄膜の応用 薄膜形成技術

卒業研究報告書 題目 金の金属薄膜と抵抗値の関係 報告者 学籍番号 :1110368 氏名 : 長瀬加奈 指導教員 成沢忠教授 平成 24 年 2 月 13 日 高知工科大学電子 光システム工学科 1 第 1 章序論...3 1.1 研究背景...3 1.2 概要...3 1.3 研究内容...3 第二章薄膜とは...5 2.1 はじめに...5 2.2 薄膜の特徴...5 2.2.1 表面効果...5

<979D89F E B E786C7378>

電気化学 (F2027&F2077) 第 1 回講義平成 22 年 4 月 13 日 ( 火 ) 電気化学の概説 1. カリキュラムの中での本講義の位置づけの理解 2. 電気化学の発展 3. 電気化学の学問領域, 主な分野 4. 電気化学が支える先端技術分野と持続的社会 はじめに の部分 電気化学の歴史, 体系, エネルギー変換電気化学が深く関係する学問領域と先端技術の例を挙げよ電気化学が関係する先端技術の例を挙げよ

二次イオン質量分析法 -TOF-SIMS法の紹介-

SCIENTIFIC INSTRUMENT NEWS 2016 Vol. No.1 M A R C H 59 Technical magazine of Electron Microscope and Analytical Instruments. 技術解説 二次イオン質量分析法ー TOF-SIMS 法の紹介ー Secondary Ion Mass Spectrometry -Time of Flight

Microsoft PowerPoint - 流体力学の基礎02(OpenFOAM 勉強会 for geginner).pptx

~ 流体力学の基礎 ~ 第 2 回 流体静力学 2011 年 10 月 22 日 ( 土 ) 講習会のスケジュール概要 ( あくまでも現時点での予定です ) 流体力学の基礎 第 1 回目 2011.09 流体について 第 2 回目 2011.10 流体静力学 第 3 回目 2011.11/12 流体運動の基礎理論 1 第 4 回目 2012.01 流体運動の基礎理論 2 第 5 回目 2012.02

不確かさ 資料 1/8

不確かさ 資料 /8 天びんの校正の不確かさの目安 表 に 代表的な電子天びんの校正の不確かさ ( 目安 ) 示します 表 校正の不確かさ ( 目安 ) 最小表示 機種 校正ポイント拡張不確かさ ( 風袋なし ) (k=2) 0.00mg BM-20 g 0.09 mg GH-202 50 g 0.7 mg 0.0mg GH-252 00 g 0.3 mg BM-252 00 g 0.29 mg GR-20/GH-20

第 11 回化学概論 酸化と還元 P63 酸化還元反応 酸化数 酸化剤 還元剤 金属のイオン化傾向 酸化される = 酸素と化合する = 水素を奪われる = 電子を失う = 酸化数が増加する 還元される = 水素と化合する = 酸素を奪われる = 電子を得る = 酸化数が減少する 銅の酸化酸化銅の還元

第 11 回化学概論 酸化と還元 P63 酸化還元反応 酸化数 酸化剤 還元剤 金属のイオン化傾向 酸化される = 酸素と化合する = 水素を奪われる = 電子を失う = 酸化数が増加する 還元される = 水素と化合する = 酸素を奪われる = 電子を得る = 酸化数が減少する 銅の酸化酸化銅の還元 2Cu + O 2 2CuO CuO + H 2 Cu + H 2 O Cu Cu 2+ + 2e

(Microsoft Word - \207V10\215\\\221\242\212\356\217\200P44-52.doc)

10 構造等に関する等に関する基準 1 概要 (1) 対象となる施設有害物質使用特定施設, 有害物質貯蔵指定施設 (P.19) (2) 法律体系 基準の区分 法令 構造基準 (P.45~51) 水濁法施行規則第 8 条の3~6 使用の方法の基準 (P.52) 水濁法施行規則第 8 条の7 点検結果の記録 保存 (P.52) 水濁法施行規則第 9 条の2 の3 (3) 基準適用箇所の施設区分概念図 (

報道関係者各位 平成 24 年 4 月 13 日 筑波大学 ナノ材料で Cs( セシウム ) イオンを結晶中に捕獲 研究成果のポイント : 放射性セシウム除染の切り札になりうる成果セシウムイオンを効率的にナノ空間 ナノの檻にぴったり収容して捕獲 除去 国立大学法人筑波大学 学長山田信博 ( 以下 筑

報道関係者各位 平成 24 年 4 月 13 日 筑波大学 ナノ材料で Cs( セシウム ) イオンを結晶中に捕獲 研究成果のポイント : 放射性セシウム除染の切り札になりうる成果セシウムイオンを効率的にナノ空間 ナノの檻にぴったり収容して捕獲 除去 国立大学法人筑波大学 学長山田信博 ( 以下 筑波大学 という ) 数理物質系 系長三明康郎 守友浩教授は プルシャンブルー類似体を用いて 水溶液中に溶けている

Microsoft PowerPoint - semi_ppt07.ppt [互換モード]

1 MOSFETの動作原理 しきい電圧 (V TH ) と制御 E 型とD 型 0 次近似によるドレイン電流解析 2 電子のエネルギーバンド図での考察 理想 MOS 構造の仮定 : シリコンと金属の仕事関数が等しい 界面を含む酸化膜中に余分な電荷がない 金属 (M) 酸化膜 (O) シリコン (S) 電子エ金属 酸化膜 シリコン (M) (O) (S) フラットバンド ネルギー熱平衡で 伝導帯 E

untitled

SPring-83 22(2010)730 MBE PLD MBE 0.002% PLD p Π n p n PF PF = S 2 S =V/ΔT V: [V] ΔT: [K] S[V/K], T[K], σ[s/m] TeBi 2 Te 3 (Bi,Se) 2 Te 3 (n-type) Ar KrF Ar gas 2. A. 3. c-si a-si InP GaAs 1g (μm) PV(W/g

JASIS 2016 新技術説明会

JASIS 2016 新技術説明会 ヘッドスペース パージトラップ法を用いた GC 法による排水中 1,4- ジオキサン測定 2016 年 9 月 8 日 株式会社ジェイ サイエンス ラボ 中山愛望 水中 1,4- ジオキサン測定システム特徴 親水性であり 比較的揮発性も低い排水中 1,4- ジオキサンを オンラインで自動測定するシステムである 従来の ヘッドスペース法 と パージ & トラップ法

等温可逆膨張最大仕事 : 外界と力学的平衡を保って膨張するとき 系は最大の仕事をする完全気体を i から まで膨張させるときの仕事は dw d dw nr d, w nr ln i nr 1 dw d nr d i i nr (ln lni ) nr ln これは右図 ( テキスト p.45, 図

物理化学 Ⅱ 講義資料 ( 第 章熱力学第一法則 ) エネルギーの保存 1 系と外界系 : 注目している空間 下記の つに分類される 開放系 : 外界との間でエネルギーの交換ができ さらに物資の移動も可能閉鎖系 : 外界との間でエネルギーの交換はできるが 物質の移動はできない孤立系 : 外界との間でエネルギーも物質も移動できない外界 : 系と接触している巨大な世界 例えば エネルギーの出入りがあっても

CAT No O ASZE A.Z AVF S A-ZV あらゆる部分にお客様からのご提案を取り入れさせていただいております

CT No.729-01-O SZE.Z VF S -ZV あらゆる部分にお客様からのご提案を取り入れさせていただいております Safety & Clean Technology 信頼性の極限値 を追求したフジキンの製品ラインナップです 高性能超小型ガスケット継手 UPG は 精密継手 メーカーとして 長年の経験によって蓄積した 設計ノ ウハウと生産技術を駆使して量産された優れた性 能 品質を有するチューブ継手です

Microsoft PowerPoint - 豊田2008HP閲覧用資料

核融合プラズマからプラズマプロセスまで - プラズマ中の原子過程 - 研究会 Aug 24. 26 プロセスガス分子およびイオンの同時照射下における表面反応過程の解析 名古屋大学工学研究科電子情報システム専攻 豊田浩孝 高田昇治 木下欣紀 菅井秀郎 Department of Electrical Engineering and omputer Science, Nagoya University

Microsoft Word - basic_15.doc

分析の原理 15 電位差測定装置の原理と応用 概要 電位差測定法は 溶液内の目的成分の濃度 ( 活量 ) を作用電極と参照電極の起電力差から測定し 溶液中のイオン濃度や酸化還元電位の測定に利用されています また 滴定と組み合わせて当量点の決定を電極電位変化より行う電位差滴定法もあり 電気化学測定法の一つとして古くから研究 応用されています 本編では 電位差測定装置の原理を解説し その応用装置である

EOS: 材料データシート(アルミニウム)

EOS EOS は EOSINT M システムで処理できるように最適化された粉末状のアルミニウム合金である 本書は 下記のシステム仕様により EOS 粉末 (EOS art.-no. 9011-0024) で造形した部品の情報とデータを提供する - EOSINT M 270 Installation Mode Xtended PSW 3.4 とデフォルトジョブ AlSi10Mg_030_default.job

Ws shojia 2016x　mini

16 -Feb 2017 ILC 飛跡測定器における GEM 型ゲート装置の特性評価 Characteristic evaluation of Gating GEM in ILC track measuring instrument 平成 28 年度修士論文審査会 Master's thesis presentation 岩手大学大学院工学研究科電気電子 情報システム工学専攻 博士前期課程 2 年

2004 年度センター化学 ⅠB p1 第 1 問問 1 a 水素結合 X HLY X,Y= F,O,N ( ) この形をもつ分子は 5 NH 3 である 1 5 b 昇華性の物質 ドライアイス CO 2, ヨウ素 I 2, ナフタレン 2 3 c 総電子数 = ( 原子番号 ) d CH 4 :6

004 年度センター化学 ⅠB p 第 問問 a 水素結合 X HLY X,Y= F,O,N ( ) この形をもつ分子は 5 NH である 5 b 昇華性の物質 ドライアイス CO, ヨウ素 I, ナフタレン c 総電子数 = ( 原子番号 ) d CH 4 :6+ 4 = 0個 6+ 8= 4個 7+ 8= 5個 + 7= 8個 4 + 8= 0個 5 8= 6個 4 構造式からアプローチして電子式を書くと次のようになる

円筒型 SPCP オゾナイザー技術資料 T ( 株 ) 増田研究所 1. 構造株式会社増田研究所は 独自に開発したセラミックの表面に発生させる沿面放電によるプラズマ生成技術を Surface Discharge Induced Plasma Chemical P

円筒型 SPCP オゾナイザー技術資料 T211-1 211.2.7 ( 株 ) 増田研究所 1. 構造株式会社増田研究所は 独自に開発したセラミックの表面に発生させる沿面放電によるプラズマ生成技術を Surface Discharge Induced Plasma Chemical Process (SPCP) と命名し 小型 ~ 中型のオゾナイザーとして製造 販売を行っている SPCP オゾナイザーは図

世界最高面密度の量子ドットの自己形成に成功

同時発表 : 筑波研究学園都市記者会 ( 資料配布 ) 文部科学記者会 ( 資料配布 ) 科学記者会 ( 資料配布 ) 世界最高面密度の量子ドットの自己形成に成功 - 高性能量子ドットデバイス実現に向けた研究がさらに加速 - 平成 24 年 6 月 4 日 独立行政法人物質 材料研究機構 概要 : 独立行政法人物質 材料研究機構 ( 理事長 : 潮田資勝 ) 先端フォトニクス材料ユニット ( ユニット長

Microsoft PowerPoint - S-17.ppt

In situ XRD および XAFS を用いた燃料電池アノード触媒電極の劣化解析 日本電気 ( 株 ) 松本匡史 m-matsumoto@jv.jp.nec.com 直接型メタノール燃料電池の PtRu アノードにおいて Ru は触媒被毒の原因である CO の酸化を促進する役割を持ち 電池出力の向上に不可欠な要素である しかし 長時間運転時には Ru が溶出し 性能が劣化する Ru 溶出は 運転時の

解法 1 原子の性質を周期表で理解する 原子の結合について理解するには まずは原子の種類 (= 元素 ) による性質の違いを知る必要がある 原子の性質は 次の 3 つによって理解することができる イオン化エネルギー = 原子から電子 1 個を取り除くのに必要なエネルギー ( イメージ ) 電子 原子

解法 1 原子の性質を周期表で理解する 原子の結合について理解するには まずは原子の種類 (= 元素 ) による性質の違いを知る必要がある 原子の性質は 次の 3 つによって理解することができる イオン化エネルギー = 原子から電子 1 個を取り除くのに必要なエネルギー ( イメージ ) 電子 原子 いやだ!! の強さ 電子親和力 = 原子が電子 1 個を受け取ったときに放出するエネルギー ( イメージ

Microsoft PowerPoint - EDX講習会.ppt

設備機器技術講習会 エネルギー分散型 X 線分析装置 大阪府立産業技術総合研究所機械金属部金属表面処理系 西村崇中出卓男森河務 本日の予定 113:30~14:30 214:30~14:40 314:40~15:20 エネルギー分散型 X 線分析装置について 休憩装置見学 1 班エネルギー分散型 X 線分析装置見学 2 班他の機器見学 1 本日の内容 表面分析方法の種類 エネルギー分散型 X 線分析装置

165a02

ミニチュアゲージ 型名 品目番号 製品コード 備考 MG-2 0160-01234A 21160 MG-2/WF P25-07599 21170 タングステンフィラメント 型名 品目番号 製品コード MG-2M 0160-01284A 21162 型名 品目番号 製品コード 備考 MG-2I/NW16 P25-14719 21163 NW16 フランジ MG-2I/NW25 P25-14720 21164

基礎化学 Ⅰ 第 5 講原子量とモル数 第 5 講原子量とモル数 1 原子量 (1) 相対質量 まず, 大きさの復習から 原子 ピンポン玉 原子の直径は, 約 1 億分の 1cm ( 第 1 講 ) 原子とピンポン玉の関係は, ピンポン玉と地球の関係と同じくらいの大きさです 地球 では, 原子 1

第 5 講原子量とモル数 1 原子量 (1) 相対質量 まず, 大きさの復習から 原子 ピンポン玉 原子の直径は, 約 1 億分の 1cm ( 第 1 講 ) 原子とピンポン玉の関係は, ピンポン玉と地球の関係と同じくらいの大きさです 地球 では, 原子 1 つの質量は? 水素原子は,0.167 10-23 g 酸素原子は,2.656 10-23 g 炭素原子は,1.993 10-23 g 原子の質量は,

NEW LINE UP No, NPPDF 3-02 小型部品組立てなどに最適な エアピンセット VTA&VTB ペン型の本体に真空パッドと真空発生器を内蔵 チューブ (ø4 mm ) を接続 圧縮エア (0.5MPa) を供給 穴またはボタン操作で真空発生 小型ワークを吸着 特性は 2 タイプを用

NEW LINE UP No, NPPDF -0 小型部品組立てなどに最適な エアピンセット VTA&VT ペン型の本体に真空パッドと真空発生器を内蔵 チューブ (ø mm ) を接続 圧縮エア (0.MPa) を供給 穴またはボタン操作で真空発生 小型ワークを吸着 特性は タイプを用意 使用時のみエアを流すため 騒音が少なく 省エネ対応なバルブ内蔵タイプ (VT) と安価なバルブ無しタイプ (VTA)

航空機複合材部品の紫外線劣化加速評価法の開発,三菱重工技報 Vol.51 No.4(2014)

航空宇宙特集技術論文 10 航空機複合材部品の紫外線劣化加速評価法の開発 Development of Accelerated UV Degradation Test Method for Aircraft Composite Parts *1 堀苑英毅 *2 石川直元 Hideki Horizono Naomoto Ishikawa 航空機の運用期間 (20 年から 30 年 ) にわたる長期的な耐候性については,

2009年度業績発表会（南陽）

高速イオンクロマトグラフィーによる ボイラ水中のイオン成分分析 のご紹介 東ソー株式会社 バイオサイエンス事業部 JASIS 217 新技術説明会 (217.9.8) rev.1 1. ボイラ水分析について ボイラ水の水質管理 ボイラ : 高圧蒸気の発生装置であり 工場, ビル, 病院など幅広い産業分野でユーティリティ源として利用されている 安全かつ効率的な運転には 日常の水質管理, ブロー管理が必須

平成27年度　前期日程　化学　解答例

受験番号 平成 27 年度前期日程 化学 ( その 1) 解答用紙 工学部 応用化学科 志願者は第 1 問 ~ 第 4 問を解答せよ 農学部 生物資源科学科, 森林科学科 志願者は第 1 問と第 2 問を解答せよ 第 1 問 [ 二酸化炭素が発生する反応の化学反応式 ] 点 NaHCO 3 + HCl NaCl + H 2 O + CO 2 CO 2 の物質量を x mol とすると, 気体の状態方程式より,

Microsoft Word - 13_hyomen-1.doc

総説レビュー 最新の表面分析技術 アルバック ファイ 星孝弘 はじめに表面分析法は,1970 年代から材料固体表面の定性 定量分析法として高く評価されており, 他の分析法と比較すると表面一原子層から 5 nm 程度の組成分析が行えることに特徴がある. その代表的なのもとして, オージェ電子分光法 (AES:Auger Electron Spectroscopy),X 線光電子分光法 (XPS:X-Ray

気体を用いた荷電粒子検出器

2009/12/7 物理学コロキウム第 2 気体を用いた荷電粒子検出器 内容 : 1. 研究の目的 2. 気体を用いた荷電粒子検出器 3. 霧箱での α 線の観察 4. 今後の予定 5. まとめ 柴田 陣内研究室 寄林侑正 2009/12/7 1 1. 研究の目的 気体の電離作用を利用した荷電粒子検出器の原理を学ぶ 実際に霧箱とスパークチェンバーを作成する 放射線を観察し 荷電粒子と気体粒子の相互作用について学ぶ